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B 6190-10 : 2018 (ISO 230-10 : 2016)
F=n・Δ (3)
ここに, S : 接線速度(m/min)
r : 工具半径(mm)
n : 計算した主軸速度(min-1)
F : 測定送り速度(mm/min)
Δ : 最大予想測定誤差(mm)
この式は,一つの刃先について計算している。多刃工具については,最も飛び出している一つの刃がプ
ローブ又はセンサとまずは接触する確率が高い。そのため,送り速度を刃数に正比例して増加させると,
最大予想測定誤差を過小評価する可能性がある。
例 最高接線速度を40 m/min,一つの刃の回転半径を40 mmとすると,最高主軸速度は約160 min−1
となる。最大予想測定誤差を0.005 mmとすると,送り速度を0.8 mm/minとしてプログラムしな
ければならない。
工具製造業者の説明書に従ってZ軸を位置決めする。
組込みサイクルを使って工具径を10回測定し,記録する。
記録した値の範囲として工具径設定の繰返し性RSET,D,Rを算出する。
――――― [JIS B 6190-10 pdf 36] ―――――
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B 6190-10 : 2018 (ISO 230-10 : 2016)
附属書A
(参考)
記号及びその説明(アルファベット順)
表A.1−記号及びその説明(アルファベット順)
記号 説明 細分箇条 対応英語(参考)
A スタイラスチップオフセット 6.3 Stylus tip offset
ECIR,D 円直径測定の寸法誤差 6.10.3 Size error for circle diameter measurement
ECIR,TD,F 6.9.3
時間遅れ変動試験の測定された円形状誤差 Range of measured circle form error for time delay
の範囲 variation test
6.9.3
ECIR,TD,F,MAX 時間遅れ変動試験の測定された円形状誤差 Maximum measured circle form error for time
の最大値 delay variation test
ECIR,TD,D 円直径測定の時間遅れ変動誤差 6.9.3 Time delay variation error for the circle diameter
measurement
ECIR,TD,X 時間遅れ変動試験のX軸円中心位置誤差 6.9.3 X-axis circle centre location error for time delay
variation test
ECIR,TD,Y 時間遅れ変動試験のY軸円中心位置誤差 6.9.3 Y-axis circle centre location error for time delay
variation test
ECML,X 加工及び位置のX軸複合誤差 6.8 X-axis combined machining and location error
ECML,Y 加工及び位置のY軸複合誤差 6.8 Y-axis combined machining and location error
ECML,Z 加工及び位置のZ軸複合誤差 6.8 Z-axis combined machining and location error
ECOR,X コーナ位置のX軸誤差 6.7 X-axis error for corner location
ECOR,Y コーナ位置のY軸誤差 6.7 Y-axis error for corner location
ECOR,Z コーナ位置のZ軸誤差 6.7 Z-axis error for corner location
ELIN,Y Y軸方向における基準平面の同定誤差にお6.7 WCS in the reference
orientation plane
けるWCSの向き identification error in the Y-axis direction
ESC,2D,DIA 二次元スキャニング試験の直径誤差 B.6 Diameter error for 2D scanning test
ESC,2D,FORM二次元スキャニング試験の形状誤差 B.6 Form error for 2D scanning test
ESC,2D,POS 二次元スキャニング試験の位置の再現性 B.6 Positional reproducibility for 2D scanning test
ESC,3D,DIA 三次元スキャニング試験の直径誤差 B.5 Diameter error for 3D scanning test
ESC,3D,POS 三次元スキャニング試験の位置の再現性 B.5 Positional reproducibility for 3D scanning test
ESC,3D,FORM三次元スキャニング試験の形状誤差 B.5 Form error for 3D scanning test
ESPH,D 球の直径測定の寸法誤差 6.10.4 Size error for sphere diameter measurement
ESPH,TD,F 6.9.4
時間遅れ変動試験の測定された球状誤差の Range of measured sphere form error for time
範囲 delay variation test
6.9.4
ESPH,TD,F,MAX 時間遅れ変動試験の測定された球状誤差の Maximum measured sphere form error for time
最大値 delay variation test
ESPH,TD,D 時間遅れ変動試験の球直径測定誤差 6.9.4 Error of sphere diameter measurement for time
delay variation test
ESPH,TD,X 時間遅れ変動試験のX軸球中心位置誤差 6.9.4 X-axis sphere centre location error for time delay
variation test
ESPH,TD,Y 時間遅れ変動試験のY軸球中心位置誤差 6.9.4 Y-axis sphere centre location error for time delay
variation test
ESPH,TD,Z 時間遅れ変動試験のZ軸球中心位置誤差 6.9.4 Z-axis sphere centre location error for time delay
variation test
ESPT,TD,X 単一軸時間遅れ変動試験のX軸誤差 6.9.2 X-axis error for single axis time delay variation test
