ISO 20579-1:2024 表面化学分析 — サンプルの取り扱い、準備および取り付け — Part 1:分析前の試料の取り扱いを文書化および報告する

ISO20579-1:2024の規格概要

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Surface chemical analysis — Sample handling, preparation and mounting — Part 1: Documenting and reporting the handling of specimens prior to analysis

この文書は、分析目的に沿った方法でサンプルが選択、処理、取り扱い、保管されていることを確認し、表面分析の信頼性と再現性を保証するために必要な情報を特定します。このような情報は、サンプル データ レコード ブック、データシート、分析証明書、レポート、その他の規格の重要な要素でもあります。この情報は、ソース/合成情報、処理履歴、およびその起源に関するデータ記録 (来歴情報と呼ばれることもあります) の一部となるその他の特徴付けなど、分析対象の標本に関連する他の詳細情報に追加されます。サンプルとその元の形式への変更。

この文書には、表面化学分析技術、特にオージェ電子分光法 (AES)、二次イオン質量分析法 (SIMS)、および X 線光電子分光法 (XPS) の特殊なサンプル取り扱い技術と保管要件を理解するための補助として、規範的な付属書も含まれています。 ）。提示された情報は、表面組成に敏感な全反射蛍光 X 線分光法 (TXRF) や表面形態に敏感な走査型プローブ顕微鏡 (SPM) などの他の分析技術にも適用できます。

この文書は、記載されている分析測定が適切に実施されていることを保証するために必要な機器の性質や操作手順を定義するものではありません。

※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。