JIS C 61000-4-4:2015 電磁両立性―第４－４部：試験及び測定技術―電気的ファストトランジェント／バーストイミュニティ試験

                                                            C 61000-4-4 : 2015 (IEC 61000-4-4 : 2012)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[2]
•  3 用語,定義及び略語・・・・[2]
•  3.1 用語及び定義・・・・[2]
•  3.2 略語・・・・[4]
•  4 一般・・・・[4]
•  5 試験レベル・・・・[5]
•  6 試験装置・・・・[5]
•  6.1 概要・・・・[5]
•  6.2 EFT/B発生器・・・・[5]
•  6.3 AC/DC電源ポート用CDN・・・・[9]
•  6.4 容量性結合クランプ・・・・[11]
•  7 試験セットアップ・・・・[13]
•  7.1 一般・・・・[13]
•  7.2 試験装置・・・・[13]
•  7.3 試験室で行う形式試験セットアップ・・・・[15]
•  7.4 現地試験のための試験セットアップ・・・・[18]
•  8 試験手順・・・・[20]
•  8.1 一般・・・・[20]
•  8.2 試験室の基準条件・・・・[20]
•  8.3 試験の実施・・・・[20]
•  9 試験結果の評価・・・・[21]
•  10 試験報告書・・・・[21]
•  附属書A(参考)電気的ファストトランジェントに関する情報・・・・[23]
•  附属書B(参考)試験レベルの選択・・・・[25]
•  附属書C(参考)測定不確かさ(MU)の考察・・・・[27]

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C 61000-4-4 : 2015 (IEC 61000-4-4 : 2012)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人電気
学会(IEEJ)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を改正す
べきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格(日本産業規格)である。
  これによって,JIS C 61000-4-4:2007は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS C 61000-4の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS C 61000-4-2 第4-2部 : 試験及び測定技術−静電気放電イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-3 第4-3部 : 試験及び測定技術−放射無線周波電磁界イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-4 第4-4部 : 試験及び測定技術−電気的ファストトランジェント/バーストイミュニ
        ティ試験
    JIS C 61000-4-5 第4-5部 : 試験及び測定技術−サージイミュニティ試験
    JIS C 61000-4-6 第4-6部 : 試験及び測定技術−無線周波電磁界によって誘導する伝導妨害に対する
        イミュニティ
    JIS C 61000-4-7 第4-7部 : 試験及び測定技術−電力供給システム及びこれに接続する機器のための
        高調波及び次数間高調波の測定方法及び計装に関する指針
    JIS C 61000-4-8 第4部 : 試験及び測定技術−第8節 : 電源周波数磁界イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-11 第4-11部 : 試験及び測定技術−電圧ディップ,短時間停電及び電圧変動に対する
        イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-14 第4部 : 試験及び測定技術−第14節 : 電圧変動イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-16 第4部 : 試験及び測定技術−第16節 : 直流から150 kHzまでの伝導コモンモード
        妨害に対するイミュニティ試験
    JIS C 61000-4-17 第4部 : 試験及び測定技術−第17節 : 直流入力電源端子におけるリプルに対する
        イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-20 第4-20部 : 試験及び測定技術−TEM(横方向電磁界)導波管のエミッション及び
        イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-22 第4-22部 : 試験及び測定技術−全電波無響室(FAR)における放射エミッション
        及びイミュニティ試験
    JIS C 61000-4-34 第4-34部 : 試験及び測定技術−1相当たりの入力電流が16 Aを超える電気機器の

電圧ディップ,短時間停電及び電圧変動に対するイミュニティ試験

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                      C 61000-4-4 : 2015
                                                                       (IEC 61000-4-4 : 2012)

電磁両立性−第4-4部 : 試験及び測定技術−電気的ファストトランジェント/バーストイミュニティ試験

Electromagnetic compatibility (EMC) -Part 4-4: Testing and measurement techniques-Electrical fast transient/burst immunity test

序文

  この規格は,2012年に第3版として発行されたIEC 61000-4-4を基に,技術的内容及び構成を変更する
ことなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

