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JISB7440-8:2024の概要
JIS B 7440-8:2024の規格概要
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長さ測定における座標測定機の性能が,製造業者の仕様に適合するかどうかを検証するための受入検査について規定。さらに,使用者が定期的に検証するための定期検査についても規定。
JISB7440-8:2024 規格全文情報
- 規格番号
- JIS B 7440-8:2024
- 規格名称
- 製品の幾何特性仕様（ＧＰＳ）―座標測定システム（ＣＭＳ）の受入検査及び定期検査―第８部：光学式距離センサ付き座標測定機
- 規格名称英語訳
- Geometrical product specifications (GPS) -- Acceptance and reverification tests for coordinate measuring systems (CMS) -- Part 8:CMMs with optical distance sensors
- 規格の状態
- 有効
- 公示の種類
- 改正
- 公示の種類に関する説明（改正）
- 主務大臣が当該JISを年月の経過に伴って改めることが必要と認めたとき、改正されます。
- 規格番号の西暦年（コロン(：)の後ろの年）は、改正された年になります。
- JISの制定、確認又は改正の日から5年を経過する日までに、それがなお適正であるか見直しが行われ、主務大臣が確認、改正又は廃止を行います。
- 制定年月日
- 2015年06月22日
- 最新改正日：確認日
- 2024年03月21日（改正）
- 主務大臣
- 経済産業
- JISは、産業標準化法に基づき、主務大臣が必要と認め制定する国家規格です。
- 改訂:履歴
- 2015-06-22 制定日, 2020-06-22 確認日, 2024-03-21 改正日
- JIS 閲覧情報
- B7440-8, JIS B 7440-8
- 引用JIS規格
- B0641-1, B7440-1, B7440-2, B7440-5:2022, Z8103
- 対応国際規格
- ISO 10360-8:2013(MOD)
- 同等性に関する説明 (MOD)
- MOD: modified（修正）
- 許容される技術的差異がはっきりと明示され、かつ、説明されている場合、地域又は国家規格は国際規格から修正されている。
- この場合、地域又は国家規格は国際規格の構成を反映し、その構成の変更は両規格の内容が容易に比較できる限り許容される。
- 修正規格は一致対応の場合に許容される変更も含む。「逆も同様の原理」があてはまらない。
- 引用国際規格
- ISO/TS 23165:2006
- 国際規格分類
ICS
- 17.040.30
- 正誤票・訂正票
- -
- JISハンドブック
- -
- ページ
- JIS B 7440-8:2024 PDF [70ページ]
JISB7440-8:2024 改訂 履歴 一覧
JISB7440-8:2024 関連規格と引用規格一覧
- JIS Z 8103:2019
- 計測用語
- JIS B 0641-1:2020
- 製品の幾何特性仕様（ＧＰＳ）―製品及び測定装置の測定による検査―第１部：仕様に対する合否判定基準
- JIS B 7440-1:2003
- 製品の幾何特性仕様（ＧＰＳ）―座標測定機（ＣＭＭ）の受入検査及び定期検査―第１部：用語
- JIS B 7440-2:2013
- 製品の幾何特性仕様（ＧＰＳ）―座標測定機（ＣＭＭ）の受入検査及び定期検査―第２部：長さ測定
- JIS B 7440-5:2022
- 製品の幾何特性仕様（ＧＰＳ）―座標測定システム（ＣＭＳ）の受入検査及び定期検査―第５部：シングル及びマルチスタイラス接触プロービングシステムを用いた離散点及びスキャニング測定
- JIS B 7440-11:2024
- 製品の幾何特性仕様（ＧＰＳ）―座標測定システム（ＣＭＳ）の受入検査及び定期検査―第11部：Ｘ線ＣＴの原理を用いた座標測定システム
- JIS B 7440-12:2019
- 製品の幾何特性仕様（ＧＰＳ）―座標測定システム（ＣＭＳ）の受入検査及び定期検査―第１２部：多関節アーム座標測定機（ＣＭＭ）
- JIS B 7440-13:2024
- 製品の幾何特性仕様（ＧＰＳ）－座標測定システム（ＣＭＳ）の受入検査及び定期検査－第１３部：光学式座標測定システム