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C 5953-3 : 2019
表7−性能保証試験の故障判定基準
デバイス パラメータ 故障判定基準 測定条件
半導体レーザ しきい値電流又は動作 ≧50 %増加a) 又は≧10 mA増加25 ℃又は寿命試験温度
電流 [I(TH)<20 mAの場合]
スロープ効率 ≧10 %変化a) 25 ℃又は寿命試験温度
順電圧 ≧10 %変化a) 25 ℃又は寿命試験温度
光/電流曲線のキンク 規定された光出力φeの1.2倍の Top min,25 ℃,Top max
範囲で線形性変化>10 % a)
波長 アプリケーションを参照 25 ℃ b)
フォトダイオード 暗電流 ≧上限規格値又は≧10 nA増加a)
25 ℃
半導体レーザモジュ しきい値又は動作電流 ≧50 %増加a) 又は≧10 mA増加25 ℃又は寿命試験温度
ール [I(TH)<20 mAの場合]
ファイバ端光出力 ≧10 %変化a) 寿命試験温度
IMは初期値
光/電流曲線のキンク 規定された光出力φeの1.2倍の Top min,25 ℃,Top max
範囲で線形性変化>10 % a)
波長 個別仕様書及びアプリケーショ個別仕様書参照
ンを参照
トラッキング比 <下限規格値,≧上限規格値 Top min−Top max
(IM/Pfibre) 規定の出力において
フォトダイオードの暗 ≧上限規格値又は≧10 nA増加a)
25 ℃
電流
サーミスタ抵抗 ≧5 %変化a) 25 ℃又は寿命試験におけるサ
ブマウント温度Tsub
電子冷却素子電流 ≧10 %変化a) 試験中一定のΔTを保持する
電子冷却素子電圧 ≧10 %変化a)
注a) 試験前後の値の変化。
b) 25 ℃又は受渡当事者間の協定によって決定する。
――――― [JIS C 5953-3 pdf 11] ―――――
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6 環境に関する仕様
6.1 安全性全般
この規格に該当する全ての製品は,JIS C 6950-1に適合しなければならない。
6.2 レーザの安全性
光送信部は,JIS C 6802に適合することを保証しなければならない。
レーザ製品の製造業者は,レーザ安全性規格及び法規制に沿って,そのレーザ製品,安全性能,ラベル
表示,使用法,維持及び保守についての情報を提供する必要がある。その文書は,製品を使用しているシ
ステムがこれらの安全性保証事項に適合するように満たすべき要求事項と使用上の制限事項とを明確に規
定しなければならない。
参考文献 IEC 61300 (all parts),Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and
measurement procedures
IEC 60793 (all parts),Optical fibres
IEC 60825 (all parts),Safety of laser products
IEC 60874 (all parts series),Fibre optic interconnecting devices and passive components−Connectors
for optical fibres and cables
IEC TR 62572-2,Fibre optic active components and devices−Reliability standards−Part 2: Laser
module degradation
IEC 61280 (all parts),Fibre optic communication subsystem test procedures
IEC 62007-2,Semiconductor optoelectronic devices for fibre optic system applications−Part 2:
Measuring methods
――――― [JIS C 5953-3 pdf 12] ―――――
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C 5953-3 : 2019
附属書JA
(参考)
JISと対応国際規格との対比表
IEC 62149-3:2014,Fibre optic active components and devices−Performance standards−
JIS C 5953-3: 2019 光伝送用能動部品−性能標準−第3部 : 40 Gbit/s帯変調器集
積形半導体レーザモジュール Part 3: Modulator-integrated laser diode transmitters for 2,5-Gbit/s to 40-Gbit/s fibre optic
transmission systems
(I) JISの規定 (II) (III)国際規格の規定 (IV) JISと国際規格との技術的差異の箇条 (V) JISと国際規格との技術的差異
国際 ごとの評価及びその内容 の理由及び今後の対策
規格
箇条番号 内容 箇条 内容 箇条ごと 技術的差異の内容
番号
及び題名 番号 の評価
規格名称 40 Gbit/s 規格名称 変更
2.5-Gbit/s to 40-Gbit/s 表題を修正した。 変調速度の最小値を規定しないこと
に伴い,規格名称から“2.5-Gbit/s to”
を削除した。IECの改訂版の審議中
に提案し,採択される見込みである。
1 適用範囲 変調速度 1 変調速度 変更 変調速度を変更した。 変調速度の最小値を規定しないこと
に伴い,“2.5-Gbit/s to”を削除した。
IECの改訂版の審議中に提案し,採
択される見込みである。
2 引用規格
3 用語及び 3.2 略号 3.2 記号 変更 記号を省略して,略号を追記し 記号の記載内容が,本文に記載され
定義並びに た。 ていることから不要であること,及
略号 び本文に記載された略号の説明がな
かったことから,変更した。IECの
改訂版の審議中に提案し,採択され
る見込みである。
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――――― [JIS C 5953-3 pdf 13] ―――――
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C 5953-3 : 2019
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(I) JISの規定 (II) (III)国際規格の規定 (IV) JISと国際規格との技術的差異の箇条 (V) JISと国際規格との技術的差異
国際 ごとの評価及びその内容 の理由及び今後の対策
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規格
