/

ISO/TR 21477:2017 光学およびフォトニクス—光学要素およびシステムの図面の作成—表面欠陥の仕様および測定システム | ページ 2

※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。

序文

ISO (国際標準化機構) は、各国の標準化団体 (ISO メンバー団体) の世界的な連合です。国際規格の作成作業は、通常、ISO 技術委員会を通じて行われます。技術委員会が設立された主題に関心のある各会員団体は、その委員会に代表される権利を有します。 ISOと連携して、政府および非政府の国際機関もこの作業に参加しています。 ISO は、電気技術の標準化に関するすべての問題について、国際電気標準会議 (IEC) と緊密に協力しています。

この文書の開発に使用された手順と、今後の維持のために意図された手順は、ISO/IEC 指令で説明されています。 1. 特に、さまざまなタイプの ISO 文書に必要なさまざまな承認基準に注意する必要があります。この文書は、ISO/IEC 指令の編集規則に従って作成されました。 2 ( www.iso.org/directives を参照)

このドキュメントの要素の一部が特許権の対象となる可能性があることに注意してください。 ISO は、そのような特許権の一部または全部を特定する責任を負わないものとします。ドキュメントの開発中に特定された特許権の詳細は、序文および/または受信した特許宣言の ISO リストに記載されます ( www.iso.org/patents を参照)

このドキュメントで使用されている商号は、ユーザーの便宜のために提供された情報であり、保証を構成するものではありません。

規格の自主的な性質に関する説明、適合性評価に関連する ISO 固有の用語と表現の意味、および技術的貿易障壁 (TBT) における世界貿易機関 (WTO) の原則への ISO の準拠に関する情報については、次を参照してください。次の URL: www.iso.org/iso/foreword.html

この文書は、技術委員会 ISO/TC 172, 光学およびフォトニクス、小委員会 SC 1, 基本規格によって作成されました。

序章

ISO 10110-7 は、光学素子および光学アセンブリの表面欠陥の許容レベルを示すための表記法を提供します。これは、許容される欠陥に対して 2 つの描画表記法を提供します。1 つは欠陥の面積とサイズに基づくもので、もう 1 つは欠陥の可視性または外観に基づくものです。

ISO 14997 は、これら 2 つの図面表記法に対するテスト方法を提供します。

これら 2 つの仕様と検証のシステムは、蓄積と受け入れのルールが異なり、まったく異なります。その結果、一方のシステムしか知らないユーザーは、他方のシステムの仕様を解釈する必要があるときに混乱する可能性があります。一方のシステムの仕様を他方のシステムの仕様に変換する方法はありません。受容性は交換可能ではありません。欠陥のサイズまたは面積は、その可視性または明るさとは相関していません。

しかしながら、多数の光学部品に対して事実上同じ歩留り損失をもたらす仕様を各システムに提供することは可能である。

1 スコープ

このドキュメントは、ISO 10110-7 と ISO 14997 における表面の欠陥を指定および評価する 2 つのシステム、特に寸法法と可視性法の間の起源、意味、および違いをユーザーが理解できるようにガイドし、その方法に関する情報を提供することを目的としています。それらを使用します。表は、2 つのシステムの不完全性に対するほぼ同等の歩留り損失の仕様を示すために提供されています。

2 参考文献

以下のドキュメントは、その内容の一部またはすべてがこのドキュメントの要件を構成するように、本文で参照されています。日付のある参考文献については、引用された版のみが適用されます。日付のない参照については、参照文書の最新版 (修正を含む) が適用されます。

  • ISO 10110-7, 光学およびフォトニクス — 光学素子およびシステムの図面の作成 — 7: 表面の欠陥
  • ISO 14997, 光学およびフォトニクス — 光学素子の表面欠陥の試験方法

3 用語と定義

このドキュメントの目的のために、ISO 10110-7 および ISO 14997 に記載されている用語と定義が適用されます。

ISO と IEC は、次のアドレスで標準化に使用する用語データベースを維持しています。

参考文献

[1]ISO 3, 優先番号 — 一連の優先番号
[2]ISO 10110-1, 光学およびフォトニクス — 光学素子およびシステムの図面の作成 — 1: 一般
[3]Cormier AJ, 現在のスクラッチ基準の評価。 proゲーム。 1987, 805 pp. 152–159
[4]Baker LR, 高品質の鏡面の指標。 SPIE Press Vol. TT65 (2004)
[5]McCleod JH, Sherwood WT, 光学部品の外観欠陥を特定する提案された方法。 J. Opt. Soc.オン。 1945年、35ページ136–138
[6]Young M.、スクラッチ アンド ディグの基準が改訂されました。アプリケーションオプト。 1986, 25 (12) pp. 1922-1929
[7]Aikens DM, 意味のある表面粗さと品質公差。国際光学設計会議201Proゲーム。 2010年、7652ページ。 765217
[8]Aikens DM, スクラッチとディグの真実。光の製造とテスト、OTuA2. OSA, 2010
[9]DIN 3140-7 1 、光学部品の寸法と公差の表記 - 表面欠陥
[10]MIL-PRF 13830B, 性能仕様、火器管制装置の光学部品;の製造、組み立て、および検査を管理する一般仕様。

