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C 4412-2 : 2019
7.6.3 判定基準
判定基準は,次による。
a) 各部の温度は,基準周囲温度を30 ℃としたとき,表7の温度限度値以下でなければならない。
b) 温度上昇試験後,8.1.2の絶縁抵抗試験に適合しなければならない。
c) 温度上昇試験後,8.1.3の商用周波耐電圧試験に適合しなければならない。
表7−各部の温度限度値
単位 ℃
測定箇所 温度限度値
巻線 A種絶縁 100
E種絶縁 115
B種絶縁 125
F種絶縁 150
H種絶縁 170
半導体素子 セレン 75
ゲルマニウム 60
シリコン 135
ヒューズクリップの接触部 90
金属製陶磁器製及びガラス製
持ち運び用の取っ手(使用中に人が操作するものを除く。) 65
その他 80
使用中に人が操作する取っ手 金属製陶磁器製及びガラス製 55
その他 70
点滅器などのつまみ及び押しボタン 金属製陶磁器製及びガラス製 60
その他 75
きょう体 人が触れて使用するもの 金属製陶磁器製及びガラス製 55
の表面 その他 70
人が容易に触れるおそれがあるもの 金属製陶磁器製及びガラス製 85
その他 100
人が容易に触れるおそれがないもの 100
試験品を置く木台の表面 95
8 電気的要求事項及び異常状態の模擬
8.1 絶縁性能試験
8.1.1 一般事項
分離形PCSは,補機類を含め,適切な絶縁性能をもたなければならない。
試験は,8.1.28.1.4による。充電部と器体の表面との間にサージアブソーバをもつ場合,器体の表面が
接地されているとき,又は金属外郭と絶縁された接地用端子若しくは接地用口出し線をサージアブソーバ
専用にもち,接地用端子と金属外郭との間の空間距離又は沿面距離は3 mm以上であるとき,若しくは,
回路からサージアブソーバを取り外さずにサージアブソーバを短絡した状態で,5.1 b) 3) を満足するとき
は,充電部と器体の表面との間の試験は,サージアブソーバを回路から取り外して行ってもよい。また,
非接地の自立出力端子の漏電検出用の接地素子については,絶縁耐力試験及び絶縁抵抗試験を実施すると
きに取り外してもよい。
8.1.2 絶縁抵抗試験
8.1.2.1 試験方法
――――― [JIS C 4412-2 pdf 21] ―――――
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試験方法は,次による。
a) 外郭が非充電金属部であって絶縁体ではない場合は分離形PCSの入出力端子と外郭との間の絶縁抵
抗を,外郭が絶縁体の場合は分離形PCSの入出力端子と外郭の表面に密着させた金属はくとの間の絶
縁抵抗を,次の絶縁抵抗計で測定する。
1) 分離形PCSの定格電圧が300 Vを超える場合,JIS C 1302に規定する1 000 V絶縁抵抗計,又はこ
れと同等の性能をもつ絶縁抵抗計。
2) 分離形PCSの定格電圧が1) 以外の場合,JIS C 1302に規定する500 V絶縁抵抗計,又はこれと同
等の性能をもつ絶縁抵抗計。
なお,分離形PCSが専用負荷及び/又は補機類をもつ場合,これらの回路を閉回路とし,試験電
圧が印加できるようにする。
b) 測定中,絶縁抵抗値が変化する場合は,電圧を加えてから約1分後の値とする。
c) 試験状態の詳細については,受渡当事者間の協定によって別途決定してもよい。
8.1.2.2 判定基準
8.1.2.1によって測定した値は,1 MΩ以上でなければならない。
8.1.3 商用周波耐電圧試験
8.1.3.1 試験方法
試験方法は,次による。
a) 外郭が非充電金属部であって絶縁体ではない場合は分離形PCSの入出力端子と外郭との間に,外郭が
絶縁体の場合は分離形PCSの入出力端子と外郭の表面に密着させた金属はくとの間に,定格電圧が
150 V以下の場合は1 000 V,150 Vを超える場合は1 500 Vの交流電圧を連続して1分間印加する。
b) 制御回路など,絶縁変圧器の二次側の電圧で充電された部分の場合,次のいずれか,及び変圧器の巻
線相互間に,表8の交流電圧値を連続して1分間印加する。
− 外郭が非充電金属部であって絶縁体ではない場合は,変圧器の二次側の電圧で充電された部分と外
郭との間。
− 外郭が絶縁体の場合は,変圧器の二次側の電圧で充電された部分と,外郭の表面に密着させた金属
はくとの間。
c) 補機類の場合,充電部と外郭との間に表8の交流電圧値を連続して1分間印加する。
表8−試験電圧値
単位 V
電圧の区分 試験電圧
30以下 500
30を超え 150以下 1 000
150を超え 300以下 1 500
300を超え 600以下 2E a)+1 000
注a) は,二次側の電圧。
注記1 単相3線式の分離形PCSは,定格電圧200 Vとみなす。
