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C 5401-2-001 : 2005 (IEC 61076-2-001 : 2001)
表 8 試験群BP(続き)
試験 測定 要求事項
JIS C
試験 JIS C
試験の厳しさ 5402-1-10 すべての
段階 名称 5402-1-100 名称 PL
又は条件 0 コネクタ形状
試験番号
試験番号
BP9 試料数“K1”
準備は5.1.3による。
加える力の最大増加速度
静的な力 試験段階1参
8b “L1”N/s, 外観 1a
(軸方向) 照。
加える力“M1”N,
力を加えている時間
“N1”秒
注* 試験段階Pで試験するコンタクトに対しては適用しない。
** リムーバブルコンタクトにだけ適用する。
注(2)及び(5)は,表6の注参照。
――――― [JIS C 5401-2-001 pdf 41] ―――――
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C 5401-2-001 : 2005 (IEC 61076-2-001 : 2001)
作成の手引き
5.2.2.4 試験群CP−耐湿性
CP1 最大電圧“L2”及び適用箇所を規定する。試験終了後の最小抵抗“K2”も規定する。
CP2 BP3.4参照。ただし,試験期間は,“M2”とする。
この試験と同時に,次の試験を実施する。
−絶縁抵抗
−ハウジング(シェル)の導通性
−接触抵抗
−耐電圧
−結合力及び離脱力又は挿入力及び引抜力
−封止(気密性)(全体エアーリーク)又は封止(気密性)(微少エアーリーク)
−外観(非結合コネクタ)
−インサート内のコンタクト保持
――――― [JIS C 5401-2-001 pdf 42] ―――――
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C 5401-2-001 : 2005 (IEC 61076-2-001 : 2001)
5.2.2.4 試験群CP−耐湿性
表 9 試験群CP
試験 測定 要求事項
試験 JIS C JIS C
試験の厳しさ すべての
段階 名称 5402-1-100 名称 5402-1-100PL
又は条件 コネクタ形状
試験番号 試験番号
最小抵抗“K2”, 試験段階4(1)参
CP1 浸せき,減圧 14e 絶縁抵抗 3a
最大電圧“L2” 照
高温高湿 BP3.4参照。ただし,
CP2 11c 絶縁抵抗 3a 試験段階4参照
(定常) 試験期間“M2”日
ハウジング(シェ
2f BP4参照
ル)の導通性
接触抵抗(ミリボ 2a
ルトレベル法)
又は 又は 試験段階3参照
接触抵抗(規定電
流法) 2b
耐電圧 4a 試験段階5参照
結合力及び離脱力 13a 4.3.2参照
14a
封止(気密性)(全
体エアーリーク)
又は P7参照
14b
封止(気密性)(微
少エアーリーク)
外観 1a 試験段階1参照
インサート内のコ
15a AP7参照
ンタクト保持
注(1)は,表6の注参照。
――――― [JIS C 5401-2-001 pdf 43] ―――――
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C 5401-2-001 : 2005 (IEC 61076-2-001 : 2001)
作成の手引き
5.2.2.5 試験群DP−電気的負荷
DP1 AP13の諸条件参照。
DP2 BP2参照。ただし,動作回数は,“P2”とする。
DP3 最大負荷電流“R2”A,試験槽の時間“Q2”を規定する。
試験槽の温度は,コネクタの規定最大動作温度の70%±5%に維持する。電流を印加し増加した後
に測定した試料の温度は,規定最大動作温度の105%を超えてはならない。最低2時間の回復時間
がなければならない。
この試験の後,試験段階4に従って絶縁抵抗(高温)を測定する。
接触抵抗及び耐電圧についても実施する。
外観検査は,結合しないコネクタについて実施する。
DP4 加える力“S2”Nを規定する。
この試験の後,次の試験を順次行う。
−エアリークに対する封止(気密性)。AP17参照。
−インターフェイシャルシーリング
−外観
DP5 塵の種類及び暴露時間を規定する。回復時間が必要な場合には,それを規定する。試験(又は回復
時間)の後,結合力及び離脱力を測定する。
DP6 コネクタの自由落下繰返し回数及びその落下高さを規定する。試験後に外観を検査する。
――――― [JIS C 5401-2-001 pdf 44] ―――――
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C 5401-2-001 : 2005 (IEC 61076-2-001 : 2001)
5.2.2.5 試験群DP−電気的負荷
表 10 試験群DP
試験 測定 要求事項
試験 JIS C JIS C
試験の厳しさ すべての
段階 名称 5402-1-100 名称 5402-1-100 PL
又は条件 コネクタ形状
試験番号 試験番号
DP1 温度急変 11d AP13参照
BP2参照。ただし,動作
DP2 機械的動作 9a
回数は“P2”
絶縁抵抗 3a 試験段階4参照
試験槽の時間“Q2”,
接触抵抗(ミ 2a
コンタクト負荷電流
リボルトレ
電気的負荷 “R2”A 以下,
DP3 9b ベル法)又は 試験段階3参照
及び温度 回復時間 2時間以上,
接触抵抗(規 2b
試料の中心部に温度セ
定電流法)
ンサを取り付ける。
耐電圧 4a 試験段階5参照
封止(気密 14a
性)(全体エ
アーリーク)
コンタクト保
又は P7参照
持機構及びシ
封止(気密 14b
ールの耐久性
DP4 9d 加える力“S2”N 性)(微少エ
(メンテナン
アーリーク)
ス,エージン
インターフ
グ)
ェイシャル 14f
シーリング
外観 1a 試験段階1参照
塵の構成及びばく露時 結合力及び
DP5 砂じん 11h 13a 4.3.2参照
間“S3”分 離脱力
DP6 自由落下 落下回数“T2”及び落
7a 外観 1a 試験段階1参照
(繰返し) 下高さ“U2”m
――――― [JIS C 5401-2-001 pdf 45] ―――――
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JIS C 5401-2-001:2005の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 61076-2-001:2001(IDT)
JIS C 5401-2-001:2005の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.220 : 電子及び通信設備用機構部品 > 31.220.10 : プラグ・ソケット装備.コネクタ
JIS C 5401-2-001:2005の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISB0031:2003
- 製品の幾何特性仕様(GPS)―表面性状の図示方法
- JISC5401-1:2015
- 電子機器用コネクタ―製品要求事項―第1部:品目別通則
- JISC5401-2:2005
- 電子機器用コネクタ―第2部:品種別通則―丸形コネクタ―品質評価付
- JISC5402-1-100:2014
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第1-100部:一般―試験方法規格一覧
- JISC60068-1:2016
- 環境試験方法―電気・電子―第1部:通則及び指針