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JIS C 5953-4:2008 規格概要
この規格 C5953-4は、JIS X 5252のギガビットイーサネットに用いる1 300nm光伝送用トランシーバの性能標準について規定。
JISC5953-4 規格全文情報
- 規格番号
- JIS C5953-4
- 規格名称
- 光伝送用能動部品―性能標準―第4部 : 1 300nmギガビットイーサネット用光トランシーバ
- 規格名称英語訳
- Fiber optic active components and devices -- Performance standards -- Part 4:1 300 nm fiber optic transceivers for gigabit Ethernet application
- 制定年月日
- 2008年9月20日
- 最新改正日
- 2018年10月22日
- JIS 閲覧
- ‐
- 対応国際規格
ISO
- IEC 62149-4:2003(IDT)
- 国際規格分類
ICS
- 33.180.20
- 主務大臣
- 経済産業
- JISハンドブック
- 電子 II-1 2020, 電子 II-2 2020, 電子 III-1 2020, 電子 III-2 2020
- 改訂:履歴
- 2008-09-20 制定日, 2013-10-21 確認日, 2018-10-22 確認
- ページ
- JIS C 5953-4:2008 PDF [12]
C 5953-4 : 2008 (IEC 62149-4 : 2003)
まえがき
この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,財団法人光産業技術振興協会(OITDA)/財団
法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があり,日本工業
標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
制定に当たっては,日本工業規格(日本産業規格)と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格(日本産業規格)の作成及び日
本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために,IEC 62149-4:2003,Fibre optic active
components and devices−Performance standards−Part 4: 1 300 nm fibre optic transceivers for Gigabit Ethernet
application及びCorrigendum 1(2003)を基礎として用いた。
この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会
は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新
案登録出願にかかわる確認について,責任をもたない。
JIS C 5953-4には,次に示す附属書がある。
附属書A(規定)試料数,試験順序及びグループ化に関する要求項目
(pdf 一覧ページ番号 1)
――――― [JIS C 5953-4 pdf 1] ―――――
C 5953-4 : 2008 (IEC 62149-4 : 2003)
pdf 目 次
ページ
- 序文・・・・[1]
- 1. 適用範囲・・・・[1]
- 2. 引用規格・・・・[1]
- 3. 記号及び略号・・・・[2]
- 3.1 記号・・・・[2]
- 3.2 略号・・・・[3]
- 4. 製品仕様・・・・[3]
- 4.1 絶対最大定格・・・・[3]
- 4.2 動作環境・・・・[4]
- 4.3 機能仕様・・・・[4]
- 4.4 線図・・・・[6]
- 4.5 ラベル表示・・・・[6]
- 5. 試験・・・・[7]
- 5.1 特性評価試験・・・・[7]
- 5.2 信頼性試験・・・・[7]
- 6. 環境に関する仕様・・・・[9]
- 6.1 安全性全般・・・・[9]
- 6.2 レーザの安全性・・・・[9]
- 6.3 電磁放射・・・・[9]
- 附属書A(規定)試料数,試験順序及びグループ化に関する要求項目・・・・[10]
(pdf 一覧ページ番号 2)
――――― [JIS C 5953-4 pdf 2] ―――――
日本工業規格(日本産業規格) JIS
C 5953-4 : 2008
(IEC 62149-4 : 2003)
光伝送用能動部品−性能標準−
第4部 : 1 300 nmギガビット
イーサネット用光トランシーバ
Fiber optic active components and devices-Performance standards- Part 4: 1 300 nm fiber optic transceivers for gigabit Ethernet application
序文
この規格は,2003年に第1版として発行されたIEC 62149-4,Fibre optic active components and devices
−Performance standards−Part 4: 1 300 nm fibre optic transceivers for Gigabit Ethernet application及び
Corrigendum 1 (2003)を翻訳し,技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格(日本産業規格)で
