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ISO 17411:2022 光学とフォトニクス - 光学材料と部品 - レーザー干渉法による光学ガラスの均質性試験方法 | ページ 2

※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。

序文

ISO (国際標準化機構) は、各国の標準化団体 (ISO メンバー団体) の世界的な連合です。国際規格の作成作業は、通常、ISO 技術委員会を通じて行われます。技術委員会が設立された主題に関心のある各会員団体は、その委員会に代表される権利を有します。 ISOと連携して、政府および非政府の国際機関もこの作業に参加しています。 ISO は、電気技術の標準化に関するすべての問題について、国際電気標準会議 (IEC) と緊密に協力しています。

この文書の開発に使用された手順と、今後の維持のために意図された手順は、ISO/IEC 指令で説明されています。 1. 特に、さまざまなタイプの ISO 文書に必要なさまざまな承認基準に注意する必要があります。この文書は、ISO/IEC 指令の編集規則に従って作成されました。 2 ( www.iso.org/directives を参照)

このドキュメントの要素の一部が特許権の対象となる可能性があることに注意してください。 ISO は、そのような特許権の一部または全部を特定する責任を負わないものとします。ドキュメントの開発中に特定された特許権の詳細は、序文および/または受信した特許宣言の ISO リストに記載されます ( www.iso.org/patents を参照)

このドキュメントで使用されている商号は、ユーザーの便宜のために提供された情報であり、保証を構成するものではありません。

規格の自発的な性質の説明、適合性評価に関連する ISO 固有の用語と表現の意味、および技術的貿易障壁 (TBT) における世界貿易機関 (WTO) の原則への ISO の準拠に関する情報については、以下を参照してください。 www.iso.org/iso/foreword.html .

この文書は、技術委員会 ISO/TC 172, 光学およびフォトニクス、小委員会 SC 3, 光学材料およびコンポーネントによって作成されました。

この第 2 版は、技術的に改訂された第 1 版 (ISO 17411:2014) を取り消して置き換えるものです。

主な変更点は次のとおりです。

  • PHom メソッドが追加されました。
  • FT-PSI法とSCI法が追加されました。
  • 屈折率の線形変化が評価対象として記載されている。

序章

国際標準化機構 (ISO) は、この文書への準拠には特許の使用が含まれる可能性があると主張しているという事実に注目しています。

ISO は、この特許権の証拠、有効性、および範囲に関していかなる立場も取りません。

この特許権の所有者は、世界中の申請者と合理的かつ非差別的な条件の下でライセンスを交渉する意思があることを ISO に保証しています。この点、本特許権者の陳述書はISOに登録されています。情報は、 www.iso.org/patents で入手できる特許データベースから入手できます。

このドキュメントの一部の要素が、特許データベース内のもの以外の特許権の対象である可能性があることに注意してください。 ISO は、そのような特許権の一部または全部を特定する責任を負わないものとします。

1 スコープ

ISO 10110-18 および ISO 12123 のグレードに対応するために、レーザー干渉法による光学ガラスの屈折率均一性の測定方法を規定しています。

2 参考文献

以下のドキュメントは、その内容の一部またはすべてがこのドキュメントの要件を構成するように、本文で参照されています。日付のある参考文献については、引用された版のみが適用されます。日付のない参照については、参照文書の最新版 (修正を含む) が適用されます。

3 用語と定義

このドキュメントでは、次の用語と定義が適用されます。

ISO および IEC は、次のアドレスで標準化に使用する用語データベースを維持しています。

3.1

屈折率の均一性

単一のテスト パーツの所定の領域内の屈折率変化のピーク ツー バレー (PV)

3.2

インデックスマッチング液

使用するレーザーの波長と測定温度において、試験部位の屈折率と同等または近似する屈折率を持つ透明な液体

3.3

皿に油

屈折率整合液（3.2） （屈折率整合液を「オイル」と呼ぶ場合がある）を中間液として被検部品に貼り付けた光学ガラスを研磨して得られる平面度矯正用の平面板。

3.4

波面の山から谷まで

波面のPV値

W_

光が被試験部品を 1 回通過したときに干渉計によって観測される、観測範囲内の波面の最大値から最小値を引いた値。

注記 1:WPVは、ISO 14999-4 [3]のfWDのピークから谷までに類似しています。

参考文献

[1]ISO 10110-18, 光学およびフォトニクス — 光学素子およびシステムの図面の作成 — 18: 応力複屈折、気泡と含有物、均質性、脈理
[2]ISO 12123, 光学およびフォトニクス — 未加工の光学ガラスの仕様
[3]ISO 14999-4, 光学とフォトニクス — 光学素子と光学系の干渉計測 — 4: ISO 10110 で指定された公差の解釈と評価
[4]デッキ LL, フーリエ変換位相シフト干渉計。アプリケーションOpt. 2003, 42 pp. 2354-2365
[5]Salsbury C.、Olszak AG, スペクトル制御干渉計。アプリケーションOpt. 2017, 56 pp. 7781-7788
[6]Salsbury Chase, Posthumus Jan, Olszak Artur, 複数の表面キャビティの干渉測定のためのスペクトル制御ソース、Pro SPIE 10829, 108290C-1 -10 (2018) の
[7]Birch KP, Downs MJ, 空気の屈折率に関する更新された Edlén 方程式の修正"、Metrologia 31, 315-316 (1994)
[8]Ciddor Phillip E.、「空気の屈折率: 可視および近赤外線の新しい方程式」、Appl. Optics 35, 1566-1573 (1996)

