JIS B 0684-1:2019 製品の幾何特性仕様（ＧＰＳ）―平面度―第１部：用語及びパラメータ | ページ 2

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B 0684-1 : 2019
3.3.1.1.1
外側の最小領域基準平面(outer minimum zone reference plane)
  最小領域基準平面の外側の平面(図3参照)。
3.3.1.1.2
内側の最小領域基準平面(inner minimum zone reference plane)
  最小領域基準平面の内側の平面(図3参照)。
3.3.1.1.3
平均の最小領域基準平面(mean minimum zone reference plane)
  最小領域基準平面の算術平均平面(図3参照)。
    注記 最小領域法では平均の基準平面を必要としないが,寸法の算出に利用可能なため,便宜的に基
          準平面に含める。
   1 外側の最小領域基準平面
  2 平均の最小領域基準平面
  3 内側の最小領域基準平面
  a   平面度測定値
                                     図3−最小領域基準平面
3.3.1.2
最小二乗基準平面(least squares reference plane)
  平面度曲面の最小二乗平面(図4参照)。
    注記 最小二乗基準要素であることを示すために,略号LSを用いる。また,最小二乗基準における
          パラメータ値であることを示すための略号として,接頭語G(Gaussian)を用いる。

――――― [JIS B 0684-1 pdf 6] ―――――

                                                                                              5
                                                                                 B 0684-1 : 2019
   1 最小二乗基準平面
  2 最小二乗基準平面(1)と最小二乗基準平面に垂直な平面(A)との交線
  A 最小二乗基準平面に垂直な平面
  a  負の偏差
  b  正の偏差
                                     図4−最小二乗基準平面

3.4 フィルタに関する用語

3.4.1
輪郭曲面フィルタ(areal filter)
  波長軸の片側又は両側で減衰する伝達特性をもつデジタルフィルタ。
  平面状の輪郭曲面に適用する(JIS B 0635参照)。
3.4.2
カットオフ値(cut-off wavelength)
  測得平面度曲面に適用するフィルタによって,振幅の50 %が平面度曲面に伝達される正弦波信号の波長。
3.4.3
振幅伝達特性(transmission band for flatness surfaces)
  測得平面度曲面に適用するフィルタの通過帯域。上下限のカットオフ波長で規定する。
    注記 通常,伝達特性の50 %の位置をフィルタのカットオフ値として指定する。

3.5 パラメータに関する用語

3.5.1
平面度測定値(peak-to-valley flatness deviation)
  平面度曲面の偏差における最大値と最小値との差(図3のa)。
    注記1 平面度測定値は,あらゆる基準平面に対して適用できる。
    注記2 平面度測定値は,最小領域基準平面に対して適用できる唯一のパラメータである。
    注記3 最小二乗基準要素に対する平面度測定値に適用する形状公差であることを示すために,指定
            条件の略号GTを用いる。
    注記4 平面度測定値の“測定値”とは,平面度曲面から求めたパラメータの値をいう。

――――― [JIS B 0684-1 pdf 7] ―――――

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B 0684-1 : 2019
3.5.2
平面度曲面の山高さ測定値(peak-to-reference flatness deviation)
  最小二乗基準平面に対する平面度曲面の偏差の最大値。
    注記1 平面度曲面の山高さ測定値は,最小二乗基準平面だけに適用できる。
    注記2 最小二乗基準要素に対する平面度曲面の山高さ測定値に適用する形状公差であることを示す
            ために,指定条件の略号GPを用いる。
3.5.3
平面度曲面の谷深さ測定値(reference-to-valley flatness deviation)
  最小二乗基準平面に対する平面度曲面の偏差の最小値の絶対値。
    注記1 平面度曲面の谷深さ測定値は,最小二乗基準平面だけに適用できる。
    注記2 最小二乗基準要素に対する平面度曲面の谷深さ測定値に適用する形状公差であることを示す
            ために,指定条件の略号GVを用いる。
3.5.4
二乗平均平方根平面度測定値(root mean square flatness deviation)
  最小二乗基準平面に対する平面度曲面の偏差の二乗平均平方根。
    注記1 二乗平均平方根平面度測定値は,最小二乗基準平面だけに適用できる。
    注記2 最小二乗基準要素に対する二乗平均平方根平面度測定値に適用する形状公差であることを示
            すために,指定条件の略号GQを用いる。

