JIS C 1509-2:2018 電気音響―サウンドレベルメータ（騒音計）―第２部：型式評価試験

                                                   C 1509-2 : 2018 (IEC 61672-2 : 2013,Amd.1 : 2017)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 用語及び定義・・・・[3]
•  4 試験のための供試品・・・・[3]
•  5 表記及び取扱説明書・・・・[3]
•  6 備えるべき機能及び一般要求事項・・・・[3]
•  7 環境試験,静電場試験及び無線周波試験・・・・[5]
•  7.1 一般事項・・・・[5]
•  7.2 環境試験条件の測定の不確かさ・・・・[6]
•  7.3 静圧の影響・・・・[6]
•  7.4 周囲温度,相対湿度及び静圧の限度値・・・・[7]
•  7.5 温湿度の変化による影響の試験における順応・・・・[7]
•  7.6 周囲温度及び相対湿度の影響の組合せによる短縮試験・・・・[7]
•  7.7 周囲温度による影響・・・・[9]
•  7.8 相対湿度による影響・・・・[10]
•  7.9 静電気放電による影響・・・・[11]
•  7.10 電源周波数磁界及び無線周波電磁界による影響・・・・[11]
•  8 無線周波エミッション及び商用電源への妨害・・・・[14]
•  9 電気音響性能試験・・・・[15]
•  9.1 一般事項・・・・[15]
•  9.2 校正点検周波数での指示値・・・・[16]
•  9.3 指向特性・・・・[16]
•  9.4 音響信号を用いた周波数重み付け特性の試験・・・・[17]
•  9.5 電気信号による周波数重み付け特性の試験・・・・[21]
•  9.6 サウンドレベルメータのきょう(筐)体からの反射及びマイクロホンの周囲の回折の影響に対する補正・・・・[22]
•  9.7 自由音場又はランダム入射サウンドレベルを得るための補正値・・・・[23]
•  9.8 レベル直線性・・・・[23]
•  9.9 アンダーレンジ指示・・・・[25]
•  9.10 自己雑音・・・・[25]
•  9.11 時間重み付け特性F及び時間重み付け特性Sの減衰時定数・・・・[25]
•  9.12 時間重み付きサウンドレベルのトーンバースト応答・・・・[26]
•  9.13 音響暴露レベル又は時間平均サウンドレベルのトーンバースト応答・・・・[27]
•  9.14 時間平均サウンドレベルメータの繰返しトーンバースト列に対する応答・・・・[27]

(pdf 一覧ページ番号 1)

――――― [JIS C 1509-2 pdf 1] ―――――

C 1509-2 : 2018 (IEC 61672-2 : 2013,Amd.1 : 2017)

pdf 目次

ページ

•  9.15 過負荷指示・・・・[28]
•  9.16 C特性ピークサウンドレベル・・・・[29]
•  9.17 リセット・・・・[29]
•  9.18 電気出力端子・・・・[29]
•  9.19 計時機能・・・・[29]
•  9.20 チャンネル間のクロストーク・・・・[30]
•  9.21 電源・・・・[30]
•  10 型式評価試験報告書・・・・[30]

(pdf 一覧ページ番号 2)

――――― [JIS C 1509-2 pdf 2] ―――――

                                                   C 1509-2 : 2018 (IEC 61672-2 : 2013,Amd.1 : 2017)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,公益社団法人日本
騒音制御工学会(INCE/J)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業
規格を改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業
規格である。
  これによって,JIS C 1509-2:2005は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS C 1509の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS C 1509-1 第1部 : 仕様
    JIS C 1509-2 第2部 : 型式評価試験
    JIS C 1509-3 第3部 : 定期試験(予定)

(pdf 一覧ページ番号 3)

――――― [JIS C 1509-2 pdf 3] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                           C 1509-2 : 2018
                                                          (IEC 61672-2 : 2013,Amd.1 : 2017)

電気音響−サウンドレベルメータ(騒音計)−第2部 : 型式評価試験

Electroacoustics-Sound level meters-Part 2: Pattern evaluation tests

序文

  この規格は,2013年に第2版として発行されたIEC 61672-2及びAmendment 1(2017)を基に,技術的
内容及び構成を変更することなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。ただし,追補(amendment)については,
編集し,一体とした。

