JIS C 5925-5:2013 シングルモード光ファイバピッグテール形中規模１×Ｎ　ＤＷＤＭデバイス | ページ 3

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    表3−中規模1×N DWDMデバイス(フラットトップ形通過帯域形状)の光学特性試験(続き)
      項目            試験方法                 試験条件                     要求性能
                                                                      最小値        最大値
 ディレクティビ  波長選択性のない光 ・試験に供されない全てのポート    40 dB           −
 ティ            ブランチングデバイ   は測定に影響を与える反射を避
                 スのディレクティビ   けるために終端しなければなら
                 ティ測定             ない。
                 (JIS C 61300-3-20)
                                    ・供試品の光ファイバピッグテー
                                      ル長は,1.5 m以上とする。
                                    ・ディレクティビティは,阻止の
                                      関係にある端子対の全ての組合
                                      せに対して測定しなければなら
                                      ない。
                                    ・使用波長範囲で測定精度±0.1 dB
                                      以下でなければならない。
 反射減衰量      反射減衰量測定     ・試験に供されない全てのポート    40 dB           −
                 (JIS C 61300-3-6)  は測定に影響を与える反射を避
                                      けるために終端しなければなら
                                      ない。
                                    ・供試品の光ファイバピッグテー
                                      ル長は,1.5 m以上とする。
                                    ・使用波長範囲で測定精度±0.1 dB
                                      以下でなければならない。
 注記 光ファイバピッグテール長を1.5 m以上と規定しているのは,クラッドモード及び高次モードを除去するため
      である。
 注a) この値は,参考値である。

6 環境及び耐久性特性

  屋内環境条件で使用するための環境及び耐久性特性の試験方法,試験条件及び要求性能は,表4による。
                     表4−中規模1×N DWDMデバイスの環境及び耐久性特性
     項目          試験方法                    試験条件                       要求性能
 耐寒性       低温試験          温度 : 0 ℃±2 ℃                      試験前後の挿入損失は,表2
                                暴露時間 : 96 h
              (JIS C 61300-2-17)                                    又は表3に規定する最大値以
                                挿入損失は,試験前後に測定する。      下とし,かつ,試験後の挿入
                                                                      損失は周囲条件下で初期値
                                前処理 : 試験前に,供試品は,室温環境中に
                                2 h放置する。                         の±0.5 dB以内とする。
                                後処理 : 試験後に,供試品は,室温環境中に
                                2 h放置する。
 耐熱性       高温試験          温度 : 60 ℃±2 ℃                     試験前後の挿入損失は,表2
                                暴露時間 : 96 h
              (JIS C 61300-2-18)                                    又は表3に規定する最大値以
                                挿入損失は,試験前後に測定する。      下とし,かつ,試験後の挿入
                                                                      損失は周囲条件下で初期値
                                前処理 : 試験前に,供試品は,室温環境中に
                                2 h放置する。                         の±0.5 dB以内とする。
                                後処理 : 試験後に,供試品は,室温環境中に
                                2 h放置する。

