9
C 1102-9 : 1997
3.3.2 計算
湿度による影響変動値(百分率)は,選択した各目盛線について,絶対値の最大の値にその符号を付け
たものとする。計算は,次の式による。
BA BB BA BC
100 又は 100
AF AF
ここに, AF : 基底値
3.4 姿勢による影響変動値
3.4.1 D-1D-6(JIS C 1102-1表III-1)を表示した計器
3.4.1.1 手順
1) 計器を表示の姿勢に置く。
2) 標準状態で,測定範囲の下限と上限を含むほぼ等間隔な少なくとも5点の目盛線にタッピングをしな
がら指標を合わせ,入力値 (BR) を基準計器から読み取り,記録する。
3) 計器を前方に5°又は表示された値に傾ける。零位を調整し,タッピングをしながら手順2)と同じ目
盛線に指標を合わせ,入力値 (Bw) を記録する。
4) 計器を後方に5°又は表示された値に傾ける。零位を調整し,タッピングをしながら手順2)と同じ目
盛線に指標を合わせ,入力値 (Bx) を記録する。
5) 計器を左側に5°又は表示された値に傾ける。零位を調整し,タッピングをしながら手順2)と同じ目
盛線に指標を合わせ,入力値 (BY) を記録する。
6) 計器を右側に5°又は表示された値に傾ける。零位を調整し,タッピングをしながら手順2)と同じ目
盛線に指標を合わせ,入力値 (Bz) を記録する。
3.4.1.2 計算
姿勢による影響変動値(百分率)の絶対値は,選択した各目盛線について,手順3),4),5)及び6)での
値と,手順2)での値との最大偏差とし,次の式によって計算する。
BR BW BR BX
100 , 100
AF AF
BR B BR BZ
100 及び 100
AF AF
ここに, AF : 基底値
3.4.2 姿勢の表示がない計器
3.4.2.1 手順
1) 計器を基準姿勢に置く。
2) 標準状態で,測定範囲の下限と上限を含むほぼ等間隔な少なくとも5点の目盛線に順次,タッピング
をしながら指標を合わせ,入力値 (BR) を基準計器から読み取り,記録する。
3) 計器を90°,すなわち,固定用計器では取付板を水平に,携帯用計器では設置面を垂直に,傾ける。
零位を調整し,タッピングをしながら手順2)と同じ目盛線に指標を合わせ,入力値 (Bw) を記録する。
3.4.2.2 計算
姿勢による影響変動値(百分率)の絶対値は,選択した各目盛線について,手順2)での値と手順3)での
値との最大偏差とし,次の式によって計算する。
BR BW
100
AF
――――― [JIS C 1102-9 pdf 11] ―――――
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C 1102-9 : 1997
ここに, AF : 基底値
3.5 外部磁界による影響変動値
3.5.1 計器に対する手順
1) 標準状態で,測定範囲の下限と上限を含むほぼ等間隔な少なくとも5点の目盛線に順次,タッピング
をしながら指標を合わせ,入力値 (BR) を基準計器から読み取り,記録する。永久磁石可動コイル形,
熱形及び鉄心入電流力計形計器では測定範囲の上限で1回だけ測定する。
2) 可動部を駆動するのと同じ種類・周波数の電流で発生させた0.4kA/mの外部磁界中に計器を置く。磁
界は,平均直径1m,方形の断面で,径方向の厚さが直径に比べて小さいコイルで発生させる。この
コイルは400アンペアターンによって約0.4kA/mの磁界が発生する。被試験計器は,コイルの中心部
に置くこと。影響変動値は,コイルを少しずつ回転させ,外部磁界の位相も変えながら,最大の変動
を生じるようにして求める。
250mmを超える外形寸法の計器は,計器の最大寸法の4倍以上の平均直径のコイルで試験すること。
電流は,コイルの中心で,上に規定した値の磁界を発生するようにする。
備考 製造業者と使用者の合意があれば,十分に均一な磁界を発生する他の装置(例えば,ヘル
ムホルツコイル)を使用してもよい。
3) 手順2)での最も影響の大きい条件で,手順1)を繰り返し,その値 (Bx) を記録する。
