JIS B 1585-3:2017 滑り軸受―つば付き及びつばなし薄肉半割り軸受―第３部：周長の測定 | ページ 3

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B 1585-3 : 2017

9.3 測定子の接近速度

  半割り軸受の合せ面に力Fを加える際は,衝撃力が発生しないようにしなければならない。そのために
測定子の移動速度は,10 mm/s±2 mm/sとする場合もある。
  測定子の移動速度が固定式の場合,力を加えた後に一旦除荷し,再度力を加えて測定を行わなければな
らない。

9.4 測定子の構造

  測定子は,測定ブロックの基準面に対して正確に直角に案内され動くように設計及び製造しなければな
らない。当て金と測定ブロックの基準面との平行度を保証するため,測定子に備えられた当て金と測定ブ
ロックの支持面との間の平行度は,半径方向に100 mm当たり0.04 mmを超えてはならない。

9.5 当て金の測定面の精度

  当て金の測定面の精度は,表5による。
                                   表5−当て金の測定面の精度
                       Dbs               粗さパラメータRa            平面度
                     (mm)                   (μm)                (mm)
                       Dbs≦160                 0.2                  0.001 5
                   160                   340
10 基準面を定めるためのゲージ類
10.1 一般事項
  測定には,次のゲージを使用してもよい。
− (基準測定のための)基準測定ブロック(箇条11参照)
− (製造ラインのための)ライン用測定ブロック(箇条11参照)
− (製造ラインのための)マスターシェル(箇条12参照)
  これらのゲージの基準は,10.210.4に示す三つの方法で管理される。
10.2 基準測定ブロック(単体で使用される。)
  基準測定ブロックは,製造ラインでの検査で使用される他の測定ブロックの基準となる。
10.3 単体で使用するライン用測定ブロック
  単体で使用するライン用測定ブロックの内径の周長は,基準測定ブロックとの比較によって決定する。
  このライン用測定ブロックは,マスターシェル及び基準軸受を使用しない製造ラインでの検査に用いら
れる。
10.4 マスターシェルとともに使用されるライン用測定ブロック
  このライン用測定ブロックの内径の周長は,基準測定ブロックによって周長が決定したマスターシェル
又は同様に周長が決定した基準軸受によって決定する。
  このゲージの組合せは,製造ラインでの検査に用いられる。
    注記 製造ラインでの検査では,ライン用測定ブロックを基準測定ブロックとともに使用することも
          あるが,このゲージの組合せは,この規格の適用範囲から外れる。
――――― [JIS B 1585-3 pdf 11] ―――――

                                                                                              9
                                                                                 B 1585-3 : 2017

11 測定ブロックの必要事項

11.1 一般事項

  必要事項の事例として示すが,国内の運用実態と異なる。
  なお,詳細は,受渡当事者間の協定によってもよい。
  代表的な測定ブロックを図6に示す。内径dch,及び高さHchの測定部に軸受を固定し測定する。
  測定力が与えられたときに箇条16の要件を満足させるため,測定ブロックはできれば焼入れ鋼を用い,
剛性を高く設計・製造する必要がある。
  測定ブロックの内径面にクロムめっきを施してはならない。
  半割り軸受の位置決めつめが干渉しないように,測定ブロックには逃げ溝を設ける必要がある。逃げ溝
の大きさは,位置決めつめよりも幅をおおよそ1 mm広く,深さをおおよそ1 mm深く,長さをおおよそ
1.5 mm長くしなければならない。

11.2 基準測定ブロック

11.2.1  基準測定ブロック
1 Ccor,ch及びCcor,chsのための基準面(13.1,13.2.1参照)
2 dch,M,Hch,M及びCcor,ch(又はCcor,chs)の刻印部
3 突出し用穴(任意追加)
注a) 表6,表7及び表8に示される数値を用いることが望ましい。
   b) つばなし半割り軸受のBch1は,Bch2と同じでもよい。又はBch1は半割り軸受の幅に準じてもよい。すなわちK1,max
      =0.4 mmのときBmax+1.2 mmまでとする。
   c) つば付き半割り軸受のBch1は,表7を参照。K2=hmax+0.5 mm
   d)   1又はK2
                                       図6−測定ブロック