――――― [JIS C 5925-5 pdf 11] ―――――

10
C 5925-5 : 2013
                 表4−中規模1×N DWDMデバイスの環境及び耐久性特性(続き)
     項目          試験方法                    試験条件                       要求性能
 耐湿性(定常 高温高湿試験(定常温度 : 30 ℃±2 ℃                     試験中及び試験前後の挿入
 状態)       状態)            相対湿度 : (85±2)%                  損失は,表2又は表3に規定
                                暴露時間 : 96 h
              (JIS C 61300-2-19)                                    する最大値以下とし,かつ,
                                挿入損失は,試験中及び試験前後に測定する。
                                                                      試験後の挿入損失は周囲条
                                試験中は,1 h以下の間隔で測定する。   件下で初期値の±0.5 dB以内
                                                                      とする。
                                前処理 : 試験前に,供試品は,室温環境中に
                                2 h放置する。
                                後処理 : 試験後に,供試品は,室温環境中に
                                2 h放置する。
 温度サイク   温度サイクル試験  高温 : 60 ℃±2 ℃                     試験中及び試験前後の挿入
 ル                             低温 : 0 ℃±2 ℃
              (JIS C 61300-2-22)                                    損失は,表2又は表3に規定
                                放置時間 : 1 h以上                     する最大値以下とし,かつ,
                                温度変化の割合 : 1 K/min               試験後の挿入損失は周囲条
                                サイクル数 : 5                         件下で初期値の±0.5 dB以内
                                                                      とする。
                                挿入損失は,試験中及び試験前後に測定し,
                                試験中は,10 min以下の間隔で測定する。
                                前処理 : 試験前に,供試品は,室温環境中に
                                2 h放置する。
                                後処理 : 試験後に,供試品は,室温環境中に
                                2 h放置する。
 耐振性       正弦波振動試験    振動範囲 : 10 Hz55 Hz                  試験中及び試験前後の挿入
                                試験時間 : 1オクターブ/min
              (JIS C 61300-2-1)                                     損失は,表2又は表3に規定
                                振動軸 : 直交3軸                       する最大値以下とし,かつ,
                                掃引サイクル数(10 Hz−55 Hz−10 Hz) : 15
                                                                      試験後の挿入損失は周囲条
                                回/軸                                件下で初期値の±0.5 dB以内
                                振動振幅 : 0.75 mm                     とする。
                                挿入損失は,試験中及び試験前後に測定し,
                                試験中は10 min以下の間隔で測定する。
                                実装方法 : 供試品は実装ジグに強固に実装さ
                                れなければならない。
 光ファイバ   光ファイバコード                                        試験前後の挿入損失は,表2
                                引張力 : 光ファイバコードに対して5 N/sの変
 クランプ強   クランプ強度(軸方化率で10 N±1 N。光ファイバ心線c) に対し
                                                                      又は表3に規定する最大値以
 度(軸方向引 向への引張り)    て0.5 N/sの変化率で5 N±0.5 N。       下とし,かつ,試験後の挿入
 張り)a)                       引張力を加える位置 : 供試品の端から0.3 m
              (JIS C 5901の7.5)                                     損失は周囲条件下で初期値
                                                                      の±0.5 dB以内とする。
                                引張力持続時間 : 10 Nの場合120 s。5 Nの場
                                合60 s。
                                挿入損失は,試験前後に測定する。
 耐衝撃性     衝撃試験          波形 : 正弦半波                        試験前後の挿入損失は,表2
                                ピーク加速度 : 
              (JIS C 61300-2-9)                                     又は表3に規定する最大値以
                                     5 000 m/s2(質量0.125 kg以下の場合)
                                                                      下とし,かつ,試験後の挿入
                                     2 000 m/s2(質量0.125 kgを超え0.225 kg
                                                                      損失は周囲条件下で初期値
                                     以下の場合)                     の±0.5 dB以内とする。
                                     500 m/s2(質量0.225 kgを超え1 kg以下
                                     の場合)
                                持続時間 : 1 ms
                                軸数 : 3軸(互いに直交)
                                衝撃回数 : 2方向,2回/軸,総数12
                                挿入損失は,試験前後に測定する。

――――― [JIS C 5925-5 pdf 12] ―――――

                                                                                             11
                                                                                 C 5925-5 : 2013
                 表4−中規模1×N DWDMデバイスの環境及び耐久性特性(続き)
     項目         試験方法                     試験条件                       要求性能
 光ファイバ   光ファイバクランプ荷重d)及び保持時間 : 光ファイバコードに対
                                                                      試験前後の挿入損失は,表2
 クランプ強   強度試験(横方向引                                      又は表3に規定する最大値以
                                して1 Nで1h。光ファイバ心線に対して0.2 N
 度(横方向引 張り)            で5 min。                             下とし,かつ,試験後の挿入
 張り)a)   )  (IEC 61300-2-42)荷重を加える位置 : 供試品の端から0.3 m 損失は周囲条件下で初期値
                                荷重d)方向 : 製品設計で許容する互いに直交
                                                                      の±0.5 dB以内とする。
                                する2方向
                                挿入損失は,試験前後に測定する。
 光ファイバ   光ファイバクランプ荷重d) : 光ファイバコードに対して2 N   試験前後の挿入損失は,表2
 クランプ強   強度試験(繰返し曲曲げ角度 : ±90°                      又は表3に規定する最大値以
 度(繰返し曲 げ)              サイクル数 : 30                        下とし,かつ,試験後の挿入
 げ)         (IEC 61300-2-44)挿入損失は,試験前後に測定する。      損失は周囲条件下で初期値
                                                                      の±0.5 dB以内とする。
 注a) この試験は,光ファイバコード及び光ファイバ心線ピッグテールを備えた中規模1×N DWDMデバイスに適
      用する。
    b) 光受動部品に接続する光ファイバへの横方向引張力は,部品の設計で許容する互いに直交する2方向に印加
      することが望ましい。例えば,光ファイバ取付部よりも外側にベースプレートが張出した部品の場合,その
      方向に荷重を印加しなくてもよい。
    c) 対応国際規格では,光ファイバ素線に対して規定しているが,誤りと判断して,光ファイバ心線と規定した。
    d) ここでは,“荷重”は力の意味で用いる。