1 適用範囲

  この規格は,JIS C 1509-1:2017で規定する時間重み付けサウンドレベルメータ,積分平均サウンドレベ
ルメータ又は積分サウンドレベルメータ(以下,機器という。)に対する要求事項に適合しているか否かの
確認に必要な試験及び試験方法について規定する。この規格は,多チャンネルサウンドレベルメータの各
チャンネルに必要に応じて適用する。この規格は,クラス1及びクラス2のサウンドレベルメータに適用
する。この規格の目的は,全ての試験機関が一致した方法を用いて,型式評価試験を行うことである。
    注記1 この規格は,特に規定がない場合,JIS C 1509-1:2017及びIEC 61672-3:2013を参照する。
    注記2 JIS C 1509-1:2005の規定事項に適合するために作成したサウンドレベルメータの型式評価試
            験手順は,JIS C 1509-2:2005を用いる。
    注記3 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
            IEC 61672-2:2013,Electroacoustics−Sound level meters−Part 2: Pattern evaluation tests及び
                Amendment 1:2017(IDT)
              なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”
            ことを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 1508 騒音計のランダム入射及び拡散音場校正方法
      注記 対応国際規格 : IEC 61183,Electroacoustics−Random-incidence and diffuse-field calibration of
             sound level meters
    JIS C 1509-1:2017 電気音響−サウンドレベルメータ(騒音計)−第1部 : 仕様
      注記 対応国際規格 : IEC 61672-1:2013,Electroacoustics−Sound level meters−Part 1: Specifications
    JIS C 1515 電気音響−音響校正器

――――― [JIS C 1509-2 pdf 4] ―――――

2
C 1509-2 : 2018 (IEC 61672-2 : 2013,Amd.1 : 2017)
      注記 対応国際規格 : IEC 60942,Electroacoustics−Sound calibrators
    JIS C 61000-4-2:2012 電磁両立性−第4-2部 : 試験及び測定技術−静電気放電イミュニティ試験
      注記 対応国際規格 : IEC 61000-4-2:2008,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-2: Testing and
             measurement techniques−Electrostatic discharge immunity test
    JIS C 61000-4-3:2012 電磁両立性−第4-3部 : 試験及び測定技術−放射無線周波電磁界イミュニティ
        試験
      注記 対応国際規格 : IEC 61000-4-3:2010,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-3: Testing and
             measurement techniques−Radiated, radio-frequency, electromagnetic field immunity test
    JIS C 61000-4-6:2017 電磁両立性−第4-6部 : 試験及び測定技術−無線周波電磁界によって誘導する
        伝導妨害に対するイミュニティ
      注記 対応国際規格 : IEC 61000-4-6:2008,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-6: Testing and
             measurement techniques−Immunity to conducted disturbances, induced by radio-frequency fields
    JIS C 61000-4-20:2014 電磁両立性−第4-20部 : 試験及び測定技術−TEM(横方向電磁界)導波管の
        エミッション及びイミュニティ試験
      注記 対応国際規格 : IEC 61000-4-20:2010,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-20: Testing
             and measurement techniques−Emission and immunity testing in transverse electromagnetic (TEM)
             waveguides
    JIS C 61000-6-2:2008 電磁両立性−第6-2部 : 共通規格−工業環境におけるイミュニティ
      注記 対応国際規格 : IEC 61000-6-2:2005,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 6-2: Generic
             standards−Immunity for industrial environments
    IEC 61094-1,Measurement microphones−Part 1: Specifications for laboratory standard microphones
    IEC 61094-5,Measurement microphones−Part 5: Methods for pressure calibration of working standard
        microphones by comparison
    IEC 62585,Electroacoustics−Methods to determine corrections to obtain the free-field response of a sound
        level meter
    ISO/IEC Guide 98-3,Uncertainty of measurement−Part 3: Guide to the expression of uncertainty in
        measurement (GUM: 1995)
    ISO/IEC Guide 99,International vocabulary of metrology−Basic and general concepts and associated terms
        (VIM)
    ISO 26101:2012,Acoustics−Test methods for the qualification of free-field environments
    CISPR 16-1-1,Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods−Part 1-1:
        Radio disturbance and immunity measuring apparatus−Measuring apparatus
    CISPR 16-1-2:2006,Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods−Part
        1-2: Radio disturbance and immunity measuring apparatus−Ancillary equipment−Conducted
        disturbances
    CISPR 16-2-1:2010 (Ed. 2.1),Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and
        methods−Part 2-1: Methods of measurement of disturbances and immunity−Conducted disturbance
        measurements
    CISPR 16-2-3:2010 (Ed. 3.1),Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and
        methods−Part 2-3: Methods of measurement of disturbances and immunity−Radiated disturbance

――――― [JIS C 1509-2 pdf 5] ―――――

次のページ PDF 6