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ISO 4288:1996 幾何学的製品仕様（GPS）—表面テクスチャ：プロファイル方法—表面テクスチャの評価のためのルールと手順 | ページ 2

※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。

序文

ISO (国際標準化機構) は、各国の標準化団体 (ISO メンバー団体) の世界的な連合です。国際規格の作成作業は、通常、ISO 技術委員会を通じて行われます。技術委員会が設立された主題に関心のある各会員団体は、その委員会に代表される権利を有します。 ISOと連携して、政府および非政府の国際機関もこの作業に参加しています。 ISO は、電気技術の標準化に関するすべての問題について、国際電気標準会議 (IEC) と緊密に協力しています。

技術委員会によって採択されたドラフト国際規格は、投票のためにメンバー団体に配布されます。国際規格として発行するには、投票するメンバー団体の少なくとも 75% による承認が必要です。

国際規格 ISO 4288 は、技術委員会 ISO/TC 57, 表面の計測と特性、小委員会 SC 1, 幾何学的パラメータ - 表面の粗さとうねりの測定のための機器と手順、 ISO/TC 3, 限界と適合、および ISO/ TC 10, 技術図面、製品定義および関連文書、小委員会 SC 5, 寸法と公差。

この第 2 版は、技術的に改訂された第 1 版 (ISO 4288:1985) を取り消して置き換えるものです。

フィルターのカットオフ値が、図面の指示ではなく、ワークのテクスチャに基づいて選択されるという点で、前の版とは異なります。さらに、この国際規格には、 RaとRz 以外のパラメータの決定に関する規則が含まれています。この第 2 版では、粗さプロファイル パラメーター、プライマリ プロファイル パラメーター、および測定されたモチーフ パラメーター値と指定された仕様との比較について説明します。

現在、標準化されたルールがない M システムのうねりプロファイル パラメータをカバーする修正が準備されることが想定されています。

この国際規格の附属書 A, B, および C は、情報提供のみを目的としています。

序章

この国際規格は、幾何学的製品仕様 (GPS) 規格であり、一般的な GSP 規格と見なされます (ISO/TR 14638 を参照)これは、粗さプロファイルとプライマリ プロファイルの標準チェーンのチェーン リンク 3 と 4 に影響します。

この国際規格と他の規格および GPS マトリックス モデルとの関係の詳細については、附属書 B を参照してください。

周期的プロファイルと非周期的プロファイルの区別は主観的であり、ユーザーの裁量に委ねられています。

1 スコープ

この国際規格は、ISO 4287, ISO 12085, ISO 13565-2, および ISO 13565-3 で定義されている表面テクスチャ パラメータの許容限界と測定値を比較するための規則を指定します。

また、ISO 3274 に準拠したスタイラス機器を使用して、ISO 4287 に準拠した粗さプロファイル パラメータを測定するためのカットオフ波長λ c の選択に関するデフォルト ルールも指定します。

2 参考文献

次の規格には、このテキストで参照することにより、この国際規格の規定を構成する規定が含まれています。発行の時点で、示されている版は有効でした。すべての規格は改訂される可能性があり、この国際規格に基づく契約の当事者は、以下に示す規格の最新版を適用する可能性を調査することをお勧めします。 IEC および ISO のメンバーは、現在有効な国際規格の登録簿を維持しています。

  • ISO 1302:1992, テクニカル ドローイング — 表面テクスチャの表示方法。
  • ISO 3274:1996, Geometrical Product Specifications (GPS) — 表面テクスチャ: プロファイル法 — 接触 (スタイラス) 器具の公称特性。
  • ISO 4287:1996, Geometrical Product Specifications (GPS) — 表面テクスチャ: プロファイル メソッド — 表面テクスチャの用語、定義、およびパラメータ。
  • ISO 12085:1996, Geometrical Product Specifications (GPS) — 表面テクスチャ: プロファイル メソッド — モチーフ パラメータ。
  • ISO 13565-1:1996, Geometrical Product Specifications (GPS) — 表面テクスチャ: プロファイル法;階層化された機能特性を持つ表面 — 1: フィルタリングおよび一般的な測定条件。
  • ISO 13565-2:1996, Geometrical Product Specifications (GPS) — 表面テクスチャ: プロファイル法;階層化された機能特性を持つ表面 — 2: 線形材料比曲線を使用した高さの特徴付け。
  • ISO 13565-3: — 1) 、幾何学的製品仕様 (GPS) — 表面テクスチャ: プロファイル法;階層化された機能特性を持つ表面 — 3: 材料確率曲線を使用した高さの特徴付け。
  • ISO 14253-1:— 1) 、幾何学的製品仕様 (GPS) — ワークピースおよび測定器の測定による検査 — 1: 仕様への適合または不適合を証明するための決定規則。