ある。ただし,Corrigendumについては,編集し,一体とした。
光トランシーバは,電気信号と光信号との双方向変換に用いられる。この規格は,1 300 nmギガビット
イーサネット用光トランシーバモジュールの性能標準である。光トランシーバの特性は,JIS X 5252のギ
ガビットイーサネット標準を基準として定義し,通信速度は1.25 Gbit/sである。
1. 適用範囲
この規格は,JIS X 5252のギガビットイーサネットに用いる1300 nm光伝送用トランシー
バの性能標準について規定する。性能標準は,明確に定義された条件,厳しさ,及び合格又は不合格の判
定基準の下で行われる試験・測定が,一連のセットとなって製品性能要求事項として定義する。製品が,
性能標準要求事項をすべて満足していると証明するための試験は,通常“1回完結形”としている。性能
標準の必要条件をすべて満たすと示された製品は,性能標準に従うと宣言することができるが,一方では,
品質保証及び/又は品質適合プログラムによっても,制御しなければならない。
備考 この規格の対応国際規格を,次に示す。
なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21に基づき,IDT(一致している),MOD
(修正している),NEQ(同等でない)とする。
IEC 62149-4:2003,Fibre optic active components and devices−Performance standards−Part 4: 1 300
nm fibre optic transceivers for Gigabit Ethernet application (IDT)
2. 引用規格
次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す
る。これらの引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
JIS C 0025 環境試験方法(電気・電子)温度変化試験方法
備考1. IEC 60068-2-14:1984, Environmental testing−Part 2: Tests. Test N: Change of temperatureから
の引用事項は,この規格の該当事項と同等である。
2. IEC 60068-2-33:1971, Environmental testing−Part 2: Tests. Guidance on change of temperature
testsからの引用事項は,この規格の該当事項と同等である。
――――― [JIS C 5953-4 pdf 3] ―――――
2
C 5953-4 : 2008 (IEC 62149-4 : 2003)
JIS C 5961 光ファイバコネクタ試験方法
備考 IEC 61300:1995,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and
measurement procedureからの引用事項は,この規格の該当事項と同等である。
JIS C 6802 レーザ製品の安全基準
備考 IEC 60825-1:2001,Safety of laser products−Part 1: Equipment classification, requirements and
users guideが,この規格と一致している。
JIS C 60068-2-1 環境試験方法−電気・電子−低温(耐寒性)試験方法
備考 IEC 60068-2-1:1990,Environmental testing−Part 2: Tests. Tests A: Coldが,この規格と一致して
いる。
JIS C 60068-2-2 環境試験方法−電気・電子−高温(耐熱性)試験方法
備考 IEC 60068-2-2:1974, Environmental testing−Part 2: Tests.Tests B: Dry heatが,この規格と一致
している。
JIS C 60068-2-6 環境試験方法−電気・電子−正弦波振動試験方法
備考 IEC 60068-2-6:1995,Environmental testing−Part 2: Tests−Test Fc: Vibration(sinusoidal) が,こ
の規格と一致している。
JIS C 60068-2-20 環境試験方法−電気・電子−はんだ付け試験方法
備考 IEC 60068-2-20:1979,Environmental testing. Part 2: Tests. Test T: Solderingが,この規格と一致
している。
JIS C 60068-2-27 環境試験方法−電気・電子−衝撃試験方法
備考 IEC 60068-2-27:1987,Environmental testing. Part 2: Tests. Test Ea and guidance: Shockが,この
規格と一致している。
JIS C 60068-2-78 環境試験方法−電気・電子−第2-78部: 高温高湿(定常)試験方法
備考 IEC 60068-2-78:2001, Environmental testing−Part 2-78: Tests−Test Cab: Damp heat, steady
stateが,この規格と一致している。
JIS X 5252 ローカルエリアネットワーク及びメトロポリタンエリアネットワーク−CSMA / CDアク
セス方式及び物理層仕様
備考 ISO/IEC 8802-3:2000,Information technology−Telecommunications and information exchange
