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C 5201-8-1 : 2014 (IEC 60115-8-1 : 2014)
1 適用範囲
この規格は,···表面実装用固定抵抗器(以下,抵抗器という。)の性能及び定格について規定する。
この規格は,JIS C 5201-8の1.5(抵抗器の用途による性能分類)に定義する製品性能水準Gで,民生用
子機器,通信ユーザ端末など,機能重視で穏やかな環境条件で機能する一般的な電子機器用抵抗器に適用
する。
この規格は,JIS C 5201-1の附属書Q[IEC電子部品品質認証制度(IECQ)に用いる場合の品質評価手
順]に規定する品質評価手順による品質認証のための試験計画及び要求性能について規定する。
この規格をジャンパー(0 Ω)抵抗器に適用する場合には,附属書Aによる。
注記1 この規格で用いる文字記号及び略語は,附属書Bによる。
注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
IEC 60115-8-1:2014,Fixed resistors for use in electronic equipment−Part 8-1: Blank detail
specification: Fixed surface mount (SMD) ow power film resistors for general electronic
equipment, classification level G(IDT)
なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”
ことを示す。
2 引用規格
次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
JIS C 0806-3 自動実装部品の包装−第3部 : 表面実装部品の連続テープによる包装
注記 対応国際規格 : IEC 60286-3,Packaging of components for automatic handling−Part 3: Packaging
of surface mount components on continuous tapes(IDT)
JIS C 0806-6 自動実装部品のパッケージング−第6部 : 表面実装部品用バルクケースによるパッケー
ジング
注記 対応国際規格 : IEC 60286-6,Packaging of components for automatic handling−Part 6: Bulk case
packaging for surface mounting components(IDT)
JIS C 5005-2:2010 品質評価システム−第2部 : 電子部品及び電子パッケージのための抜取検査方式
の選択及び活用(統計的工程品質限界の評価手順)
注記 対応国際規格 : IEC 61193-2:2007,Quality assessment systems−Part 2: Selection and use of
sampling plans for inspection of electronic components and packages(IDT)
JIS C 5062 抵抗器及びコンデンサの表示記号
注記 対応国際規格 : IEC 60062:2004,Marking codes for resistors and capacitors(IDT)
JIS C 5063 抵抗器及びコンデンサの標準数列
注記 対応国際規格 : IEC 60063,Preferred number series for resistors and capacitors(IDT)
JIS C 5201-1:2011 電子機器用固定抵抗器−第1部 : 品目別通則
注記 対応国際規格 : IEC 60115-1:2008,Fixed resistors for use in electronic equipment−Part 1: Generic
specification(MOD)
JIS C 5201-8:2014 電子機器用固定抵抗器−第8部 : 品種別通則 : 表面実装用固定抵抗器
注記 対応国際規格 : IEC 60115-8:2009,Fixed resistors for use in electronic equipment−Part 8: Sectional
――――― [JIS C 5201-8-1 pdf 6] ―――――
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C 5201-8-1 : 2014 (IEC 60115-8-1 : 2014)
specification−Fixed surface mount resistors(IDT)
JIS C 60068-2-1 環境試験方法−電気・電子−第2-1部 : 低温(耐寒性)試験方法(試験記号 : A)
注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-1,Environmental testing−Part 2-1: Tests−Test A: Cold(IDT)
JIS C 60068-2-2 環境試験方法−電気・電子−第2-2部 : 高温(耐熱性)試験方法(試験記号 : B)
