JIS C 5381-331:2021 低圧サージ防護用部品―第３３１部：金属酸化物バリスタ（ＭＯＶ）の要求性能及び試験方法 | ページ 6

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                                                            C 5381-331 : 2021 (IEC 61643-331 : 2020)
   注記1 JIS C 5381-11:2014の測定制限電圧は,この規格では制限電圧VCとして参照される。
  注記2 図A.1の中の細分箇条番号は,JIS C 5381-11:2014の番号を用いている。
                              図A.1−動作責務試験のフローチャート
  この試験は,JIS C 5381-11:2014の8.3.4.2に規定する交流電源によって,最大連続使用電圧UCを印加中
のSPDに,製造業者が指定する回数の規定インパルスを印加することによって使用状態をシミュレートす
る試験である。
  この試験の設定は,図A.2に示す回路図に適合しなければならない。

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C 5381-331 : 2021 (IEC 61643-331 : 2020)
記号説明
  Uc : JIS C 5381-11:2014の8.3.4.2による交流電源
  D : 製造業者が指定するSPD分離器
  DUT : 供試品(SPD)
  サージ電流インパルスは,次による。
  − JIS C 5381-11:2014の8.3.4.3によるクラスI及びクラスIIの動作責務試験用8/20電流
  − JIS C 5381-11:2014の8.3.4.4による追加動作責務試験用インパルス放電電流Iimp
  − JIS C 5381-11:2014の8.3.4.5によるクラスIIIの動作責務試験用コンビネーション波形
                            図A.2−動作責務試験用の試験設定の回路図
  続流500 A以下のSPDに対する動作責務試験のための交流電源特性を,JIS C 5381-11:2014の8.3.4.2.1
に記載する。
  測定制限電圧は,JIS C 5381-11:2014の8.3.3に規定する試験によって決定する。
  供試品への過負荷を避けるため,次の試験を実施する。
· JIS C 5381-11:2014の8.3.3.1に規定する試験。ただし,クラスI試験のIimpの波高値だけの試験
· JIS C 5381-11:2014の8.3.3.1に規定する試験。ただし,クラスII試験のInだけの試験
· JIS C 5381-11:2014の8.3.3.3に規定する試験。ただし,クラスIII試験のUocだけの試験
· 正極性1回,負極性1回のサージ試験
A.4.1.2 測定制限電圧
A.4.1.2.1 一般
  異なる種類のSPDに対する測定制限電圧を決定するための試験は,図A.3のフローチャートに従って実
施する。
A.4.1.2.2 8/20電流インパルスでの制限電圧(JIS C 5381-11:2014の8.3.3.1参照)
  SPDが電圧制限形素子だけを内蔵している場合は,クラスI試験の波高値Iimp又はクラスII試験の波高
値Inの試験だけが必要である。
  製造業者がImaxを指定している場合には,波高値Imaxの追加電流インパルスを印加し,残留電圧を測定
してその値を記録する。
  正極で1シーケンス,負極で1シーケンスを,SPDに印加する。
  個々のインパルスの印加間隔は,供試品が周囲温度まで冷却するのに十分な長さの間隔とする。

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  測定制限電圧を決定するために用いる残留電圧は,次に示す電流範囲に相当する最高電圧値とする。
· クラスI試験は,Iimpまで
· クラスII試験は,Inまで
  注記 残留電圧は,サージ電流が流れている間に測定した最も高い波高値である。クローバ発生器のよ
        うな特別に設計した発生器によって,電流が流れる直前及び流れている間に発生する高い周波数
        の電圧の波形乱れ及びスパイク電圧は無視される。
  Umaxを決定するための値は,SPDのクラス試験によって適用するIn,Imax又はIimpで測定した最も高い残
留電圧である。

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C 5381-331 : 2021 (IEC 61643-331 : 2020)
   注記1 JIS C 5381-11:2014において測定した制限電圧は,この規格では制限電圧VCとして参照する。
  注記2 図A.3の中の細分箇条番号は,JIS C 5381-11:2014の番号を用いている。
                         図A.3−制限電圧決定のための試験フローチャート

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A.4.1.2.3 コンビネーション波形での制限電圧(JIS C 5381-11:2014の8.3.3.3)
  コンビネーション波形での制限電圧試験は,コンビネーション波形発生器を用いて,次のように実施す
る。
  個々のインパルスの印加間隔は,供試品が周囲温度まで冷却するのに十分な長さとする。
  電圧制限形素子だけを内蔵しているSPDの場合には,試験はUOCだけでよい。
  上記の発生器を設定し,それぞれの振幅で正極性2回及び負極性2回の計4回サージを,SPDに印加す
る。
  測定制限電圧及びUmaxの値は,試験シーケンス中で記録したピーク電圧の最大値とする。
  注記 UOCは供試品の接続点におけるコンビネーション波形発生器の開回路電圧である
A.4.2 クラスI及びIIの動作責務試験(JIS C 5381-11:2014の8.3.4.3)
  この試験では,一群5パルスの正極性8/20電流インパルス印加を,3回実施する。供試品をJIS C 5381-
11:2014の8.3.4.2に規定する電源に接続する。各インパルスは電源周波数に同期する。同期角は,0°
30°間隔で増加し,その角度での許容差は±5°とする。試験のタイミング図を,図A.4に示す。
                図A.4−クラスI試験及びクラスII試験の動作責務試験のタイミング図
  SPDにUCを印加する。電源の推定短絡電流は,一連のインパルスを加えている間,JIS C 5381-11:2014
の8.3.4.2に適合していなければならない。SPDへのUCの印加は,再点弧を確認するために,各群のイン
パルス印加後及び最終の続流遮断後(ある場合),1分間以上連続する。最後の群のインパルス印加及びそ
の1分間後,安定性を確認するために,更に15分間,MOVにUCを印加し続ける,又は30秒間以内に再
びUCを15分間印加する。このために,電源の短絡電流容量を5 Aに低減してもよい。
  クラスI試験でSPDを試験する場合,Iimpの波高値をもつ8/20電流インパルスを適用する。
  クラスII試験でSPDを試験する場合,8/20電流インパルスのInを適用する。
  注記 一つのSPDをクラスI試験及びクラスII試験に分類する場合,製造業者の同意の下に,両クラス
        試験の最も厳しいパラメータで1回だけ実施することが可能である。
  インパルスの間隔は50秒60秒間,インパルス群の間隔は30分35分間とする。
  群間では,供試品は交流電圧を印加する必要はない。

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