※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。
序文
ISO (国際標準化機構) は、国家標準化団体 (ISO メンバー団体) の世界的な連合体です。国際規格の作成作業は通常、ISO 技術委員会を通じて行われます。技術委員会が設立された主題に関心のある各会員団体は、その委員会に代表される権利を有します。政府および非政府の国際機関も ISO と連携してこの作業に参加しています。 ISO は、電気技術の標準化に関するあらゆる事項について、国際電気標準会議 (IEC) と緊密に協力しています。
この文書の開発に使用される手順と、そのさらなる保守を目的とした手順は、ISO/IEC 指令第 1 Part に記載されています。特に、さまざまなタイプの ISO 文書に必要なさまざまな承認基準に注意する必要があります。この文書は、ISO/IEC 指令Part 2 部の編集規則に従って起草されました ( www.iso.org/directives を参照)
ISO は、この文書の実装に特許の使用が含まれる可能性があることに注意を促しています。 ISO は、請求された特許権に関する証拠、有効性、または適用可能性に関していかなる立場もとりません。この文書の発行日の時点で、ISO はこの文書の実装に必要となる可能性のある特許の通知を受け取っていません。ただし、実装者は、これが www.iso.org/patents で入手可能な特許データベースから取得できる最新の情報を表していない可能性があることに注意してください。 ISO は、そのような特許権の一部またはすべてを特定する責任を負わないものとします。
本書で使用されている商号は、ユーザーの便宜のために提供された情報であり、推奨を構成するものではありません。
規格の自主的な性質、適合性評価に関連する ISO 固有の用語と表現の意味、および貿易の技術的障壁 (TBT) における世界貿易機関 (WTO) 原則への ISO の準拠に関する情報については、以下を参照してください。 www.iso.org/iso/foreword.html
この文書は ISO/TC 206, ファインセラミックス技術委員会によって作成されました。
この第 2 版は、技術的に改訂された第 1 版 (ISO 19618:2017) を廃止し、置き換えます。
主な変更点は以下のとおりです。
- 7.3 の FTIR システムの直線性検証手順の修正。
- 第6項及び第11項の報告事項に試験片の熱履歴を追加。
- 第10条の計算に使用される用語の修正。
1 スコープ
この文書は、高温でフーリエ変換赤外分光計 (FTIR) による黒体基準を使用して、ファイン セラミックスの垂直分光放射率および垂直準全放射率を決定するために使用される方法を規定しています。この方法は、1.67 μm ~ 25 μm の波長で不透明で非反射性が高いファイン セラミックス、セラミック マトリックス複合材料、および連続繊維強化セラミック マトリックス複合材料に適用できます。適用温度範囲は約350K~1100Kです。
2 規範的参照
以下の文書は、その内容の一部またはすべてがこの文書の要件を構成する形で本文中で参照されています。日付が記載された参考文献については、引用された版のみが適用されます。日付のない参照については、参照文書の最新版 (修正を含む) が適用されます。
- IEC 60584-2, 熱電対 - Part 2: 許容差
- IEC 60751, 工業用白金測温抵抗体および白金温度センサー
3 用語と定義
この文書の目的上、次の用語と定義が適用されます。
ISO と IEC は、標準化に使用する用語データベースを次のアドレスで維持しています。
3.1
放射率
ε
同じ温度における物質 (試料) の放射放射と 黒体 (3.2) の放射放射の比
3.2
黒体
波長、入射方向、偏光に関係なく、すべての入射放射線を完全に吸収する理想的な放熱器
3.3
分光放射率
εs, λ、T
定義された波長λおよび温度T における試料の 放射率 (3.1)
3.4
通常分光放射率
εns, λ、T
定義された波長λおよび温度T における試料に垂直な 放射率 (3.1)
3.5
通常の全放射率
εn、T
同じ温度T における、試料表面の全放射パワーの法線成分と 黒体の全放射パワーの法線成分との比 (3.2)
3.6
通常の準全放射率
温度T におけるλ1とλ2の間の垂直放射率
注記 1:同じ温度T における、 λ1とλ2の間の黒体の放射強度の法線成分に対する、 λ1とλ2 の間の試料の放射強度の法線成分の比として計算されます。
参考文献
| 1 | Rousseau B.、B run JF, e SousaMeneses D.、E chegut P. 温度測定: クリスチャンセン波長と黒体基準。内部。 J.サーモフィス. 2005, 26 (4) pp. 1277–1286 |
Foreword
ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of national standards bodies (ISO member bodies). The work of preparing International Standards is normally carried out through ISO technical committees. Each member body interested in a subject for which a technical committee has been established has the right to be represented on that committee. International organizations, governmental and non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work. ISO collaborates closely with the International Electrotechnical Commission (IEC) on all matters of electrotechnical standardization.