Foreword

ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of national standards bodies (ISO member bodies). The work of preparing International Standards is normally carried out through ISO technical committees. Each member body interested in a subject for which a technical committee has been established has the right to be represented on that committee. International organizations, governmental and non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work. ISO collaborates closely with the International Electrotechnical Commission (IEC) on all matters of electrotechnical standardization.

The procedures used to develop this document and those intended for its further maintenance are described in the ISO/IEC Directives, 1. In particular, the different approval criteria needed for the different types of ISO documents should be noted. This document was drafted in accordance with the editorial rules of the ISO/IEC Directives, 2 (see www.iso.org/directives ).

Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this document may be the subject of patent rights. ISO shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. Details of any patent rights identified during the development of the document will be in the Introduction and/or on the ISO list of patent declarations received (see www.iso.org/patents ).

Any trade name used in this document is information given for the convenience of users and does not constitute an endorsement.

For an explanation of the voluntary nature of standards, the meaning of ISO specific terms and expressions related to conformity assessment, as well as information about ISO's adherence to the World Trade Organization (WTO) principles in the Technical Barriers to Trade (TBT), see www.iso.org/iso/foreword.html .

This document was prepared by Technical Committee ISO/TC 172, Optics and Photonics, Subcommittee SC 3, Optical materials and components.

This second edition cancels and replaces the first edition (ISO 17411:2014), which has been technically revised.

The main changes are as follows:

  • the PHom method was added;
  • the FT-PSI method and the SCI method were added;
  • the linear change of the refractive index is described as an evaluation target.

Introduction

The International Organization for Standardization (ISO) draws attention to the fact that it is claimed that compliance with this document may involve the use of a patent.

ISO takes no position concerning the evidence, validity and scope of this patent right.

The holder of this patent right has assured ISO that he/she is willing to negotiate licences under reasonable and non-discriminatory terms and conditions with applicants throughout the world. In this respect, the statement of the holder of this patent right is registered with ISO. Information may be obtained from the patent database available at www.iso.org/patents .

Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this document may be the subject of patent rights other than those in the patent database. ISO shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.

1 Scope

This document specifies the measuring method for the homogeneity of the refractive index of optical glasses by laser interferometry to cope with the grades from ISO 10110-18 and ISO 12123.

2 Normative references

The following documents are referred to in the text in such a way that some or all of their content constitutes requirements of this document. For dated references, only the edition cited applies. For undated references, the latest edition of the referenced document (including any amendments) applies.

  • ISO 80000-1, Quantities and units — 1: General

3 Terms and definitions

For the purposes of this document, the following terms and definitions apply.

ISO and IEC maintain terminology databases for use in standardization at the following addresses:

3.1

homogeneity of the refractive index

peak to valley (PV) of the refractive index variation within the predetermined area in a single test part

3.2

index-matching liquid

transparent liquid with the refractive index which is equivalent or approximate to the refractive index of a test part at the wavelength of the laser to be used and the measurement temperature

3.3

oil-on plate

plane plate, used for flatness correction, obtained by polishing an optical glass, which is attached to a test part by using an index-matching liquid (3.2) (where the index matching liquid is sometimes called “oil”) as an intermediate liquid

3.4

peak to valley of wavefront

PV value of wavefront

WPV

maximum minus the minimum value of the wavefront in the observation range, as observed by the interferometer when light passes through the test part under test once

Note 1 to entry:WPV is analogous to the peak to valley of fWD in ISO 14999-4 [3].

Bibliography

[1]ISO 10110-18, Optics and photonics — Preparation of drawings for optical elements and systems — 18: Stress birefringence, bubbles and inclusions, homogeneity, and striae
[2]ISO 12123, Optics and photonics — Specification of raw optical glass
[3]ISO 14999-4, Optics and photonics — Interferometric measurement of optical elements and optical systems — 4: Interpretation and evaluation of tolerances specified in ISO 10110
[4]Deck L.L., Fourier-transform phase shifting interferometry. Appl. Opt. 2003, 42 pp. 2354–2365
[5]Salsbury C., Olszak A.G., Spectrally controlled interferometry. Appl. Opt. 2017, 56 pp. 7781–7788
[6]Salsbury Chase, Posthumus Jan, Olszak Artur, Spectrally controlled source for interferometric measurements of multiple surface cavities, Proc. of SPIE 10829, 108290C-1 -10 (2018)
[7]Birch K. P., Downs M.J., Correction to the updated Edlén equation for the refractive index of air", Metrologia 31, 315-316 (1994)
[8]Ciddor Phillip E., Refractive index of air: new equations for the visible and near infrared," Appl. Optics 35, 1566-1573 (1996)

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