JIS C 61000-4-5:2018 電磁両立性―第４－５部：試験及び測定技術―サージイミュニティ試験

                                                            C 61000-4-5 : 2018 (IEC 61000-4-5 : 2014)

pdf 目 次

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•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[2]
•  3 用語,定義及び略語・・・・[2]
•  4 一般・・・・[5]
•  4.1 電力系統の開閉過渡現象・・・・[5]
•  4.2 雷の過渡現象・・・・[5]
•  4.3 過渡現象のシミュレーション・・・・[6]
•  5 試験レベル・・・・[6]
•  6 試験装置・・・・[6]
•  6.1 一般・・・・[6]
•  6.2 1.2/50 s CWG 66.3 CDN・・・・[10]
•  6.4 CDNの校正・・・・[18]
•  7 試験セットアップ・・・・[21]
•  7.1 試験装置・・・・[21]
•  7.2 試験装置の検証・・・・[22]
•  7.3 EUTの電源ポートにサージを印加するときの試験セットアップ・・・・[22]
•  7.4 非シールド非対称相互接続線に印加するときの試験セットアップ・・・・[22]
•  7.5 非シールド対称相互接続線に印加するときの試験セットアップ・・・・[23]
•  7.6 シールド線を用いた装置の試験セットアップ・・・・[23]
•  8 試験手順・・・・[24]
•  8.1 一般・・・・[24]
•  8.2 試験室の基準条件・・・・[24]
•  8.3 試験の実施・・・・[24]
•  9 試験結果の評価・・・・[25]
•  10 試験報告書・・・・[26]

附属書A(規定)広域分散システムに相互接続することを意図した屋外用非シールド対称通信線へのサー
     ジ試験  27

•  附属書B(参考)CWG及び試験レベルの選択・・・・[33]
•  附属書C(参考)補足説明・・・・[36]
•  附属書D(参考)低電圧配電系統へ接続される装置のイミュニティ達成への考察・・・・[39]
•  附属書E(参考)サージ波形の数理モデル化・・・・[41]
•  附属書F(参考)測定不確かさ(MU)の考察・・・・[50]
•  附属書G(参考)サージ測定システムの校正方法・・・・[58]

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――――― [JIS C 61000-4-5 pdf 1] ―――――

C 61000-4-5 : 2018 (IEC 61000-4-5 : 2014)

pdf 目次

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•  附属書H(参考)定格200 Aを超える電源線に対するサージの結合及び減結合・・・・[61]
•  参考文献・・・・[63]

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――――― [JIS C 61000-4-5 pdf 2] ―――――

                                                            C 61000-4-5 : 2018 (IEC 61000-4-5 : 2014)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人電気
学会(IEEJ)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を改正す
べきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格(日本産業規格)である。
  これによって,JIS C 61000-4-5:2009は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS C 61000の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS C 61000-3-2 第3-2部 : 限度値−高調波電流発生限度値(1相当たりの入力電流が20 A以下の機
        器)
    JIS C 61000-4-2 第4-2部 : 試験及び測定技術−静電気放電イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-3 第4-3部 : 試験及び測定技術−放射無線周波電磁界イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-4 第4-4部 : 試験及び測定技術−電気的ファストトランジェント/バーストイミュニ
        ティ試験
    JIS C 61000-4-5 第4-5部 : 試験及び測定技術−サージイミュニティ試験
    JIS C 61000-4-6 第4-6部 : 試験及び測定技術−無線周波電磁界によって誘導する伝導妨害に対する
        イミュニティ
    JIS C 61000-4-7 第4-7部 : 試験及び測定技術−電力供給システム及びこれに接続する機器のための
        高調波及び次数間高調波の測定方法及び計装に関する指針
    JIS C 61000-4-8 第4-8部 : 試験及び測定技術−電源周波数磁界イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-11 第4-11部 : 試験及び測定技術−電圧ディップ,短時間停電及び電圧変動に対するイ
        ミュニティ試験
    JIS C 61000-4-16 第4-16部 : 試験及び測定技術−直流から150 kHzまでの伝導コモンモード妨害に対
        するイミュニティ試験
    JIS C 61000-4-20 第4-20部 : 試験及び測定技術−TEM(横方向電磁界)導波管のエミッション及び
        イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-22 第4-22部 : 試験及び測定技術−全電波無響室(FAR)における放射エミッション及
        びイミュニティ試験
    JIS C 61000-4-34 第4-34部 : 試験及び測定技術−1相当たりの入力電流が16 Aを超える電気機器の