4 真直度測定値

  平面形体に関する真直度曲線の偏差は,JIS B 0683-1を参照。

――――― [JIS B 0684-1 pdf 8] ―――――

                                                                                              7
                                                                                 B 0684-1 : 2019
                                           附属書A
                                          (参考)
                    用語,パラメータ及びそれらの記号の一覧表
  形体の指示は,図面上に簡潔に製品仕様を一意に記載できるように略語と修飾語との組合せによって行
うことが基本である。しかし,例えば,測定報告書又はその他の技術文書のように設計図の図示記号では
実用的ではないところで製品仕様及び検査仕様を記載したいことがあることから,この規格,JIS B 0682-1,
JIS B 0683-1及びISO 12180-1で規定されている用語並びにパラメータに対する記号を,表A.1及び表A.2
に示す。
                                      表A.1−用語及び記号
            記号              用語                           対応規格
            LSCI    最小二乗基準円           JIS B 0682-1の3.3.1.2
            LSCY    最小二乗基準円筒         ISO 12180-1:2011の3.3.1.2
            LSLI    最小二乗基準直線         JIS B 0683-1の3.3.1.2
            LSPL    最小二乗基準平面         この規格の3.3.1.2
            LCD     円筒度曲面の偏差         ISO 12180-1:2011の3.2.3
            LFD     平面度曲面の偏差         この規格の3.2.3
            LRD     真円度曲線の偏差         JIS B 0682-1の3.2.3
            LSD     真直度曲線の偏差         JIS B 0683-1の3.2.3
            MICI    最大内接基準円           JIS B 0682-1の3.3.1.4
            MICY    最大内接基準円筒         ISO 12180-1:2011の3.3.1.4
            MCCI    最小外接基準円           JIS B 0682-1の3.3.1.3
            MCCY    最小外接基準円筒         ISO 12180-1:2011の3.3.1.3
            MZCI    最小領域基準円           JIS B 0682-1の3.3.1.1
            MZCY    最小領域基準円筒         ISO 12180-1:2011の3.3.1.1
            MZLI    最小領域基準直線         JIS B 0683-1の3.3.1.1
            MZPL    最小領域基準平面         この規格の3.3.1.1
            UPR     1周当たりの山数          JIS B 0682-1の3.4.1

――――― [JIS B 0684-1 pdf 9] ―――――

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B 0684-1 : 2019
                                   表A.2−パラメータ及び記号
   記号                     パラメータ                                  対応規格
  CYLrr   円筒局所半径幅b)                                ISO 12180-1:2011の3.5.2.7
  CYLtt   円筒テーパ測定値(LSCY)a)                      ISO 12180-1:2011の3.5.2.5
  CYLat   円筒テーパ角b)                                  ISO 12180-1:2011の3.5.2.8
  STRsg   母線方向の真直度測定値                          ISO 12180-1:2011の3.5.2.3
  STRlc   母線方向の局部真直度測定値                      ISO 12180-1:2011の3.5.2.2
  CYLp    円筒度曲面の山高さ測定値(LSCY)a)              ISO 12180-1:2011の3.5.1.2
  FLTp    平面度曲面の山高さ測定値(LSPL)a)              この規格の3.5.2
  RONp    真円度曲線の山高さ測定値(LSCI)a)              JIS B 0682-1の3.6.1.2
   STRp   真直度曲線の山高さ測定値(LSLI)a)              JIS B 0683-1の3.5.2
   CYLt   円筒度測定値(MZCY),(LSCY),(MICY),(MCCY)a)   SO 12180-1:2011の3.5.1.1
   FLTt   平面度測定値(MZPL),(LSPL)a)                この規格の3.5.1
  RONt    真円度測定値(MZCI),(LSCI),(MCCI),(MICI)a)
                                                          JIS B 0682-1の3.6.1.1
   STRt   真直度測定値(MZLI),(LSLI)a)                JIS B 0683-1の3.5.1
  CYLv    円筒度曲面の谷深さ測定値(LSCY)a)              ISO 12180-1:2011の3.5.1.3
   FLTv   平面度曲面の谷深さ測定値(LSPL)a)              この規格の3.5.3
  RONv    真円度曲線の谷深さ測定値(LSCI)a)              JIS B 0682-1の3.6.1.3
   STRv   真直度曲線の谷深さ測定値(LSLI)a)              JIS B 0683-1の3.5.3
  CYLq    二乗平均平方根円筒度測定値(LSCY)a)            ISO 12180-1:2011の3.5.1.4
  FLTq    二乗平均平方根平面度測定値(LSPL)a)            この規格の3.5.4
  RONq    二乗平均平方根真円度測定値(LSCI)a)            JIS B 0682-1の3.6.1.4
   STRq   二乗平均平方根真直度測定値(LSLI)a)            JIS B 0683-1の3.5.4
  STRsa  中心軸線の真直度測定値                          ISO 12180-1:2011の3.5.2.1
 注a) パラメータ名称に続く括弧内の記号は,パラメータが適用可能な基準要素を示している。
    b) パラメータの名称は,仮訳。

――――― [JIS B 0684-1 pdf 10] ―――――

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