JIS C 5410:1991 高周波同軸コネクタ通則 | ページ 6

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C 5410-1991
          参考2図7 低減衰形,部分的反射の広帯域特性インピーダンス不連続な同軸ライン
1.3.3  特殊目的のための測定系の構成 線路l1の端末参考2図4のC点に供試コネクタを取り付けて測
定する場合には,ラインl2を吸収形スライデングロードに置き換えることができる。低速掃引中に負荷エ
レメントの位置を定期的に変化させる(1/2波長以上)と,ラインl2の長給電線と同じ効果が得られ,参
考2図6aに示したリップルFと等しくなる。
    備考 以上三つの測定方式のいずれかを使用しても,共振反射を検知することができる。共振反射は,
          反射合計曲線に顕著な不規則点を作り出す。
1.3.4  残留誤差について ここまでに説明した測定方法では消去できない次の誤差が存在する。
(1) 同軸ラインの特性インピーダンスの偏差によって発生する誤差。
      この種の誤差は,タイムドメイン・リフレクトメータ法によって正しい特性インピーダンスを選定
    することにより最小にすることができる。
(2) 減衰器Gの誤差(参考2図1,参考2図4参照)。
(3) 標準試験用コネクタの誤差。
      この種の誤差は,標準試験用コネクタを同一径の精密エアーラインの一部とすることで最小にとど
    めることができる。
(4) 参考2図4のエアーラインl1のB点,C点における減衰が,反射係数測定値rcに及ぼす影響。
      この減衰が無視できる程度のものである場合には,真の反射係数rcを計算する前に,減衰器 (dB) の
    2倍の値を反射損失から差し引くものとする。
1.4   反射係数測定の標準的手順
  図形記号

――――― [JIS C 5410 pdf 26] ―――――

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1.4.1 測定装置の構成・確認,測定時に使用する適正なエレメント及びラインの選定
1.4.2  一般的な測定方法

――――― [JIS C 5410 pdf 27] ―――――

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1.4.3  測定誤差の認識ができる測定方法
1.5   タイムドメインによる反射係数測定方法 (TDR)
1.5.1  理論的考察 投射信号が階段関数の理想形な場合には,反射される信号s (t) =r (t) は,次の式に
よって周波数の関数として複合反射係数に変換される。
                         r( )=j
                                 0
                                   T  )    tt
                                        e−jd
                                   s (t・
  上の式で,0からTは,供試コネクタから発生する反射によるs (t) を含む時間間隔である。
  周波数の上限を          1,e−j 瓰     1,の条件を満たす値に設定すると,上の式は次のように簡単にできる。

――――― [JIS C 5410 pdf 28] ―――――

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                                   T
                         r( )=2 f  0s (t)・dt=A・f    A=2
                                                               0
                                                                 T
                                                                s (t)・dt
  参考2図8は,タイムドメイン・リフレクトメータによる測定記録例である。
    備考 参考2図8は,反射係数の大きさだけを問題にしているもので,反射された信号全体の符号は
          記載していない。反射を表す曲線は,誘導体が大きい場合にはプラスとなり,容量性が大きい
          場合にはマイナスとなる。
               参考2図8 タイムドメイン・リフレクトメータによる測定結果の記録例
  図の例では,0からTにおける曲線の面は次のとおりである。
                             T t)
                         f0 s (・ dt =17.5 ps
  したがって,100 MHzではr=0.011となる。
1.5.2 測定手順 測定装置及び使用する機器の確認は1.4.1の表の上から三つの欄に示す方法で実施する。
測定装置の構成を参考2図9に示す。
  反射係数を計算するに当たっては,反射波形の永久的な記録を作成する必要がある(画面から読み取っ
た波形は,十分な精度をもっていないことが多い)。
                参考2図9 タイムドメイン・リフレクトメータによる測定装置の構成
  TDRの時間目盛り及び反射係数目盛りは,相互に独立した基準によって校正を行う。
  時間目盛りは,既知の長さのエアーライン,スライディングロード又は時間標準によって実施する。反
射係数目盛りの校正は,既知のインピーダンス不整合又は既知の入力信号の大きさによって行う。測定と
測定の間に行う校正は,短絡又は開放で実施する。
  測定装置及び機器は,校正のほかに次の測定誤差となる要素についてもチェックを行う。
− 不規則な変動やリップルが最小となるようにステップ波形を調整する。
− エアーラインや装置のケーブルでの減衰によって投射ステップに歪みが発生することがある。エアー
    ライン,ケーブルが長すぎることがないように注意する。

――――― [JIS C 5410 pdf 29] ―――――

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− 測定システム内で発生する複数の反射が供試コネクタの反射に上乗せされる。システム内に整合のよ
    くないコンポーネントがある場合には,特にこの傾向が強くなる。エアーライン,ケーブルの長さを
    適切に選定し,供試コネクタ以外の異種源から発生する反射が時間の経過とともに分離されるように
    すれば,これによる測定誤差を最小にとどめることができる。
− 結合部がショートしていたり,端末部に遮へい(蔽)を施していない場合には,測定システム内に妨
    害信号が発生することがある。
− 測定誤差は,ゼロ反射に対応するラインの設定が不明確な場合が多い。反射信号が小さい場合に特に
    多い。
1.5.3 周波数範囲 長さ50mm以下の供試コネクタと立ち上がり時間200psのパルス信号を使用した場合,
適切な周波数ドメインへの変換公式を使用することによって,TDR測定方法による測定は通常200MHzま
での周波数では十分な精度で測定できる。
    備考 投射信号を急激にではなく,徐々に増加させると,周波数範囲の制限のほかに反射信号を平に
          ならす効果が発生して信号の振幅が減少し,結果的に測定精度が落ちることになる。
                               電子部会 コネクタ専門委員会 構成表
                                         氏名                   所属
                 (委員会長)      山 崎 眞 一       日通工株式会社
                                   今 井 一 夫       日本放送協会
                                   五 味 勇 二       財団法人日本電子部品信頼性センター
                                   稲 葉 裕 俊       工業技術院標準部
                                   吹 訳 正 憲       通商産業省機械情報産業局
                                   前 田 昌 昭       財団法人機械電子検査検定協会
                                   石 井    勝       第一電子工業株式会社
                                   栗 原 正 明       ホシデン株式会社
                                   後 藤 信 之       SMK株式会社
                                   佐牟田    穣      日本航空電子工業株式会社
                                   田 坂 昌 穂       ヒロセ電機株式会社
                                   福 地 俊 郎       多治見無線電機株式会社
                                   星       進       本多通信工業株式会社
                                   浅 原    真       日本電気株式会社
                                   安 藤 郁 弘       富士通株式会社
                                   石 川 安 男       防衛庁装備局
                                   栗 原 正 英       社団法人日本プリント回路工業会
                                   斎 藤 哲 也       ソニー株式会社
                                   中牟田 正 造      パイオニア株式会社
                                   西 林 和 男       株式会社東芝
                                   松 尾 宏 之       株式会社日立製作所
                                   三 宅 敏 明       松下電器産業株式会社
                                   伊 藤 吉 光       社団法人日本電子機械工業会
                                   土 谷 順 二       沖電気工業株式会社
                 (事務局)        吉 田    厚       工業技術院標準部電気規格課
                                   角 田 悦 啓       工業技術院標準部電気規格課
                                   宗 像 保 男       工業技術院標準部電気規格課