between systems−Local and metropolitan area networks−Specific requirements−Part 3: Carrier
sense multiple access with collision detection (CSMA/CD) ccess method and physical layer
specificationsが,この規格と一致している。
IEC 60749-26:2003,Semiconductor devices−Mechanical and climatic test methods−Part 26: Electrostatic
discharge (ESD) ensitivity testing−Human body model (HBM)
IEC 60938-1:1999,Fixed inductors for electromagnetic interference suppression−Part 1: Generic specification
IEC 60950-1:2001,Information technology equipment−Safety−Part 1: General requirements
MIL-STD-883F Test method standard−Microcircuits
3. 記号及び略号
3.1 記号
この規格で用いる主な記号の定義は,次による。
a) r 消光比
b) H 相対湿度
――――― [JIS C 5953-4 pdf 4] ―――――
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C 5953-4 : 2008 (IEC 62149-4 : 2003)
c) IL 低レベル入力信号電流
d) IH 高レベル入力信号電流
e) out 出力電流
f) o 送信光出力
g) d アラームオンレベル
h) a アラームオフレベル
i) RDL 出力信号負荷
j) 受信器感度
k) D 送信不可機能
l) Tamb 周囲動作温度
m) stg 保存温度
n) r 出力信号上昇時間
o) f 出力信号下降時間
p) cc 電源電圧
q) IL−Vcc 低レベル入力信号電圧
r) IH−Vcc 高レベル入力信号電圧
s) ol 低レベルアラーム出力電圧
t) oh 高レベルアラーム出力電圧
u) ol−VCC 低レベル出力信号電圧
v) oh−VCC 高レベル出力信号電圧
w) pp 送信器差動入力電圧振幅
x) λce 中心波長
y) Δλ スペクトル幅(実効値)
3.2 略号
この規格で用いる主な略号の定義は,次による。
a) SD 静電気放電(Electrostatic discharge)
b) BM 人体帯電モデル(Human body model)
4. 製品仕様
4.1 絶対最大定格
絶対最大定格は,それぞれの項目が独立した事象となっており,かつ,表1に記載
した項目以外の特性パラメータがすべて通常の動作条件範囲内である限りにおいては,表1中に記載した
複数の項目がその値になったとしても,それが短時間であれば製品に破壊的な損傷を与えることがない限
界値である。絶対最大定格の各々の値は,いかなる場合において,どの一つのパラメータでもそれを超え
てはならない。
――――― [JIS C 5953-4 pdf 5] ―――――
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JIS C 5953-4:2008の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 62149-4:2003(IDT)
JIS C 5953-4:2008の国際規格 ICS 分類一覧
- 33 : 電気通信工学.オーディオ及びビデオ工学 > 33.180 : 光ファイバ通信 > 33.180.20 : 光ファイバ接続装備
JIS C 5953-4:2008の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC0025:1988
- 環境試験方法(電気・電子)温度変化試験方法
- JISC5961:2005
- 光ファイバコネクタ試験方法
- JISC60068-2-1:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-1部:低温(耐寒性)試験方法(試験記号:A)
- JISC60068-2-2:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-2部:高温(耐熱性)試験方法(試験記号:B)
- JISC60068-2-20:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-20部:試験―試験T―端子付部品のはんだ付け性及びはんだ耐熱性試験方法
- JISC60068-2-27:2011
- 環境試験方法―電気・電子―第2-27部:衝撃試験方法(試験記号:Ea)
- JISC60068-2-6:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-6部:正弦波振動試験方法(試験記号:Fc)
- JISC60068-2-78:2015
- 環境試験方法―電気・電子―第2-78部:高温高湿(定常)試験方法(試験記号:Cab)
- JISC6802:2014
- レーザ製品の安全基準
- JISX5252:2003
- ローカルエリアネットワーク及びメトロポリタンエリアネットワーク-CSMA/CDアクセス方式及び物理層仕様