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C 5953-4 : 2008 (IEC 62149-4 : 2003)
6. 環境に関する仕様
6.1 安全性全般
この標準に該当するすべての光トランシーバは,IEC 60950-1に適合しなければならな
い。
6.2 レーザの安全性
光トランシーバは,いかなる動作条件下でもJIS C6802に規定している安全基準
のクラス1を保証されたレーザでなければならない。これは,故障時におけるファイバへの結合光又は空
間出力光にも適用される。光トランシーバは,JIS C 6802に適合することが保障されなければならない。
レーザ製品の製造業者は,レーザ安全性標準及び法規制に沿って,そのレーザ製品,安全性能,ラベル
表示,使用法,維持及び保守についての情報を提供する必要がある。その文書は,製品を使用しているシ
ステムがこれらの安全性保証事項に適合するように満たすべき要求事項と使用上の制限事項とを明確に規
定しなければならない。
6.3 電磁放射
この仕様で規定される製品は,電磁的干渉を制限するためIEC 60938-1の要求に従わな
ければならない。
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C 5953-4 : 2008 (IEC 62149-4 : 2003)
附属書A(規定)試料数,試験順序及びグループ化に関する要求項目
表 A.1 信頼性試験一覧表
試験番号 試験項目 試料数 試料履歴 グループ化
0 初期特性試験 95 新品
1 はんだ付け性 11 試験0
2 コネクタ着脱 11 試験1
3 ESD 6 試験2
4 難燃性 5 試験2
5 機械的衝撃 11 試験0
6 振動 11 試験5
7 湿度サイクル 11 試験0
8 はんだ耐熱性 11 試験7
9 熱衝撃 11 試験8
10 温度サイクル 500回 11 試験0
11 温度サイクル 1 000回 11 試験10
12 高温動作 500時間 25 試験0
13 高温動作 1 000時間 25 試験12
14 高温動作 2 000時間 25 試験13
15 高温動作 5 000時間 25 試験14
16 低温保存 500時間 11 試験0
17 低温保存 1 000時間 11 試験16
18 低温保存 2 000時間 11 試験17
19 高温高湿 168時間 11 試験0
20 高温高湿 500時間 11 試験19
21 高温高湿 1 000時間 11 試験20
22 高温高湿 1 344時間 11 試験21
上記の各試験は製品に対してそれぞれ独立,かつ,並行に行われるが,前の試験の試料を用いてもよい。
異なるビットレートで使用されるものであっても,構造が同じ部品ならば機械的な試験を一緒に行っても
よい。
JIS C 5953-4:2008の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 62149-4:2003(IDT)
JIS C 5953-4:2008の国際規格 ICS 分類一覧
- 33 : 電気通信工学.オーディオ及びビデオ工学 > 33.180 : 光ファイバ通信 > 33.180.20 : 光ファイバ接続装備
JIS C 5953-4:2008の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC0025:1988
- 環境試験方法(電気・電子)温度変化試験方法
- JISC5961:2005
- 光ファイバコネクタ試験方法
- JISC60068-2-1:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-1部:低温(耐寒性)試験方法(試験記号:A)
- JISC60068-2-2:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-2部:高温(耐熱性)試験方法(試験記号:B)
- JISC60068-2-20:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-20部:試験―試験T―端子付部品のはんだ付け性及びはんだ耐熱性試験方法
- JISC60068-2-27:2011
- 環境試験方法―電気・電子―第2-27部:衝撃試験方法(試験記号:Ea)
- JISC60068-2-6:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-6部:正弦波振動試験方法(試験記号:Fc)
- JISC60068-2-78:2015
- 環境試験方法―電気・電子―第2-78部:高温高湿(定常)試験方法(試験記号:Cab)
- JISC6802:2014
- レーザ製品の安全基準
- JISX5252:2003
- ローカルエリアネットワーク及びメトロポリタンエリアネットワーク-CSMA/CDアクセス方式及び物理層仕様