1 適用範囲

  この規格は,繰返し電気的ファストトランジェント(高速の過渡現象)(附属書A参照)に対する電気・
電子装置のイミュニティに関連する。この規格は,電気的ファストトランジェント/バースト(EFT/B)
に関連したイミュニティ要求事項及び試験手順について規定する。さらに,試験レベルの範囲について規
定し,試験手順を確立する。
  この規格の目的は,電源,信号,制御及び接地ポートのいずれかがEFT/Bにさらされた場合の電気・電
子装置のイミュニティについて,共通的,かつ,再現性がある基準を確立することにある。この規格に規
定する試験方法は,定義した現象に対して,装置又はシステムのイミュニティを評価するための一貫した
方法について規定している。
    注記1 この規格は,IEC Guide 107で記載しているように,製品規格を作成するときに用いる基本
            EMC規格である。また,製品規格原案作成委員会は,このイミュニティ試験規格を適用する
            かどうかを決定する責任をもつ。そして,適用する場合,適切な試験レベル及び性能評価基
            準を決める責任がある。EMC規格原案作成委員会は,それらの製品に対する特定のイミュニ
            ティ試験値の評価について,製品規格原案作成委員会と協力する用意がある。
  この規格では,次について規定する。
− 試験電圧波形
− 試験レベルの範囲
− 試験装置
− 試験装置の校正及び検証手順
− 試験セットアップ
− 試験手順
  この規格は,試験室及び現地試験の仕様について規定する。

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2
C 61000-4-4 : 2015 (IEC 61000-4-4 : 2012)
    注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
            IEC 61000-4-4:2012,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-4: Testing and measurement
                techniques−Electrical fast transient/burst immunity test(IDT)
              なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”
            ことを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。この引用
規格は,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)は適用しない。
    JIS C 60050-161:1997 EMCに関するIEV用語
      注記 対応国際規格 : IEC 60050-161:1990,International Electrotechnical Vocabulary. Chapter 161:
             Electromagnetic compatibility(IDT)

3 用語,定義及び略語

3.1 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS C 60050-161によるほか,次による。
    注記 JIS C 60050-161で規定する特に関連性がある幾つかの用語及び定義は,この規格で規定する定
          義に含まれている。
3.1.1
補助装置,AE(auxiliary equipment)
  供試装置(EUT)が正常な動作を行うために必要な信号を供給し,かつ,EUTの動作を検証するために
必要な装置。
3.1.2
バースト(burst)
  ある限られた個数の個別のパルスから成るパルス列又は限られた時間の間,継続する振動。
  (JIS C 60050-161:1997-161-02-07,一部変更)
3.1.3
校正(calibration)
  規定する条件で基準に照らして,表示値と測定値との間に存在する関連性を証明するための一連の作業。
    注記1 この用語は,“不確かさ(附属書C参照)”の手法に基づいている。
    注記2 表示値と測定値との間の関連性は,通常,校正ダイアグラムで説明することができる。
    (IEC 60050-300:2001-311-01-09)
3.1.4
結合(coupling)
  一つの回路から他の回路へエネルギーを伝達する,回路間の相互作用。
3.1.5
コモンモード(結合)[common mode(coupling)]
  基準グラウンド面(RGP)に対する,ラインへの結合。
3.1.6
結合クランプ(coupling clamp)

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                                                                                              3
                                                            C 61000-4-4 : 2015 (IEC 61000-4-4 : 2012)
  直接通電結合せずに,被試験回路への妨害信号をコモンモード結合するための,決められた寸法及び特
性をもつデバイス。
3.1.7
結合回路網(coupling network)
  一つの回路から他の回路へエネルギーを伝達させる目的をもつ電気回路網。
3.1.8
減結合回路網(decoupling network)
  EUTに印加する電気的ファストトランジェント(EFT)電圧が,試験状態にない機器,装置又はシステ
ムに影響することを防止するための電気回路網。
3.1.9
低下(性能の)[degradation(of performance)]
  機器,装置又はシステムの動作性能が,意図する性能から望ましくない方に外れる状態。
    注記 “低下”は,一時的又は永久的な不具合にも用いることができる。
  (JIS C 60050-161:1997-161-01-19)
3.1.10
EFT/B(electrical fast transient/burst)
  高速の過渡応答を含んだ信号が,連続したバーストを構成する電気信号。
3.1.11
電磁両立性(EMC)(electromagnetic compatibility)
  装置又はシステムが存在する環境において,許容できないような電磁妨害をいかなるものに対しても与
えず,かつ,その電磁環境において満足に機能するための装置又はシステムの能力。
  (JIS C 60050-161:1997-161-01-07)
3.1.12
EUT(equipment under test)
  供試装置。
3.1.13
基準グラウンド面,RGP(reference ground plane)
  平たん(坦)な導電性の面で,その電位が共通の基準として用いられるもの。
  (JIS C 60050-161:1997-161-04-36 一部変更)
3.1.14
イミュニティ(妨害に対する)[immunity(to a disturbance)]
  電磁妨害が存在する環境で,機器,装置又はシステムが性能低下せずに動作することができる能力。
  (JIS C 60050-161:1997-161-01-20)
3.1.15
ポート(port)
  EUTの,外部の電磁環境との特定のインタフェース。
3.1.16
パルス幅(pulse width)
  パルスの瞬時値が,最初にピーク値の50 %に達してから,次にピーク値の50 %に達するまでの時間間
隔。

――――― [JIS C 61000-4-4 pdf 5] ―――――

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