JIS C 61000-4-2:2012 電磁両立性―第４－２部：試験及び測定技術―静電気放電イミュニティ試験

                                                            C 61000-4-2 : 2012 (IEC 61000-4-2 : 2008)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[2]
•  3 用語及び定義・・・・[2]
•  4 一般事項・・・・[4]
•  5 試験レベル・・・・[4]
•  6 ESD発生器・・・・[5]
•  6.1 一般事項・・・・[5]
•  6.2 ESD発生器の特性及び性能・・・・[5]
•  6.3 ESD試験セットアップの立証・・・・[8]
•  7 試験セットアップ・・・・[9]
•  7.1 試験装置・・・・[9]
•  7.2 試験室で行う試験セットアップ・・・・[9]
•  7.3 設置後試験のセットアップ・・・・[15]
•  8 試験手順・・・・[17]
•  8.1 試験室の基準条件・・・・[17]
•  8.2 EUTの動作・・・・[17]
•  8.3 試験の実施・・・・[17]
•  9 試験結果の評価・・・・[19]
•  10 試験報告書・・・・[20]
•  附属書A(参考)ESD及びESD試験に関する注釈・・・・[21]
•  附属書B(規定)電流測定システムの校正及び放電電流測定・・・・[25]
•  附属書C(参考)附属書Bの要求事項に適合するターゲットの例・・・・[31]
•  附属書D(参考)人体と金属との間の放電及びESD発生器からの放電による放射電磁界・・・・[36]
•  附属書E(参考)測定不確かさ(MU)の考察・・・・[45]
•  附属書F(参考)試験結果のばらつき及び段階的な試験手順・・・・[52]

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C 61000-4-2 : 2012 (IEC 61000-4-2 : 2008)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人電気
学会(IEEJ)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を改正す
べきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格(日本産業規格)である。
これによって,JIS C 61000-4-2:1999は改正されこの規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS C 61000-4の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS C 61000-4-2 第4-2部 : 試験及び測定技術−静電気放電イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-3 第4-3部 : 試験及び測定技術−放射無線周波電磁界イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-4 第4-4部 : 試験及び測定技術−電気的ファストトランジェント/バーストイミュニ
        ティ試験
    JIS C 61000-4-5 第4-5部 : 試験及び測定技術−サージイミュニティ試験
    JIS C 61000-4-6 第4-6部 : 試験及び測定技術−無線周波電磁界によって誘導する伝導妨害に対する
        イミュニティ
    JIS C 61000-4-7 第4-7部 : 試験及び測定技術−電力供給システム及びこれに接続する機器のための
        高調波及び次数間高調波の測定方法及び計装に関する指針
    JIS C 61000-4-8 第4部 : 試験及び測定技術−第8節 : 電源周波数磁界イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-11 第4-11部 : 試験及び測定技術−電圧ディップ,短時間停電及び電圧変動に対するイ
        ミュニティ試験
    JIS C 61000-4-14 第4部 : 試験及び測定技術−第14節 : 電圧変動イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-16 第4部 : 試験及び測定技術−第16節 : 直流から150 kHzまでの伝導コモンモード
        妨害に対するイミュニティ試験
    JIS C 61000-4-17 第4部 : 試験及び測定技術−第17節 : 直流入力電源端子におけるリプルに対する
        イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-20 第4-20部 : 試験及び測定技術−TEM(横方向電磁界)導波管のエミッション及び
        イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-34 第4-34部 : 試験及び測定技術−1相当たりの入力電流が16 Aを超える電気機器の

電圧ディップ,短時間停電及び電圧変動に対するイミュニティ試験

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                      C 61000-4-2 : 2012
                                                                       (IEC 61000-4-2 : 2008)

電磁両立性−第4-2部 : 試験及び測定技術−静電気放電イミュニティ試験

Electromagnetic compatibility (EMC)-Part 4-2: Testing and measurement techniques-Electrostatic discharge immunity test

序文

  この規格は,2008年に第2版として発行されたIEC 61000-4-2を基に,技術的内容及び構成を変更する
ことなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

