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C 2560-2 : 2006
磁心が破壊するまで,520 mm/分の速度で負荷をかけ,破壊の瞬間の負荷力を記録する。破壊した磁心
の破片は,後に行う破壊構造評価試験のために元の位置などを確認したうえで,保管しておく。
a) 強度 図4のように,E13以上のサイズの磁心はローラの上に,E13未満のサイズの磁心には平ら
な支持台の上に配置する。磁心には,加圧ジグを介して負荷をかけ,破壊の瞬間の負荷の値を記録す
る。
負荷
加圧ジグ
負荷
加圧ジグ
磁心
磁心
ローラ
図 4 E強度
b) 強度 図5のように,E13以上のサイズの磁心はローラの上に,E13未満のサイズの磁心には平ら
な支持台の上に配置する。磁心には,加圧ジグを介して負荷をかけ,破壊の瞬間の負荷の値を記録す
る。
負荷
加圧ジグ 負荷
磁心
加圧ジグ
磁心
ローラ 磁心
図 5 W強度
c) 強度 磁心は,図6のように配置する。E32以上のサイズの磁心は,図6のようにローラを介して
――――― [JIS C 2560-2 pdf 26] ―――――
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両脚部分に負荷をかける。E32未満のサイズの磁心は,受渡当事者間の合意の下で用意するジグを用
いて負荷をかけ,破壊の瞬間の負荷の値を記録する。
R=2 mm
ローラ
ローラ R=2mm
2mm
負荷 負荷
図 6 T強度
d) 強度 図7のように,E13以上のサイズの磁心はローラの上に,E13未満のサイズの磁心には平ら
な支持台の上に配置する。磁心には,加圧ジグを介して負荷をかけ,破壊の瞬間の負荷の値を記録す
る。
負荷
負荷
加圧ジグ
加圧ジグ
磁心
磁心
ローラ
図 7 M強度
e) 強度 図8のように,I13以上のサイズの磁心はローラの上に,I13未満のサイズの磁心には平らな支
持台の上に配置する。磁心には,加圧ジグを介して負荷をかけ,破壊の瞬間の負荷の値を記録する。
負荷
負荷
加圧ジグ
加圧ジグ
磁心 ローラ
図 8 I強度
――――― [JIS C 2560-2 pdf 27] ―――――
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7. 外観検査
目視又は適切な観察装置を用いて,磁心の表面にチップ,ラッジドエッジ,クラック,フ
ラッシュ,プルアウト(3.103.13参照)などの不具合を観察する。
8. 寸法検査
磁心の寸法は,目視又は規定の公差を確認できる適切な観察装置を用いて検査する。
――――― [JIS C 2560-2 pdf 28] ―――――
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附属書1(規定)ディスアコモデーション
1. 一般事項 附属書1では,ディスアコモデーション(透磁率の経時変化)を評価する。
備考1. 複素透磁率の実数部,虚数部はともに,ディスアコモデーションを示す。しかし,この附属
書では実数部についてだけを考える。
2. ディスアコモデーション及びディスアコモデーション係数は,いずれも時間の変数として使
用される。
2. 測定方法の原理 磁心は,磁気的な前処理を行う。インダクタンス又は初期透磁率に相当する他のパ
ラメータは,磁気的な前処理の後に,二つの規定の時間での値を測定する。ディスアコモデーション係数
は,それら測定値の差によって算出する。
備考 ディスアコモデーションは,通常,磁束密度の増加とともに減少するので,低い磁束密度で測
定する。
3. 試料 測定する磁心は,量産品から抜き取る。
ポット形磁心のような組立磁心は,ディスアコモデーションを通常の巻線によって測定する場合,ギャ
ップのない磁心を用いることが望ましい。異なるエアギャップの仕様をもつ一連の磁心を測定する場合,
そのうち最も小さいエアギャップをもつもので測定することが望ましい。
備考1. 中央に空洞をもつ磁心形状の場合,トロイダル磁心と同様な扱いで巻線してよい。ディスア
コモデーションは,通常の巻線で測定した場合と,トロイダルと同様な扱いで巻線した場合
とで測定結果が同等又は相関がとれ,更に,トロイダルと同様な扱いで測定した初透磁率が,
磁心のもつ初透磁率とほとんど差はないことが分かっているため,トロイダルと同様な巻線
で測定してよい。
2. ある材質のディスアコモデーションは,焼成直後のある期間に大きく変動する。この場合,
製品のデータシートには,受入試験は製造後のある期間実施してはならないことを規定し,
更にその期間を規定する。
4. 時間計測器(タイマー) どのような時間計測においても精度1 %以内でなければならない。消磁装
置によって測定を開始する時間計測器の場合,その誤差は,スタート技術誤差及び計測器そのものの誤差
による。
備考 原理的に,スタートする基準時間は,磁界の強さが飽和値から減少し始める瞬間である。コン
デンサ放電及び電力増幅法を用いた自動消磁器の場合,全消磁過程は,最初の測定までの時間
の許容内に完了する。
5. 測定手順
a) 本体の5.1.1に従って測定コイルを磁心に組み込む。
b) 本体の5.1.2のいずれかの方法に従って磁心を消磁する。消磁条件及びその消磁方法は明記しなければ
ならない。すべての場合において,消磁される瞬間を明確に,再現性があるように明示しなければな
らない。なぜなら,この明示は,測定開始時間を形成するとともに,ディスアコモデーションに影響
――――― [JIS C 2560-2 pdf 29] ―――――
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するからである。
c) 本体の5.2.4に従って二つの測定値を読み取る。
− 電気的消磁方法の場合,最初に10分間後,二回目が100分間後である。
− 熱的消磁方法の場合,消磁後,測定温度より10 ℃高い温度に達したときを基準時間とし,最初
は24時間後,二回目が48時間後である。
電気的消磁方法の場合,上記の時間以外の時間を用いてもよいが,その時間は24時間以内であることが
望ましい。2回の測定において,測定手順及び測定環境は同じでなければならない。
2回の測定間の温度は一定でなければならない。また,インダクタンスの経時変化が,インダクタンス
の温度係数による変化に影響されないように厳しく温度を管理しなければならない。
6. 計算 t1とt2との間のディスアコモデーションDは,2回の測定値から計算する。インダクタンスを
測定する場合,ディスアコモデーションは,次の式(1)によって算出する。
L1 L2
D (1)
L1 log t2 t1
ディスアコモデーション係数は,次の式(2)によって算出する。
D
DF
i
ここに, DF : ディスアコモデーション係数
L1 : 消磁後,時間t1における自己インダクタンス
L2 : 消磁後,時間t2における自己インダクタンス
備考 アコモデーションは,時間の対数とほぼ比例する。そのため,通常,ディスアコモデーション
は経時変化を表現する方法として用いられる。近似の範囲内で,ギャップ付き磁心のディスア
コモデーションは,材料のディスアコモデーションから得ることができる(トロイダルでの測
定と同様)。
――――― [JIS C 2560-2 pdf 30] ―――――
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JIS C 2560-2:2006の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60424-1:1999(MOD)
- IEC 61631:2001(MOD)
- IEC 62044-1:2002(MOD)
- IEC 62044-2:2005(MOD)
- IEC 62044-3:2000(MOD)
JIS C 2560-2:2006の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 2560-2:2006の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称