ISO 5189:2023 ファインセラミックス(アドバンストセラミックス、アドバンストテクニカルセラミックス) ― 誘導結合プラズマ発光分析法を用いた二酸化ケイ素粉末中の金属不純物の化学分析方法 | ページ 2

※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。

序文

ISO (国際標準化機構) は、国家標準化団体 (ISO メンバー団体) の世界的な連合体です。国際規格の作成作業は通常、ISO 技術委員会を通じて行われます。技術委員会が設立された主題に関心のある各会員団体は、その委員会に代表される権利を有します。政府および非政府の国際機関も ISO と連携してこの作業に参加しています。 ISO は、電気技術の標準化に関するあらゆる事項について、国際電気標準会議 (IEC) と緊密に協力しています。

この文書の開発に使用される手順と、そのさらなる保守を目的とした手順は、ISO/IEC 指令Part 1 部に記載されています。特に、さまざまなタイプの ISO 文書に必要なさまざまな承認基準に注意する必要があります。この文書は、ISO/IEC 指令Part 2 部の編集規則に従って起草されました ( www.iso.org/directives を参照)

ISO は、この文書の実装に特許の使用が含まれる可能性があることに注意を促しています。 ISO は、請求された特許権に関する証拠、有効性、または適用可能性に関していかなる立場もとりません。この文書の発行日の時点で、ISO はこの文書の実装に必要となる可能性のある特許の通知を受け取っていません。ただし、実装者は、これが www.iso.org/patents で入手可能な特許データベースから取得できる最新の情報を表していない可能性があることに注意してください。 ISO は、かかる特許権の一部またはすべてを特定する責任を負わないものとします。

本書で使用されている商号は、ユーザーの便宜のために提供された情報であり、推奨を構成するものではありません。

規格の自主的な性質、適合性評価に関連する ISO 固有の用語と表現の意味、および貿易の技術的障壁 (TBT) における世界貿易機関 (WTO) 原則への ISO の準拠に関する情報については、以下を参照してください。 www.iso.org/iso/foreword.html

この文書は ISO/TC 206, ファインセラミックス技術委員会によって作成されました。

1 スコープ

この文書は、ファインセラミックスの原料として使用される二酸化ケイ素粉末中に含まれる金属不純物の化学分析方法を規定したものです。

酸分解により分解される二酸化ケイ素粉末中の金属不純物元素の定量方法を規定しています。試験溶液中のアルミニウム、カドミウム、カルシウム、銅、鉄、鉛、リチウム、マグネシウム、マンガン、ニッケル、カリウム、ナトリウム、チタン、亜鉛、ジルコニウムの含有量は、誘導結合プラズマ発光分析法 (ICP-OES) によって測定されます。 。

2 規範的参照

以下の文書は、その内容の一部またはすべてがこの文書の要件を構成する形で本文中で参照されています。日付が記載された参考文献については、引用された版のみが適用されます。日付のない参照については、参照文書の最新版 (修正を含む) が適用されます。

  • ISO 3696, 分析実験室用水 — 仕様と試験方法
  • ISO 8656-1, 耐火物製品 — 原材料および未成形製品のサンプリング — Part 1: サンプリング計画

3 用語と定義

この文書には用語や定義は記載されていません。

ISO と IEC は、標準化に使用する用語データベースを次のアドレスで維持しています。

参考文献

1ISO 6353-2, 化学分析用試薬 - Part 2: 仕様 - 最初のシリーズ
2ISO 6353-3, 化学分析用試薬 - Part 3: 仕様 - 第 2 シリーズ

Foreword

ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of national standards bodies (ISO member bodies). The work of preparing International Standards is normally carried out through ISO technical committees. Each member body interested in a subject for which a technical committee has been established has the right to be represented on that committee. International organizations, governmental and non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work. ISO collaborates closely with the International Electrotechnical Commission (IEC) on all matters of electrotechnical standardization.

The procedures used to develop this document and those intended for its further maintenance are described in the ISO/IEC Directives, Part 1. In particular, the different approval criteria needed for the different types of ISO document should be noted. This document was drafted in accordance with the editorial rules of the ISO/IEC Directives, Part 2 (see www.iso.org/directives ).

ISO draws attention to the possibility that the implementation of this document may involve the use of (a) patent(s). ISO takes no position concerning the evidence, validity or applicability of any claimed patent rights in respect thereof. As of the date of publication of this document, ISO had not received notice of (a) patent(s) which may be required to implement this document. However, implementers are cautioned that this may not represent the latest information, which may be obtained from the patent database available at www.iso.org/patents . ISO shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.

Any trade name used in this document is information given for the convenience of users and does not constitute an endorsement.

For an explanation of the voluntary nature of standards, the meaning of ISO specific terms and expressions related to conformity assessment, as well as information about ISO's adherence to the World Trade Organization (WTO) principles in the Technical Barriers to Trade (TBT), see www.iso.org/iso/foreword.html .

This document was prepared by Technical Committee ISO/TC 206, Fine ceramics.

1 Scope

This document specifies methods for the chemical analysis of metal impurities present in silicon dioxide powders used as a raw material for fine ceramics.

It stipulates the methods for the determination of metal impurity elements in silicon dioxide powders that are decomposed by acid decomposition. The aluminium, cadmium, calcium, copper, iron, lead, lithium, magnesium, manganese, nickel, potassium, sodium, titanium, zinc and zirconium contents in the test solution are determined by inductively coupled plasma-optical emission spectrometry (ICP-OES).

2 Normative references

The following documents are referred to in the text in such a way that some or all of their content constitutes requirements of this document. For dated references, only the edition cited applies. For undated references, the latest edition of the referenced document (including any amendments) applies.

  • ISO 3696, Water for analytical laboratory use — Specification and test methods
  • ISO 8656-1, Refractory products — Sampling of raw materials and unshaped products — Part 1: Sampling scheme

3 Terms and definitions

No terms and definitions are listed in this document.

ISO and IEC maintain terminology databases for use in standardization at the following addresses:

Bibliography

1ISO 6353-2, Reagents for chemical analysis — Part 2: Specifications — First series
2ISO 6353-3, Reagents for chemical analysis — Part 3: Specifications — Second series