ISO/TS 25138:2019 表面化学分析—グロー放電発光分光分析による金属酸化物膜の分析 | ページ 2

※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。

序文

ISO (国際標準化機構) は、国家標準化団体 (ISO メンバー団体) の世界的な連合体です。国際規格の作成作業は通常、ISO 技術委員会を通じて行われます。技術委員会が設立された主題に関心のある各会員団体は、その委員会に代表される権利を有します。政府および非政府の国際機関も ISO と連携してこの作業に参加しています。 ISO は、電気技術の標準化に関するあらゆる事項について、国際電気標準会議 (IEC) と緊密に協力しています。

この文書の作成に使用される手順と、そのさらなる保守を目的とした手順は、ISO/IEC 指令Part 1 部に記載されています。特に、さまざまなタイプの ISO 文書に必要なさまざまな承認基準に注意する必要があります。この文書は、ISO/IEC 指令Part 2 部の編集規則に従って起草されました ( www.iso.org/directives を参照)

この文書の要素の一部が特許権の対象となる可能性があることに注意してください。 ISO は、かかる特許権の一部またはすべてを特定する責任を負わないものとします。文書の作成中に特定された特許権の詳細は、序論および/または受け取った特許宣言の ISO リストに記載されます ( www.iso.org/patents を 参照)

本書で使用されている商号は、ユーザーの便宜のために提供された情報であり、推奨を構成するものではありません。

規格の自主的な性質、適合性評価に関連する ISO 固有の用語と表現の意味、および貿易の技術的障壁 (TBT) における世界貿易機関 (WTO) 原則への ISO の準拠に関する情報については、以下を参照してください。 www.iso.org/iso/foreword.html

この文書は、ISO/TC 201 技術委員会、表面化学分析、サブ委員会 SC 8, グロー放電分光法によって作成されました。

この第 2 版は、技術的に改訂された第 1 版 (ISO/TS 25138:2010) を取り消し、置き換えます。前版との主な変更点は以下の通りです。

  • 要素 Zr がスコープに追加されました。
  • 装置の説明は、CCD および CID タイプの固体アレイ検出器を備えた分光計を含むように変更されました。
  • 第 6 条は、分光計の種類を含めてより明確にするために変更されました。
  • 第 8 条は、特に校正サンプルの推奨事項において、より明確にするために変更されました。

ISO TS 25138 シリーズのすべての部品のリストは、ISO Web サイトでご覧いただけます。

1 スコープ

この文書では、金属酸化膜の厚さ、単位面積当たりの質量、および化学組成を決定するためのグロー放電発光分光分析法について説明します。

この方法は、金属上の厚さ1nmから10000nmの酸化膜に適用できます。酸化物の金属元素は、Fe、Cr、Ni、Cu、Ti、Si、Mo、Zn、Mg、Mn、ZrおよびAlからの1つまたは複数を含むことができる。この方法で測定できる他の元素は、O, C, N, H, P, S です。

2 規範的参照

以下の文書は、その内容の一部またはすべてがこの文書の要件を構成する形で本文中で参照されています。日付が記載された参考文献については、引用された版のみが適用されます。日付のない参照については、参照文書の最新版 (修正を含む) が適用されます。

  • ISO 14284, 鋼と鉄 - 化学組成測定のためのサンプルのサンプリングと準備
  • ISO 14707, 表面化学分析 — グロー放電発光分析 (GD-OES) — 使用法入門
  • ISO 16962:2017, 表面化学分析 - グロー放電発光分光法による亜鉛および/またはアルミニウムベースの金属コーティングの分析

3 用語と定義

この文書の目的上、次の用語と定義が適用されます。

ISO と IEC は、標準化に使用する用語データベースを次のアドレスで維持しています。

3.1

検証

客観的証拠の提供による、指定された要件が満たされていることの確認

[出典:ISO 9000:2015, 2012 年 8 月 3 日]

3.2

検証

客観的な証拠の提供による、特定の使用目的または用途に対する特定の要件が満たされていることの確認

[出典:ISO 9000:2015, 2013 年 8 月 3 日]