ESPT,TD,Y 単一軸時間遅れ変動試験のY軸誤差 6.9.2 Y-axis error for single axis time delay variation test
ESPT,TD,Z 単一軸時間遅れ変動試験のZ軸誤差 6.9.2 Z-axis error for single axis time delay variation test
EPLA,Z Z軸方向におけるWCS基準平面の同定誤差 6.7 WCS reference plane identification error in Z-axis
direction
――――― [JIS B 6190-10 pdf 37] ―――――
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B 6190-10 : 2018 (ISO 230-10 : 2016)
表A.1−記号及びその説明(アルファベット順)(続き)
記号 説明 細分箇条 対応英語(参考)
EWEB,X X軸方向におけるウエブ測定の寸法誤差 6.10.2 Size error for web measurement in the X-axis
direction
EWEB,Y Y軸方向におけるウエブ測定の寸法誤差 6.10.2 Size error for web measurement in the Y-axis
direction
PFTU プロービング誤差の定義 3.3.3 Probing error definition
PFTU,2D 二次元プロービング誤差 6.5 2D probing error
PFTU,3D 三次元プロービング誤差 6.6 3D probing error
RCIR,D 円直径測定の繰返し性 6.10.3 Repeatability of circle diameter measurement
RCIR,X X軸方向における円中心位置の繰返し性 6.2.3 Repeatability of circle centre location in the X-axis
direction
RCIR,Y Y軸方向における円中心位置の繰返し性 6.2.3 Repeatability of circle centre location in the Y-axis
direction
RCML,X 加工及び位置のX軸複合繰返し性 6.8 X-axis combined machining and location
repeatability
RCML,Y 加工及び位置のY軸複合繰返し性 6.8 Y-axis combined machining and location
repeatability
RCML,Z 加工及び位置のZ軸複合繰返し性 6.8 Z-axis combined machining and location
repeatability
RPTL,X X軸方向におけるプロービング工具位置の6.4 Repeatability of probing-tool location in the X-axis
繰返し性 direction
RPTL,Y Y軸方向におけるプロービング工具位置の6.4 Repeatability of probing-tool location in the Y-axis
繰返し性 direction
RPTL,Z Z軸方向におけるプロービング工具位置の6.4 Repeatability of probing-tool location in the Z-axis
繰返し性 direction
RSPH,X X軸方向における球中心位置の繰返し性 6.2.4 Repeatability of sphere centre location in the
X-axis direction
RSPH,Y Y軸方向における球中心位置の繰返し性 6.2.4 Repeatability of sphere centre location in the Y-axis
direction
RSPH,Z Z軸方向における球中心位置の繰返し性 6.2.4 Repeatability of sphere centre location in the Z-axis
direction
RSET,L,N 7.3.2
回転させないで設定する工具長設定の繰返 Tool-length setting repeatability with a non-rotating
し性 tool
RSET,L,R 7.3.3
回転させて設定する工具長設定の繰返し性 Tool-length setting repeatability with a rotating tool
RSET,D,R 工具径設定の繰返し性 7.3.4 Tool diameter setting repeatability
RSPH,D 球直径測定の繰返し性 6.10.4 Repeatability of sphere diameter measurement
RSPT,X X軸方向における面の1点測定の繰返し性 6.2.2 Repeatability of single-point probing in the X-axis
direction
RSPT,Y Y軸方向における面の1点測定の繰返し性 6.2.2 Repeatability of single-point probing in the Y-axis
direction
RSPT,Z Z軸方向における面の1点測定の繰返し性 6.2.2 Repeatability of single-point probing in the Z-axis
direction
RWEB,X X軸方向におけるウエブ寸法測定の繰返し6.10.2 Repeatability of web size measurement in the
性 X-axis direction
RWEB,Y Y軸方向におけるウエブ寸法測定の繰返し6.10.2 Repeatability of web size measurement in the
性 Y-axis direction
TSC,2D 二次元スキャニング試験時間 B.6 Time for 2D scanning test
TSC,3D 三次元スキャニング試験時間 B.5 Time for 3D scanning test
――――― [JIS B 6190-10 pdf 38] ―――――
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B 6190-10 : 2018 (ISO 230-10 : 2016)
附属書B
(参考)
スキャニングプローブの測定性能
B.1 はじめに
この附属書は,数値制御工作機械に組み込んで,既定経路スキャニングモード(3.4.9参照)で使用する
