JIS C 5410-1:2021 高周波同軸コネクタ―第１部：品目別通則―一般要求事項及び測定方法 | ページ 4

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                 s(t)
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     基準ラインのインピ 供試コネクタからの反射   伝送ラインのインピーダンス·レベル
     ーダンス·レベル
                                    図4−TDRの測定記録例
  図4において,0からTまでの曲線の範囲内の面積は,次の式による。
                          Tstdt
                          0()
                                   17.5 ps
  したがって,100 MHzではr=0.011となる。
9.2.1.3.2 測定手順
  用いる装置及び構成要素の検証は,図3の上から三つの欄に示す方法で行う。測定を行うためのセット
アップは,図5に示す。
                             基準ライン           供試コネクタ
                                          アダプタ                    終端
                             図5−TDRのための装置のセットアップ
  TDRの時間及びリターンロスの目盛は,いずれも独立した基準によって校正する。時間の目盛は,既知
の長さのエアライン,スライディングショートサーキット又は時間標準によって校正が可能である。リタ
ーンロスの目盛は,既知のインピーダンス不整合又は既知の振幅の入力信号によって校正する。測定間の
日常校正は,オープン又はショートするだけでも十分である。
    注記 スライディングショートサーキット(sliding short-circuits)とは,測定周波数内で反射信号の位
          相の反転を,半波長の範囲に相当する長さで調整可能な精密エアラインの可変短絡器である。
  校正に加えて,測定装置は,次の誤差の原因を確認しなければならない。
a) ステップ波形は,校正の前にリップル及び不規則性が最小になるように調整する。

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b) エアライン及び装置のケーブルの損失は,入射ステップをひずませる。過度な長さは,避けなければ
    ならない。
c) 測定システムの多重反射は,特にシステムが不整合な部品を含む場合,供試コネクタからの反射に加
    わる。それらの影響は,異なる信号源からの反射信号が時間的に分離するようにエアライン及びケー
    ブルの長さを選択することによって最小限に抑えることが可能である。
d) 漏えいしやすい接続部又は遮へい(蔽)のない末端は,測定システムに干渉信号を発生させる可能性
    がある。
e) 誤差は,多くの場合,ゼロ反射に相当するラインを定義するときの不確かさに起因する。反射信号が
    小さい場合,これは特に重要である。
9.2.1.4 個別規格に規定する事項
  個別規格には,次の事項を規定する。
a) グレードに適したリターンロスの限界
b) 測定精度
c) 標準試験用コネクタの詳細
d) 適用するケーブルの必要とする特性
e) この規格に規定する試験方法との相違
9.2.2 定格電力
9.2.2.1 定義
  定格電力は,コネクタが規定するケーブル又は結合面で終端している場合,コネクタのピーク動作電圧
も最高誘電体温度も超えない入力電力である。
  電圧制限による定格電力の公称値は,次の式による。
                               (Umax ) 2
                         Pu,max
                                 2Z
                      ここに,   Umax :  ピーク動作電圧
                                    Z :  特性インピーダンス
                                 Pu,max :  正弦波の連続波(CW)励振を意味する。
  温度制限による定格電力の公称値は,内部導体が表2に示す最高温度(又は,耐候性カテゴリの最高温
度)に達する定常状態電力と定義する。公称値は,周囲温度40 ℃での値である。
                                   表2−誘電体材料の定格温度
                                                                単位 °C
                                  誘電体材料           最高内部導体温度
                        ポリプロピレン(LD·PE)              85
                        四ふっ化エチレン(PTFE)             200
                        ふっ化エチレンプロピレン(FEP)      180
9.2.2.2 一般測定条件
  ケーブルコネクタは,製造業者の取扱説明書に従って適切なケーブルに取り付ける。
  試料は,静止した空気中に水平に置き,空気が自然対流するようにして,他の熱源の影響から保護する。
  試験時間は,熱平衡を確立するために十分な長さとする。
9.2.2.3 測定方法
  理想的には,試料は,その特性インピーダンスで終端し,その後,最高動作電圧又は最高内部導体温度

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に達するまで,電力を供給する。
9.2.3 接触抵抗,中心導体の導通及び外部導体の導通(結合した結線済みコネクタ)
9.2.3.1 一般測定の要求事項及び手順
  測定は,直流電流で行う。ただし,疑義を生じた場合,測定は,交流電流で行ってもよい。
  接触抵抗は,結合したコネクタの内部導体及び外部導体のそれぞれの測定点(ケーブルの長さを含んで
もよい)で測定した電圧降下及び電流から計算する。結合は,通電する前に行う。
  結合した結線済みのコネクタのように,ターミネーションに直接触れることが現実的ではない場合,中
心導体の導通の確認を行う。
  個別規格に規定がない場合,測定セットアップは,その結果が測定する抵抗値の±10 %になるようにす
る。
  一般に,結合したコネクタの中心コンタクトRc及び外部コンタクトRoの抵抗は,個別に測定する。直
列に接続した二つのコンタクトの総合抵抗Rtotを直接測定する場合,個別規格に規定する。
  ケーブルサイズ,中心導体及びシールドの構成の各々の組合せにおいて,可能な限りゼロに近い接触抵
抗をもつことが,最も望ましい。
  リード線は,回路の安定性及び精度を検証するために試験で用いるケーブルで作製する。
  概算の接触抵抗値は,導体及びループ抵抗値を用いることで決定することが可能である。例えば,1 m
当たり31.10×10−3 Ωの最大中心導体抵抗及び1 m当たり41.16×10−3 Ωの最大直流ループ抵抗をもつシン
グルテープ及び編組の構成。これは,1 m当たり10.06×10−3 Ωの外部導体抵抗になる。
  よって,試料ケーブルが約1 mの長さの場合,計算による抵抗値は,約10×10−3 Ω(10 mΩ)である。
測定した抵抗値が25 mΩ,65 mΩ及び90 mΩの範囲にある場合,結合部が疑わしい可能性がある。
9.2.3.2 手順
  接触抵抗の適切な値は,5回の連続した測定サイクルから計算する平均値である。それぞれの値は,平
均値の2倍を超えてはならない。
  1回の測定サイクルは,次の手順による。
a) 交流電流で測定する場合
  1) コネクタを結合
  2) 電源を接続
  3) 測定
  4) 電源を切断
  5) コネクタを離脱
b) 直流電流で測定する場合
  1) コネクタを結合
  2) ある極性の電源を接続
  3) 測定
  4) 逆の極性の電源を接続
  5) 測定
  6) 電源を切断
  7) コネクタを離脱
9.2.3.3 要求事項
  合否判定基準には,次の事項を規定してもよい。

