※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。
序文
ISO (国際標準化機構) は、国家標準化団体 (ISO メンバー団体) の世界的な連合体です。国際規格の作成作業は通常、ISO 技術委員会を通じて行われます。技術委員会が設立された主題に関心のある各会員団体は、その委員会に代表される権利を有します。政府および非政府の国際機関も ISO と連携してこの作業に参加しています。 ISO は、電気技術の標準化に関するあらゆる事項について国際電気標準会議 (IEC) と緊密に協力しています。
この文書の作成に使用される手順と、そのさらなる保守を目的とした手順は、ISO/IEC 指令Part 1 部に記載されています。特に、さまざまなタイプの ISO 文書に必要なさまざまな承認基準に注意する必要があります。この文書は、ISO/IEC 指令Part 2 部の編集規則に従って起草されました ( www.iso.org/directives を参照)
この文書の要素の一部が特許権の対象となる可能性があることに注意してください。 ISO は、そのような特許権の一部またはすべてを特定する責任を負わないものとします。文書の作成中に特定された特許権の詳細は、序論および/または受け取った特許宣言の ISO リストに記載されます ( www.iso.org/patents を 参照)
本書で使用されている商号は、ユーザーの便宜のために提供された情報であり、推奨を構成するものではありません。
規格の自主的な性質、適合性評価に関連する ISO 固有の用語と表現の意味、および貿易の技術的障壁 (TBT) における世界貿易機関 (WTO) 原則への ISO の準拠に関する情報については、 www を参照してください。 .iso.org/iso/foreword.html
この文書は ISO/TC 33, 耐火物技術委員会によって作成されました。
1 スコープ
この文書は、蛍光 X 線 (XRF) を使用した炭化ケイ素含有サンプルの化学分析用の溶融ビーズの調製に関する要件を指定します。この文書に記載されている試験方法は、炭化ケイ素および炭化ケイ素材料を対象としています。ただし、ここで説明した原理は、付録 A に示す修正を使用して、炭化ホウ素、窒化ホウ素、合金鉄、サイアロン、窒化ケイ素などの他の還元材料にも適用できます。
この文書に従って調製されたサンプルの溶融キャストビーズは、ISO 12677 に従って分析されます。
2 規範的参照
以下の文書は、その内容の一部またはすべてがこの文書の要件を構成する形で本文中で参照されています。日付が記載された参考文献については、引用された版のみが適用されます。日付のない参照については、参照文書の最新版 (修正を含む) が適用されます。
- ISO 12677:2011, 蛍光 X 線 (XRF) による耐火物製品の化学分析 - 溶融鋳造ビード法
- ISO 21068-1, 炭化ケイ素含有原材料および耐火物製品の化学分析 - Part 1: 一般情報およびサンプルの準備
- ISO 21068-2, 炭化ケイ素含有原材料および耐火製品の化学分析 - Part 2: 強熱減量、総炭素、遊離炭素および炭化ケイ素、総および遊離シリカ、および総および遊離シリコンの測定
- ISO 8656-1, 耐火物製品 — 原材料および未成形製品のサンプリング — Part 1: サンプリング計画
3 用語と定義
この文書には用語や定義は記載されていません。
ISO と IEC は、標準化に使用する用語データベースを次のアドレスで維持しています。
参考文献
| 1 | EN 12698-1, 窒化物結合炭化ケイ素耐火物の化学分析 — 化学的方法 |
| 2 | EN 12698-2, 窒化物結合炭化ケイ素耐火物の化学分析 - XRD 法 |
| 3 | EN 15979, セラミック原料および基礎材料の試験 — DC アーク励起による OES による炭化ケイ素の粉末および顆粒中の不純物の質量分率の直接測定 |
| 4 | EN 15991, セラミックおよび基礎材料の試験 — 電熱蒸発 (ETV) を備えた誘導結合プラズマ発光分析 (ICP OES) による炭化ケイ素の粉末および顆粒中の不純物の質量分率の直接測定 |
| 5 | ISO 21078-1, 耐火製品中の酸化ホウ素 (III) の測定 — Part 1: セラミック、ガラス、釉薬用の酸化物材料中の全酸化ホウ素 (III) の測定 |
| 6 | ISO 14720-1, セラミック原料および基礎材料の試験 — 非酸化物セラミック原料および基礎材料の粉末および顆粒中の硫黄の測定 — Part 1: 赤外線測定方法 |
| 7 | ISO 14720-2, セラミック原料および基礎材料の試験 — 非酸化物セラミック原料および基礎材料の粉末および顆粒中の硫黄の測定 — Part 2: 焼き付け後の誘導結合プラズマ発光分析 (ICP/OES) またはイオンクロマトグラフィー酸素の流れの |
| 8 | ISO 21068-3, 炭化ケイ素含有原材料および耐火物製品の化学分析 - Part 3: 窒素、酸素、金属および酸化物成分の測定 |
| 9 | Sastry BSR, Hummel FA, 酸化リチウム系の研究 VII – Li 2 O – B 2 O 3 – SiO 2 。混雑する。セラム。社会。 1960 年、43, 23-33 ページ |
Foreword
ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of national standards bodies (ISO member bodies). The work of preparing International Standards is normally carried out through ISO technical committees. Each member body interested in a subject for which a technical committee has been established has the right to be represented on that committee. International organizations, governmental and non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work. ISO collaborates closely with the International Electrotechnical Commission (IEC) on all matters of electrotechnical standardization.