電圧ディップ,短時間停電及び電圧変動に対するイミュニティ試験

    JIS C 61000-6-1 第6-1部 : 共通規格−住宅,商業及び軽工業環境におけるイミュニティ
    JIS C 61000-6-2 第6-2部 : 共通規格−工業環境におけるイミュニティ

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                      C 61000-4-5 : 2018
                                                                       (IEC 61000-4-5 : 2014)

電磁両立性−第4-5部 : 試験及び測定技術−サージイミュニティ試験

Electromagnetic compatibility (EMC)-Part 4-5: Testing and measurement techniques-Surge immunity test

序文

  この規格は,2014年に第3版として発行されたIEC 61000-4-5を基に,技術的内容及び構成を変更する
ことなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

1 適用範囲

  この規格は,電力系統における開閉及び雷の過渡現象による過電圧によって発生する単極性(正又は負)
のサージに対する,イミュニティ要求事項及び試験方法について規定する。これらの要求事項は,電気・
電子装置に適用し,異なる環境及び設置状態に関係する幾つかの試験レベルの範囲を規定する。この規格
の目的は,サージにさらされた場合の電気・電子装置のイミュニティを評価するための,共通の基準を確
立することにある。この規格では,装置又はシステムのイミュニティを評価するために,定義した現象に
対して一貫性のある試験方法を規定している。
    注記1 この規格は,IEC Guide 107で記載しているように,製品規格を作成するときに用いる基本
            EMC規格である。また,製品規格委員会は,このイミュニティ試験規格を適用すべきかどう
            かを決定する責任をもつ。さらに,適用する場合,適切な試験レベル及び性能評価基準を決
            める責任がある。基本EMC規格作成委員会は,それらの製品に対する特定のイミュニティ
            試験値の評価について,製品規格委員会と協力する用意がある。
  この規格では,次の事項を規定する。
− 試験レベルの範囲
− 試験装置
− 試験セットアップ
− 試験手順
  この規格で規定する試験の目的は,開閉及び雷の影響によって発生するサージ電圧に対して,規定する
動作条件でのEUTの反応を見いだすことである。
  高電圧ストレスに対するEUTの絶縁性能を試験することは,意図していない。この規格では,雷電流の
直接注入,すなわち,直撃雷は,考慮していない。
    注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
            IEC 61000-4-5:2014,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-5: Testing and measurement
                techniques−Surge immunity test(IDT)

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2
C 61000-4-5 : 2018 (IEC 61000-4-5 : 2014)
              なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”
            ことを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。この引用
規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 60050-161 EMCに関するIEV用語
      注記 対応国際規格 : IEC 60050-161,International Electrotechnical Vocabulary. Chapter 161:
             Electromagnetic compatibility

3 用語,定義及び略語

3.1   用語及び定義
  この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS C 60050-161によるほか,次による。
3.1.1
アバランシェ素子(avalanche device)
  指定した電圧でブレークダウン及び導通するように設計したダイオード,ガスアレスタ,その他の部品。
3.1.2
校正(calibration)
  規定する条件で基準に照らして,表示値と測定値との間の関連性を確立するための一連の作業。
    注記1 この用語は,“不確かさ”に関連する(附属書Fを参照)。
    注記2 表示値と測定値との間の関連性は,通常,校正ダイヤグラムで説明することができる。
  [IEC 60050-311:2001,311-01-09参照]
3.1.3
クランプ素子(clamping device)
  指定値を超える印加電圧を制限するように設計したダイオード,バリスタ,その他の部品。
3.1.4
コンビネーション波形発生器,CWG(combination wave generator)
  1.2/50 s又は10/700 sの開回路電圧波形,及び8/20 s又は5/320 sの短絡電流波形をそれぞれ備える
発生器。
3.1.5
結合回路網,CN(coupling network)
  一つの回路からほかの回路へエネルギーを伝達させる目的をもつ電気回路。
3.1.6
結合・減結合回路網,CDN(coupling/decoupling network)
  結合回路網及び減結合回路網の両方を一つの箱に収めた電気回路。
3.1.7
減結合回路網,DN(decoupling network)
  EUTに印加するサージが,試験対象外の機器,装置又はシステムに影響することを防止するための電気
回路。

――――― [JIS C 61000-4-5 pdf 5] ―――――

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