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B 9932 : 2015 (ISO 11171 : 2010)
APCを準備
RM 8632濃縮液の希釈液を,推奨濃度限界の
0150 %で調製
次に測定する希釈液を分析
はい いいえ
希釈率は推奨
センサを次に測定す 結果をプロット
濃度限界の
る希釈液で洗浄する
150 %以下か
040 %の希釈液の
回帰線をプロット
計数の理論値を
計算
理論値との差の
比率を計算
回帰線の95 %の
傾きの線を
プロット
はい 結果は95 %ライ いいえ
ンと交差するか
同時通過損失限界は 同時通過損失限界は
データが95 %ラインと 推奨濃度限界
交差する点の濃度
同時通過損失限界の判定完了
図B.1−同時通過損失の判定手順
――――― [JIS B 9932 pdf 21] ―――――
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B 9932 : 2015 (ISO 11171 : 2010)
B.2 APCを累積モードに設定する。対象とする最小粒径がAPCのノイズレベルの1.5倍を超える場合は,
第1チャンネルの粒径区分値を最小粒径に設定する。それ以外の場合には,第1チャンネルの粒径区分値
をAPCのノイズレベルの1.5倍の粒径に設定する。残りのチャンネルは,順次高くなるように設定する。
B.3 清浄な希釈溶媒を用いて,センサを流れる流量を定格流量(A.7参照)に調節する。センサを,150 mL
の清浄な希釈溶媒で2回以上洗浄する。
B.4 APCの製造業者が推奨するセンサの濃度限界に対し,0,10,20,30,···150 %の濃度の希釈液をA.4
に従って調製する。要求されるRM 8632の質量濃度を推定するために,表A.1を用いる。粒子濃度個々の
希釈液に必要な濃縮液の量V1(mL)は,次の式(B.1)で計算する。
XMVSL
V1 (B.1)
100XA
ここに, XM : APCの製造業者が推奨する粒子濃度限界(個/mL)
VS : 希釈したサンプルの最終的な量(mL)
L : APCの製造業者が推奨する限界値に対する比率(%)
XA : 濃縮液の粒子濃度(個/mL)
RM 8632の濃縮液をA.5に従って分散させる。必要な量の濃縮液(Vl)及び帯電防止添加剤が入ってい
る清浄な希釈溶媒(4.2参照)を正しい総量になるようにサンプル容器に正確に加える。粒子が付着してい
ない栓でサンプル容器に蓋をする。
B.5 サンプルは,粒子濃度が高くなる方向(順序)で分析しなければならない。粒子をA.5に従って分
散させる。
測定する前に,減圧状態又は超音波を用いて,希釈したサンプルの気泡が表面に上昇するまで脱気する。
サンプルボトルを脱気に用いた機器から取り外し,サンプル液に気泡を巻き込まないように注意しながら,
5回以上サンプルボトルの上下を反転させる。1回の測定量を10 mL以上として,5回連続して粒子測定を
行う。
粒子計数データを6.3の規定を用いて評価する。DQが許容範囲内である場合は,B.6に進む前に,希釈
サンプル(mg/L)の濃度,その濃度に対応して観察された粒子濃度,及び平均粒子濃度Xを表B.1に記録
する。DQが大きすぎる場合には,データを破棄し,分析手法を疑ってみる。この場合は,適切な対策をと
った上でB.4及びB.5を再度実行する(6.3の注記参照)。
――――― [JIS B 9932 pdf 22] ―――――
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B 9932 : 2015 (ISO 11171 : 2010)
表B.1−同時通過損失データシート
粒子計数器 形式 年月日 製造番号 校正者 センサ 形式
製造番号 ノイズレベル 流量 チャンネル設定 流量限界
濃度
(mg/L)
計数値1
(個/mL)
計数値2
(個/mL)
計数値3
(個/mL)
計数値4
(個/mL)
計数値5
(個/mL)
X
(個/mL)
Xt
(個/mL)
E
B9 9
同時通過損失限界(個/mL)=
32 : 2
Xt=aγ
a(傾き)=
015(
r(相関係数)=
I
SO1
注記 A.2,A.7,B.5,B.7,B.8,B.9,B.10及びC.13参照。
