JIS C 5410-1:2021 高周波同軸コネクタ―第1部:品目別通則―一般要求事項及び測定方法 | ページ 3

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耐候性の厳しさは,低温,高温及び高温高湿(定常)の試験期間による。耐候性カテゴリの例を,表1
に示す
表1−推奨耐候性カテゴリ(JIS C 60068-1の附属書A参照)
カテゴリ名称 記号 温度範囲 高温高湿(定常)
℃ 日
40/085/21 A −4085 21
55/125/21 B −55125 21
55/155/56 C −55155 56

7 JIS形名

  JIS形名の目的は,高周波同軸コネクタのJISの適用範囲内で特定のコネクタを識別することである。
これ以外の情報を含めることを意図していない。JISには適合するが,規格で網羅していない機能をもつ
可能性があるため,通常は製造業者のコネクタを識別する必要がある。
個別規格に適合するコネクタは,次の順序で表示する。
a) 規格の番号
b) “JIS”の文字
c) 個別規格に示す追加の識別表記
注記 製品の表示又は製品説明書のいずれかにJIS形名を用いている場合,その製品が個別規格の要
求事項に適合していることを保証するのは,製造業者の責任である。

8 試験

  他に規定がない場合,次の条件を適用する。
a) 試験は,JIS C 60068-1の4.3(測定及び試験に用いる標準大気条件)に規定する測定及び試験に用い
る標準大気条件下で行う。
b) 測定を行う前に,コネクタ全体が熱安定するために十分な時間,測定及び試験に用いる標準大気条件
下でコネクタを前処理する。
c) 試験後とその後の測定との間の後処理条件は,JIS C 60068-1の4.4(後処理条件)に従う。
試験計画は,10.3に示し,その試験の詳細は9.4に示す。
適用するストレス及び/又は適用期間に対してだけ公称値を用いる場合,規定値は,適用する最小限の
試験の厳しさを示していなければならない。
試験は,納入業者から納入された状態のコネクタで行う。個別規格に規定がない場合,いずれの場合も,
コンタクト部品は,試験前に洗浄又は他の方法で前処理をしてはならない。
ケーブルをコネクタに取り付ける要求がある場合,コネクタ製造業者の取扱説明書に従って行う。
コネクタは,完全に結合し,ねじ式カップリングコネクタは,個別規格で規定する標準カップリングト
ルクで締め付ける。
パネルに取り付けたコネクタで環境試験を行う場合,その固定形コネクタのパネル背面部分を適切に保
護することに注意する。
極端な温度にさら(曝)すことを伴う試験では,適切な温度特性をもつケーブルを用いることが望まし

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C 5410-1 : 2021
い。

9 試験方法

9.1 機械的検査

9.1.1 外観検査
外観検査は,次の事項を確認する。
a) コネクタの表示 11.1に従って正しく表示し,規定するいずれの試験の後でも判読可能でなければな
らない。
b) 製造 慎重に,手ぎわよく行う。
c) 電気的試験後,機械的試験後及び耐候性試験後の劣化 他に規定がない場合,性能に影響を与えるよ
うな目に見える劣化があってはならない。
d) 包装の表示 11.2による。
9.1.2 寸法
9.1.2.1 一般
コネクタの寸法を検査する。コネクタの寸法は,個別規格に規定する寸法に適合していなければならな
い。
個別規格に規定するゲージを用いることを除き,任意の適切な方法を用いてもよい。
9.1.2.2 機械的互換性
結合面の寸法は,個別規格に規定する結合面の図面に従っていなければならない。互換性ゲージの使用
は,任意とする。用いる場合,試料には,互換性ゲージを取り付ける。

9.2 電気的試験及び測定手順

9.2.1 リターンロス
9.2.1.1 一般的な考慮事項
リターンロスは,公称インピーダンスからの逸脱及びコネクタ構造の影響によって,反射した信号のレ
ベル(量)を定量化することに役立ち,システムの性能が最も重要な場合に有用である。
コネクタのリターンロスは,標準試験用コネクタと結合した試料で測定する。アダプタには,両端に標
準試験用コネクタを結合する。
特定のコネクタの個別規格は,適切な標準試験用コネクタ(グレード0のコネクタ)も規定する。結合
した標準試験用コネクタは,精密伝送ライン又は精密ケーブルへの接続部を含め,全体にわたり,特性イ
ンピーダンスについて最良の均一性を示していなければならない。
ケーブル用コネクタは,コネクタ製造業者が提供する取扱説明書に従って,適切なケーブルに取り付け
る。用いるケーブルは,可能な限り精密公差タイプとする。
9.2.1.2 周波数ドメイン試験
9.2.1.2.1 試験装置
試験装置は,校正標準器(オープン,ショート及びロード)を用いてSパラメータ測定が可能なベクト
ルネットワークアナライザ(以下,VNAという。)を推奨する。
VNAは,無線周波数(RF)及びマイクロ波装置のRF性能をネットワーク散乱パラメータ(又はSパラ
メータ)に関する特性を得ることを可能にする試験システムである。
供試コネクタのリターンロスは,対象となる規定する周波数範囲にわたってVNAで測定する。
エラー補正(校正)手順の詳細な説明は,VNAの取扱説明書に記載されている。

