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C 2560-2 : 2006
N1
P Re l(k )
0
(pdf 一覧ページ番号 )
N2 k 1
ここに, Re[ l k 0
] : lk 0 の実数部
lk 0 : Vak及びVbkのクロスパワースペクトラム
6. ベクトルスペクトル法 ネットワークアナライザは,基本波Vak,高調波電圧Vak並びにVak及びVbk
の実効値とともに,これら電圧間の位相角 定する。kは,k番目の高調波(k=1,2,3···)であるこ
とを意味する。
磁心損失Pは,次の式(3)によって算出する。
P VakVbk cosk (3)
k 1
ここに, α : 回路要素に依存する比例定数
7. V-A-W(ボルト-アンペア-ワット)メータ法 測定電圧は,V-A-Wメータの内部で積算される。V-A-W
メータは,磁心の磁心損失Pに比例する電圧の時間平均値を算出する。
磁心損失P (W)は,次の式(4)によって算出する。
P ui K (4)
ここに, u i : 磁心損失の瞬時値の時間平均
α : V-A-Wメータの読値
K : 計測器定数
8. インピーダンスアナライザ法 インピーダンスアナライザは,測定電圧のベクトル成分から計算によ
って等価並列抵抗Rpを算出する。
磁心損失P(W)は,次の式(5)によって算出する。
P=Vrms2 / Rp (5)
ここに, Vrms : 励磁巻線電圧の実効値
備考 この損失は,等価並列抵抗から計算した値である。この損失の計算法は,電流と電圧信号とを
直接乗算した結果と同様に扱える。したがって,磁心損失Vrms2 / Rpは,P=Vrms・Irmscos
である。
――――― [JIS C 2560-2 pdf 36] ―――――
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C 2560-2 : 2006
附属書5(参考)直流磁気特性及びその他の基本的物理的特性の試験方法
この附属書は,本体に関連する事柄を補足するもので,規定の一部ではない。
1. 試料 2.以降の試験に用いる試料の形状及び寸法(公称値)を,附属書5図1に示す。
単位 mm
a)
a) b)
b) c)
c)
d)
d) e) e) f) f) g) g)
h) i)
j)
k)
h) i) j) k)
附属書5図1 直流磁気特性及びその他の基本的物理的特性の試験方法のための試料
――――― [JIS C 2560-2 pdf 37] ―――――
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C 2560-2 : 2006
2. 直流磁気特性 直流磁気特性の試験は,次による。
a) 装置及び器具 測定に用いる試験装置及び器具は,あらかじめ校正し,十分な確度をもつものとする。
回路例を,附属書5図2及び附属書5図3に示す。
L : 測定試料 C : コンデンサ
Lm : 相互誘導器 VR : 可変抵抗器
R : 無誘導抵抗器
附属書5図 2 M積分方式の測定原理 附属書5図 3 CR積分方式の測定原理
1) 積分方式 M積分方式では,差電圧 非 地晶 器Lmによって入力側に負帰還する
回路方式であり,増幅器の利得が十分大きければ 鉞 ゐ e1(V)
≒e2(V)となり,磁束密度B(T)は次の式(1)及び式(2)によって表される。
di dB
e2V Lm ≒ e1 N2 A (1)
dt dt
Lmi
B (2)
N2 A
ここに, Lm : 相互誘導器の相互インダクタンス(H)
i : 電流値(A)
N2 : 試料の二次コイル巻数
A : 実測による試料の断面積(m2)
電流iを電圧に変換してXY記録計のY軸に入力し,そのときの一次側電流を電圧に変換してX軸
に入力して,B-H曲線に記録する。
2) R積分方式 CR積分方式についてもM積分方式と同様に,増幅器の利得が十分大きければ次の
式(3)が成立する。
dB
e1V N2 A ≒ iR (3)
dt
N2 AB R idt RCe3
ここに, N2 : 試料の二次コイル巻数
A : 実測による試料の断面積(m2)
i : 電流値(A)
R : 無誘導抵抗器の抵抗値(Ω)
C : コンデンサの静電容量(F)
e3 : コンデンサの両端電圧(V)
――――― [JIS C 2560-2 pdf 38] ―――――
