この規格 プレビューページの目次
※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。
序文
ISO (国際標準化機構) は、各国の標準化団体 (ISO メンバー団体) の世界的な連合です。国際規格の作成作業は、通常、ISO 技術委員会を通じて行われます。技術委員会が設立された主題に関心のある各会員団体は、その委員会に代表される権利を有します。 ISOと連携して、政府および非政府の国際機関もこの作業に参加しています。 ISO は、電気技術の標準化に関するすべての問題について、国際電気標準会議 (IEC) と緊密に協力しています。
この文書の作成に使用された手順と、今後の維持のために意図された手順は、ISO/IEC 指令、 Part 1 で説明されています。特に、さまざまな種類の ISO 文書に必要なさまざまな承認基準に注意する必要があります。この文書は、ISO/IEC 指令のPart 2 の編集規則に従って起草されました ( www.iso.org/directives を参照)
このドキュメントの要素の一部が特許権の対象となる可能性があることに注意してください。 ISO は、そのような特許権の一部または全部を特定する責任を負わないものとします。ドキュメントの開発中に特定された特許権の詳細は、序文および/または受信した特許宣言の ISO リストに記載されます ( www.iso.org/patents を参照)
このドキュメントで使用されている商号は、ユーザーの便宜のために提供された情報であり、保証を構成するものではありません。
適合性評価に関連する ISO 固有の用語と表現の意味に関する説明、および技術的貿易障壁 (TBT) における世界貿易機関 (WTO) の原則への ISO の準拠に関する情報については、次の URL を参照してください: www.iso .org/iso/foreword.html .
この文書を担当する委員会は、技術委員会 ISO/TC 201, 表面化学分析、小委員会 SC 7, 電子分光法です。
この第 2 版は、第 1 版 (ISO 17973:2002) を取り消して置き換えるものであり、「1 秒あたりのカウント数」を「1 チャネルあたりのカウント数」に変更することを含むマイナー リビジョンを構成します。
序章
オージェ電子分光法 (AES) は、材料の表面分析に広く使用されています。サンプル内の元素 (水素とヘリウムを除く) は、ピーク エネルギーとピーク形状の比較から識別され、ピーク エネルギーの表と、さまざまな元素のスペクトルのハンドブックにあるデータが使用されます。ピークを識別するには、3 eV の不確かさでエネルギー スケールを校正するのが一般的に適切であり、この国際規格はその精度レベルでの作業のみを目的としています (より高い精度については、ISO 17974 を参照してください)
この国際規格で指定されている運動エネルギー スケールを校正する方法では、純銅 (Cu) とアルミニウム (Al) または金 (Au) のいずれかの金属サンプルを使用します。関連する精度レベルでは重大な欠陥はほとんどないため、機器の欠陥のテストは含まれません。
伝統的に、オージェ電子の運動エネルギーは真空準位を基準にしており、この基準は今でも多くのアナリストによって使用されています。ただし、真空レベルは明確に定義されておらず、0.5 eV の範囲で機器ごとに異なる場合があります。真空レベル参照手順の使用は、一般に元素同定にあいまいさを引き起こしませんが、化学状態に関連する高解像度での測定に不確実性を引き起こす可能性があります。このため、オージェ電子分光法と X 線光電子分光法用に設計された機器は、フェルミ準位に対する運動エネルギーを参照し、通常、真空準位を参照する値よりも 4.5 eV 高い値を示します。この国際規格の目的のために、ユーザーは自分の作業に適した参照を自由に選択できます。
1 スコープ
この国際規格は、オージェ電子分光計の運動エネルギー スケールを 3 eV の不確かさで校正する方法を規定しており、表面の元素を特定する際の一般的な分析用途に使用されます。さらに、校正スケジュールを確立する方法を指定します。ここで, 直接モードまたは差動モードのいずれかで使用される機器に適用できます。分解能は 0.5% 以下であり、差動モードを使用する場合の変調振幅は 2 eV ピークツーピークです。これは、不活性ガス イオン銃またはその他のサンプル洗浄方法と、4 keV 以上のビーム エネルギーで動作可能な電子銃を備えた分光計に適用できます。
2 参考文献
以下のドキュメントの全体または一部は、このドキュメントで規範的に参照されており、その適用に不可欠です。日付のある参考文献については、引用された版のみが適用されます。日付のない参照については、参照文書の最新版 (修正を含む) が適用されます。
- ISO 1811, 表面化学分析 — 語彙
3 用語と定義
このドキュメントの目的のために、ISO 18115 に記載されている用語と定義が適用されます。
参考文献
| 1 | ISO 17974, 表面化学分析 — 高解像度オージェ電子分光計 — 元素および化学状態分析のためのエネルギースケールの校正 |
| 2 | Savitzky A.、Golay MJE, 単純化された最小二乗手順によるデータの平滑化と微分、 Analytical Chemistry 、1964 年 7 月、vol. 36, no. 8, pp. 1627–1639 とSteiner , J.、 Termonia , Y. およびDeltour , J. による修正、簡素化された最小二乗手順によるデータの平滑化と微分に関するコメント。アナル。化学。 1972 年 9 月 44 (11) pp. 1906-1909 |
| 3 | Seah MP, Tosa M 電子計数および検出システムの直線性。サーフィンインターフェイス肛門。 1992年3月18日(3) pp.240-246 |
| 4 | Seah MP, Lim CS, Tong KL, チャネル電子増倍効率: オージェ電子分光法におけるスペクトル形状に対するパルス高分布の影響。電子分光のジャーナル。 1989.3.48(3) pp.209-218 |
| 5 | Davis LE, MacDonald NC, Palmberg PW, Riach GE, Weber RE, Auger Electron Spectroscopy のハンドブック。 Physical Electronics Industries, ミネソタ州エデン プレーリー、1976 年 |
| 6 | McGuire GE, Auger Electron Spectroscopy Reference Manual。プレナム、ニューヨーク、1979 |
| 7 | 塩川陽一、石田俊夫、林陽子オージェ電子スペクトルカタログ:元素のデータ集。アネルヴァ、東京、1979年 |
| 8 | Sekine T, Nagasawa Y, Kudoh M, Sakai Y, Parkes AS, Geller JD, Mogami A, Hirata K. Handbook of Auger Electron Spectroscopy.日本電子、東京、1982 |
| 9 | Childs KD, Carlson BA, Lavanier LA, Moulder JF, Paul DF, Stickle WF 他、Auger Electron Spectroscopy のハンドブック。 Physical Electronics Inc, ミネソタ州エデンプレーリー、1995年 |