参考文献

1Grimm W, 発光スペクトル分析用の新しいグロー放電ランプ。スペクトロチムActa Part B 2, p. 443
2Takadoum J.、Pirrin JC, Pons Corbeau J.、Berneron R.、Charbonnier JC, 金属へのイオン注入プロファイルの比較研究。サーフィン。インターフ。アナル 、6(1984)、p. 174
3滝本和也、西坂和也、鈴木和也、大坪哲也、新日鉄技報 33 、p. 28 (1987)
4Bengtson A.、Eklund A.、Saric A.、グロー放電発光分光分析による深さプロファイリングの校正技術のさらなる改善。 J.アナル。で。スペクトロム、5(1990)、p. 563
5ナウミディス A.、グントゥール D.、マズルキェヴィチ M.、ニッケル H.、フィッシャー W, 第 3 回ユーザー会議議事録「分析グロー放電分光法」 (ISBN 3-89336-041-7)、p. 138, ユーリッヒ (1990)
6Nelis T.、国際分光コロキウム、ヨーク (1993)
7Payling R.、グロー放電発光分光分析法。分光法、1, p. 36
8Bengtson A.、Nelis Th.、GDOES における一定排出量の概念。アナル。バイオアナル。 Chem .、385(2006)、p. 568
9ISO 5725-1, 測定方法と結果の精度 (真性と精度) — Part 1: 一般原則と定義
10ISO 5725-2, 測定方法と結果の精度 (真性と精度) — Part 2: 標準測定方法の再現性と再現性を決定するための基本方法
11ISO 5725-6, 測定方法と結果の精度 (真性と精度) — Part 6: 精度値の実践での使用
12ISO 9000:2015, 品質マネジメントシステム - 基礎と用語
13ISO/IEC 17025:2017, 試験および校正機関の能力に関する一般要件
14Marshall KA, Casper TJ, Brushwyler KR, Mitchell JC, 高周波グロー放電発光プラズマにおける電力制御の解析的影響。 J.アナル。で。スペクトロム 、18(2003)p. 637-645
15Wilken L, Hoffmann V.、 W K.、GD-OES の浸食速度測定J. Anal.で。スペクトロム、1, p. 1141-1145
16Dorka R.、Kunze R.、Hoffmann V.、光学効果による層厚決定を含むグロー放電発光分光法による SiO2 層の調査。アナル。で。スペクトロム、15(2000)p. 873-876
17Hoffmann V.、Dorka R.、Wilken L.、Hodoroaba VD.、Wetzig K.、GDOES による薄層解析の可能性。サーフィン。インターフェイスアナル 35 (2003) p. 575-582

Foreword

ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of national standards bodies (ISO member bodies). The work of preparing International Standards is normally carried out through ISO technical committees. Each member body interested in a subject for which a technical committee has been established has the right to be represented on that committee. International organizations, governmental and non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work. ISO collaborates closely with the International Electrotechnical Commission (IEC) on all matters of electrotechnical standardization.

The procedures used to develop this document and those intended for its further maintenance are described in the ISO/IEC Directives, Part 1. In particular, the different approval criteria needed for the different types of ISO documents should be noted. This document was drafted in accordance with the editorial rules of the ISO/IEC Directives, Part 2 (see www.iso.org/directives ).

Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this document may be the subject of patent rights. ISO shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. Details of any patent rights identified during the development of the document will be in the Introduction and/or on the ISO list of patent declarations received (see www.iso.org/patents ).

Any trade name used in this document is information given for the convenience of users and does not constitute an endorsement.

For an explanation of the voluntary nature of standards, the meaning of ISO specific terms and expressions related to conformity assessment, as well as information about ISO's adherence to the World Trade Organization (WTO) principles in the Technical Barriers to Trade (TBT), see www.iso.org/iso/foreword.html .

This document was prepared by Technical Committee ISO/TC 201, Surface chemical analysis, Subcommittee SC 8, Glow discharge spectroscopy.

This second edition cancels and replaces the first edition (ISO/TS 25138:2010), which has been technically revised. The main changes compared to the previous edition are as follows:

  • the element Zr has been added to the Scope;
  • the description of the apparatus has been modified to include spectrometers with solid-state array detectors of the types CCD and CID;
  • Clause 6 has been modified for more clarity, and to include the spectrometer types;
  • Clause 8 has been modified for more clarity, particularly in the recommendations for calibration samples.

A list of all parts in the ISO TS 25138 series can be found on the ISO website.