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C 2560-2 : 2006
全磁束変化は,コンデンサの両端の電圧e3を測定して求める。実際上はe3の代わりに増幅器の出力電圧
e0を用いて誤差は無視できるので,磁束密度B(T)はe0を用いて次の式(4)によって表される。
e0CR
B (4)
N2 A
ここに, e0 : 増幅器の出力電圧(V)
C : コンデンサの静電容量(F)
R : 無誘導抵抗器の抵抗値(Ω)
N2 : 試料の二次コイル巻数
A : 試料の実効断面積(m2)
増幅器の出力電圧e0をXY記録計のY軸に入力し,そのときの一次側電流を電圧に変換してX軸に入
力して,B-H曲線を記録する。
b) 測定試料 測定する磁心がトロイダル形の場合は,絶縁電線を試料全周にわたり均一に巻く。組立て
磁心の場合は,ボビンなどに巻き線を行い測定してもよい。
なお,測定中にコイルの発熱による温度上昇の影響を受けないように線材の径を適切に選択する。
c) 消磁 試料は,本体の5.1.2によって消磁する。
d) 計算方法及び算出 附属書5図2又は附属書5図3に示す自記磁束計によってB-H曲線を描く。飽和
磁束密度Bs,残留磁束密度Br,保持力Hcを次によって求める。ただし,最大磁界の強さは,予想さ
れる試料の保持力Hcの大きさによって附属書5表1による。
1) 飽和磁束密度BS B-H曲線の最大磁界に対応する磁束密度を読み,それを飽和磁束密度BSとする。
2) 残留磁束密度Br B-H曲線の飽和状態から磁界を0(零)にしたときの磁束密度を読み,それを残
留磁束密度Brとする。
3) 保磁力Hc B-H曲線の飽和状態から磁界を0にし,更に反対方向に磁界を増加していくとき,磁束
密度が0になる磁界の強さを読み,それを保磁力Hcとする。
附属書5表 1 直流磁気特性の測定磁界
単位 A/m
保磁力 最大磁界の強さ
100未満 1 000
100以上 500未満 5 000
500以上 1 000未満 10 000
1 000以上 5 000未満 50 000
3. 飽和磁わい(歪)定数
3.1 三端子容量法
a) 装置及び器具 測定に用いる試験機器及び装置は,あらかじめ校正し,十分な精度をもつものとし,
測定原理は附属書5図4による。
――――― [JIS C 2560-2 pdf 39] ―――――
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C 2560-2 : 2006
附属書5図4 三端子容量法の測定原理
b) 測定試料 試料は,附属書5図1 d) g)から選ぶ。試料の装置は附属書5図5 a)又はb)のいずれかを
行い,電極間距離が所定の距離となるようにする。
a) 接着剤による固定 b) ねじ止めによる固定
附属書5図5 試料の装着例
c) 前処理 前処理は行わない。
d) 試験方法及び算出 附属書5図4に示す装置で試料が飽和するまで磁化するのに十分な磁界を発生さ
せた後,磁界を180°回転させ,附属書5図6のような回転角と電極間の静電容量の関係図を作成す
る。附属書5図6から最大と最小の静電容量の差を求める。飽和磁わい定数 次の式(5)によって
算出する。
2 0S C
S (5)
3d C C0
ここに, 攀 真空の誘電率 8.854 2×10-12(F/m)
S : 電極面積(m2)
電極容量の変化(F)
d : 電極間距離(m)
C : 電磁石回転角0 での電極間静電容量(F)
C0 : 電極の浮遊容量(F)
――――― [JIS C 2560-2 pdf 40] ―――――
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JIS C 2560-2:2006の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60424-1:1999(MOD)
- IEC 61631:2001(MOD)
- IEC 62044-1:2002(MOD)
- IEC 62044-2:2005(MOD)
- IEC 62044-3:2000(MOD)
JIS C 2560-2:2006の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 2560-2:2006の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称