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C 1006 : 2019
5 供試体
防げん層として,表面若しくは内部層に屈折率の変調部位を設けたフィルム状又は板状のものとディス
プレイ(疑似ディスプレイを含む。)との組合せ,及び表面に凹凸を施したディスプレイを対象とし,その
構成については特に規定しない。また,測定中,ディスプレイの輝度が変動しない状態で測定することが
望ましい。
6 測定装置
測定装置は,供試体を撮影する撮影装置を備え,必要に応じて,供試体を撮影方向に対して垂直に設置
又は固定するためのジグがあり,撮影装置を可動させる可動部及び測定面に焦点を合わせる光学機構を備
える。また,ぎらつきパターン,ぎらつき値及びぎらつきコントラストを求めるための演算装置を備える。
撮影装置は,CCD(charge coupled device)又はCMOS(complementary metal-oxide semiconductor)イメー
ジセンサなどを撮像素子にもつ。撮像素子は,解像度について特に規定しないが,入力値(照度)と出力
値(階調)との間に直線性(リニアリティ)があり,8ビット以上の階調で,かつ,カラーフィルタをも
たないことが望ましい。撮像素子の仕様の例を表1に示す。
表1−撮像素子の仕様例
項目 撮像素子A 撮像素子B 撮像素子C
撮像素子の解像度(画素数) 2 456×2 058 1 290×960 4 896×3 264
撮像素子の種類 CCD CCD CCD
撮像素子イメージサイズ(inch) 2/3(対角) 1/3(対角) 1.27(対角)
画素ピッチ( 3.45 3.75 5.5
7 測定環境
測定は,温度15 ℃35 ℃,相対湿度25 %75 %において行う。ただし,受渡当事者間の協定によっ
て他の条件で測定を実施してもよい。
測定は,通常,暗室で行うが,事前に照明が測定結果に影響しないことが確認できた場合,又は受渡当
事者間で測定環境を規定している場合はそれに従う。
8 測定方法
ぎらつき度合の測定方法は,次による。
a) 供試体は,撮影方向に対して供試体画面が法線方向となるよう設置する。
b) 供試体において,少なくとも画面の測定範囲は,サブピクセルのうちの1色を最大階調で点灯した表
示[例えば,測定全画面を緑色(R,G,B=0,255,0)]とする。
c) 焦点は,通常,画素又は表示面に合わせる。撮影装置の設定条件によって画素形状が見えない場合は,
ディスプレイに文字又は画像を表示して焦点を合わせる。
d) 露光時間の調節又はレンズへの減光フィルタ(NDフィルタ)の設置によって,図3 b)のように,階
調の度数分布が最大階調数内に適切に収まるように調整する。
e) 撮影装置によって画面を撮影する。
f) 画素形状が見えない場合は,e)で得られた2次元データがぎらつきパターンである。画素形状が撮影
される場合は,種々の画像フィルタリング処理によって画素形状の影響を排除して,ぎらつきパター
ンを得る。
――――― [JIS C 1006 pdf 6] ―――――
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g) 撮影及び測定に当たっての留意事項は,次による。
1) ディスプレイ画素形状を撮影できるかどうかは,撮影距離,レンズの焦点距離及びFナンバの設定
による。撮影距離を大きくする,焦点距離が短いレンズを選択する,又はFナンバを大きくするほ
ど画素形状は撮影されにくくなる傾向にあり,過剰な撮影条件を選択すると,ぎらつき度合が小さ
くなり,供試体間の差を求めにくくなる。
2) 撮影された画素形状を排除するフィルタリング法の例として,ローパスフィルタを使用する方法な
どがある。
3) フィルタリング処理の有無を含む,異なるフィルタリング処理方法を用いて得られるぎらつきパタ
ーンから求められるぎらつき度合を比較する場合は,求められたぎらつき値及びぎらつきコントラ
ストに差異が生じる可能性があるため,各フィルタリング手法の適用可能な条件について十分留意
する。
4) ディスプレイの明るさ及び撮影する場合の露光時間については,次による。
− ぎらつきパターンの低階調部を,撮像素子がディスプレイの明るさを感知できないほどにディス
プレイが暗い又は露光時間が短い場合は,階調の度数分布の広がりが図3 a)に示すように低階調
領域で極端に狭くなり,統計処理に十分な階調の母数が少なくなるため,適切なぎらつき値又は
ぎらつきコントラストの測定ができない。
− ディスプレイが明るすぎる又は露光時間が長すぎる場合は,図3 c)のように,階調の度数分布の
高階調領域が最大階調を超えて飽和し,ぎらつき値又はぎらつきコントラストを適切に測定する
ことができない。
− 露光時間の調節又はレンズへの減光フィルタ(NDフィルタ)の設置によって,図3 b)のように,
階調の度数分布が最大階調数内に適切に収まるように調整する。
度数
度数
度数
階調 階調 階調
a) 平均階調が低すぎる場合 b) 適切な範囲にある場合 c) 平均階調が高すぎる場合
図3−適切な階調分布の設定
5) 露光時間は,供試体のフレームレートに同期するか,又はフレームレートの逆数よりも十分長い時
間に設定する。
