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C 5925-5 : 2013
fc+0.125×Δfまでの周波数範囲。
4 定格
中規模1×N DWDMデバイスの定格は,表1による。
表1−中規模1×N DWDMデバイスの定格
項目 記号 条件 定格値
使用温度範囲 ℃ Ta − 060a)
保存温度範囲 ℃ Tstg − −4085
使用波長範囲b) nm λband − 1 2601 360(OバンドWDM用)
1 3601 460(EバンドWDM用)
1 4601 530(SバンドWDM用)
1 5301 565(CバンドWDM用)
1 5651 625(LバンドWDM用)
1 6251 675(UバンドWDM用)
最大入射光パワー dBm Pmax JIS C 61300-2-14 25
入力ポート : 単一
注a) 図1の一定水蒸気量曲線を含む閉曲線で囲まれる領域は,屋内環境条件での使用温度範囲に対する湿
度範囲を示す。
b) この使用波長範囲はITU-T Recommendation G.Sup39による。この内容は,要求事項ではなく,推奨
値である。実際の使用波長範囲は,製造業者が指定する。
注a) 30 ℃60 ℃の一定水蒸気量曲線は,30 ℃ 85 %RHと同じ水蒸気量の温度及び湿度を示す。
図1−温度及び湿度を考慮した環境条件
5 光学特性
5.1 試験詳細及び要求事項
ピッグテール形中規模1×N DWDMデバイスの光学特性の試験方法,試験条件及び要求性能は,表2及
び表3に基づき,光ファイバピッグテール形デバイスに適用する。コネクタ形部品については,IEC
61753-021-2に規定のコネクタ性能を満足しなければならない。
――――― [JIS C 5925-5 pdf 6] ―――――
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環境及び耐久性試験に供する供試品のピッグテールは,1.5 m以上とする。そのチャネル中心波長は
ITU-T Recommendation G.692及びITU-T Recommendation G.694.1に一致しなければならない。波長間隔
を考慮する場合は,真空中の波長で換算する。
各項目の要求性能は,表1の定格で規定する使用温度範囲及び使用波長範囲の入射光に対する最小値及
び最大値を,満足しなければならない。
供試品が温度コントローラ付きである場合は,コントローラは製造業者が指定した設定値に設定しなけ
ればならない。
表2−中規模1×N DWDMデバイス(ガウス形通過帯域形状)の光学特性試験
項目 試験方法 試験条件 要求性能
最小値 最大値
挿入損失 DWDMデバイスの振 ・挿入損失は,チャネル周波数範囲 − 4.8 dB
幅透過特性測定 にわたる全ての偏光状態に対す
(IEC 61300-3-29) る最大値で定める。
・供試品の光ファイバピッグテール
長は,1.5 m以上とする。
・使用波長範囲において,測定精度
は,±0.05 dB以下でなければな
らない。
チャネル均一性 DWDMデバイスの振 ・チャネル均一性は,チャネル周波 − 1.0 dB
幅透過特性測定 数範囲にわたる全ての偏光状態 (チャネル数
(IEC 61300-3-29) に対する最大値で定める。 N≦24)
・供試品の光ファイバピッグテール
長は,1.5 m以上とする。 1.5 dB
・使用波長範囲で,測定精度は,± (チャネル数
0.05 dB以下でなければならない。 N>24)
1 dB帯域幅 DWDMデバイスの振 ・帯域幅は,全ての偏光状態にわた 0.25×Δf −
幅透過特性測定 る最小値で定める。
(IEC 61300-3-29) ・供試品の光ファイバピッグテール
長は,1.5 m以上とする。
3 dB帯域幅 DWDMデバイスの振 ・帯域幅は,全ての偏光状態にわた 0.5×Δf −
幅透過特性測定 る最小値で定める。
(IEC 61300-3-29) ・供試品の光ファイバピッグテール
長は,1.5 m以上とする。
通過帯域リップ DWDMデバイスの振 ・通過帯域リップルは,チャネル周 − 1.5 dBa)
ル 幅透過特性測定 波数範囲にわたる挿入損失の最
(IEC 61300-3-29) 大変化で定める。
・供試品の光ファイバピッグテール
長は,1.5 m以上とする。
隣接チャネルア DWDMデバイスの振 ・隣接チャネルアイソレーション 25 dB −
イソレーション 幅透過特性測定 は,分波器だけに適用する。
(IEC 61300-3-29) ・隣接チャネルアイソレーション
は,全ての偏光状態及びチャネル
周波数範囲にわたる最小値で定
める。
・供試品の光ファイバピッグテール
長は,1.5 m以上とする。
・使用波長範囲で,測定精度は,±
0.1 dB以下でなければならない。
――――― [JIS C 5925-5 pdf 7] ―――――
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表2−中規模1×N DWDMデバイス(ガウス形通過帯域形状)の光学特性試験(続き)
項目 試験方法 試験条件 要求性能
最小値 最大値
非隣接チャネル DWDMデバイスの振 ・非隣接チャネルアイソレーション 30 dB −
アイソレーショ 幅透過特性測定 は,分波器だけに適用する。
ン (IEC 61300-3-29) ・非隣接チャネルアイソレーション
は,全ての偏光状態及びチャネル
周波数範囲にわたる最小値で定