備考1. 電力計,無効電力計,位相計,同期検定器及び力率計は,電圧回路に定格電圧を加える
こと。電力計と無効電力計では,基準の力率となるように電流を流す。
2. 磁界は,1kHzから20kHzの周波数では係数1/fで減少させる。fは,kHzで表した周波
数である。20kHzを超える周波数での試験は,規定しない。
3. F-30(JIS C 1102-1表III-1)を表示した計器は,この試験方法で規定している0.4kA/m
の代わりに,計器に表示された外部磁界の値で試験する。
3.5.2 附属品に対する手順
1) 附属品に,適切な指示が得られるような計器を接続して,定格入力を印加し,入力値 (BR) を基準計
器から読み取り,記録する。
2) 附属品を,それを駆動するのと同じ種類・周波数の電流によって発生させた0.4kA/mの外部磁界中に
置く。この磁界は,3.5.1の手順2)で示した装置によって発生させるものとする。
3) 手順2)での最も影響の大きい条件で,手順1)で接続した計器が,手順1)と同じ指示を示すように附属
品に入力を加え,入力値 (Bx) を記録する。基準計器又は測定用計器には,外部磁界を加えてはなら
ない。
備考1. 磁界は,1kHzから20kHzの周波数では係数1/fで減少させる。fは,kHzで表した周波数
である。20kHzを超える周波数での試験は,規定しない。
2. F-30((JIS C 1102-1表III-1)を表示した附属品は,この試験方法で規定している0.4kA/m
の代わりに,附属品に表示された外部磁界の値で試験する。
3. 制限付互換性附属品及び非互換性附属品では,組み合わせる計器とともに試験をしなけ
ればならないこともある。
3.5.3 計算
外部磁界による影響変動値(百分率)の絶対値は,次の式によって計算し,その最大偏差とする。
BR BX
100
AF
――――― [JIS C 1102-9 pdf 12] ―――――
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ここに, AF : 基底値
3.6 直流測定量のリプルによる影響変動値
3.6.1 計器に対する手順
1) リプル誤差を無視できる基準計器を接続し,測定範囲の上限の80%に近い目盛線に被試験計器の指標
が合うように直流の入力を加える。入力値 (BR) を基準計器から読み取り,記録する。
2) 直流入力を一定に保ち,表示された値又は直流入力の20%の45Hzのリプル電圧又は電流を重畳する。
周波数を65Hzまで徐々に増加させ,指ホ変化が最大になる周波数を見つける。直流入力を変え,手
順1)と同じ指示にする。
入力値 (Bx) を基準計器から読み取り,記録する。
3) 90Hzから130Hzのリプル周波数で,手順2)を繰り返し,同じ要領で,入力値 (BY) を記録する。
備考 入力のリプル成分で,指標に振動を生じるときは,指示値は指標の振れの平均値とする。
3.6.2 附属品に対する手順
1) リプル誤差を無視できる基準計器を接続し,附属品に定格の80%の直流入力を加える。附属品にはリ
プル誤差が無視でき,適切な指示の得られる計器を接続しておく。入力値 (BR) を基準計器から読み
取り,記録する。
2) 直流入力を一定に保ち,表示された値又は直流入力の20%の45Hzのリプル電圧又は電流を重畳する。
周波数を65Hzまで徐々に増加させ,接続した計器の指示変化が最大になる周波数を見つける。直流
入力を変え,接続した計器が手順1)と同じ指示になるようにする。入力値 (Bx) を基準計器から読み
取り,記録する。
3) 90Hzから130Hzのリプル周波数で,手順2)を繰り返し,同じ要領で,入力値 (BR) を記録する。
備考 入力のリプル成分で,指標に振動を生じるときは,指示値は指標の振れの平均値とする。
3.6.3 計算
直流測定量のリプルによる影響変動値(百分率)の絶対値は,次の式によって計算し,その最大偏差と
する。
BR BX BR BY
100 又は 100
AF AF
ここに, AF : 基底値
3.7 交流測定量のひずみによる影響変動値
3.7.1 電流計及び電圧計に対する手順
