※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。
序文
ISO (国際標準化機構) は、各国の標準化団体 (ISO メンバー団体) の世界的な連合です。国際規格の作成作業は、通常、ISO 技術委員会を通じて行われます。技術委員会が設立された主題に関心のある各会員団体は、その委員会に代表される権利を有します。 ISOと連携して、政府および非政府の国際機関もこの作業に参加しています。 ISO は、電気技術の標準化に関するすべての問題について、国際電気標準会議 (IEC) と緊密に協力しています。
国際規格は、ISO/IEC 指令で指定された規則に従って起草されます。 3.
技術委員会によって採択されたドラフト国際規格は、投票のためにメンバー団体に配布されます。国際規格として発行するには、投票するメンバー団体の少なくとも 75% による承認が必要です。
この国際規格の一部の要素が特許権の対象となる可能性があることに注意してください。 ISO は、そのような特許権の一部またはすべてを特定する責任を負わないものとします。
国際規格 ISO 3497 は、技術委員会 ISO/TC 107, 金属およびその他の無機コーティング、小委員会 SC 2, 試験方法によって作成されました。
この第 3 版は、技術的に改訂された第 2 版 (ISO 3497:1990) を取り消して置き換えるものです。
この国際規格の附属書 A は情報提供のみを目的としています。
1 スコープ
警告 X 線に対する人員の保護に関する問題は、この国際規格ではカバーされていません。この重要な側面に関する情報については、現在の国際規格および国内規格、および存在する場合は現地の規制を参照する必要があります。
1.1この国際規格は、X 線分光法を使用して金属コーティングの厚さを測定する方法を指定します。
1.2この国際規格が適用される測定方法は、基本的に単位面積当たりの質量を決定する方法です。コーティング材料の密度の知識を使用して、測定結果をコーティングの線厚として表すこともできます。
1.3測定方法により、最大 3 層のコーティング システムの同時測定、または最大 3 成分の層の厚さと組成の同時測定が可能です。
1.4特定のコーティング材料の実際の測定範囲は、分析対象の特性 X 線蛍光のエネルギーと許容される測定の不確かさによって主に決定され、使用する機器システムと操作手順によって異なる場合があります。
2 用語と定義
この国際規格の目的のために、次の用語と定義が適用されます。
2.1
蛍光X線
XRF
高強度の入射 X 線ビームが入射ビームの経路に置かれた物質に衝突するときに発生する二次放射線。
グレード 1 からエントリ:二次放出は、その物質に特有の波長とエネルギーを持っています。
2.2
蛍光放射の強度
機器によって測定された放射強度xは、1 秒あたりのカウント (放射パルス) で表されます。
2.3
飽和厚さ
これを超えても蛍光強度に検出可能な変化が生じない厚さ
注記 1:飽和厚さは、蛍光放射のエネルギーまたは波長、材料の密度と原子番号、および材料の表面に対する入射角と蛍光放射の角度に依存します。
2.4
正規化された強度
xn
コーティングされた試験片xとコーティングされていない基板材料から得られた強度の差x0と、飽和厚さ以上の厚さの材料xs (2.3 参照) とコーティングされていない材料から得られた差との比。基板材料、 x0 、すべて同じ条件下で測定
どこ
| x | コーティングされた試験片から得られた強度です。 |
| x0 | コーティングされていない基板材料から得られる強度です。 |
| xs | は、飽和厚さ以上の厚さの材料から得られる強度です。 |
注記 2:正規化された強度は、測定時間と積分時間、および励起 (入射放射線) の強度とは無関係です。幾何学的構成と励起放射のエネルギーは、正規化された計数率に影響を与える可能性があります。 xnの値は、0 から 1 の間で有効です。
2.5
中塗り
トップ コーティングとベース マテリアルの間にあるコーティングで、各コーティングの飽和未満の厚さのコーティング
注記 1:トップ コーティングとベース マテリアル (基板) の間にあり、飽和以上の厚さを持つコーティングは、それ自体が真の基板と見なされます。目的。
2.6
計数率
単位時間当たりに計測器によって記録された放射線パルスの数 (2.2 を参照)
2.7
基材
ベースメタル
コーティングが堆積または形成される材料
[出典:ISO 2080:1981, 定義 134]
2.8
一
コーティングが直接堆積される材料
注記 1回または最初のコーティングの場合，基材は 基礎材料 と同一である。後続のコーティングでは、中間コーティングが下地になります。
[出典:ISO 2080:1981, 定義 630]
Foreword
ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of national standards bodies (ISO member bodies). The work of preparing International Standards is normally carried out through ISO technical committees. Each member body interested in a subject for which a technical committee has been established has the right to be represented on that committee. International organizations, governmental and non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work. ISO collaborates closely with the International Electrotechnical Commission (IEC) on all matters of electrotechnical standardization.