める。
・供試品の光ファイバピッグテール
長は,1.5 m以上とする。
・使用波長範囲で,測定精度は,±
0.1 dB以下でなければならない。
トータルチャネ DWDMデバイスの振 ・最小トータルチャネルアイソレー 22 dB −
ルアイソレーシ 幅透過特性測定 ションは,全ての偏光状態にわた(チャネル数
ョン (IEC 61300-3-29) る最小値で定める。 N≦40)
・供試品の光ファイバピッグテール
長は,1.5 m以上とする。 20 dB
・使用波長範囲で,測定精度は,±(チャネル数
0.1 dB以下でなければならない。 40)
波長分散 群遅延,波長分散及び・波長分散は,チャネル周波数範囲 − 20 ps/nm
位相リップルの測定 にわたる最大値で定める。 (Δf=100 GHz)
(IEC 61300-3-38) 60 ps/nm
(Δf=50 GHz)
偏波モード分散 偏波モード分散測定 ・偏波モード分散は,チャネル周波 0.5 ps −
(JIS C 61300-3-32) 数範囲にわたる最小値で定める。
偏光依存性損失 光損失の偏光依存性 ・PDLは,チャネル周波数範囲にわ − 0.4 dB
(PDL) (JIS C 61300-3-2) たる全ての偏光状態に対する最
大値で定める。
・PDLは,全ての入出力組合せにわ
たり適用する。
・供試品の光ファイバピッグテール
長は,1.5 m以上とする。
ディレクティビ 波長選択性のない光 ・試験に供しない全てのポートは, 40 dB −
ティ ブランチングデバイ 測定に影響を与える反射を避け
スのディレクティビ るために,終端しなければならな
ティ測定 い。
(JIS C 61300-3-20)
・供試品の光ファイバピッグテール
長は,1.5 m以上とする。
・ディレクティビティは,阻止の関
係にある端子対の全ての組合せ
に対して測定しなければならな
い。
・使用波長範囲で,測定精度は,±
0.1 dB以下でなければならない。
――――― [JIS C 5925-5 pdf 8] ―――――
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表2−中規模1×N DWDMデバイス(ガウス形通過帯域形状)の光学特性試験(続き)
項目 試験方法 試験条件 要求性能
最小値 最大値
反射減衰量 反射減衰量測定 ・試験に供しない全てのポートは, 40 dB −
(JIS C 61300-3-6) 測定に影響を与える反射を避け
るために,終端しなければならな
い。
・供試品の光ファイバピッグテール
長は,1.5 m以上とする。
・使用波長範囲で,測定精度は,±
0.1 dB以下でなければならない。
注記 光ファイバピッグテール長を1.5 m以上と規定しているのは,クラッドモード及び高次モードを除去するため
である。
注a) この値は,参考値である。
表3−中規模1×N DWDMデバイス(フラットトップ形通過帯域形状)の光学特性試験
項目 試験方法 試験条件 要求性能
最小値 最大値
挿入損失 DWDMデバイスの振 ・挿入損失は,チャネル周波数範囲 − 6.0 dB
幅透過特性測定 にわたる全ての偏光状態に対す
(IEC 61300-3-29) る最大値で定める。
・供試品の光ファイバピッグテール
長は,1.5 m以上とする。
・使用波長範囲で,測定精度は,±
0.05 dB以下でなければならない。
チャネル均一性 DWDMデバイスの振 ・チャネル均一性は,チャネル周波 − 1.0 dB
幅透過特性測定 数範囲にわたる全ての偏光状態 (チャネル数
(IEC 61300-3-29) に対する最大値で定める。 N≦24)
・供試品の光ファイバピッグテール
長は,1.5 m以上とする。 1.5 dB
・使用波長範囲で,測定精度は,± (チャネル数
0.05 dB以下でなければならない。 N>24)
1dB帯域幅 DWDMデバイスの振 ・帯域幅は,全ての偏光状態にわた 0.5×Δf −
幅透過特性測定 る最小値で定める。
(IEC 61300-3-29) ・供試品の光ファイバピッグテール
長は,1.5 m以上とする。
3dB帯域幅 DWDMデバイスの振 ・帯域幅は,全ての偏光状態にわた 0.5×Δf −
幅透過特性測定 る最小値で定める。
(IEC 61300-3-29) ・供試品の光ファイバピッグテール
長は,1.5 m以上とする。
通過帯域リップ DWDMデバイスの振 ・通過帯域リップルは,チャネル周 − 0.5 dBa)
ル 幅透過特性測定 波数範囲にわたる挿入損失の最
(IEC 61300-3-29) 大変化で定める。
・供試品の光ファイバピッグテール
長は,1.5 m以上とする。
――――― [JIS C 5925-5 pdf 9] ―――――
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C 5925-5 : 2013
表3−中規模1×N DWDMデバイス(フラットトップ形通過帯域形状)の光学特性試験(続き)
項目 試験方法 試験条件 要求性能
最小値 最大値
隣接チャネルア DWDMデバイスの振 ・隣接チャネルアイソレーション 25 dB −
イソレーション 幅透過特性測定 は,分波器だけに適用する。
(IEC 61300-3-29) ・隣接チャネルアイソレーション
は,全ての偏光状態及びチャネル
周波数範囲にわたる最小値で定
める。
・供試品の光ファイバピッグテール
長は,1.5 m以上とする。
・使用波長範囲で,測定精度は,±