Foreword

ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of national standards bodies (ISO member bodies). The work of preparing International Standards is normally carried out through ISO technical committees. Each member body interested in a subject for which a technical committee has been established has the right to be represented on that committee. International organizations, governmental and non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work. ISO collaborates closely with the International Electrotechnical Commission (IEC) on all matters of electrotechnical standardization.

The procedures used to develop this document and those intended for its further maintenance are described in the ISO/IEC Directives, 1. In particular the different approval criteria needed for the different types of ISO documents should be noted. This document was drafted in accordance with the editorial rules of the ISO/IEC Directives, 2 (see www.iso.org/directives ).

Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this document may be the subject of patent rights. ISO shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. Details of any patent rights identified during the development of the document will be in the Introduction and/or on the ISO list of patent declarations received (see www.iso.org/patents ).

Any trade name used in this document is information given for the convenience of users and does not constitute an endorsement.

For an explanation on the voluntary nature of standards, the meaning of ISO specific terms and expressions related to conformity assessment, as well as information about ISO's adherence to the World Trade Organization (WTO) principles in the Technical Barriers to Trade (TBT) see the following URL: www.iso.org/iso/foreword.html .

This document was prepared by Technical Committee ISO/TC 172, Optics and photonics, Subcommittee SC 1, Fundamental standards.

Introduction

ISO 10110-7 provides a notation for the indication of the level of acceptability of surface imperfections of optical elements and optical assemblies. It provides two systems of drawing notations for permissible imperfections: one based on area and size of imperfections and the other based on the visibility or appearance of imperfections.

ISO 14997 provides test methods for these two systems of drawing notation.

These two systems of specification and verification are totally different, with different accumulation and acceptance rules. As a result, a user who is only familiar with one of the systems can become confused when needing to interpret specifications in the other system. There is no way to translate a specification in one system into a specification in the other system because their criteria for acceptability are not interchangeable. The size or area of an imperfection is not correlated with its visibility or brightness.

It is, however, possible to provide a specification in each system which results in practically the same yield loss for large numbers of optical components.

1 Scope

This document intends to guide the user to understand the origins, meanings and differences between the two systems of specifying and evaluating surface imperfections in ISO 10110-7 and ISO 14997, specifically the dimensional method and the visibility method, and to provide information on how to use them. Tables are provided to show specifications of roughly equivalent yield loss for imperfections in the two systems.

2 Normative references

The following documents are referred to in the text in such a way that some or all of their content constitutes requirements of this document. For dated references, only the edition cited applies. For undated references, the latest edition of the referenced document (including any amendments) applies.

  • ISO 10110-7, Optics and photonics — Preparation of drawings for optical elements and systems — 7: Surface imperfections
  • ISO 14997, Optics and photonics — Test methods for surface imperfections of optical elements

3 Terms and definitions

For the purposes of this document, the terms and definitions given in ISO 10110-7 and ISO 14997 apply.

ISO and IEC maintain terminological databases for use in standardization at the following addresses:

Bibliography

[1]ISO 3, Preferred numbers — Series of preferred numbers
[2]ISO 10110-1, Optics and photonics — Preparation of drawings for optical elements and systems — 1: General
[3]Cormier A.J., Assessment of current scratch standards. Proc. SPIE. 1987, 805 pp. 152–159
[4]Baker L.R., Metrics for High-Quality Specular Surfaces. SPIE Press Vol. TT65 (2004)
[5]McCleod J.H., Sherwood W.T., A proposed method of specifying appearance defects on optical parts. J. Opt. Soc. Am. 1945, 35 pp. 136–138
[6]Young M., Scratch and dig standard revisited. Appl. Opt. 1986, 25 (12) pp. 1922–1929
[7]Aikens D.M., Meaningful surface roughness and quality tolerances. International Optical Design Conference 2010. Proc. SPIE. 2010, 7652 p. 765217
[8]Aikens D.M., The truth about scratch and dig. Optical Fabrication and Testing, OTuA2. OSA, 2010
[9]DIN 3140-7 1 , Inscription of dimensions and tolerances for optical components — Surface defects
[10]MIL-PRF 13830B, Performance Specification, Optical components for fire control instruments; general specification governing the manufacture, assembly, and inspection of;

ISO PDF プレビュー