JIS C 1031:1990 工業プロセス用圧力・差圧伝送器の試験方法 | ページ 2

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図3 校正表の例
図4 校正図の例
5.2 外部条件の変重力に対する試験
5.2.1 一般 外部条件の変動の割合は,試験中の伝送器のどの部分においても,オーバシュートが生じな
いよう十分にゆっくりと行わなければならない。
5.2.2 供給電源の変動 供給電源の変動試験は,供給電源電圧の変動及び供給電源の瞬断とし,次による。
(1) 供給電源電圧の変動 供給電源電圧の変動試験は,次に示す条件においてレンジの下限値とスパンの
変化を測定する。

――――― [JIS C 1031 pdf 6] ―――――

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なお,負荷抵抗については,3.1.3による。
(a) 基準値
(b) +10%又は製造業者が指定する限界値。
(c) −15%又は製造業者が指定する限界値。
(2) 供給電源の瞬断 供給電源の瞬断試験は,入力をスパンの50%に保持し,供給電源を5ms,20ms,100ms,
200ms及び500msの時間だけ瞬断し,次の値を測定する。
(a) 出力信号の負側及び正側の過渡変化の最大値。
(b) 電源瞬断後,出力信号が最終状態の99%に達するまでの時間。
(c) 瞬断の前後における出力信号の安定状態の差。
5.2.3 供給空気源圧力の変動 供給空気源圧力の変動試験は,伝送器出力信号が100%の状態において,
定格基準供給圧を±10%変化させた場合の影響を測定する。
5.2.4 電気的干渉 電気的干渉試験は,コモンモード干渉及びシリーズモード干渉とし,次による。
(1) コモンモード干渉は,圧力(差圧)検出部と出力端子との間が絶縁されている伝送器について行う。
伝送器を接地しない状態で接地端子又はケースに商用電源と同一の周波数の交流電圧250V(実効値)
又は製造業者が指定する電圧を加え,レンジの下限値及びスパンの変化量を測定する(図5参照)。
(2) シリーズモード干渉は,出力信号と直列に商用電源と同一の周波数の電圧を加え,出力の変化量を測
定する。
測定入力は,スパンの0%及び100%とし,加える電圧は変圧器によって絶縁し,10 地湎 抵抗で
分岐し,ピーク値を1Vとする(図6参照)。
図5 コモンモード干渉

――――― [JIS C 1031 pdf 7] ―――――

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図6 シリーズモード干渉
5.2.5 接地 接地試験は,出力回路が接地端子と絶縁されている伝送器について行う。出力端子を接地し
たときと接地しないときの,レンジの下限値とスパンの変化量を測定する。
5.2.6 出力負荷変動の影響 出力負荷変動の影響試験は,次による。
(1) 電子式伝送器の場合には,製造業者が指定した負荷抵抗範囲の最小値から最大値まで負荷抵抗を変化
させ,レンジの下限値及びスパンの変化量を測定する。
(2) 空気式伝送器の場合には,入力をスパンの0%,50%及び100%に設定して試験を行う。
伝送器の出力口から空気を流出させ,流量に対する出力の変化を出力が10%変化するまで測定する。
また,出力口から空気を流入させた場合についても同じ測定を行う。
5.2.7 放射電磁界イミュニティ 放射電磁界イミュニティ試験は,周波数が150MHz又は430MHzで,
出力が1Wの商用トランシーバを用いて,伝送器からアンテナまで1mの距離から発信し,アンテナの姿
勢出力の変動を測定する。アンテナの方向は,出力の変動が最も大きいところとする。
なお,これ以外の条件で試験する場合は,その条件を明記する。
5.2.8 外部磁界 外部磁界試験は,伝送器の供給電源と同一周波数の交流及び直流による400A/m(交流
の場合には実効値)の磁界を製造業者が指定した取付姿勢に対して,前後,左右及び上下3方向に加えて,
各方向において,出力スパンの0%と100%のときの出力の変化を測定する。
5.2.9 周囲温度 周囲温度影響試験は,製造業者が指定した正常動作条件での温度範囲におけるレンジの
下限値及びスパンの変化量を測定する。
試験する温度は,基準となる周囲温度23℃と正常動作条件下での温度範囲の最高及び最低温度とし,必
要な場合は,それぞれの中間値も含める。
5.2.10 湿度 湿度試験は,電子式伝送器だけについて行う。伝送器を3.1.1で規定する周囲条件下に24
時間置き,基準となる測定を1回行う。
次に,伝送器を少なくとも48時間大気圧下で温度4002 ℃,湿度90%RH以上の温湿度槽内に置く。最
終の4時間には伝送器に電源を供給する。この期間後直ちにレンジの下限値及びスパンの変化量を測定す
る。
次に,伝送器を動作状態で,1時間以上かけて飽和状態を保ちながら25℃以下に降下させ,レンジ下限
値及びスパンの変化量を測定する。
さらに,3.1.1で規定する周囲条件下に,連続24時間置いた後,レンジの下限値及びスパンの変化量を
測定する。