1 Scope

This document describes a glow-discharge optical-emission spectrometric method for the determination of the thickness, mass per unit area and chemical composition of metal oxide films.

This method is applicable to oxide films 1 nm to 10 000 nm thick on metals. The metallic elements of the oxide can include one or more from Fe, Cr, Ni, Cu, Ti, Si, Mo, Zn, Mg, Mn, Zr and Al. Other elements that can be determined by the method are O, C, N, H, P and S.

2 Normative references

The following documents are referred to in the text in such a way that some or all of their content constitutes requirements of this document. For dated references, only the edition cited applies. For undated references, the latest edition of the referenced document (including any amendments) applies.

  • ISO 14284, Steel and iron — Sampling and preparation of samples for the determination of chemical composition
  • ISO 14707, Surface chemical analysis — Glow discharge optical emission spectrometry (GD-OES) — Introduction to use
  • ISO 16962:2017, Surface chemical analysis — Analysis of zinc- and/or aluminium-based metallic coatings by glow-discharge optical-emission spectrometry

3 Terms and definitions

For the purposes of this document, the following terms and definitions apply.

ISO and IEC maintain terminological databases for use in standardization at the following addresses:

3.1

verification

confirmation, through the provision of objective evidence, that specified requirements have been fulfilled

[SOURCE:ISO 9000:2015, 3.8.12]

3.2

validation

confirmation, through the provision of objective evidence, that the particular requirements for a specific intended use or application have been fulfilled

[SOURCE:ISO 9000:2015, 3.8.13]

Bibliography

1Grimm W, Eine neue glimmentladungslampe für die optische emissionsspektralanalyse. Spectrochim.Acta Part B, 23 (1968), p. 443
2Takadoum J., Pirrin J.C., Pons Corbeau J., Berneron R., Charbonnier J.C., Comparative study of ion implantation profiles in metals. Surf. Interf. Anal., 6 (1984), p. 174
3Takimoto K., Nishizaka K., Suzuki K., Ohtsubo T., Nippon Steel Technical Report 33, p. 28 (1987)
4Bengtson A., Eklund A., Saric A., Further improvements in calibration techniques for depth profiling with glow discharge optical emission spectrometry. J. Anal. At. Spectrom., 5 (1990), p. 563
5Naoumidis A., Guntur D., Mazurkiewicz M., Nickel H., Fischer W, Proceedings of 3rd User-Meeting “Analytische Glimmentladungs-Spektroskopie” (ISBN 3-89336-041-7), p. 138, Jülich (1990)
6Nelis T., International Colloquium of Spectroscopy, York (1993)
7Payling R., Glow Discharge Optical Emission Spectrometry. Spectroscopy, 13 (1998), p. 36
8Bengtson A., Nelis Th., The concept of constant emission yield in GDOES. Anal. Bioanal. Chem., 385 (2006), p. 568
9ISO 5725-1, Accuracy (trueness and precision) of measurement methods and results — Part 1: General principles and definitions
10ISO 5725-2, Accuracy (trueness and precision) of measurement methods and results — Part 2: Basic method for the determination of repeatability and reproducibility of a standard measurement method
11ISO 5725-6, Accuracy (trueness and precision) of measurement methods and results — Part 6: Use in practice of accuracy values
12ISO 9000:2015, Quality management systems — Fundamentals and vocabulary
13ISO/IEC 17025:2017, General requirements for the competence of testing and calibration laboratories
14Marshall K.A., Casper T.J., Brushwyler K.R., Mitchell J.C., The analytical impact of power control in a radio frequency glow discharge optical emission plasma.J. Anal. At. Spectrom., 18 (2003) p. 637-645
15Wilken L, Hoffmann V., Wetzig K., Erosion rate measurements for GD-OES J. Anal. At. Spectrom., 18 (2003), p. 1141-1145
16Dorka R., Kunze R., Hoffmann V., Investigation of SiO2 Layersby Glow Discharge Optical Emission Spectroscopy including Layer Thickness Determination by an Optical Effect. Anal. At. Spectrom., 15 (2000) p. 873-876
17Hoffmann V., Dorka R., Wilken L., Hodoroaba V-D., Wetzig K., Present possibilities of thin‐layer analysis by GDOES. Surf. Interface Anal. 35 (2003) p. 575–582