注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-2,Environmental testing−Part 2-2: Tests−Test B: Dry heat(IDT)
IEC 61760-1,Surface mounting technology−Part 1: Standard method for the specification of surface mounting
components (SMDs)
3 用語及び定義
この規格で用いる用語及び定義は,JIS C 5201-1及びJIS C 5201-8によるほか,次による。
···
4 特性及び定格
4.1 一般事項
ここでは,抵抗器のさまざまな特性及び定格を詳細に規定する。規定値がない(“···”又は空白)特性及
び定格項目は,抵抗器ごとに異なる。
4.2 寸法
表1に規定する固有の形状及び個別の寸法とともに,この規格を適用する抵抗器の形状及び寸法を,図
1に示す。その他の形状は,規定する寸法の範囲内にあればよい。
図1−外形及び寸法
表1−形式及び寸法
形式 寸法 質量 b)
形式記号 X a) 長さL 幅W 厚さT m
mm mm mm mg
注a) インチ単位寸法記号で,参考事項とする。
b) 参考事項とする。
――――― [JIS C 5201-8-1 pdf 7] ―――――
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C 5201-8-1 : 2014 (IEC 60115-8-1 : 2014)
4.3 定格
耐候性カテゴリは,“カテゴリ下限温度(LCT)/カテゴリ上限温度(UCT)/高温高湿(定常)の試験
時間”の形で,表2に規定する。”
表2−耐候性カテゴリ
耐候性カテゴリ
カテゴリ下限温度(LCT)/カテゴリ上限温度(UCT)/高温高湿(定常)の試験時間
···/···/···
···/···/···
この規格を適用する抵抗器の許容印加電力は,表3に規定する定格電力によって規定する。許容印加電
力は,図2の軽減曲線に従い,定格周囲温度70 ℃以上の周囲温度では電力を軽減する。
表3−定格
形式 定格電力 Y 素子最高電圧 絶縁電圧
(形式記号) P70 直流又は交流(実効値) 直流又は交流(最大値)
Umax Uins
mW V V
注記1 この表に規定する絶縁電圧は,1分間の試験時間で検証している。ただし,長期間の絶縁性能は,湿度,有
機物及び絶縁層内の電界傾度の影響を受ける場合がある。
注記2 列Yは,定格周囲温度70 ℃以外の周囲温度における付加的な定格電力など,任意の付帯情報欄である。
100
定格電力比(%)
推奨動作領域
0
カテゴリ下限温度 70 ℃ カテゴリ上限温度
図2−軽減曲線
4.4 抵抗値範囲及び抵抗値許容差
この規格に規定する耐候性カテゴリで認証する抵抗温度係数,抵抗値許容差及び抵抗値範囲の組合せを,
表4に規定する。
9.2による初期の製品品質認証試験,及び9.3.1による品質確認検査には,表4に規定する範囲内の抵抗
器を用いる。
この規格で規定する抵抗値範囲外であっても,規定範囲内で最も近い抵抗値の安定性クラスへの要求事
項を全て満足する場合,認証してもよい。
――――― [JIS C 5201-8-1 pdf 8] ―――――
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C 5201-8-1 : 2014 (IEC 60115-8-1 : 2014)
例 形式···,温度係数··· 10−6/K,許容差··· %,抵抗値··· Ωの抵抗器が安定性クラス···の要求事項を満
足する。
各形式で認証を受けた公称抵抗値範囲は,IECQ品質認証制度を適用する場合に,公称抵抗値の許容差
及び抵抗温度係数とともに,品質認証認定証に記載する。これは,例えば,IECのウェブサイト
(http://certificates.iecq.org/)で閲覧できる。
表4−耐候性カテゴリ... / ... / ...での抵抗温度係数,抵抗値許容差及び抵抗値範囲
形式 抵抗温度係数 抵抗値許容差 抵抗値範囲 E標準数列b) 安定性クラス
(形式記号) 10−6/K 記号a) % 記号a) Ω
注a) IS C 5062による表示記号。
b) IS C 5063による抵抗値の標準数列Eシリーズ。
5 試験及び試験の厳しさ
5.1 絶縁抵抗
JIS C 5201-1の4.6(絶縁抵抗)及びJIS C 5201-8の2.2.5(絶縁抵抗)によるほか,次による。
形式RRの角形抵抗器は,抵抗素子面(皮膜側)をスプリング電極(試験点A)に向け上向きで,JIS C
5201-1の4.6.1.4(角形抵抗器の方法)に規定する試験ジグで測定する。スプリング電極の半径は,抵抗器
の長さLの1/4を超えてはならない。
形式RCの円筒形抵抗器は,JIS C 5201-1の4.6.1.5(円筒形抵抗器の方法)に規定する試験ジグで測定
する。金属製Vブロック(試験点A)の寸法L1及びV形状は,抵抗器の電極との間隔が0.5 mm以上残る,
又は抵抗器電極間の絶縁長の1/4のいずれか小さい方を選択する。
5.2 耐電圧
JIS C 5201-1の4.7(耐電圧)及びJIS C 5201-8の2.2.6(絶縁電圧)によるほか,次による。
形式RRの角形抵抗器は,抵抗素子面(皮膜側)をスプリング電極(試験点A)に向け上向きで,JIS C
5201-1の4.6.1.4に規定する試験ジグで測定する。スプリング電極の半径は,抵抗器の長さLの1/4を超え