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5.2.11 取付姿勢 取付姿勢試験は,3.2.1の取付姿勢から,製造業者の規定がない限り前後左右4方向に
10度傾け,電子式伝送器ではレンジの下限値を,空気式伝送器ではレンジの下限値及びスパンの変化量を
測定する。
5.2.12 衝撃 衝撃試験は,伝送器を,コンクリート製又は鉄製の平滑で堅く頑丈な試験平面上に正常な姿
勢で置き,底面の一つの辺を軸として伝送器を傾け,反対側の辺と試験平面の間隔を,25mm,50mm若し
くは100mmの値になるようにするか,又は伝送器の底面と試験平面とのなす角度が30度になるように傾
けるか,いずれか製造業者が指定した条件で行う。この状態から試験平面に自由落下させる。
試験は,底面の四つの辺のそれぞれにうき,1回落下試験を行う。
試験後,目視によって内部の損傷の有無を調べ,レンジの下限値及びスパンの変化量を測定する。
5.2.13 振動 振動試験は,50%入力の状態で次のとおり行う。ただし,50%入力の状態を保つことが困難
な場合には,可能な入力値で試験を行ってもよい。
(1) 伝送器を製造業者が指定している姿勢で振動台の上に取り付け,垂直を含む互いに直角な3方向に正
弦波状の振動を加える。
伝送器は,振動を損失なく伝達するのに十分な剛性をもった取付板金具などを用いて振動台に取り
付ける。
振動条件は,表5による。
表5 振動条件
振動周波数 定振動 定加速度
Hz mmp−p m/s2
1060 0.14 −
60150 − 9.8
(2) 試験の前に,レンジの下限値と上限値を測定する。
(3) 試験は,次の3段階からなる。
(3.1) 第1段階は,共振点探索とし,振動数を約毎分0.5オクターブで対数的に変化させ,出力信号の変
化及び機械的共振の現象が現れるときの振動数を調べる。
(3.2) 第2段階は,耐久試験とし,伝送器には,垂直を含む互いに直角な3方向に,それぞれ1時間30
分にわたり振動を加える。
それぞれの方向の試験は,初めの共振点探索で最も大きな機械的共振の起こった振動数で行う。
ただし,共振点が発見されなかった場合には,表5で規定されている最大振動周波数で行う。
(3.3) 第3段階は,最終共振点探索とし,第1段階の共振点探索と同じ方法で,同じ振動条件で試験を行
う。
共振する振動数や出力信号が大きく変化する振動数を,第1段階の共振点探索との間で比較する。
(4) 最終の測定は,加振後,目視によって各部の機械的損傷の有無を調べ,レンジの下限値と上限値の変
化量を測定する。
5.2.14 オーバレンジ オーバレンジ試験は,最小及び最大スパンにおけるオーバレンジに起因するレンジ
の下限値及びスパンの変化量を測定する。
入力は,0%から製造業者が指定している許容オーバレンジ圧力まで,徐々に増加させる。
オーバレンジの状態で1分間おいてから,入力を徐々に通常の0%まで下げる。
5分間以上経過してから,レンジの下限値とスパンを測定し,オーバレンジ前後の変化量を測定する。
もし,レンジの上下両方向のオーバレンジ試験をする場合には,まずレンジの上限値より高いオーバレ

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ンジを与え,次にレンジの下限値より低いオーバレンジを与え,前述のように試験をする。両側のオーバ
レンジ前後のレンジの下限値とスパンの変化量を測定する。
5.2.15 静圧 静圧試験は,差圧伝送器について行う。印加する静圧は,大気圧から伝送器の最大使用圧力
まで4等分して変化させ,それぞれの静圧下におけるレンジの下限値の変化量を測定する。
なお,スパンの変化量の測定方法については,電力用などの用途として製造業者が別途規定するものと
する。
また,伝送器によって必要がある場合には,この試験を大気圧以下でも行う。
6. 安定性の試験 伝送器の安定性に関する試験は,スタートアップドリフト,長期ドリフト及び加速寿
命試験とし,次による。
(1) スタートアップドリフト 試験に先立ち,伝送器は,3.1.1で規定する状態にエネルギーを供給せずに
24時間放置する。
伝送器に0%の入力信号を印加し,電源又は空気源を投入したのち5分後,1時間後及び4時間後の
出力を測定する。
電源又は空気源を遮断し,少なくとも24時間,3.1.1で規定する状態に放置した後,100%入力信号
で同様の試験を繰り返す。
(2) 長期ドリフト 長期ドリフトは,伝送器を無加圧状態で30日以上運転し,その間に試験する。
入力と出力の関係を0%,100%出力に対応するものについて定期的に測定する。
なお,時間以外にも,周囲環境状態による変化があることに注意し,長期ドリフトだけが表れるよ
うにする。
(3) 加速寿命試験 加速寿命試験は,次による。
(a) 試験前にレンジの下限値,スパン及びスパンの中間におけるヒステリシスを測定する。
(b) 入力圧力の変動は方形とし,方形の最大値と最少値の差がスパンの約50%に等しくなるように圧力
を設定する(図7参照)。
(c) 入力変動の周波数は,出力変動の大きさが正しい大きさの0.8以下に下がらないように設定する。
(d) 繰返し回数は,原則として10万サイクルとし,試験後,レンジの下限値,スパン及びスパンの中間
におけるヒステリシスを測定する。
図7 加速寿命試験の方形波入力
7. ステップ応答試験
7.1 試験準備 試験準備は,次による。
(1) 伝送器のスパンは,最大スパンと最小スパンとのほぼ中間に調整する。

――――― [JIS C 1031 pdf 10] ―――――

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JIS C 1031:1990の引用国際規格 ISO 一覧

  • IEC 60770:1984(NEQ)

JIS C 1031:1990の国際規格 ICS 分類一覧

JIS C 1031:1990の関連規格と引用規格一覧