1171 : 201
1
0
9
)
――――― [JIS B 9932 pdf 23] ―――――
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B 9932 : 2015 (ISO 11171 : 2010)
B.6 次に測定するサンプルを用いて,A.3に従って決定した量の3倍以上の量でセンサを洗浄する。全て
の希釈液について,B.5及びB.6を繰り返す。
B.7 平均粒子濃度Xを,RM 8632の質量濃度γの関数としてグラフ(均等目盛−均等目盛)にプロット
する。希釈割合が1040 %のサンプルの結果に対する線形回帰直線を,切片を0に設定して最小二乗法で
決定する。この回帰直線は,原点を通るものでなければならない。また,回帰直線は,次の式(B.2)の形で
なければならない。
X a (B.2)
ここに, a : 回帰直線の傾き
この直線は,粒子の数と質量濃度との理論的な関係を定義する。表B.1に,回帰解析から得られた傾き
a及び相関係数rを記録する。
B.8 各粒子濃度に対する理論値(Xt)は,B.7で得た回帰計算式を用いて計算する。各粒子濃度に対する
Xtの値を,表B.1の該当欄に記録する。
B.9 希釈液ごとの粒子濃度の理論値(Xt)に対する平均値(X)と理論値(Xt)との差の比率(E)を,
次の式(B.3)を用いて計算する。
X Xt
E 100 (B.3)
Xt
各粒子濃度に対するEの値を,表B.1に記録する。
B.10 理論的な粒子数と質量濃度との関係式と同じ切片b及び95 %の傾き(0.95 at)をもつ線(B.7参照,
以下,95 %ラインという。)をプロットすることで,センサの同時通過損失限界を決定する。データの回
帰線が95 %ラインと交差する最も低い粒子濃度(個/mL)が,このセンサの同時通過損失限界である。デ
ータの回帰直線と95 %ラインとが交差しない場合は,APCの製造業者が推奨する限界をセンサの同時通
過損失限界として報告し,その値を用いる。センサの同時通過損失限界を,1 mL中の粒子数として表3
及び表B.1に記録する。
――――― [JIS B 9932 pdf 24] ―――――
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B 9932 : 2015 (ISO 11171 : 2010)
附属書C
(規定)
流量限界の判定
C.1 図C.1は,流量限界の判定手順を示したフローチャートを表す。APCを新たに製造したとき,並び
にAPC若しくはセンサを修理又は再調整したときは,流量限界を判定する。
重要 APCの校正作業及びサンプル分析作業では,この附属書に規定する流量限界の判定を必ず行う
必要がある。APCの校正は流量の影響を受けやすい。流量が大きい場合,検出領域を通過する
時間が短いため,汚染粒子の大きさに対して十分な電気信号を発生できない場合がある。また,
連続して通過する粒子の時間間隔が非常に短いために,電子回路によっては個別の粒子として
認識できないこともある。
――――― [JIS B 9932 pdf 25] ―――――
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JIS B 9932:2015の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO 11171:2010(IDT)
JIS B 9932:2015の国際規格 ICS 分類一覧
- 23 : 一般的に利用される流体システム及びその構成要素 > 23.100 : 流体動力システム > 23.100.60 : ろ過器,シール及び流体の汚れ
JIS B 9932:2015の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISB0142:2011
- 油圧・空気圧システム及び機器―用語
- JISB8356-8:2002
- 油圧用フィルタ性能評価方法―第8部:フィルタエレメントのろ過性能試験(マルチパステスト法)
- JISB9916:2010
- 光遮へい式液中粒子計数器―校正方法及び検証方法
- JISB9937:2001
- 油圧―作動油試料容器―清浄度の品質及び管理方法