この規格ページの目次
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C 1609-2 : 2008
c) 測定基準面の位置6)
d) 製造年
e) 製造番号
f) 合番号(受光部と表示部とが分離できる構造のもので,両者に固有の組合せが必要なものや,取り外
せる機構の減光フィルタをもつ照度計及び減光フィルタなど,該当するものに限る。)
注5) 二つ以上の測定範囲をもつ照度計にあっては,それぞれの測定レンジごとの照度測定範囲を
表記する。
6) 測定基準面の位置を受光部に表記する。受光部に表示できない場合は表示部に表記する。こ
の表記が不可能な場合は取扱説明書に記載する。
9 器差検定の方法
器差検定の方法は,附属書Aによる。
10 使用中検査
使用中検査の方法は,附属書Bによる。
11 対応関係
JIS項目と特定計量器検定検査規則(以下,“検則”という。)項目との対応関係は,表3による。
表3−JIS項目と検則項目の対比表
JIS項目 検則項目
8 表記
第十九章第一節第一款第一目“表記事項”
5.2 直線性
5.3 斜入射光特性
5.4可視域相対分光応答度特性
5.5紫外域・赤外域の応答度特性
5.6表示部の特性
第十九章第一節第一款第二目“性能”
5.7疲労特性
5.8 温度特性
5.9 湿度特性
5.10 電源変動特性
6 構造及び機能
5.1 検定公差
第十九章第一節第二款“検定公差”
7 試験
第十九章第一節第三款第一目“構造検定の方法”
附属書A 器差検定の方法 第十九章第一節第三款第二目“器差検定の方法”
附属書B.1 性能に係る技術上の基準 第十九章第二節第一款“性能に係る技術上の基準”
附属書B.2 使用公差 第十九章第二節第二款“使用公差”
附属書B.3 性能に関する検査の方法 第十九章第二節第三款第一目“性能に関する検査の方法”
附属書B.4 器差検査の方法 第十九章第二節第三款第二目“器差検査の方法”
――――― [JIS C 1609-2 pdf 16] ―――――
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C 1609-2 : 2008
附属書A
(規定)
器差検定の方法
序文
この附属書は,器差検定の方法について規定する。
A.1 一般
照度計の器差検定は,任意の三つの照度について行い,器差検定の方法は,A.2による。
なお,取り外せる機構の減光フィルタをもつ照度計にあっては,減光フィルタを取り付けた状態及び取
り外した状態のそれぞれについて行う。
また,器差検定を行う際に使用する基準器については,基準器検査規則第4条に規定する単平面型基準
電球とする。
A.2 器差検定の方法
照度計の器差検定は,測定基準面の中心を通り,これに垂直な方向から基準器の光を1分間照射したと
きの計量値と基準器の光度の値から算出した照度の値とを,任意の三つの照度について,それぞれ比較し
て行う。
――――― [JIS C 1609-2 pdf 17] ―――――
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C 1609-2 : 2008
附属書B
(規定)
使用中検査
序文
この附属書は,使用中検査について規定する。
B.1 性能に係る技術上の基準
性能に係る技術上の基準は,5.6.3による。
B.2 使用公差
使用公差は,5.1に規定する検定公差の1.5倍とする。
B.3 性能に関する検査の方法
性能に関する検査の方法は,7.6.3による。
B.4 器差検査の方法
器差検査の方法は,附属書Aによる。
JIS C 1609-2:2008の国際規格 ICS 分類一覧
- 17 : 度量衡及び測定.物理的現象 > 17.180 : 光学及び光学的測定 > 17.180.30 : 光学測定機器
JIS C 1609-2:2008の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC7526:1990
- 光度標準電球
- JISZ8103:2019
- 計測用語
- JISZ8113:1998
- 照明用語
- JISZ8120:2001
- 光学用語
- JISZ8203:1964
- 単位記号
- JISZ8203:2000
- 国際単位系(SI)及びその使い方
- JISZ8720:2012
- 測色用の標準イルミナント(標準の光)及び標準光源