1 適用範囲

  この規格は,人体から直接の,又は人体から近接している物体への静電気放電(以下,ESDという。)
にさら(曝)される電気・電子装置に対するイミュニティ要求事項及び試験方法について規定する。さら
に,様々な環境及び設置条件に関する試験レベルの範囲を定義し,試験手順を確立する。
  この規格は,電気・電子装置がESDを受けた場合の性能を評価するために,共通的で再現性のある基本
的な基準を規定することを目的とする。ESDには,人体から通電状態の装置に近接する物体に発生するも
のも含む。
  この規格は,次の項目を規定する。
− 放電電流の理想的な波形
− 試験レベルの範囲
− 試験装置
− 試験のセットアップ
− 試験手順
− 校正手順
− 測定不確かさ
  この規格は,“試験室での試験”及び最終設置状態での装置に対して実施する“設置後試験”を規定する。
  この規格は,関連する製品規格委員会で参照する一般的な基本規格を提供することを目的とし,特定の
装置及びシステムだけに適用することを意図していない。製品規格委員会(又は使用者及び製造業者)に
は,当該装置に適切な試験及び適用する試験レベルの選定に責任がある。
  製品規格委員会又は装置の使用者及び製造業者には,規格間の整合及び標準化の支障とならないように
するために,この規格に規定する関連のイミュニティ試験の採用(今後の規格制定又は既存規格の改正時)
が強く望まれる。
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          IEC 61000-4-2:2008,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-2: Testing and measurement

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2
C 61000-4-2 : 2012 (IEC 61000-4-2 : 2008)
              techniques−Electrostatic discharge immunity test(IDT)
            なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こ
          とを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。この引用
規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 60050-161 EMCに関するIEV用語
      注記 対応国際規格 : IEC 60050-161,International Electrotechnical Vocabulary. Chapter 161:
             Electromagnetic compatibility(IDT)

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS C 60050-161によるほか,次による。
3.1
気中放電法(air discharge method)
  ESD発生器の帯電した放電電極をEUTに接触するまで近付けて試験する方法。
3.2
帯電防止材料(antistatic material)
  同一若しくは類似材料を摩擦するか又はそれらを分離するときに,電荷の発生を最小にする特性をもつ
材料。
3.3
校正(calibration)
  規定する条件の下で基準に照らし,表示値と測定値との間の関連性を確立するための一連の作業(IEV
311-01-09参照)。
    注記1 この用語は,“不確かさ”の手法に基づいている。
    注記2 表示値と測定値との間の関連性は,通常,校正図で説明できる。
3.4
適合性試験(conformance test)
  設計・製作した装置が,規格の要求に適合するかどうかを決める目的で,装置の代表的なサンプルにつ
いて行う試験。
3.5
接触放電法(contact discharge method)
  ESD発生器の放電電極をEUT又は結合板に接触させた状態で,ESD発生器内の放電スイッチの作動に
よって放電させる試験方法。
3.6
結合板(coupling plane)
  EUTに近接している物体へのESDを模擬するために,放電を加える金属板又は金属面。
  結合板には,水平結合板 : HCP(Horizontal coupling plane)及び垂直結合板 : VCP(Vertical coupling plane)
がある。

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                                                                                              3
                                                            C 61000-4-2 : 2012 (IEC 61000-4-2 : 2008)
3.7
(性能の)低下[degradation(of performance)]
  機器,装置又はシステムの動作性能が,意図する性能から好ましくない方に外れること(JIS C 60050-161
の01-19参照)。
    注記 用語“低下(degradation)”は,一時的な又は永久的な不具合にも使用することができる。
3.8
直接印加(direct application)
  EUTへの直接の放電。
3.9
電磁両立性(EMC : electromagnetic compatibility)
  装置又はシステムの存在する環境において,許容できないような電磁妨害をいかなるものに対しても与
えず,かつ,その電磁環境において満足に機能するための装置又はシステムの能力(JIS C 60050-161の
01-07参照)。
3.10
静電気放電[electrostatic discharge(ESD)]
  静電気電位の異なる物体同士が,近接又は直接接触することによって,物体間に起こる電荷の移動(JIS
C 60050-161の01-22参照)。
    注記 技術上の観点からは,このESDに対する正確な用語は “static electricity discharge”となる。た
          だし,用語“electrostatic discharge(ESD)”は技術用語及び技術文献で広く用いている。したが
          って,この規格でも“ESD”を使用することとした。
3.11
エネルギー蓄積コンデンサ(energy storage capacitor)
  試験電圧値まで充電した人体容量に等価なESD発生器のコンデンサ。
    注記 これは,個別コンデンサ部品又は分布容量である。
3.12
EUT(equipment under test)
  供試装置。
3.13
基準グラウンド面[ground reference plane(GRP)]
  共通の基準として使用する電位の,平たん(坦)な導電性の面(JIS C 60050-161の04-36参照)。
3.14
保持時間(holding time)
  放電する前の漏えい(洩)によって起こる出力電圧の減少が10 %以下の時間間隔。
3.15
イミュニティ(妨害に対する)[immunity(to a disturbance)]
  電磁妨害が存在する環境で,機器,装置又はシステムが性能低下せずに動作することができる能力(JIS
C 60050-161の01-20参照)。
3.16
間接印加(indirect application)
  EUTの近くの物体への人体放電を模擬するための,EUTに近接した結合板への放電。

――――― [JIS C 61000-4-2 pdf 5] ―――――

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