1) 波形誤差を無視できる基準計器を接続し,被試験計器の測定範囲の上限の80%に近い目盛線に指標か
合うように正弦波の入力(ひずみの限度は,JIS C 1102-1表I-1による。)を加える。入力値 (BR) を
基準計器から読み取り,記録する。
2) 基本波に,表示された値又は基本波の20%の第3高調波を加え,基準計器の読みが先に記録した値と
同じ実効値になるようにひずみ波の振幅を調整する。被試験計器の影響が最大になるように基本波と
第3高調波の間の位相差を変える。手順1)と同じ指示になるように,ひずみ波の振幅を変える。入力
値 (Bx) を基準計器から読み取り,記録する。
3.7.2 周波数計に対する手順
1) 波形誤差を無視できる基準計器を接続し,正弦波の定格電圧(ひずみの限度は,JIS C 1102-1表I-1
による。)を加え,被試験計器の中央目盛に近い目盛線に指標が合うように周波数を調整する。周波数
(BR) を基準計器から読み取り,記録する。
――――― [JIS C 1102-9 pdf 13] ―――――
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2) 基本波に,表示された値又は基本波の15%の第3高調波を加え,実効値で定格電圧になるようにひず
み波の振幅を調整する。基本波の周波数 (BR) で,被試験計器の影響が最大になるように,基本波と
第3高調波の間の位相差を変える。
手順1)と同じ目盛線に指標が合うように周波数を調整し,周波数 (Bx) を基準計器から読み取り,
記録する。
3.7.3 電力計及び無効電力計に対する手順
1) 波形誤差を無視できる基準計器を接続し,定格電圧で,被試験計器の測定範囲の上限の80%に近い目
盛線に指標が合うように正弦波の入力(ひずみの限度は,JIS C 1102-1表I-1による。)を加える。入
力値 (BR) を基準計器から読み取り,記録する。
2) 一方の測定回路に正弦波の定格値を加え,他方の測定回路には,基本波の20%の第3高調波(移相器
を使用した計器では5%,表示のある計器では表示の値)を基本波に重畳したひずみ波を加える。基準
計器の指示が手順1)と同じになるようにひずみ波の振幅を調整する。被試験計器の影響が最大になる
ように,基本波と第3高調波の間の位相差を変える。手順1)と同じ指示になるように,ひずみ波の振
幅を変える。入力値 (BX) を基準計器から読み取り,記録する。
3) 二つの測定回路を入れ換えて,手順2)を繰り返す。
3.7.4 位相計,力率計及び同期検定器に対する手順
1) 波形誤差の無視できる基準計器を接続し,正弦波の定格値(ひずみの限度は,JIS C 1102-1表I-1によ
る。)を加え,被試験計器の指標がゼロ,力率1又は同期点に合うように,二つの回路間の位相角を調
整する。このときの位相角 (BR) を基準計器から読み取り,記録する。
2) 一方の測定回路に正弦波の定格値を加え,他方の測定回路には,基本波の20%の第3高調波(移相器
を使用した計器では5%,表示のある計器では表示の値)を基本波に重畳したひずみ波を加える。ひ
ずみ波の実効値は,その測定回路の定格値とする。被試験計器の影響が最大になるように,基本波と
第3高調波の間の位相差を変える。手順1)と同じ指示になるように,一方の測定回路に加えた正弦波
と他方の測定回路に加えたひずみ波の基本波との間の位相差を調整する。位相角 (Bx) を基準計器か
ら読み取り,記録する。
3) 二つの測定回路を入れ換えて,手順2)を繰り返す。
3.7.5 附属品に対する手順
1) 附属品に波形誤差が無視できる基準計器と,同じく波形誤差を無視できる適切な指示を得るための計
器を接続し,附属品の定格値のほぼ80%に相当する正弦波入力(ひずみの限度は,JIS C 1102-1表I-1
による。)を加える。入力値 (BR) を基準計器から読み取り,記録する。
2) 基本波に,表示された値又は基本波の20%の第3高調波を加え,基準計器の指示が手順1)と同じにな
るようにひずみ波の振幅を調整する。計器の指示変化が最大になるように,基本波と第3高調波の間
