※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。
序文
ISO (国際標準化機構) は、国家標準化団体 (ISO メンバー団体) の世界的な連合体です。国際規格の作成作業は通常、ISO 技術委員会を通じて行われます。技術委員会が設立された主題に関心のある各会員団体は、その委員会に代表される権利を有します。政府および非政府の国際機関も ISO と連携してこの作業に参加しています。 ISO は、電気技術の標準化に関するあらゆる事項について、国際電気標準会議 (IEC) と緊密に協力しています。
この文書の作成に使用される手順と、そのさらなる保守を目的とした手順は、ISO/IEC 指令Part 1 部に記載されています。特に、さまざまなタイプの ISO 文書に必要なさまざまな承認基準に注意する必要があります。この文書は、ISO/IEC 指令Part 2 部の編集規則に従って起草されました 。 www.iso.org/directives
この文書の要素の一部が特許権の対象となる可能性があることに注意してください。 ISO は、かかる特許権の一部またはすべてを特定する責任を負わないものとします。文書の作成中に特定された特許権の詳細は、序論および/または受け取った特許宣言の ISO リストに記載されます。 www.iso.org/patents
本書で使用されている商号は、ユーザーの便宜のために提供された情報であり、推奨を構成するものではありません。
この文書を担当する委員会は、ISO/TC 172, 光学およびフォトニクス、サブ委員会 SC 5, 顕微鏡および内視鏡です。
この第 3 版は、第 2 版 (ISO 19012-1:2011) を廃止し、「ペッツヴァル曲率」を追加して置き換えます。
ISO 19012 は、 「顕微鏡 - 顕微鏡対物レンズの指定」という一般タイトルの下に、次の部分で構成されています。
- Part 1: フィールド/計画の平坦性
- Part 2: 色補正
以下の部分が準備中です。
- Part 3: 分光透過率
1 スコープ
ISO 19012 のこの部分では、顕微鏡の対物レンズ上の「Plan」マークの使用を指定し、平らな物体表面の一次像の鮮明な領域の直径を定義します。 ISO 19012 のこの部分は、メーカーの指定に従って、対物レンズ、チューブレンズ、接眼レンズの組み合わせを使用した目視観察に適用されます。
このマーキングは ISO 8578 と一致しています。
注意画像フィールドの平坦度は、他の収差の補正の程度を意味するものではありません (ISO 10934-1)
2 規範的参照
以下の文書は、全部または一部がこの文書で規範的に参照されており、その適用には不可欠です。日付が記載された参考文献については、引用された版のみが適用されます。日付のない参照については、参照文書の最新版 (修正を含む) が適用されます。
- ISO 10934-1, 光学および光学機器 — 顕微鏡の語彙 — Part 1: 光学顕微鏡
3 用語と定義
この文書の目的のために、ISO 10934-1 および以下に示されている用語と定義が適用されます。
3.1
接線方向に構造化されたオブジェクト
オブジェクトフィールドの半径に垂直な短い線を含むオブジェクト
3.2
接線像面
接線方向に構造化されたすべてのオブジェクトが焦点を合わせ、非点収差とペッツヴァル曲率以外の収差の影響を受けない一次像空間で鮮明に結像される表面。
3.3
矢状構造物体
オブジェクトフィールドの半径に平行な短い線を含むオブジェクト
3.4
サジタル像面
すべての矢状構造物体が焦点を合わせられ、非点収差とペッツヴァル曲率以外の収差の影響を受けない一次像空間で鮮明に結像される表面。
3.5
乱視の差
タンジェンシャル像面とサジタル像面間のタンジェンシャル面における光軸に沿った寸法差
3.6
計画フィールド番号
PFN
平らな物体表面の一次像の鮮明な領域の直径をミリメートル単位で指定する数値。
3.7
対象フィールド番号
オフン
対物レンズが使用されるように設計された接眼レンズの最大視野数
3.8
計画フィールド比率
PFR
計画フィールド番号と目的フィールド番号の比率。PFR = PFN/OFN として定義されます。
3.9
ペッツヴァル曲率
ペッツヴァル面の曲率。基本的な像面曲率を示します。
参考文献
| 1 | ISO 8578, 顕微鏡 — 対物レンズと接眼レンズのマーキング |
| 2 | Berek M.、顕微鏡における奥行き認識の基礎。マールブルク会議の報告。 1927 年、62, 189-223 ページ |
Foreword
ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of national standards bodies (ISO member bodies). The work of preparing International Standards is normally carried out through ISO technical committees. Each member body interested in a subject for which a technical committee has been established has the right to be represented on that committee. International organizations, governmental and non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work. ISO collaborates closely with the International Electrotechnical Commission (IEC) on all matters of electrotechnical standardization.