――――― [JIS B 1585-3 pdf 12] ―――――

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B 1585-3 : 2017
11.2.2  加工許容値
11.2.2.1  加工許容値
  基準測定ブロックの加工許容値及び仕様を表6に示す。
                           表6−基準測定ブロックの加工許容値及び仕様
          外径           dchmの公差    測定ブロック内面粗さ   Hchmの公差      基準面の粗さ
          Dbs                               パラメータ                         パラメータ
                                               Ra                                 Ra
        (mm)            (mm)             (μm)           (mm)           (μm)
          Dbs≦ 75       +0.003 0             0.2            +0.003 0            0.3
                           0                                    0
       75                           0                                    0
      110                           0                                    0
      160                           0                                    0
      250                           0                                    0
      340                           0                                    0
11.2.2.2  幾何公差
  基準測定ブロックの幾何公差を表7及び表8に示す。
                                      表7−幾何公差−No.1
      外径       つばなし軸   つば付き軸受用の   粗さパラ                幾何公差
      Dbs        受用のBch3         Bch1          メータ
                                                   Ra1
     (mm)       (mm)          (mm)          (μm)                (mm)
                   Bch3,min   Bch1,min  Bch1,max            t1    t2     t3    t4    t5    t6
      Dbs≦ 75    Bmax+0.4  Zmin−0.1 Zmin−0.05   1.2    0.002 0.002 0.002 0.002 0.002 0.005
  75  110  160  250  340                                      表8−幾何公差−No.2
                 B                  Bch2           粗さパラメータ         平行度
                                                        Ra2                 t7
              (mm)              (mm)              (μm)             (mm)
                                      02
                 B≦55             60 +                1.2                0.002
                                      02
                                     +
             55< B≦80            85                                      0.003
                                       02
             80< B               B+5+                                   0.004

――――― [JIS B 1585-3 pdf 13] ―――――

                                                                                             11
                                                                                 B 1585-3 : 2017
11.2.2.3  粗さパラメータRa1及びRa2
  表7及び表8による。
11.2.2.4 Bch1,Bch2及びBch3の仕様
  表7及び表8による。
11.2.3  dchm,M及びHchm,Mを測定する機器の測定精度
  dchm,M及びHchm,Mは,次の測定精度の測定装置を使って決める必要がある。
  dchm,M≦160 mm の場合 ±0.001 mm
  160 mm  これらの値は,式(5)から求めた周長lchm,Mに基づく補正量Ccor,chm(13.1参照)を算出するために必要で
ある。
                               π                dchm,M
                        lchm,M  dchm,M  2 Hchm,M          (5)
                               2                   2
11.2.4  許容摩耗限界
  11.2.2に規定する基準測定ブロックの公差を超えて摩耗してはならない。基準測定ブロックに公差内の
摩耗が発生した場合には,その補正量を修正する必要が生じる場合がある。

11.3 ライン用検査ジグ

11.3.1  単独で使用されるライン用検査ジグ
  単独で利用されるライン用測定ブロックの内径の周長は基準測定ブロックとの比較で決定される(11.2
参照)ので,dchs及びHchsには,より大きな公差が許容される。
11.3.2  製造公差,補正量及び許容摩耗限界
11.3.2.1  製造公差
  ライン用測定ブロックの製造公差を表9表11に示す。
                           表9−ライン用測定ブロックの製造公差−No.1
       外径        dchsの公差 測定ブロック内面粗さパラメータ Hchsの公差  基準面の粗さパラメータ
        Dbs                               Ra                                      Ra
      (mm)        (mm)               (μm)              (mm)            (μm)
        Dbs≦ 75    +0.008                0.2                +0.008             0.3
                      0                                         0
    75                      0                                         0
  110                      0                                         0
  160                      0                                         0
  250                      0                                         0
  340                      0                                         0

――――― [JIS B 1585-3 pdf 14] ―――――

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B 1585-3 : 2017
                          表10−ライン用測定ブロックの製造公差−No.2
      外径       つばなし    つば付き軸受用の   粗さパラ                幾何公差
      Dbs        軸受用の          Bch1          メータ
                   Bch3                           Ra1
     (mm)      (mm)          (mm)          (m)                  (mm)
                            Bch1,min   Bch1,max            t1    t2     t3    t4    t5     t6
       Dbs≦ 75  Bmax+0.4 Zmin−0.1 Zmin−0.05   1.2     0.004 0.004 0.004  0.004 0.004 0.010
  75  110  160  250  340                          表11−ライン用測定ブロックの製造公差−No.3
                 B                  Bch2           粗さパラメータ         平行度
                                                        Ra2                 T7
               (mm)             (mm)              (m)               (mm)
                                       02
                 B≦55              60 +               1.2                0.004
                                       02
             55< B≦80             85 +                                  0.006
                                       02
                                      +
             80< B               B+5                                     0.008
11.3.2.2  補正量Ccor,chs
  補正量Ccor,chsは,13.2.1による。
11.3.2.3  許容摩耗限界
  ライン用測定ブロックの摩耗は,初期状態の補正量Ccor,chs,newと摩耗状態の補正量Ccor,chs,wornとの差が,
表12に示す値以下がよい。
                           表12−ライン用測定ブロックの許容摩耗限界
                                                                      単位 mm
                         測定ブロック径                 補正量の差の許容差
                              dchs                     | Ccor,chs,new−Ccor,chs,worn |
                              dchs≦ 75                      0.012
                           75                          110                          160                          250                          34011.3.3  マスターシェル又は基準軸受とともに使用されるライン用測定ブロック
11.3.3.1  製造公差
  ライン用測定ブロックの製造公差を表9表11に示す。
11.3.3.2  補正量
  補正量Ccor,chsは,13.2.2による。
11.3.3.3  許容摩耗限界

――――― [JIS B 1585-3 pdf 15] ―――――

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