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C 5954-4 : 2017
f) 光スプリッタの出力ポートAを,光ファイバコードを通して光パワーメータの入力ポートに再び接続
する。光スプリッタの出力ポートBを試験対象のトランシーバに図1に示すように接続する。
g) B/PAを計算し,その値を入射光パワー(PB)と光パワーメータの表示(PA)との校正係数として使
用する。
図1−Rxアラーム機能の試験及び測定系
7.1.4 試験及び測定方法
Rxアラーム機能の試験及び測定方法は,次による。
a) 試験対象の光トランシーバを通常の動作条件で駆動し,信号検知アサート電圧がJIS C 5953-7で規定
する低レベル信号検知アサート電圧(VSDL)の最小値から最大値までの範囲内であること(光入力が
ない状態を示している。)を確認する(図2参照)。
b) 試験対象の光トランシーバ及び基準Txを図1に示すように設置する。
c) 基準Txの信号入力端子に,パルスパターン発生器からONUの場合は1 244.16 Mbit/s,OLTの場合は
2 488.32 Mbit/s,NRZ-PRBS 223-1信号(マーク率50 %)を入力する。
d) BがPassertよりも十分小さくなるように可変光減衰器を調節し,そのPBの値をPiminとして記録する。
e) BがPde-assertよりも大きくなるように可変光減衰器を調節し,信号検知アサート電圧を記録する。
f) 信号検知アサート電圧が,JIS C 5953-7で規定する値を参照してVSDLからVSDHに変わる光入力パワー
をPde-assertとして記録する。
g) Bの値が最大受信光入力パワー(Pimax)となるように可変光減衰器を調節し,信号検知アサート電圧
を記録する。信号検知アサート電圧がJIS C 5953-7で規定する値を参照してVSDHの範囲内であること
を確認する。
h) Bの値がPassert以下となるように可変光減衰器を調節し,信号検知アサート電圧を記録する。
i) 信号検知アサート電圧が,JIS C 5953-7で規定する値を参照して,VSDHからVSDLに変わる光入力パワ
ーをPassertとして記録する。
j) 信号検知アサート電圧が,Pimin以下で,かつ,VSDLの最小値から最大値までの範囲内であることを確
認する。
――――― [JIS C 5954-4 pdf 6] ―――――
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この方法の結果として,PBと信号検知アサート電圧との関係を表す図2で示すヒステリシス曲線が得ら
れる。このヒステリシス曲線が,受光器アラーム機能が動作する範囲である。
図2−受光器光入力パワーと信号検知アサート電圧との関係
7.2 Txシャットダウン機能
7.2.1 目的
光出力は,シャットダウン端子の電圧が高レベルから低レベルに変わったとき,入力信号がない状態の
光出力Passert又はオフ状態光出力パワーPoff(JIS C 5953-7で規定する要求値を参照)以下にしなければな
らない。この規格は光トランシーバのTxシャットダウン機能の試験及び測定方法について規定する。
7.2.2 試験及び測定系
特に指定がない限り,試験対象の光トランシーバは,図3に示す試験及び測定系で測定する。
図3−送信器シャットダウン機能の試験及び測定系
7.2.3 試験及び測定方法
Txシャットダウン機能の試験及び測定方法は,次による。
a) 試験対象の光トランシーバを通常の動作条件で動作させ,シャットダウン端子に高レベル信号検知ア
サート電圧(VSDH : JIS C 5953-7で規定する要求値を参照)を印加する。
b) 試験対象の光トランシーバの信号入力端子に,パルスパターン発生器からONUの場合は1 244.16
Mbit/s,OLTの場合は2 488.32 Mbit/s,NRZ-PRBS 223-1信号(マーク率50 %)を入力し,試験対象の
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光トランシーバのバースト光出力パワーがPmeanの規定値(JIS C 5953-7で規定する要求値を参照)の
範囲内にあることを確認する。
c) シャットダウン電圧を高レベル電圧から低レベル信号検知アサート電圧(VSDL : JIS C 5953-7で規定
する要求値を参照)に変化させ,試験対象の光トランシーバの平均出力がPoff以下であることを確認
する。
d) シャットダウン電圧を低レベル電圧から高レベル電圧に戻し,試験対象の光トランシーバのバースト
光出力パワーがPmeanの規定値(JIS C 5953-7で規定する要求値を参照)の範囲内にあることを確認す
る。
注記 送信器のシャットダウン機能は,送信器の光出力を停止する機能であり,シャットダウン端子
への印加電圧(送信器シャットダウン電圧,Vdis)を,高レベル(高レベル送信器シャットダウ
ン電圧,VdisH)から低レベル(低レベル送信器シャットダウン電圧,VdisL)に変えることで実
現できる。送信器シャットダウンはLaser disable,Tx(Transmitter又はTransmit)disableと呼ば
れることもある。
なお,入力信号の論理(正又は負)とシャットダウン動作との関係については,十分注意す
る。
7.3 バースト光出力パワー(Pmean)
7.3.1 目的
光トランシーバの平均出力の試験及び測定方法について規定する。
7.3.2 試験及び測定系
特に指定がない限り,試験対象の光トランシーバは図4に示す試験及び測定系で測定する。
図4−光出力パワーの試験及び測定系
7.3.3 試験及び測定方法