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箇条番号 内容 箇条 内容 箇条ごと 技術的差異の内容
: 2
番号
及び題名 番号 の評価
01
4 製品仕様 4.3 電気的・光学的 4.3 電気的・光学的性能 変更 表4の変調速度の最小値を規定 表4に変調速度の最小値及び最大値
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性能 しないこととし,欄外に補足説 の両方が規定されていたが,この項
明として注を追加した。また, 目は,この標準の変調速度上限規格
トラッキングエラーの最小値を を規定するものであり,実際の上限
規定した。 規格は適用される光通信システムに
よって規定されるため,変更した。
また,トラッキングエラーの最小値
の規定とともに,IECの改訂版の審
議中に提案し,採択される見込みで
ある。
5 試験 5.2 特性評価試験 5.2 特性評価試験 変更 表5の変調速度の最小値を規定 表5に変調速度の最小値及び最大値
しないこととし,欄外に補足説 の両方が規定されていたが,この項
明として注を追加した。また, 目は,この標準の変調速度上限規格
トラッキングエラーの最小値を を規定するものであり,実際の上限
規定した。 規格は適用される光通信システムに
よって規定されるため,変更した。
トラッキングエラーの最小値の規定
とともに,IECの改訂版の審議中に
提案し,採択される見込みである。
5.2 特性評価試験 5.2 特性評価試験 削除 自明のことであること,及び表5に
表5の“Manufactuing lot shall be
specified by each vendor.”(製造
記載する内容に適さないことから削
ロットは製造者ごとに規定され 除した。IECの改訂版の審議中に提
案し,採択される見込みである。
なければならない。)との記載を
削除した。
5.3 性能保証試験 5.3 性能保証試験 追加 表6の温度サイクル試験条件を 条件に漏れがあるため追加した。
追加した。 IECの改訂版の審議中に提案し,採
択される見込みである。
5.3 性能保証試験 5.3 性能保証試験 追加 表6の半導体レーザ寿命試験条 条件に漏れがあるため追加した。
件を追加した。 IECの改訂版の審議中に提案し,採
択される見込みである。
――――― [JIS C 5953-3 pdf 14] ―――――
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C 5953-3 : 2019
(I) JISの規定 (II) (III)国際規格の規定 (IV) JISと国際規格との技術的差異の箇条 (V) JISと国際規格との技術的差異
国際 ごとの評価及びその内容 の理由及び今後の対策
規格
箇条番号 内容 箇条 内容 箇条ごと 技術的差異の内容
番号
及び題名 番号 の評価
5 試験 5.3 性能保証試験 5.3 性能保証試験 変更 表6の衝撃試験条件及び振動試 引用規格で用いられているSI単位系
(続き) (m/s2)に変更した。IECの改訂版
験条件の単位を,SI単位系(m/s2)
に修正し,かつ,gnを10 m/s2にの審議中に提案し,採択される見込
丸めて換算した。 みである。
5.3 性能保証試験 5.3 性能保証試験 変更 表7の光/電流曲線のキンクに 良品判定基準になっていたので変更
関する故障判定基準を,“規定 した。IECの改訂版の審議中に提案
された光出力φeの1.2倍の範囲 し,採択される見込みである。
で線形性変化>10 %”に変更し
た。
JISと国際規格との対応の程度の全体評価 : IEC 62149-3:2014,MOD
注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。
− 削除 国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。
− 追加 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
− 変更 国際規格の規定内容を変更している。
注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。
− MOD 国際規格を修正している。
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3 : 2019
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JIS C 5953-3:2019の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 62149-3:2014(MOD)
JIS C 5953-3:2019の国際規格 ICS 分類一覧
- 33 : 電気通信工学.オーディオ及びビデオ工学 > 33.180 : 光ファイバ通信 > 33.180.20 : 光ファイバ接続装備
JIS C 5953-3:2019の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC61300-2-1:2012
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-1部:正弦波振動試験
- JISC61300-2-17:2009
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-17部:低温試験
- JISC61300-2-17:2020
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-17部:低温試験
- JISC61300-2-18:2009
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-18部:高温試験
- JISC61300-2-19:2009
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-19部:高温高湿試験(定常状態)
- JISC61300-2-19:2020
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-19部:高温高湿試験―定常状態
- JISC61300-2-22:2012
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-22部:温度サイクル試験
- JISC61300-2-47:2012
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-47部:熱衝撃試験
- JISC61300-2-9:2012
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-9部:衝撃試験
- JISC6802:2014
- レーザ製品の安全基準
- JISC6950-1:2016
- 情報技術機器―安全性―第1部:一般要求事項