接触プロービングシステムのスキャニング性能評価試験の手順について記載する。
この試験は,箇条6及び箇条7に規定する試験を補足するものである。ただし,この附属書は,離散点
測定ができない接触プロービングシステムについては扱わない。
箇条1箇条5は,この附属書に適用できる。
この試験は,様々な誤差原因を特定することを意図していない。測定性能に及ぼす環境,工作機械,プ
ロービングシステム及びプロービングソフトウエアの総合的な影響を検証することを意図している。
この附属書に記載する試験は,受入試験及び再検証試験の両方に適用でき,定期的に行うか,プローブ
若しくは機械が破損したとき,又は次に示すプロービング条件が変わったときに実施するのがよい。
− 測定中の送り速度
− スタイラスシステム(特にスタイラスシステム長)
− 測定中のプロービングシステムの向き(例えば,プローブが垂直又は水平の向き)
− プローブ
− 見掛けのたわみ
− 測定範囲
B.2 用語及び定義
この附属書で用いる用語及びその定義は,3.4による。
B.3 概要
工作機械上での連続スキャニングシステムの測定誤差発生源は,CMM上のものとは異なるものがある。
主な相違点は,次のとおりである。
− 工作機械は,通常,スキャンしている間にプローブのたわみを制御しない。これは,工作物の位置の
不確かさが工作機械の測定不確かさに影響を与える可能性が高いことを意味する。
− 工作機械は,切削用に最適化されたものであって,測定用に最適化されたものではない。パラメータ
設定及びその後に続けて測定している間に,報告する機械の位置誤差によって,通常,内部形体と外
部形体,例えば,穴とボスとの測定精度に差を生じる。
次の試験は,プロービングシステムで指定,又は受渡当事者間で協定された送り速度及び測定範囲で行
うのが望ましい。
この附属書に記載する試験は,スタイラスの構成,特にスタイラス長及びスタイラスチップ直径に敏感
である。受入試験の場合は,スタイラス構成については受渡当事者間で協定するのが望ましい。検証試験
の場合は,新しいスタイラス構成を使用するたびにこの附属書に示す試験を実施するのが望ましい。
実時間フィードバックを使用してプローブのたわみを制御し,測定経路を調整するプロービングシステ
ムの試験は,JIS B 7440-4に規定されている試験が,総合的ではないがより短くて適している。この種の
――――― [JIS B 6190-10 pdf 39] ―――――
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B 6190-10 : 2018 (ISO 230-10 : 2016)
システムでは,受渡当事者間で協定されている場合は,三次元スキャニング性能試験(B.5参照)をJIS B
7440-4に規定する試験と置き換えてもよい。ただし,このような置換えを行った場合でも,二次元スキャ
ニング性能試験(B.6参照)を実施することを推奨する。
注記 三次元スキャニング性能試験は,JIS B 7440-4に規定する必要な測定を含んでいる。必要があ
れば,JIS B 7440-4の結果を得るために三次元スキャニング性能試験の測定データを解析する
ことも可能である。
二次元スキャニング性能試験は内面上で行うのに対し,三次元スキャニング性能試験は外面上で行う。
内面と外面とをスキャニングするとき,工作機械上のスキャニングシステムは,不確かさが大きく異なる
ために,この二つの試験は,互いに補完するように設計されている。したがって,両方の試験を実施する
ことを推奨する。
プローブは,自動工具交換で行うのが望ましく,適用できる場合は,工具交換時の割出しは,パラメー
タ設定の後及び各試験の間に少なくとも一つの割出位置で行うのがよい。
B.4 フィルタリングパラメータ
フィルタリングアルゴリズム及びこの試験のときに使用するパラメータは,結果に影響を与えることか
ら,受渡当事者間で協定するのが望ましい。このパラメータは,試験報告書に記載するのが望ましい。
B.5 三次元スキャニング性能試験,ESC,3D,POS,ESC,3D,DIA,ESC,3D,FORM及びTSC,3D(ErrorSCanning,3D,POSition,
ErrorSCanning,3D,DIAmeter,ErrorSCanning,3D,FORM及びTimeSCanning,3D)
B.5.1 一般
この試験は,測定工具経路が基準球と正確に平行になっていない場合に,基準球を測定するプロービン
グシステムの能力を決定する。この試験は,連続スキャニングモードにおいて基準球を測定することがで
きるプロービングシステムに適用し,インプロセス測定時における工作物の位置の偏りをシミュレーショ
ンする。
プローブは,この試験では全三次元測定範囲にわたって運転する。この試験は,位置の不確かさに及ぼ
す温度変化の影響を含まない。接触スキャニングシステムの使用者は,測定範囲の要件に及ぼす温度変化
の影響を考慮することを推奨する。
この試験は,XY,YZ及びZX平面で補間が可能な機械を含め,3軸の工作機械上で実行するように設
計されている。この試験は,広く適用可能なようにプローブのZ軸が工作機械のZ軸と平行になっている
と仮定して指定する。
試験時間は,精度に影響を及ぼす可能性のある,測定送り速度の指標を与えるために記録する。
B.5.2 球測定シーケンス
図B.1参照。
a) 座標系の原点は,球の中心であり,プローブのX,Y及びZ軸と平行である。球体の極は,X=0,Y
=0,Z=r(球の半径)である。
b) 図の矢印は,目標スキャン線に沿った移動の方向を示す。
目標スキャン線まで接近する方向及び送り速度は,製造業者の推奨に従うのが望ましい。
――――― [JIS B 6190-10 pdf 40] ―――――
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JIS B 6190-10:2018の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO 230-10:2016(IDT)
JIS B 6190-10:2018の国際規格 ICS 分類一覧
JIS B 6190-10:2018の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISB6190-1:2016
- 工作機械試験方法通則―第1部:幾何精度試験
- JISB6190-2:2016
- 工作機械試験方法通則―第2部:数値制御による位置決め精度試験
- JISB6190-3:2014
- 工作機械試験方法通則―第3部:熱変形試験
- JISB7440-5:2013
- 製品の幾何特性仕様(GPS)―座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査―第5部:シングル及びマルチスタイラス測定