※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。
序文
ISO (国際標準化機構) は、各国の標準化団体 (ISO メンバー団体) の世界的な連合です。国際規格の作成作業は、通常、ISO 技術委員会を通じて行われます。技術委員会が設立された主題に関心のある各会員団体は、その委員会に代表される権利を有します。 ISOと連携して、政府および非政府の国際機関もこの作業に参加しています。 ISO は、電気技術の標準化に関するすべての問題について、国際電気標準会議 (IEC) と緊密に協力しています。
この文書の作成に使用された手順と、今後の維持を意図した手順は、ISO/IEC 指令で説明されています。 1. 特に、さまざまなタイプの ISO 文書に必要なさまざまな承認基準に注意する必要があります。この文書は、ISO/IEC 指令の編集規則に従って作成されました。 2 ( www.iso.org/directives を参照)
このドキュメントの一部の要素が特許権の対象となる可能性があることに注意してください。 ISO は、そのような特許権の一部または全部を特定する責任を負わないものとします。ドキュメントの開発中に特定された特許権の詳細は、序文および/または受信した特許宣言の ISO リストに記載されます ( www.iso.org/patents を参照)
このドキュメントで使用されている商号は、ユーザーの便宜のために提供された情報であり、保証を構成するものではありません。
規格の自主的な性質の説明、適合性評価に関連する ISO 固有の用語と表現の意味、および技術的貿易障壁 (TBT) における世界貿易機関 (WTO) の原則への ISO の準拠に関する情報については、 www を参照してください。 .iso.org/iso/foreword.html .
この文書は、欧州標準化委員会 (CEN) 技術委員会 CEN/TC 262, 金属およびその他の無機コーティング (金属およびISO と CEN 間の技術協力に関する協定 (ウィーン協定) に従って、合金。
この初版は、技術的に改訂された ISO 8289:2000 を取り消して置き換えます。
1 スコープ
この文書では、ガラス質および磁器エナメル コーティングの素地金属に及ぶ欠陥を検出および特定するための 2 つの低電圧試験を指定しています。
方法 A (電気的) は、欠陥の一般的な位置の迅速な検出と決定に適用できます。色効果に基づく方法 B (光学) は、欠陥とその正確な位置をより正確に検出するために適用できます。どちらの方法も、一般的に平面に適用されます。起伏のある表面や波形の表面など、より複雑な形状の場合は、ISO 8289-2 が適用されます。
注記 1正しい試験方法の選択は、方法 B によって検出された導電率の増加した領域と、両方の方法で検出できる基本金属にまで及ぶ実際の細孔とを区別するために重要です。
注記 2低電圧試験は、欠陥を検出する非破壊的な方法であるため、ISO 2746 で指定された高電圧試験とは完全に異なります。高電圧試験と低電圧試験の結果は比較できず、異なります。
2 参考文献
このドキュメントには規範的な参照はありません。
3 用語と定義
このドキュメントでは、次の用語と定義が適用されます。
ISO および IEC は、次のアドレスで標準化に使用する用語データベースを維持しています。
3.1
欠陥
素地金属に浸透するか、または広がる気孔、亀裂または破片
注記 1特定の領域では、成形品の製造中に発生する欠陥が避けられない場合があります。
参考文献
| [1] | ISO 2746, ガラス質および磁器エナメル — 高電圧試験 |
| [2] | ISO 8289-2, ガラス質および磁器エナメル — 欠陥を検出および特定するための低電圧試験 — 2: プロファイル面のスラリー試験 |
| [3] | IEC 60086-2, 一次電池 — 2: 物理的および電気的仕様 |
Foreword
ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of national standards bodies (ISO member bodies). The work of preparing International Standards is normally carried out through ISO technical committees. Each member body interested in a subject for which a technical committee has been established has the right to be represented on that committee. International organizations, governmental and non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work. ISO collaborates closely with the International Electrotechnical Commission (IEC) on all matters of electrotechnical standardization.
The procedures used to develop this document and those intended for its further maintenance are described in the ISO/IEC Directives, 1. In particular, the different approval criteria needed for the different types of ISO documents should be noted. This document was drafted in accordance with the editorial rules of the ISO/IEC Directives, 2 (see www.iso.org/directives ).
Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this document may be the subject of patent rights. ISO shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. Details of any patent rights identified during the development of the document will be in the Introduction and/or on the ISO list of patent declarations received (see www.iso.org/patents ).
Any trade name used in this document is information given for the convenience of users and does not constitute an endorsement.
For an explanation of the voluntary nature of standards, the meaning of ISO specific terms and expressions related to conformity assessment, as well as information about ISO’s adherence to the World Trade Organization (WTO) principles in the Technical Barriers to Trade (TBT) see www.iso.org/iso/foreword.html .
This document was prepared by ISO/TC 107, Metallic and other inorganic coatings, in collaboration with the European Committee for Standardization (CEN) Technical Committee CEN/TC 262, Metallic and other inorganic coatings, including for corrosion protection and corrosion testing of metals and alloys, in accordance with the Agreement on technical cooperation between ISO and CEN (Vienna Agreement).
This first edition cancels and replaces ISO 8289:2000, which has been technically revised.
1 Scope
This document specifies two low voltage tests for detecting and locating defects that extend to the basis metal in vitreous and porcelain enamel coatings.
Method A (electrical) is applicable to the rapid detection and determination of the general location of defects. Method B (optical), based on colour effects, is applicable to the more precise detection of defects and their exact locations. Both methods are commonly applied to flat surfaces. For more intricate shapes, such as undulated and/or corrugated surfaces, ISO 8289-2 is applicable.
NOTE 1 Selection of the correct test method is critical to distinguish the areas of increased conductivity detected by method B from actual pores that extend to the basis metal, which can be detected by both methods.
NOTE 2 The low voltage test is a non-destructive method of detecting defects and, therefore, is completely different from the high voltage test specified in ISO 2746. The results of the high and low voltage tests are not comparable and will differ.
2 Normative references
There are no normative references in this document.
3 Terms and definitions
For the purposes of this document, the following terms and definitions apply.
ISO and IEC maintain terminological databases for use in standardization at the following addresses:
3.1
defect
pore, crack or spall that penetrates or extends to the basis metal
Note 1 to entry: In certain areas, defects can be unavoidable, being caused during the production of the article, e.g. burnishing tool marks.
Bibliography
| [1] | ISO 2746, Vitreous and porcelain enamels — High voltage test |
| [2] | ISO 8289-2, Vitreous and porcelain enamels — Low-voltage test for detecting and locating defects — 2: Slurry test for profiled surfaces |
| [3] | IEC 60086-2, Primary batteries — 2: Physical and electrical specifications |