の位相差を変える。計器の指示が,手順1)と同じになるようにひずみ波の振幅を変える。入力値 (Bx)
を基準計器から読み取り,記録する。
3.7.6 計算
交流測定量のひずみによる影響変動値(百分率)は,次の式によって計算する。
BR BX
100
AF
ここに, AF : 基底値
3.8 交流測定量の周波数による影響変動値
――――― [JIS C 1102-9 pdf 14] ―――――
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C 1102-9 : 1997
この試験で,入力値が被試験計器に許容される最大値を超えることになる場合は,より小さい値を選ぶ
こと。
3.8.1 電流計,電圧計,電力計及び無効電力計の影響変動値
3.8.1.1 手順
1) 標準状態で,測定範囲の下限と上限を含むほぼ等間隔な少なくとも5点の目盛線に順次,タッピング
をしながら指標を合わせ,入力値 (BR) を基準計器から読み取り,記録する。
2) IS C 1102-2又はJIS C 1102-3に示す限度内で入力周波数を変化させ,各周波数で手順1)を繰り返す。
入力値 (BX) を記録する。電力計及び無効電力計は,基準力率で試験すること。
3) 電力計及び無効電力計では,力率の公称使用範囲の下限(遅れ)で,手順2)を繰り返す。
3.8.1.2 計算
交流測定量の周波数による影響変動値(百分率)の絶対値は,選択した各目盛線について,次の式によ
って計算し,その値の最大値とする。
BR BX
100
AF
ここに, AF : 基底値
3.8.2 位相計の影響変動値
3.8.2.1 手順
1) 二つの入力に,基準周波数で,定格電圧及び/又は定格電流を加える。タッピングをしながらゼロを
指示するように両入力間の位相差を調整し,位相差 (BAN) を基準計器から読み取り,記録する。
2) 両入力の周波数を,公称使用範囲の下限とし,手順1)と同じ指示になるように位相差を調整し,位相
差 (BAL) を記録する。
3) 両入力の周波数を,公称使用範囲の上限とし,手順1)と同じ指示になるように位相差を調整し,位相
差 (BAU) を記録する。
4) 90°を指示するように両入力間の位相差を調整し,位相差 (BBN) を記録する。手順2)及び3)を繰り返
す。位相差 (BBL) 及び (BBU) を記録する。
5) 180°を指示するように両入力間の位相差を調整し,位相差 (BCN) を記録する。手順2)及び3)を繰り
返す。位相差 (BCL) 及び (BCU) を記録する。
6) 270°を指示するように両入力間の位相差を調整し,位相差 (BDN) を記録する。手順2)及び3)を繰り
返す。位相差 (BDL) 及び (BDU) を記録する。
備考 測定範囲の狭い計器では,測定範囲外での試験は除き,測定範囲の両端で試験する。
3.8.2.2 計算
交流測定量の周波数による影響変動値(百分率)の絶対値は,選択した各目盛線について,次の式によ
って計算し,その最大値とする。
BXN BXL
下限周波数では, 100
AF
BXN BXU
上限周波数では, 100
AF
ここに, AF : 基底値
X=A, B, C, D
3.8.3 力率計の影響変動値
――――― [JIS C 1102-9 pdf 15] ―――――
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JIS C 1102-9:1997の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60051-9:1988(IDT)
- IEC 60051-9:1988/AMENDMENT 1:1994(IDT)
- IEC 60051-9:1988/AMENDMENT 2:1995(IDT)
JIS C 1102-9:1997の国際規格 ICS 分類一覧
- 17 : 度量衡及び測定.物理的現象 > 17.220 : 電気学.磁気学.電気的及び磁気的測定 > 17.220.20 : 電気的及び磁気的量の測定