ISO 17470:2004 (W) マイクロビーム分析 — 電子プローブマイクロ分析 — 波長分散型X線分光法による定性的ポイント分析のガイドライン

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ISO 17470:2004の概要

ISO17470:2004の規格概要

閲覧情報

Microbeam analysis — Electron probe microanalysis — Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry

ISO 17470:2004は、電子プローブマイクロアナライザーで波長分散型X線分光計を使用して得られたX線スペクトルを分析することにより、試料に含まれる特定の体積内の特定の元素の識別と存在の調査に関するガイダンスを提供します。または走査型電子顕微鏡で。

※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。

ISO 国際規格番号: ISO 17470:2004
ISO 国際規格名称: Microbeam analysis — Electron probe microanalysis — Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry
ISO 規格名称日本語訳: マイクロビーム分析 — 電子プローブマイクロ分析 — 波長分散型X線分光法による定性的ポイント分析のガイドライン
発行日 (Publication date): 2004-09
廃止日：撤回日 (Abolition date,Withdrawal date): 2014-01-06
状態 (Status): 撤回されました (Withdrawn)
改訂 (Edition): 1
PDF ページ数 (Number of pages): 10
TC（専門委員会）:Technical Committee: ISO/TC 202/SC 2 電子プローブマイクロアナリシス：(Electron probe microanalysis)
ICS：International Classification for Standards（国際規格分類）: 71.040.99：Other standards related to analytical chemistry,
ISO 対応 JIS 規格: マイクロビーム分析―電子プローブマイクロ分析―波長分散X線分光法による点分析における定性分析のための指針,
ICS 対応 JIS 規格: 71.040.99

サブステージコード 95.99 国際規格の撤回 (Withdrawal of International Standard)

この規格は、以下の持続可能な開発目標 (Sustainable Development Goal)に貢献します。

17の目標 : [Sustainable Development Goal]
SDGsとは、「Sustainable Development Goals（持続可能な開発目標）」の略称で、2015年9月に国連で採択された2030年までの国際開発目標。17の目標と169のターゲット達成により、「誰一人取り残さない」社会の実現に向け、途上国及び先進国で取り組むものです。