7 試料

  試料は,JIS C 6835のSSMA形シングルモード光ファイバに接続できなければならない。

8 試験報告書

  製造業者又は販売業者は,試験報告書及びそれを裏付ける証拠を使用者又は購入業者に提供し,試験を
実施し,合格した証拠として使用者又は購入業者が受入検査に利用することができるようにしなければな
らない。
  試験報告書には,光学特性については試験条件及び性能値を,環境及び耐久性特性については試験条件,
試料数及び合格判定数を記載する。

9 表示

  中規模1×N DWDMデバイスには,次の項目を表示しなければならない。ただし,個々のデバイスに表
示することが困難な場合は,包装に表示してもよい。
a) 形名(製造業者の指定による。)
b) 製造業者名又はその略号
c) 製造年月若しくは製造ロット番号,又はそれらの略号
d) チャネル番号識別(識別方法は製造業者の仕様によって指定する。)

10 包装

  包装は,輸送中及び保管中に,振動,衝撃などによる製品の破損又は品質の低下のおそれがないように
行う。また,短期間に劣化するおそれがある材料を含む場合には,安全管理及び保管環境条件に関する注
意及び要求事項とともに,有効期限を包装に表示する。

――――― [JIS C 5925-5 pdf 13] ―――――

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C 5925-5 : 2013

11 安全

  光伝送システム又は光伝送装置に用いる場合,人体へ影響を及ぼす出力端子からの光の放射があり得る。
そのため,製造業者は,システム設計者及び使用者に対して,安全性に関する十分な情報及び確実な使用
方法を明示しなければならない。
参考文献
  IEC 60793-1-42,Optical fibres−Part 1-42: Measurement methods and test procedures−Chromatic dispersion

――――― [JIS C 5925-5 pdf 14] ―――――

                                                                  附属書JA
                                                                   (参考)
                                                     JISと対応国際規格との対比表
                                                                     IEC 61753-081-2:2009 Fibre optic interconnecting devices and passive components
     JIS C 5925-5:2013 シングルモード光ファイバピッグテール形中規模1×N
     DWDMデバイス                                                    performance standard−Part 081-2: Non-connectorized single-mode fibre optic middle-scale 1x
                                                                     N DWDM devices for category C−Controlled environments
     (I)   JISの規定                 (II)    (III)国際規格の規定                                                       (V)   JISと国際規格との技術
                                                                     (IV)   JISと国際規格との技術的差異の箇条ごとの評価及
                                  国際規                             びその内容                                     的差異の理由及び今後の対策
                                  格番号
     箇条番号         内容                箇条番号       内容        箇条ごと            技術的差異の内容
     及び題名                                                        の評価
     3 用語及  用語及び定義を規定。       3        JISとほぼ同じ。   追加     下記用語の定義を追加した。            国際規格の見直し時に提案を
     び定義                                                                   ・ガウス形通過帯域形状                行う。
                                                                              ・フラットトップ形通過帯域形状
                                                                              ・チャネル周波数範囲
     4 定格    定格を規定。               −       −                追加     製品規格に必須の規定事項。            国際規格の見直し時に提案を
                                                                                                                    行う。
     5 光学    光学特性の試験方法,       7        JISとほぼ同じ。   変更     ・試験項目に通過帯域リップルを追加した。
                                                                                                                    国際規格の見直し時に提案を
     特性      試験条件及び要求性                                                                                   行う。
                                                                              ・試験項目でない項目(チャネル数及びチャ
               能を規定。                                                     ネル周波数範囲)を削除した。
                                                                                                                                               C5 925-
                                                                                                                                                     5 : 201
                                                                                                                                                  1
                                                                                                                                                           3
                                                                                                                                                   0

――――― [JIS C 5925-5 pdf 15] ―――――

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