0.1 dB以下でなければならない。
非隣接チャネル DWDMデバイスの振 ・非隣接チャネルアイソレーション 30 dB −
アイソレーショ 幅透過特性測定 は,分波器だけに適用する。
ン (IEC 61300-3-29) ・非隣接チャネルアイソレーション
は全ての偏光状態及びチャネル
周波数範囲にわたる最小値で定
める。
・供試品の光ファイバピッグテール
長は,1.5 m以上とする。
・使用波長範囲で測定精度±0.1 dB
以下でなければならない。
トータルチャネ DWDMデバイスの振 ・最小トータルチャネルアイソレー 22 dB −
ルアイソレーシ 幅透過特性測定 ションは全ての偏光状態にわた (チャネル数
ョン (IEC 61300-3-29) る最小値で定める。 N≦40)
・供試品の光ファイバピッグテール
長は,1.5 m以上とする。 20 dB
・使用波長範囲で測定精度±0.1 dB(チャネル数
以下でなければならない。 N>40)
波長分散 IEC WG4で検討中 ・波長分散はチャネル周波数範囲に − 40 ps/nm
(例 IEC 60793-1-42) わたる最大値で定める。 (Δf=100 GHz)
100 ps/nm
(Δf=50 GHz)
偏波モード分散 偏波モード分散測定 ・偏波モード分散はチャネル周波数 0.5 ps −
(JIS C 61300-3-32) 範囲にわたる最小値で定める。
偏光依存性損失 光損失の偏光依存性 ・PDLは使用波長範囲にわたる全て − 0.4 dB
(PDL) (JIS C 61300-3-2) の偏光状態に対する最大値とす
る。
・PDLは全ての入出力組合せにわた
り適用する。
・供試品の光ファイバピッグテール
長は,1.5 m以上とする。
――――― [JIS C 5925-5 pdf 10] ―――――
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JIS C 5925-5:2013の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 61753-081-2:2009(MOD)
JIS C 5925-5:2013の国際規格 ICS 分類一覧
- 33 : 電気通信工学.オーディオ及びビデオ工学 > 33.180 : 光ファイバ通信 > 33.180.10 : 光ファイバ及び光ケーブル
JIS C 5925-5:2013の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5901:2001
- 光伝送用受動部品試験方法
- JISC5925-1:2016
- 光伝送用WDMデバイス―第1部:通則
- JISC61300-2-1:2012
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-1部:正弦波振動試験
- JISC61300-2-14:2020
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-14部:高光パワー試験
- JISC61300-2-17:2009
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-17部:低温試験
- JISC61300-2-17:2020
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-17部:低温試験
- JISC61300-2-18:2009
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-18部:高温試験
- JISC61300-2-19:2009
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-19部:高温高湿試験(定常状態)
- JISC61300-2-19:2020
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-19部:高温高湿試験―定常状態
- JISC61300-2-22:2012
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-22部:温度サイクル試験
- JISC61300-2-9:2012
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-9部:衝撃試験
- JISC61300-3-2:2012
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第3-2部:シングルモード光デバイスの光損失の偏光依存性
- JISC61300-3-20:2009
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第3-20部:波長選択性のない光ブランチングデバイスのディレクティビティ測定
- JISC61300-3-32:2013
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第3-32部:光受動部品の偏波モード分散測定
- JISC61300-3-6:2011
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第3-6部:反射減衰量測定
- JISC6835:2017
- 石英系シングルモード光ファイバ素線