| 10 | Wagner CD, Auger および X 線光電子分光法。光電子とオージェ エネルギーとオージェ パラメータ: 実用的な表面分析のデータ セット。ワイリー、チチェスター、第 1 巻、1990 年、595 ~ 634 ページ。 |
| 11 | Seah MP, AES: 電子分光計のエネルギー校正、IV — 基準エネルギーの再評価。電子分光のジャーナル。 1998年12月、97(3) pp.235-241 |
| 12 | Seah MP, Smith GC, Anthony MT, AES: 電子分光計のエネルギー校正 I — 絶対的で追跡可能なエネルギー校正と原子基準線エネルギーの提供。サーフィンインターフェイス肛門。 1990年5月15日(5) pp.293-308 |
| 13 | Seah MP, Gilmore I.、AES: 電子分光計 III のエネルギー校正 — 一般校正規則、 Journal of Electron Spectroscopy 、1997 年 2 月、vol. 83号2 および 3, 197 ~ 208 ページ |
| 14 | Anthony MT, Seah MP, AES での強度とエネルギーのキャリブレーション: アナライザー変調の効果。電子分光のジャーナル。 1983 年 8 月、32(1) pp. 73–86 |
Foreword
ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of national standards bodies (ISO member bodies). The work of preparing International Standards is normally carried out through ISO technical committees. Each member body interested in a subject for which a technical committee has been established has the right to be represented on that committee. International organizations, governmental and non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work. ISO collaborates closely with the International Electrotechnical Commission (IEC) on all matters of electrotechnical standardization.
The procedures used to develop this document and those intended for its further maintenance are described in the ISO/IEC Directives, Part 1. In particular the different approval criteria needed for the different types of ISO documents should be noted. This document was drafted in accordance with the editorial rules of the ISO/IEC Directives, Part 2 (see www.iso.org/directives ).
Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this document may be the subject of patent rights. ISO shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. Details of any patent rights identified during the development of the document will be in the Introduction and/or on the ISO list of patent declarations received (see www.iso.org/patents ).
Any trade name used in this document is information given for the convenience of users and does not constitute an endorsement.
For an explanation on the meaning of ISO specific terms and expressions related to conformity assessment, as well as information about ISO's adherence to the World Trade Organization (WTO) principles in the Technical Barriers to Trade (TBT) see the following URL: www.iso.org/iso/foreword.html .
The committee responsible for this document is Technical Committee ISO/TC 201, Surface chemical analysis, Subcommittee SC 7, Electron spectroscopies.
This second edition cancels and replaces the first edition (ISO 17973:2002), of which it constitutes a minor revision, which includes changing “counts per second” to “counts per channel”.
Introduction
Auger electron spectroscopy (AES) is used extensively for the surface analysis of materials. Elements in the sample (with the exception of hydrogen and helium) are identified from comparisons of the peak energies and peak shapes, with tabulations of peak energies and data in handbooks of spectra for the different elements. To identify the peaks, calibration of the energy scale with an uncertainty of 3 eV is generally adequate, and this International Standard is only intended for work at that level of accuracy (for greater accuracy, see ISO 17974).