3 つの定義

この国際規格の目的のために、ISO 3274, ISO 4287, ISO 12085, ISO 13565-2, および ISO 13565-3 で与えられた定義が適用されます。

附属書C

（参考）

参考文献

[1]ISO/TR 14638:1995, Geometrical Product Specification (GPS) — マスター プラン。
[2]VIM — 計測学の基本用語と一般用語の国際語彙。 BIPM, IEC, IFCC, ISO, IUPAC, IUPAP, OIML, 第 2 版、1993 年。

Foreword

ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of national standards bodies (ISO member bodies). The work of preparing International Standards is normally carried out through ISO technical committees. Each member body interested in a subject for which a technical committee has been established has the right to be represented on that committee. International organizations, governmental and non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work. ISO collaborates closely with the International Electrotechnical Commission (IEC) on all matters of electrotechnical standardization.

Draft International Standards adopted by the technical committees are circulated to the member bodies for voting. Publication as an International Standard requires approval by at least 75 % of the member bodies casting a vote.

International Standard ISO 4288 was prepared jointly by Technical Committees ISO/TC 57, Metrology and properties of surfaces, Subcommittee SC 1, Geometrical parameters — Instruments and procedures for measurement of surface roughness and waviness, ISO/TC 3, Limits and fits and ISO/TC 10, Technical drawings, product definition and related documentation, Subcommittee SC 5, Dimensioning and tolerancing.

This second edition cancels and replaces the first edition (ISO 4288:1985) which has been technically revised.

It differs from the previous edition in that filter cut-off values are chosen based on the workpiece texture rather than the drawing indication. Furthermore, this International Standard includes rules for the determination of parameters other than Ra and Rz. This second edition covers roughness profile parameters, primary profile parameters and comparison of measured motif parameter values with given specification.

It is envisaged that an amendment will be prepared covering M-system waviness profile parameters, for which there are currently no standardized rules.

Annexes A, B and C of this International Standard are for information only.

Introduction

This International Standard is a geometrical product specification (GPS) standard and is to be regarded as a general GSP standard (see ISO/TR 14638). It influences the chain links 3 and 4 of the chains of standards for roughness profile and primary profile.

For more detailed information of the relation of this International Standard to other standards and the GPS matrix model see annex B.

The discrimination between periodic and non-periodic profiles is subjective and left to the discretion of the user.

1 Scope

This International Standard specifies the rules for comparison of the measured values with the tolerance limits for surface texture parameters defined in ISO 4287, ISO 12085, ISO 13565-2 and ISO 13565-3.

It also specifies the default rules for selection of cut-off wavelength, λc, for measuring roughness profile parameters according to ISO 4287 by using stylus instruments according to ISO 3274.

2 Normative references

The following standards contain provisions which, through reference in this text, constitute provisions of this International Standard. At the time of publication, the editions indicated were valid. All standards are subject to revision, and parties to agreements based on this International Standard are encouraged to investigate the possibility of applying the most recent editions of the standards indicated below. Members of IEC and ISO maintain registers of currently valid International Standards.

  • ISO 1302:1992, Technical drawings — Method of indicating surface texture.
  • ISO 3274:1996, Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method — Nominal characteristics of contact (stylus) instruments.
  • ISO 4287:1996, Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method — Terms, definitions and parameters of surface texture.
  • ISO 12085:1996, Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method — Motif parameters.
  • ISO 13565-1:1996, Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method; surfaces having stratified functional properties — 1: Filtering and general measurement conditions.
  • ISO 13565-2:1996, Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method; surfaces having stratified functional properties — 2: Height characterization using the linear material ratio curve.
  • ISO 13565-3:— 1) , Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method; surfaces having stratified functional properties — 3: Height characterization using the material probability curve.
  • ISO 14253-1:— 1) , Geometrical Product Specifications (GPS) — Inspection by measurement of workpieces and measuring instruments — 1: Decision rules for proving conformance or non-conformance with specifications.

3 Definitions

For the purposes of this International Standard, the definitions given in ISO 3274, ISO 4287, ISO 12085, ISO 13565-2 and ISO 13565-3 apply.

Annex С

(informative)

Bibliography

[1]ISO/TR 14638:1995, Geometrical Product Specification (GPS) — Masterplan.
[2]VIM — International vocabulary of basic and general terms in metrology. BIPM, IEC, IFCC, ISO, IUPAC, IUPAP, OIML, 2nd edition, 1993.

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