9 計算
9.1 一般
撮影した画像から得られた階調データ又はぎらつきパターンのデータから,9.2によって平均値を求める。
ぎらつきパターンから9.3によってぎらつき値を求める。また,9.2の平均値及び9.3のぎらつき値から9.4
によってぎらつきコントラストを求める。
9.2 平均値
平均値μは,撮影した画像から得られた階調データ又はぎらつきパターンのデータから,式(1)によって
――――― [JIS C 1006 pdf 7] ―――――
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求める。
N
1 ix
μ (1)
Ni 1
ここに, μ : 平均値
N : 総サンプリング数
xi : 撮影した画像から得られた階調データ又はぎらつきパターン
のデータ
μを求める場合,xiとして撮影した画像から得られた階調データを用いるか,又はぎらつきパターンの
データを用いるかは,フィルタリング処理の手法によって決定する。
9.3 ぎらつき値
ぎらつき値は,ぎらつきパターンの標準偏差として式(2)及び式(3)によって求める。
分散の求め方には,式(2)で表す不偏分散のほか,標本分散などがある。測定装置及びソフトウェアによ
って,不偏分散によらない場合がある。不偏分散によらない場合は,その旨を報告書に記載する。
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N N
2 1 1
s yi yj (2)
N 1i 1
N j 1
2s
s (3)
ここに, s2 : 分散
N : 総サンプリング数
yi,yj : ぎらつきパターンを構成する各サンプリング点のデータ
s : ぎらつき値
9.4 ぎらつきコントラスト
ぎらつきコントラストは,式(4)によって求める。
s
SP 100 (4)
ここに, SP : ぎらつきコントラスト(%)
s : ぎらつき値
μ : 平均値
10 測定結果の表し方
ぎらつき値及びぎらつきコントラストは,それぞれ9.3及び9.4によって表す。
注記 ぎらつき値及びぎらつきコントラストの測定例を附属書Aに示す。
11 報告
報告書には,次の事項を記載する。ただし,受渡当事者間の協定によって,記載する項目を選択しても
よい。
a) 規格番号(JIS C 1006)
b) 測定環境(温度及び湿度)
c) 測定装置の製造業者名及び形式
d) 測定に用いたディスプレイの仕様
――――― [JIS C 1006 pdf 8] ―――――
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e) 測定条件(測定距離,ディスプレイの表示色など)
f) 撮影条件(暗室でない場合は,測定環境の照度,用いたレンズ,焦点距離,Fナンバなど)
g) 画素形状の影響を排除するための画像フィルタリング処理方法
h) 測定結果(ぎらつき値及び/又はぎらつきコントラスト)
i) 測定年月日
j) その他必要な事項
――――― [JIS C 1006 pdf 9] ―――――
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附属書A
(参考)
ぎらつき度合の測定例
A.1 測定装置及び測定条件の例
ぎらつき度合を求める測定装置及び測定条件の例を表A.1に示す。これらを使用して,各種ディスプレ
イと防げん層とを組み合わせた供試体のぎらつき度合の測定例をA.2A.4に示す。
表A.1−測定装置及び測定条件の例
項目 測定装置A 測定装置B
撮影装置 撮像素子の解像度(画素) 2 456×2 058 1 290×960
画素ピッチ 3.45 3.75
撮影階調(モノクロ) 8ビット 12ビット
積算回数 1回 25回
レンズ 対物レンズ焦点距離 12 mm 50 mm
絞り(F値) F8 F16
測定条件設定 ワーク距離(レンズから測定物まで) 328 mm 487 mm
測定エリア(撮像素子画素) 300×300 200×200
画素形状の排除方法 装置の設定条件によって ローパスフィルタ
画素形状が撮影されない。
A.2 液晶ディスプレイを用いた場合の測定例
液晶ディスプレイと防げん層とを組み合わせた供試体について,表A.1に示す仕様の測定装置を用いて
測定した例を表A.2に示す。
なお,測定に使用した液晶ディスプレイの発光パターン(R,G,B=0,255,0)の写真を図A.1に示
す。
図A.1−液晶ディスプレイの発光パターン
――――― [JIS C 1006 pdf 10] ―――――
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JIS C 1006:2019の国際規格 ICS 分類一覧
- 17 : 度量衡及び測定.物理的現象 > 17.180 : 光学及び光学的測定 > 17.180.20 : 色及び光の測定
- 17 : 度量衡及び測定.物理的現象 > 17.180 : 光学及び光学的測定 > 17.180.01 : 光学及び光学測定一般
JIS C 1006:2019の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISZ8120:2001
- 光学用語