注記2 変圧器二次側の回路の試験において,二次側の片側が接地されているものの場合,接地を取
り外して行ってもよい。
8.1.3.2 判定基準
――――― [JIS C 4412-2 pdf 22] ―――――
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8.1.3.1によって試験したとき,絶縁破壊などの性能上の支障を生じてはならない。
8.1.4 雷インパルス試験
8.1.4.1 試験方法
分離形PCSの出力端子(主回路一括)と非充電金属部(接地用端子)との間に,波頭長1.2 μs,波尾長
50 μs及び波高値5.0 kVとなる波形の電圧を最小1分間の間隔で,正極性及び負極性それぞれ3回ずつ印
加する。主開閉器として用いる漏電遮断器が不要動作する場合,その原因がサージアブソーバ,雑音防止
用コンデンサなどを通じて流れる漏れ電流によることが明らかな場合は,漏電遮断器の入出力端子間を短
絡して試験してもよい。
8.1.4.2 判定基準
8.1.4.1によって試験したとき,次による。
a) 絶縁用空隙間での橋絡又は絶縁体を貫通する絶縁破壊を生じてはならない。
b) この試験後,8.1.2に規定する絶縁抵抗試験に適合しなければならない。
8.2 耐久性試験
8.2.1 一般事項
機械的動作を伴うリレー,開閉器などは,耐久性をもたなければならない。
関連する部品規格,同等の規格などによって同等の耐久性が保証されている場合には,試験を省略して
もよい。
8.2.2 試験方法
部品の動作電圧の1.1倍の電圧を印加し,制御回路と同等な負荷を加えた状態で,次の回数の開閉試験
を行う。
a) 系統又は内部の異常状態を検出して保護動作を行う場合 : 1 000回
b) 運転中に特定のパラメータを一定の水準に維持するために制御動作を行う場合 : 10 000回
c) 始動から解列(待機状態も含む。)までの間に1回以上動作する場合 : 100 000回
8.2.3 判定基準
8.2.2によって試験したとき,次による。
a) 開閉試験後,8.1.2に規定する絶縁抵抗試験に適合しなければならない。
b) 開閉試験後,8.1.3に規定する商用周波耐電圧試験に適合しなければならない。
c) 開閉試験後,7.6に規定する温度上昇試験を実施し,各部の温度は,基準周囲温度を30 ℃としたとき,
表9の温度上昇限度値以下でなければならない。
――――― [JIS C 4412-2 pdf 23] ―――――
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表9−開閉試験後の温度上昇限度
単位 K
測定箇所 温度上昇限度値
巻線 A種絶縁 70
E種絶縁 85
B種絶縁 95
F種絶縁 120
H種絶縁 140
半導体素子 セレン製 45
ゲルマニウム製 30
シリコン製 105
開閉接触部a) 銅又は銅合金 40
銀又は銀合金 65
刃受け又は受け金の導電部 40
端子金具及び電線の導体b) 銅又は銅合金の開閉接触部をもつもの 35
銀又は銀合金の開閉接触部をもつもの 60
平形導体合成樹脂絶縁電線の接続部の導電部 30
ねじ込み形電線コネクタの接続部の導電部 45
差し込み形電線コネクタの接続部の導電部 45
ヒューズクリップの接触部 刃形端子 70
筒形端子 60
注a) 構造上,温度上昇を測定することができない開閉接触部をもつ場合には,適用しない。
b) 構造上,温度上昇を測定することができない開閉接触部をもつ場合に限り,適用する。
8.3 部品故障試験
8.3.1 一般事項
部品が故障した場合であっても,発火の危険がなく,安全でなければならない。
8.3.2 試験方法
回路間,部品相互間及び部品の端子間を開放又は短絡する。
8.3.3 判定基準
発火の危険が生じてはならない。
JIS C 4412-2:2019の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 4412-2:2019の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC1302:2018
- 絶縁抵抗計
- JISC4412-1:2014
- 低圧蓄電システムの安全要求事項―第1部:一般要求事項
- JISC60695-10-2:2018
- 耐火性試験―電気・電子―第10-2部:異常発生熱―ボールプレッシャー試験方法
- JISC8283-1:2019
- 家庭用及びこれに類する用途の機器用カプラ―第1部:一般要求事項
- JISC8300:2019
- 配線器具の安全性
- JISK5600-5-4:1999
- 塗料一般試験方法―第5部:塗膜の機械的性質―第4節:引っかき硬度(鉛筆法)
- JISS6006:2020
- 鉛筆,色鉛筆及びそれらに用いる芯