The procedures used to develop this document and those intended for its further maintenance are described in the ISO/IEC Directives, Part 1. In particular, the different approval criteria needed for the different types of ISO documents should be noted. This document was drafted in accordance with the editorial rules of the ISO/IEC Directives, Part 2 (see www.iso.org/directives ).
Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this document may be the subject of patent rights. ISO shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. Details of any patent rights identified during the development of the document will be in the Introduction and/or on the ISO list of patent declarations received (see www.iso.org/patents ).
Any trade name used in this document is information given for the convenience of users and does not constitute an endorsement.
For an explanation of the voluntary nature of standards, the meaning of ISO specific terms and expressions related to conformity assessment, as well as information about ISO's adherence to the World Trade Organization (WTO) principles in the Technical Barriers to Trade (TBT) see www.iso.org/iso/foreword.html .
This document was prepared by Technical Committee ISO/TC 33, Refractories.
1 Scope
This document specifies requirements for the preparation of fused beads for the chemical analysis of silicon carbide containing samples using X-ray fluorescence (XRF). The test methods described in this document are for silicon carbide and silicon carbide materials; however, the principles described can be applied to other reduced materials such as boron carbide, boron nitride, ferroalloys, sialons and silicon nitride using the modifications given in Annex A.
Fused cast beads of the samples prepared in accordance with this document are analysed in accordance with ISO 12677.
2 Normative references
The following documents are referred to in the text in such a way that some or all of their content constitutes requirements of this document. For dated references, only the edition cited applies. For undated references, the latest edition of the referenced document (including any amendments) applies.
- ISO 12677:2011, Chemical analysis of refractory products by X-ray fluorescence (XRF) — Fused cast-bead method
- ISO 21068-1, Chemical analysis of silicon-carbide-containing raw materials and refractory products — Part 1: General information and sample preparation
- ISO 21068-2, Chemical analysis of silicon-carbide-containing raw materials and refractory products — Part 2: Determination of loss on ignition, total carbon, free carbon and silicon carbide, total and free silica and total and free silicon
- ISO 8656-1, Refractory products — Sampling of raw materials and unshaped products — Part 1: Sampling scheme
3 Terms and definitions
No terms and definitions are listed in this document.
ISO and IEC maintain terminological databases for use in standardization at the following addresses:
Bibliography
| 1 | EN 12698-1, Chemical analysis of nitride bonded silicon carbide refractories — Chemical methods |
| 2 | EN 12698-2, Chemical analysis of nitride bonded silicon carbide refractories — XRD methods |
| 3 | EN 15979, Testing of ceramic raw and basic materials — Direct determination of mass fractions of impurities in powders and granules of silicon carbide by OES by DC arc excitation |
| 4 | EN 15991, Testing of ceramic and basic materials — Direct determination of mass fractions of impurities in powders and granules of silicon carbide by inductively coupled plasma optical emission spectrometry (ICP OES) with electrothermal vaporisation (ETV) |
| 5 | ISO 21078-1, Determination of boron (III) oxide in refractory products — Part 1: Determination of total boron (III) oxide in oxidic materials for ceramics, glass and glazes |
| 6 | ISO 14720-1, Testing of ceramic raw and basic materials — Determination of sulfur in powders and granules of non-oxidic ceramic raw and basic materials — Part 1: Infrared measurement methods |
| 7 | ISO 14720-2, Testing of ceramic raw and basic materials — Determination of sulfur in powders and granules of non-oxidic ceramic raw and basic materials — Part 2: Inductively coupled plasma optical emission spectrometry (ICP/OES) or ion chromatography after burning in an oxygen flow |
| 8 | ISO 21068-3, Chemical analysis of silicon-carbide-containing raw materials and refractory products — Part 3: Determination of nitrogen, oxygen and metallic and oxidic constituents |
| 9 | Sastry B.S.R., Hummel F.A., Studies in Lithium Oxide Systems VII – Li2O – B2O3 – SiO2. J. Am. Ceram. Soc. 1960, 43 pp. 23–33 |