てはならない。
形式RCの円筒形抵抗器は,JIS C 5201-1の4.6.1.5に規定する試験ジグで測定する。金属製Vブロック
(試験点A)の寸法L1及びV形状は,抵抗器の電極との間隔が0.5 mm以上残る,又は抵抗器電極間の絶
縁長の1/4のいずれか小さい方を選択する。
5.3 温度による抵抗値変化
JIS C 5201-1の4.8(温度による抵抗値変化)によるほか,次による。
この試験は,試料をJIS C 5201-8の2.4.2(部品の取付け)の規定に従って取り付ける,又は試験の実施
に適切なジグに試料を取り付けて行う。
20 ℃,カテゴリ下限温度(LCT),20 ℃,カテゴリ上限温度(UCT)及び20 ℃の順序で連続して実施
する。
5.4 短時間過負荷
JIS C 5201-1の4.13(短時間過負荷)及びJIS C 5201-8の2.3.1(短時間過負荷)によるほか,次による。
過負荷を印加する時間は,抵抗器の形式に応じて表5に規定する。
――――― [JIS C 5201-8-1 pdf 9] ―――――
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C 5201-8-1 : 2014 (IEC 60115-8-1 : 2014)
表5−短時間過負荷時間
形式 過負荷印加時間
(形式記号) tload
s
注記 過負荷印加時間は,素子最高温度が,カテゴリ上限温度
よりも30 K以上高くなるように規定している。
5.5 温度上昇
JIS C 5201-1の4.14(温度上昇)によるほか,次による。
試料は,JIS C 5201-8の2.4.2(部品の取付け)の規定に従って取り付ける。
5.6 はんだ付け性
JIS C 5201-1の4.17(はんだ付け性)及びJIS C 5201-8の2.3.2(はんだ付け性)によるほか,次による。
抵抗器のはんだ付け可能な電極表面は,SnPb共晶はんだ及び鉛フリーはんだの両方に適合する必要があ
る。したがって,はんだ付け性試験は,両方のはんだ合金での試験が必要である。
5.7 はんだ耐熱性
JIS C 5201-1の4.18(はんだ耐熱性)及びJIS C 5201-8の2.3.3(はんだ耐熱性)によるはんだ耐熱性試
験方法及び厳しさは,Sn-Pb共晶はんだ及び鉛フリーはんだに適用可能であって,リフローはんだ付け(気
相法を含む)及びダブルウエーブはんだ付けの要求を代表した次の試験条件を用いる。
試験方法 : はんだ槽法
− はんだ合金 : Sn-Pb,Sn-Cu,Sn-Ag-Cu又はSn-Agのいずれかのはんだ合金
− 槽の温度Tbath : 260 ℃±5 ℃
− 浸せき(漬)時間 : 10秒間±1秒間
− 浸せき(漬)及び引き揚げ速さ : 20 mm/s25 mm/s
− 試験回数 : 1回
5.8 温度急変
JIS C 5201-1の4.19(温度急変)によるほか,次による。
試料は,JIS C 5201-8の2.4.2の規定に従って取り付ける。
試験は,品質認証試験計画(表12)の群6,及び品質確認検査のための試験計画(表13)の副群C1で
は,5サイクル行う。低温側試験温度TAは,カテゴリ下限温度(LCT)とし,高温側試験温度TBは,カテ
ゴリ上限温度(UCT)とする。
5.9 一連耐候性
5.9.1 一般事項
JIS C 5201-1の4.23(一連耐候性)によるほか,5.9.25.9.7による。
試料は,JIS C 5201-8の2.4.2(部品の取付け)の規定に従って取り付ける。
5.9.2 一連耐候性,高温
抵抗器は,カテゴリ上限温度で,JIS C 60068-2-2に規定する試験Bbを16時間行う。
温度急変の影響が試料に有害であることが未知の場合,試料を試験室温度からカテゴリ上限温度までの
任意温度の恒温槽中に出し入れしてもよい。
――――― [JIS C 5201-8-1 pdf 10] ―――――
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JIS C 5201-8-1:2014の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60115-8-1:2014(IDT)
JIS C 5201-8-1:2014の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 5201-8-1:2014の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC0806-3:2014
- 自動実装部品の包装―第3部:表面実装部品の連続テープによる包装
- JISC0806-3:2021
- 自動実装部品の包装―第3部:表面実装部品の連続テープによる包装
- JISC0806-6:2006
- 自動実装部品のパッケージング―第6部:表面実装部品用バルクケースによるパッケージング
- JISC5062:2008
- 抵抗器及びコンデンサの表示記号
- JISC5063:1997
- 抵抗器及びコンデンサの標準数列
- JISC60068-2-1:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-1部:低温(耐寒性)試験方法(試験記号:A)
- JISC60068-2-2:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-2部:高温(耐熱性)試験方法(試験記号:B)