The procedures used to develop this document and those intended for its further maintenance are described in the ISO/IEC Directives, Part 1. In particular the different approval criteria needed for the different types of ISO documents should be noted. This document was drafted in accordance with the editorial rules of the ISO/IEC Directives, Part 2. www.iso.org/directives
Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this document may be the subject of patent rights. ISO shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. Details of any patent rights identified during the development of the document will be in the Introduction and/or on the ISO list of patent declarations received. www.iso.org/patents
Any trade name used in this document is information given for the convenience of users and does not constitute an endorsement.
The committee responsible for this document is ISO/TC 172, Optics and photonics, Subcommittee SC 5, Microscopes and endoscopes.
This third edition cancels and replaces the second edition (ISO 19012-1:2011) by the addition of “Petzval curvature”.
ISO 19012 consists of the following parts, under the general title Microscopes — Designation of microscope objectives:
- Part 1: Flatness of field/Plan
- Part 2: Chromatic correction
The following parts are under preparation:
- Part 3: Spectral transmittance
1 Scope
This part of ISO 19012 specifies the use of the marking “Plan” on microscope objectives, and defines the diameter of the sharp region of the primary image of a flat object surface. This part of ISO 19012 applies to visual observation using the combination of objective lens, tube lens and eyepiece, as specified by the manufacturer.
This marking is consistent with ISO 8578.
NOTE The flatness of the image field does not imply any degree of correction for other aberrations (ISO 10934-1).
2 Normative references
The following documents, in whole or in part, are normatively referenced in this document and are indispensable for its application. For dated references, only the edition cited applies. For undated references, the latest edition of the referenced document (including any amendments) applies.
- ISO 10934-1, Optics and optical instruments — Vocabulary for microscopy — Part 1: Light microscopy
3 Terms and definitions
For the purposes of this document, the terms and definitions given in ISO 10934-1 and the following apply.
3.1
tangential structured object
object containing short lines perpendicular to the radii of the object field
3.2
tangential image surface
surface on which all tangential structured objects are focused and sharply imaged in the primary image space subject to no aberrations other than astigmatism and Petzval curvature
3.3
sagittal structured object
object containing short lines parallel to the radii of the object field
3.4
sagittal image surface
surface on which all sagittal structured objects are focused and sharply imaged in the primary image space subject to no aberrations other than astigmatism and Petzval curvature
3.5
astigmatic difference
dimensional difference along the optical axis in the tangential plane between the tangential and sagittal image surfaces
3.6
plan field number
PFN
number which specifies the diameter, in millimetres, of the sharp region of the primary image of a flat object surface
3.7
objective field number
OFN
maximum field of view number of the eyepiece for which the objective is designed to be used
3.8
plan field ratio
PFR
ratio of the plan field number to the objective field number, defined as PFR = PFN/OFN
3.9
Petzval curvature
curvature of the Petzval surface, which denotes the basic field curvature
Bibliography
| 1 | ISO 8578, Microscopes — Marking of objectives and eyepieces |
| 2 | Berek M., Grundlagen der Tiefenwahrnehmung im Mikroskop. Marburger Sitzungsberichte. 1927, 62 pp. 189–223 |