バースト光出力パワー(Pmean)の試験及び測定方法は,次による。
a) 図5に示すフレーム長A,バースト信号長B及び1フレーム内のバースト信号数nで規定するバース
ト信号を用いる。特に指定がない限り,光トランシーバにおいてBは,1 244.16 Mbit/sの場合64バイ
ト19 440バイト,2 488.32 Mbit/sの場合64バイト38 880バイトである。
――――― [JIS C 5954-4 pdf 8] ―――――
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注記 この図は,1フレーム内のバースト信号数n=3の場合を表す。
図5−バースト信号パターン
b) 試験対象の光トランシーバを通常の動作条件で動作させ,ONUの場合は1 244.16 Mbit/s,OLTの場合
は2 488.32 Mbit/s,NRZ-PRBS 223-1信号(マーク率50 %)を信号入力端子に入力する。その設計した
バースト信号パターンをパルスパターン発生器から信号入力端子に入力する。
c) 送信光出力パワーPaveを光パワーメータで測定し,その値を記録する。
d) meanを式(1)で計算する。
A
Pmean Pave 10 log10 (1)
n B
e) 送信光出力パワーPaveを光パワーメータで測定し,その値から式(1)を用いてPmeanを導出し記録する。
f) 測定したPmean値がPmeanの規定値範囲内(JIS C 5953-7で規定する要求値を参照)にあることを確認
する。
注記 バーストモードでは,送信器は比較的短い時間だけオンとなる。また,各バーストの長さがバ
ーストごとに異なるため,Txの光出力パワーは,通常の測定では正しく示さなくなることがあ
る。ここでは,データ送信のバースト時の平均光送信パワーを正確に測定するための方法を示
す。
なお,バースト信号長は,各バーストで異なることがあるので十分注意する。
7.4 中心波長及びスペクトル幅
7.4.1 目的
光トランシーバの中心波長(λ0)及びスペクトル幅の試験及び測定方法を規定する。
7.4.2 試験及び測定系
特に指定がない限り,試験対象の光トランシーバは図6に示す試験及び測定系で測定する。
――――― [JIS C 5954-4 pdf 9] ―――――
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図6−中心波長及びスペクトル幅の試験及び測定系
7.4.3 試験及び測定方法
中心波長及びスペクトル幅の試験及び測定方法は,次による。
a) 図5に示すフレーム長A,バースト信号長B及び1フレーム内のバースト信号数nで規定するバース
ト信号を設計する。光トランシーバにおいてBは,1 244.16 Mbit/sの場合64バイト19 440バイト,
2 488.32 Mbit/sの場合64バイト38 880バイトである。
b) 試験対象の光トランシーバを通常の動作条件で動作させ,ONUの場合は1 244.16 Mbit/s,OLTの場合
は2 488.32 Mbit/s,NRZ-PRBS 223-1信号(マーク率50 %)をパルスパターン発生器から信号入力端子
に設計されたバースト信号で入力する。
c) 光信号のスペクトルを光スペクトラムアナライザの画面に表示させる。
d) IS C 61280-1-3の6.3(光スペクトラムアナライザの設定)及び7.2(光スペクトラムアナライザの設
定)に従い,光スペクトラムアナライザの分解能,中心波長,測定波長範囲及び平均化回数(10回以
上の測定結果を平均することを推奨)を調整し,画面上にピークから20 dB低下した位置のスペクト
ルの幅が表示されるようにする。
e) ピークから20 dB低下した位置を含む画面上のスペクトルの各縦モードのピーク波長及びピーク光パ
ワーを記録する。JIS C 61280-1-3の8.2(中心波長)及び8.5[RMS幅(Δλrms)]に従い,λ0及びスペ
クトル幅を計算する。
f) 計算で得られたλ0が規定の範囲内(JIS C 5953-7で規定する要求値を参照)であることを確認する。
7.5 消光比及びアイパターンマスク試験
7.5.1 目的
光トランシーバの消光比及びアイパターンマスク試験の試験及び測定方法を規定する。
7.5.2 試験及び測定系
特に指定がない限り,試験対象の光トランシーバは図7に示す試験及び測定系で測定する。必要に応じ
て試験対象の光トランシーバとO/E変換器との間に光減衰器を挿入する。
――――― [JIS C 5954-4 pdf 10] ―――――
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JIS C 5954-4:2017の国際規格 ICS 分類一覧
- 33 : 電気通信工学.オーディオ及びビデオ工学 > 33.180 : 光ファイバ通信 > 33.180.20 : 光ファイバ接続装備
JIS C 5954-4:2017の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5953-1:2016
- 光伝送用能動部品―性能標準―第1部:総則
- JISC5953-7:2017
- 光伝送用能動部品―性能標準―第7部:GPON用光トランシーバ
- JISC5954-3:2013
- 光伝送用能動部品―試験及び測定方法―第3部:単心直列伝送リンク用光送・受信モジュール
- JISC61280-1-3:2017
- 光ファイバ通信サブシステム試験方法―第1-3部:中心波長及びスペクトル幅測定
- JISC61280-2-2:2017
- 光ファイバ通信サブシステム試験方法―第2-2部:光アイパターン,光波形及び消光比測定