International Standards are drafted in accordance with the rules given in the ISO/IEC Directives, 3.
Draft International Standards adopted by the technical committees are circulated to the member bodies for voting. Publication as an International Standard requires approval by at least 75 % of the member bodies casting a vote.
Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this International Standard may be the subject of patent rights. ISO shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
International Standard ISO 3497 was prepared by Technical Committee ISO/TC 107, Metallic and other inorganic coatings, Subcommittee SC 2, Test methods.
This third edition cancels and replaces the second edition (ISO 3497:1990), which has been technically revised.
Annex A of this International Standard is for information only.
1 Scope
WARNING Problems concerning protection of personnel against X-rays are not covered by this International Standard. For information on this important aspect, reference should be made to current international and national standards, and to local regulations, where these exist.
1.1 This International Standard specifies methods for measuring the thickness of metallic coatings by the use of X-ray spectrometric methods.
1.2 The measuring methods to which this International Standard applies are fundamentally those that determine the mass per unit area. Using a knowledge of the density of the coating material, the results of measurements can also be expressed as linear thickness of the coating.
1.3 The measuring methods permit simultaneous measurement of coating systems with up to three layers, or simultaneous measurement of thickness and compositions of layers with up to three components.
1.4 The practical measurement ranges of given coating materials are largely determined by the energy of the characteristic X-ray fluorescence to be analysed and by the acceptable measurement uncertainty and can differ depending upon the instrument system and operating procedure used.
2 Terms and definitions
For the purposes of this International Standard, the following terms and definitions apply.
2.1
X-ray fluorescence
XRF
secondary radiation occurring when a high intensity incident X-ray beam impinges upon a material placed in the path of the incident beam
Note 1 to entry: The secondary emission has wavelengths and energies characteristic of that material.
2.2
intensity of fluorescent radiation
radiation intensity, x , measured by the instrument, expressed in counts (radiation pulses) per second
2.3
saturation thickness
thickness that, if exceeded, does not produce any detectable change in fluorescent intensity
Note 1 to entry: Saturation thickness depends upon the energy or wavelength of the fluorescent radiation, density and atomic number of the material and on the angle of incident and fluorescent radiation with respect to the surface of the material.
2.4
normalized intensity
xn
ratio of the difference in intensity obtained from a coated specimen, x , and an uncoated substrate material, x0, and the difference obtained from a material of thickness equal to or greater than the saturation thickness, xs (see 2.3) and an uncoated substrate material, x0, all measured under the same conditions
where
| x | is the intensity obtained from the coated specimen; |
| x0 | is the intensity obtained from uncoated substrate material; |
| xs | is the intensity obtained from a material of thickness equal to or greater than the saturation thickness. |
Note 2 to entry: The normalized intensity is independent of measurement and integration time, and intensity of the excitation (incident radiation). The geometric configuration and the energy of the excitation radiation can influence the normalized count rate. The value of xn is valid between 0 and 1.
2.5
intermediate coatings
coatings that lie between the top coating and the basis material and are of thicknesses less than saturation for each of the coatings
Note 1 to entry: Any coating lying between the top coating and the basis material (substrate) and having a thickness above saturation should itself be considered the true substrate since the material under such a coating will not affect the measurement and can be eliminated for measurement purposes.
2.6
count rate
number of radiation pulses recorded by the instrument per unit time (see 2.2).
2.7
basis material
basis metal
material upon which coatings are deposited or formed
[SOURCE:ISO 2080:1981, definition 134]
2.8
substrate
material upon which a coating is directly deposited
Note 1 to entry: For a single or first coating the substrate is identical with the basis material ; for a subsequent coating the intermediate coating is the substrate.
[SOURCE:ISO 2080:1981, definition 630]