※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。
序文
ISO (国際標準化機構) は、国家標準化団体 (ISO メンバー団体) の世界的な連合体です。国際規格の作成作業は通常、ISO 技術委員会を通じて行われます。技術委員会が設立された主題に関心のある各会員団体は、その委員会に代表される権利を有します。政府および非政府の国際機関も ISO と連携してこの作業に参加しています。 ISO は、電気技術の標準化に関するあらゆる事項について、国際電気標準会議 (IEC) と緊密に協力しています。
この文書の作成に使用される手順と、そのさらなる保守を目的とした手順は、ISO/IEC 指令Part 1 部に記載されています。特に、さまざまなタイプの ISO 文書に必要なさまざまな承認基準に注意する必要があります。この文書は、ISO/IEC 指令Part 2 部の編集規則に従って起草されました ( www.iso.org/directives を参照)
この文書の要素の一部が特許権の対象となる可能性があることに注意してください。 ISO は、かかる特許権の一部またはすべてを特定する責任を負わないものとします。文書の作成中に特定された特許権の詳細は、序論および/または受け取った特許宣言の ISO リストに記載されます ( www.iso.org/patents を 参照)
本書で使用されている商号は、ユーザーの便宜のために提供された情報であり、推奨を構成するものではありません。
規格の自主的な性質、適合性評価に関連する ISO 固有の用語と表現の意味、および貿易の技術的障壁 (TBT) における世界貿易機関 (WTO) 原則への ISO の準拠に関する情報については、次の情報を参照してください。次の URL: www.iso.org/iso/foreword.html
この文書は、技術委員会 ISO/TC 172, 「光学およびフォトニクス」 、小委員会 SC 3, 「光学材料およびコンポーネント」によって作成されました。
1 スコープ
この文書は、赤外光学材料中の気泡および介在物を測定するための装置、条件、サンプル、手順およびデータ処理を規定します。
これは、可視波長に対して不透明で透過光学スペクトルが 0.78 μm を超える赤外光学ガラス、赤外結晶、赤外セラミックなどの赤外光学材料内の気泡や含有物の測定に適用できます。
2 規範的参照
以下の文書は、その内容の一部またはすべてがこの文書の要件を構成する形で本文中で参照されています。日付が記載された参考文献については、引用された版のみが適用されます。日付のない参照については、参照文書の最新版 (修正を含む) が適用されます。
- ISO 10110-8, 光学およびフォトニクス — 光学素子およびシステムの図面の作成 — Part 8: 表面テクスチャ。粗さとうねり
3 用語と定義
この文書の目的上、次の用語と定義が適用されます。
ISO と IEC は、標準化に使用する用語データベースを次のアドレスで維持しています。
3.1
バブル
バルク赤外線ガラスおよびセラミック材料内のガス状の空隙、ほぼ円形の断面
3.2
含まれています
ほぼ円形の断面を持つ局所的なバルク赤外線材料の欠陥すべて
例：
小さな節、小さな石、砂、結晶。
3.3
材料の欠陥の値
サンプル100cm 3あたりの 気泡（3.1） と 介在物（3.2） の断面積の合計
参考文献
| 1 | JOGIS 12-1994, 光学ガラス中の気泡の測定方法 |
| 2 | JOGIS 13-1994, 光学ガラス中の含有物の測定方法 |
| 3 | MIL-G-174, 軍事仕様: ガラス、光学 (2004 年 7 月 28 日) |
| 4 | MIL-STD-1241, 軍事規格: 光学用語と定義、2017 |
| 5 | TIE—28 光学ガラスの気泡と含有物、技術情報アドバンストオプティクス、Schott, 2016 |
Foreword
ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of national standards bodies (ISO member bodies). The work of preparing International Standards is normally carried out through ISO technical committees. Each member body interested in a subject for which a technical committee has been established has the right to be represented on that committee. International organizations, governmental and non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work. ISO collaborates closely with the International Electrotechnical Commission (IEC) on all matters of electrotechnical standardization.
The procedures used to develop this document and those intended for its further maintenance are described in the ISO/IEC Directives, Part 1. In particular the different approval criteria needed for the different types of ISO documents should be noted. This document was drafted in accordance with the editorial rules of the ISO/IEC Directives, Part 2 (see www.iso.org/directives ).
Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this document may be the subject of patent rights. ISO shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. Details of any patent rights identified during the development of the document will be in the Introduction and/or on the ISO list of patent declarations received (see www.iso.org/patents ).
Any trade name used in this document is information given for the convenience of users and does not constitute an endorsement.
For an explanation on the voluntary nature of standards, the meaning of ISO specific terms and expressions related to conformity assessment, as well as information about ISO's adherence to the World Trade Organization (WTO) principles in the Technical Barriers to Trade (TBT) see the following URL: www.iso.org/iso/foreword.html .
This document was prepared by Technical Committee ISO/TC 172, Optics and photonics, Subcommittee SC 3, Optical materials and components.
1 Scope
This document specifies the apparatus, condition, sample, procedure and data processing of measuring bubbles and inclusions in infrared optical materials.
It is applicable to the determination of bubbles and inclusions in infrared optical materials, such as infrared optical glass, infrared crystals and infrared ceramics, which are opaque to visible wavelengths and whose transmission optical spectra are beyond 0,78 µm.
2 Normative references
The following documents are referred to in the text in such a way that some or all of their content constitutes requirements of this document. For dated references, only the edition cited applies. For undated references, the latest edition of the referenced document (including any amendments) applies.
- ISO 10110-8, Optics and photonics — Preparation of drawings for optical elements and systems — Part 8: Surface texture; roughness and waviness
3 Terms and definitions
For the purposes of this document, the following terms and definitions apply.
ISO and IEC maintain terminological databases for use in standardization at the following addresses:
3.1
bubble
gaseous voids in the bulk infrared glass and ceramics materials, of generally circular cross section
3.2
inclusion
all localized bulk infrared material defects of generally circular cross section
EXAMPLE:
Small knots, small stones, sand and crystals.
3.3
material imperfection value
total sum of the cross-sectional area of bubbles (3.1) and inclusions (3.2) per 100 cm3 of a sample
Bibliography
| 1 | JOGIS 12-1994, Measuring Method for Bubble in Optical Glass |
| 2 | JOGIS 13-1994, Measuring Method for Inclusion in Optical Glass |
| 3 | MIL-G-174B (Notice 2), Military Specification: Glass, Optical (28 Jul 2004) |
| 4 | MIL-STD-1241A (Notice 3), Military Standard: Optical Terms and Definitions, 2017 |
| 5 | TIE—28 Bubbles and Inclusions in Optical Glass, Technical Information Advanced Optics, Schott, 2016 |