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ISO/TS 17915:2013の概要
ISO/TS17915:2013の規格概要
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Optics and photonics — Measurement method of semiconductor lasers for sensing
ISO/TS 17915:2013は、センシングアプリケーション用の半導体レーザーに関連して、温度、注入電流依存性、およびレーザースペクトル線幅を測定する方法について説明しています、 ISO/TS 17915:2013は、エッジ発光型および垂直キャビティ表面発光型レーザー、バルク型および（歪み）量子井戸レーザー、量子カスケードレーザーなど、あらゆる種類の半導体レーザーに適用できます、例:産業、医療、農業分野、 ISO/TS 17915:2013は、ISO 13695のアプリケーションであり、物理的な基盤が説明されています、
※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。
ISO/TS17915:2013 国際規格 情報
- ISO 国際規格番号
- ISO/TS 17915:2013
- ISO 国際規格名称
- Optics and photonics — Measurement method of semiconductor lasers for sensing
- ISO 規格名称 日本語訳
- 光学とフォトニクス — センシング用半導体レーザーの測定方法
- 発行日 (Publication date)
- 2013-07
- 廃止日：撤回日 (Abolition date,Withdrawal date)
- 2018-05-25
- 状態 (Status)
- 撤回されました (Withdrawn)
- 改訂 (Edition)
- 1
- PDF ページ数 (Number of pages)
- 27
- TC（専門委員会）:Technical Committee
- ISO/TC 172/SC 9 レーザーおよび電気光学システム：(Laser and electro-optical systems)
- ICS：International Classification for Standards（国際規格分類）
- 31.260：Optoelectronics. Laser equipment,
- ISO 対応 JIS 規格
- ICS 対応 JIS 規格
ISO/TS 17915:2013 関連規格 履歴一覧
ISO/TS17915:2013 対応 JIS 規格一覧
ISO/TS17915:2013 ICS 対応 JIS 規格
ICS > 31：エレクトロニクス > 31.260：オプトエレクトロニクス．レーザー設備
ISO/TS 17915:2013 修正 一覧 (Amendments)
ISO/TS 17915:2013 正誤表 一覧 (Corrigenda)
ISO/TS 17915:2013 規格の現段階 ステージ (Stage codes: 95) 撤回、削除
サブステージコード 95.99 国際規格の撤回 (Withdrawal of International Standard)
ISO/TS 17915:2013 持続可能な開発目標 SDGS
この規格は、以下の持続可能な開発目標 (Sustainable Development Goal)に貢献します。
- 17の目標 : [Sustainable Development Goal]
SDGsとは、「Sustainable Development Goals（持続可能な開発目標）」の略称で、2015年9月に国連で採択された2030年までの国際開発目標。17の目標と169のターゲット達成により、「誰一人取り残さない」社会の実現に向け、途上国及び先進国で取り組むものです。