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固有反射の小さい精密試験用コネクタは,ネットワークアナライザ,アナライザのテストリード及び/
又は終端器に直接接続可能であるように,試料の両端に取り付ける。
注記 小さい固有反射とは,VSWR(電圧定在波比)が1.035以下をいう。
9.2.1.2.2 手順
2-コネクタ法は,コネクタに取り付けた既知の値のケーブルを用いる。
タイムドメインリフレクトメータ(以下,TDRという。)は,測定セットアップの均一性の検査,欠陥
部分の特定及び用いられる同軸ラインの区間の特性インピーダンスの精度の検査をするために用いる。
ネットワークアナライザでTDRが利用可能な場合,ゲーティングを行うことによってケーブルによる誤
差を取り除ける。
注記 ゲーティング(gating)とは,TDRの機能の一つで周波数軸を時間軸に変換し,反射点及びそ
の量を周波数の関数から時間軸,すなわち,距離(長さ)の関数として表し,そこに表れた供
試コネクタ以外(例えば,ケーブル,アダプタなど)の影響による不要な反射を,供試コネク
タの前後にゲートを設けて除去することで,必要な部分だけを取り出すことである。
手順は,図2及び図3に示す。
コネクタの相互接続ケーブルは,性能を確認した規定するケーブル又は適切なケーブルシミュレータの
いずれかで構成する。
測定システムの精度の確認としては,標準試験用コネクタ間でコネクタ組立品を逆に取り付けて測定を
繰り返すことを推奨する。
代表的なリターンロスの図記号は,図1に示す。
a) DR b) おす及びめす(ピン及びソケット)コネクタ
c) 周波数ドメインリフレクトメータ d) 必ずしも完全に整合してないコネクタ
e) 精密雌雄同形コネクタ f) 精密終端
図1−図記号

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供試コネクタ
精密終端
標準試験用アダプタ 標準試験用アダプタ
(注記参照) (注記参照)
注記 標準試験用コネクタは,測定装置ポート,測定装置の試験用ケーブル及び/又は精密終端に直接用い
るか,又は標準試験用アダプタを介して接続している。
図2−一般手順
用途 試験方法 備考
標準エアライン 基準ライン 終端
との比較による
基準ラインの選
択及び検証
標準エアライン
基準ラインとの 基準ライン アダプタは,精
供試伝送ライン
比較による次の 度も校正も必要
測定中に用いる としない。
伝送ラインの選
択及び検証 アダプタ
標準試験用アダ 供試コネクタ
基準ライン
プタの性能検証
標準試験用アダプタ 終端
装置の日常点検 装置及び終端器
精密終端
の誤差の検証
装置の追加検査 標準エアライン又は基準ライン 総合的な誤差の
検証
精密終端
図3−2-コネクタ法の測定セットアップ

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用途 試験方法 備考
標準試験用アダ 標準試験用アダプタ 標準試験用アダ
精密終端
プタの性能検査 1 プタは,同様に
(14) 交差結合又は逆
結合して確認し
2
てもよい。
標準試験用アダプタ
標準試験用アダ
標準試験用アダプタ プタの1及び3,
精密終端
並びに2及び4
3
は,それぞれ同
じ品種の別個体
4
である。
標準試験用アダプタ
図3−2-コネクタ法の測定セットアップ(続き)
9.2.1.3 タイムドメインリフレクトメータ(TDR)による方法
9.2.1.3.1 理論的な考慮事項
入射信号がステップ関数の理想形であると仮定する場合,反射する信号s(t)=r(t)は,次のような式によ
って周波数の関数として複素リターンロスr(ω)に変換が可能である。
T
jt
r() j ()
ste dt
0
ここで,0Tは,供試コネクタから発生する反射によるs(t)の部分を含む時間間隔である。
上限周波数の値をωT<1, e−jωt=1のような値に制限すると,次の式に単純化が可能である。
T
r() 2πf ()
stdtAf
0
T
A 2π ()
stdt
0
TDRによる測定記録の例を,図4に示す。
注記 リターンロスの大きさだけが重要であるため,反射信号積分の符号は省略する。正の符号は,
誘導性直列から生じ,負の符号は容量性並列のじょう(擾)乱要素から生じる。

――――― [JIS C 5410-1 pdf 15] ―――――

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JIS C 5410-1:2021の引用国際規格 ISO 一覧

  • IEC 61169-1:2013(MOD)

JIS C 5410-1:2021の国際規格 ICS 分類一覧

JIS C 5410-1:2021の関連規格と引用規格一覧

規格番号
規格名称
JISC60068-1:2016
環境試験方法―電気・電子―第1部:通則及び指針
JISC60068-2-1:2010
環境試験方法―電気・電子―第2-1部:低温(耐寒性)試験方法(試験記号:A)
JISC60068-2-11:1989
環境試験方法(電気・電子)塩水噴霧試験方法
JISC60068-2-13:1989
環境試験方法(電気・電子)減圧試験方法
JISC60068-2-17:2001
環境試験方法―電気・電子―封止(気密性)試験方法
JISC60068-2-2:2010
環境試験方法―電気・電子―第2-2部:高温(耐熱性)試験方法(試験記号:B)
JISC60068-2-20:2010
環境試験方法―電気・電子―第2-20部:試験―試験T―端子付部品のはんだ付け性及びはんだ耐熱性試験方法
JISC60068-2-27:2011
環境試験方法―電気・電子―第2-27部:衝撃試験方法(試験記号:Ea)
JISC60068-2-30:2011
環境試験方法―電気・電子―第2-30部:温湿度サイクル(12+12時間サイクル)試験方法(試験記号:Db)
JISC60068-2-42:1993
環境試験方法―電気・電子―接点及び接続部の二酸化硫黄試験方法
JISC60068-2-6:2010
環境試験方法―電気・電子―第2-6部:正弦波振動試験方法(試験記号:Fc)
JISC60068-2-69:2019
環境試験方法―電気・電子―第2-69部:試験―試験Te/Tc:電子部品及びプリント配線板のはんだ付け性試験方法(平衡法)
JISC60068-2-78:2015
環境試験方法―電気・電子―第2-78部:高温高湿(定常)試験方法(試験記号:Cab)
JISZ8000-1:2014
量及び単位―第1部:一般