The procedures used to develop this document and those intended for its further maintenance are described in the ISO/IEC Directives, Part 1. In particular, the different approval criteria needed for the different types of ISO document should be noted. This document was drafted in accordance with the editorial rules of the ISO/IEC Directives, Part 2 (see www.iso.org/directives ).
ISO draws attention to the possibility that the implementation of this document may involve the use of (a) patent(s). ISO takes no position concerning the evidence, validity or applicability of any claimed patent rights in respect thereof. As of the date of publication of this document, ISO had not received notice of (a) patent(s) which may be required to implement this document. However, implementers are cautioned that this may not represent the latest information, which may be obtained from the patent database available at www.iso.org/patents . ISO shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
Any trade name used in this document is information given for the convenience of users and does not constitute an endorsement.
For an explanation of the voluntary nature of standards, the meaning of ISO specific terms and expressions related to conformity assessment, as well as information about ISO's adherence to the World Trade Organization (WTO) principles in the Technical Barriers to Trade (TBT), see www.iso.org/iso/foreword.html .
This document was prepared by Technical Committee ISO/TC 206, Fine ceramics.
This second edition cancels and replaces the first edition (ISO 19618:2017), which has been technically revised.
The main changes are as follows:
- correction of the procedure for the linearity verification of the FTIR system in 7.3;
- addition of the thermal history of the specimen to the items to be reported in Clauses 6 and 11;
- correction of the terms to be used for the calculations in Clause 10.
1 Scope
This document specifies a method used for the determination of normal spectral emissivity and normal quasi-total emissivity of fine ceramics using blackbody reference with a Fourier transform infrared spectrometer (FTIR) at elevated temperatures. This method is applicable to fine ceramics, ceramic matrix composites, and continuous fibre-reinforced ceramic matrix composites which are opaque and highly non-reflective at wavelengths between 1,67 μm and 25 μm. The applicable temperature range is approximately 350 K to 1 100 K.
2 Normative references
The following documents are referred to in the text in such a way that some or all of their content constitutes requirements of this document. For dated references, only the edition cited applies. For undated references, the latest edition of the referenced document (including any amendments) applies.
- IEC 60584-2, Thermocouples — Part 2: Tolerances
- IEC 60751, Industrial platinum resistance thermometers and platinum temperature sensors
3 Terms and definitions
For the purposes of this document, the following terms and definitions apply.
ISO and IEC maintain terminology databases for use in standardization at the following addresses:
3.1
emissivity
ε
ratio of the radiant emittance of a substance (specimen) to the radiant emittance of a blackbody (3.2) at the same temperature
3.2
blackbody
ideal thermal radiator that absorbs all incident radiation completely, whatever the wavelength, direction of incidence or polarization
3.3
spectral emissivity
εs,λ,T
emissivity (3.1) of a specimen at a defined wavelength λ and temperature T
3.4
normal spectral emissivity
εns,λ,T
emissivity (3.1) perpendicular to the specimen at a defined wavelength λ and temperature T
3.5
normal total emissivity
εn,T
ratio of the normal component of the total emissive power of a specimen surface to the normal component of the total emissive power of a blackbody (3.2) at the same temperature T
3.6
normal quasi-total emissivity
normal emissivity between λ1 and λ2 at temperature T
Note 1 to entry: Calculated as the ratio of the normal component of the emissive intensity of a specimen between λ1 and λ2 to the normal component of the emissive intensity of a blackbody between λ1 and λ2 at the same temperature T.
Bibliography
| 1 | Rousseau B., Brun J.F., De Sousa Meneses D., Echegut P. Temperature measurement: Christiansen wavelength and blackbody reference. Int. J. Thermophys. 2005, 26 (4) pp. 1277–1286 |