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ISO 22493:2014の概要
ISO22493:2014の規格概要
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Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Vocabulary
ISO 22493:2014 は、走査型電子顕微鏡 (SEM) の実践で使用される用語を定義しています。これは、一般的な概念と特殊な概念の両方を網羅しており、体系的な順序で階層に従って分類されており、必要に応じて ISO 23833 ですでに定義されている用語も含まれています。
ISO 22493:2014 は、SEM の実践に関連するすべての標準化文書に適用されます。さらに、ISO 22493:2014 の一部の条項は、関連分野 (EPMA、AEM、EDS など) に関連する用語の定義に関連する文書に適用されます。
※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。
ISO22493:2014 国際規格 情報
- ISO 国際規格番号
- ISO 22493:2014
- ISO 国際規格名称
- Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Vocabulary
- ISO 規格名称 日本語訳
- マイクロビーム分析 — 走査型電子顕微鏡法 — 語彙
- 発行日 (Publication date)
- 2014-04
- 更新日：確認日 (Update date,Date confirmed)
- 2024-12-03
- 状態 (Status)
- 公開済み (Published)
- 改訂 (Edition)
- 2
- PDF ページ数 (Number of pages)
- 20
- TC（専門委員会）:Technical Committee
- ISO/TC 202/SC 1 用語：(Terminology)
- ICS：International Classification for Standards（国際規格分類）
- 37.020：Optical equipment,01.040.37：Image technology (Vocabularies),
- ISO 対応 JIS 規格
- ICS 対応 JIS 規格
ISO 22493:2014 関連規格 履歴一覧
ISO22493:2014 対応 JIS 規格一覧
ISO22493:2014 ICS 対応 JIS 規格
ICS > 37：映像技術 > 37.020：光学設備
ICS > 01：総論．用語．標準化．ドキュメンテーション > 01.040：用語集 > 01.040.37：映像技術（用語集）
ISO 22493:2014 修正 一覧 (Amendments)
ISO 22493:2014 正誤表 一覧 (Corrigenda)
ISO 22493:2014 規格の現段階 ステージ (Stage codes: 90) 見直
サブステージコード 90.60 レビュー終了 (Close of review)
ISO 22493:2014 持続可能な開発目標 SDGS
この規格は、以下の持続可能な開発目標 (Sustainable Development Goal)に貢献します。
- 17の目標 : [Sustainable Development Goal]
SDGsとは、「Sustainable Development Goals（持続可能な開発目標）」の略称で、2015年9月に国連で採択された2030年までの国際開発目標。17の目標と169のターゲット達成により、「誰一人取り残さない」社会の実現に向け、途上国及び先進国で取り組むものです。