ISO 24497-1:2020 非破壊検査—金属磁気メモリ—パート1：用語, 語彙と一般的な要件

ISO24497-1:2020の規格概要

閲覧 情報

Non-destructive testing — Metal magnetic memory — Part 1: Vocabulary and general requirements

このドキュメントでは、金属磁気メモリ (MMM) の手法による非破壊検査 (NDT) の用語と定義、およびこの磁気テスト方法の手法を適用するための一般的な要件を指定します、このドキュメントで指定されている用語は、アプリケーションに必須です、金属磁気メモリ技術を使用した非破壊検査のすべてのタイプの文書および文献、このNDT技術の目的は次のとおりです、 — 強磁性体の磁気機械的状態の不均一性の決定、欠陥の集中および境界の検出金属の微細構造の不均一性; — さらなる微細構造分析および/または非破壊検査および評価のための磁粉探傷のある場所の決定; — 検査対象の疲労損傷の早期診断およびその構造寿命の評価; — 新しいものの迅速な分類さらにテストするために、磁気の不均一性によって検査対象を使用しました、 — eff金属磁気メモリテストを他のNDT方法または技術（超音波テスト、X線など）と組み合わせて、最も可能性の高い欠陥位置を迅速に検出することによる非破壊テストの効率向上; — さまざまなタイプの溶接継手の品質管理およびそれらの実施形態（接触およびスポット溶接を含む）、このアプリケーションの詳細については、ISO24497-2を参照してください、

※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。