The method for calibrating kinetic energy scales specified in this International Standard uses metallic samples of pure copper (Cu) and either aluminium (Al) or gold (Au). It does not include tests for defects in the instrument, since few defects are significant at the level of accuracy concerned.
Traditionally, kinetic energies of Auger electrons have been referenced to the vacuum level, and this reference is still used by many analysts. However, the vacuum level is ill-defined and can vary from instrument to instrument over a range of 0,5 eV. Although use of the vacuum level reference procedure will generally not cause ambiguity in elemental identification, it may cause uncertainty in measurements at high resolution relating to chemical states. Because of this, instruments designed for both Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy reference the kinetic energies to the Fermi level, giving values typically 4,5 eV higher than those referenced to the vacuum level. For the purposes of this International Standard, the user is free to choose the reference appropriate to his or her work.
1 Scope
This International Standard specifies a method for calibrating the kinetic energy scales of Auger electron spectrometers with an uncertainty of 3 eV, for general analytical use in identifying elements at surfaces. In addition, it specifies a method for establishing a calibration schedule. It is applicable to instruments used in either direct or differential mode ここで, the resolution is less than or equal to 0,5 % and the modulation amplitude for the differential mode, if used, is 2 eV peak-to-peak. It is applicable to those spectrometers equipped with an inert gas ion gun or other method for sample cleaning and with an electron gun capable of operating at 4 keV or higher beam energy.
2 Normative references
The following documents, in whole or in part, are normatively referenced in this document and are indispensable for its application. For dated references, only the edition cited applies. For undated references, the latest edition of the referenced document (including any amendments) applies.
- ISO 18115 (all parts), Surface chemical analysis — Vocabulary
3 Terms and definitions
For the purposes of this document, the terms and definitions given in ISO 18115 apply.
Bibliography
| 1 | ISO 17974, Surface chemical analysis — High-resolution Auger electron spectrometers — Calibration of energy scales for elemental and chemical-state analysis |
| 2 | Savitzky A., Golay M.J.E., Smoothing and differentiation of data by simplified least squares procedures, Analytical Chemistry, July 1964, vol. 36, no. 8, pp. 1627–1639 with corrections by Steiner, J., Termonia, Y. and Deltour, J., Comments on smoothing and differentiation of data by simplified least square procedure. Anal. Chem. 1972 Sept, 44 (11) pp. 1906–1909 |
| 3 | Seah M.P., Tosa M., Linearity in electron counting and detection systems. Surf. Interface Anal. 1992 Mar., 18 (3) pp. 240–246 |
| 4 | Seah M.P., Lim C.S., Tong K.L., Channel electron multiplier efficiencies: The effect of the pulse height distribution on spectrum shape in Auger electron spectroscopy. Journal of Electron Spectroscopy. 1989 Mar., 48 (3) pp. 209–218 |
| 5 | Davis L.E., MacDonald N.C., Palmberg P.W., Riach G.E., Weber R.E., Handbook of Auger Electron Spectroscopy. Physical Electronics Industries, Eden Prairie, MN, 1976 |
| 6 | McGuire G.E., Auger Electron Spectroscopy Reference Manual. Plenum, New York, 1979 |
| 7 | Shiokawa Y., Isida T., Hayashi Y., Auger Electron Spectra Catalogue: A Data Collection of Elements. Anelva, Tokyo, 1979 |
| 8 | Sekine T., Nagasawa Y., Kudoh M., Sakai Y., Parkes A.S., Geller J.D., Mogami A., Hirata K. Handbook of Auger Electron Spectroscopy. JEOL, Tokyo, 1982 |
| 9 | Childs K.D., Carlson B.A., Lavanier L.A., Moulder J.F., Paul D.F., Stickle W.F. et al., Handbook of Auger Electron Spectroscopy. Physical Electronics Inc, Eden Prairie, MN, 1995 |
| 10 | Wagner C.D., Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy. Photoelectron and Auger energies and the Auger parameter: A data set, in Practical Surface Analysis. Wiley, Chichester, Vol. 1, 1990, pp. 595–634. |
| 11 | Seah M.P., AES: Energy calibration of electron spectrometers, IV — A re-evaluation of the reference energies. Journal of Electron Spectroscopy. 1998 Dec., 97 (3) pp. 235–241 |
| 12 | Seah M.P., Smith G.C., Anthony M.T., AES: Energy calibration of electron spectrometers I — An absolute, traceable energy calibration and the provision of atomic reference line energies. Surf. Interface Anal. 1990 May, 15 (5) pp. 293–308 |
| 13 | Seah M.P.,, Gilmore I., AES: Energy calibration of electron spectrometers III — General calibration rules, Journal of Electron Spectroscopy, Feb. 1997, vol. 83, nos. 2 and 3, pp. 197–208 |
| 14 | Anthony M.T., Seah M.P., Intensity and energy calibration in AES: The effect of analyser modulation. Journal of Electron Spectroscopy. 1983 August, 32 (1) pp. 73–86 |