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a) 接触抵抗及び外部導体の導通
  測定値は,個別規格に規定する値以下とする。
b) 中心導体の導通,並びに外部導体及びケーブルの外部導体の導通(結合した結線済みコネクタ)
  結合したコネクタ及びコネクタに取り付けたケーブルの総合抵抗は,ケーブル導体の自由端の両端で測
定する。コネクタは,試験前の最後の測定から試験後の最初の測定までの間,離脱してはならない。
  試験後,中心導体,外部導体,及び(適用する場合)ケーブルの抵抗を含む結合したコネクタの外部導
体の抵抗値の変化は,個別規格に規定する値を超えてはならない。
9.2.3.4 個別規格に規定する事項
  個別規格には,次の事項を規定する。
a) 中心コンタクトの抵抗値の上限,並びに(該当する場合)外部導体及びケーブル外部導体の導通
b) 結合した結線済みコネクタの初期総合抵抗値に対する試験後の最大変化率
c) この規格に規定する試験方法との相違
9.2.4 厳しい機械的試験中の中心コンタクト及び外部コンタクトの導通
9.2.4.1 試験手順
  結合したコネクタの中心コンタクト及び外部コンタクトの導通は,個別規格で要求するとおり振動試験
中(9.3.3参照),バンプ試験中(9.3.13)及び衝撃試験中(9.3.14)に確認する。
9.2.4.2 要求事項
  個別規格に規定する条件下で瞬断があってはならない。
9.2.4.3 個別規格に規定する事項
  個別規格に規定する事項は,9.3.3.2,9.3.13.2及び9.3.14.2による。
9.2.5 絶縁抵抗
9.2.5.1 手順
  絶縁抵抗は,中心コンタクトと外部コンタクトとの間を,直流電圧500 V±50 V又はコネクタの定格電
圧のいずれか低い方の電圧で測定する。
  試験装置は,測定する抵抗を含む適切な測定範囲をもっていなければならない。
  供試コネクタの両端は,規定する電圧を導体に印加したときに,ターミネーションで絶縁破壊又は著し
い部分放電が発生しないように準備する。
  試験は,ケーブルを取り付けずに,結合していないコネクタ(プラグ又はジャック)で行うことが望ま
しい(図6参照)。
  試験を結合したコネクタで行う場合,又はケーブルを一方のコネクタに取り付ける場合,個別規格に規
定する。
  試験は,誘電体ビーズの湿気を避けるために,JIS C 60068-1の4.3(測定及び試験に用いる標準大気条
件)に規定する測定及び試験に用いる標準大気条件下で行う。
  絶縁抵抗は,試験電圧を1分±5秒間,印加後に測定する。

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                a) 単体のコネクタ                       b) ケーブル付きの単体のコネクタ
        c) 結合したコネクタ                     d) ケーブル付きの結合したコネクタ
                                   図6−絶縁抵抗の試験構成例
9.2.5.2 要求事項
  絶縁抵抗の値は,個別規格に規定する値以上とする。
9.2.5.3 個別規格に規定する事項
  個別規格には,次の事項を規定する。
a) 試験電圧(500 V以外の場合)
b) 絶縁抵抗の最小値
c) 試験構成(結合又は非結合,ケーブルの有無)
d) この規格に規定する試験方法との相違
9.2.6 耐電圧
9.2.6.1 手順及び要求事項
  コネクタは,個別規格に規定する電圧で絶縁破壊又はフラッシュオーバがあってはならない。
  適用する場合,コネクタには,適切なケーブルを取り付け,結合及び非結合の両方で試験する。
  個別規格に規定がない場合,40 Hz65 Hzの周波数の交流電圧は,品質認証には60秒間,品質確認検
査には5秒間印加する。
  定格電圧Uと試験電圧E(実効値)との間の関係は,次による。
  定格電圧が1 kV以下のコネクタの場合,E=3 U
  定格電圧が1 kVを超えるコネクタの場合,E=1.5 U+3 kV
  ケーブルの静電容量によって交流での試験が不可能な場合,交流電圧(実効値)の1.414倍の直流で耐
電圧試験を行う。
9.2.6.2 個別規格に規定する事項
  個別規格には,次の事項を規定する。
a) 試験電圧
b) 漏れ電流
c) この規格に規定する試験方法との相違

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