JIS C 61000-4-7:2007 電磁両立性―第4-7部:試験及び測定技術―電力供給システム及びこれに接続する機器のための高調波及び次数間高調波の測定方法及び計装に関する指針

JIS C 61000-4-7:2007 規格概要

この規格 C61000-4-7は、幾つかの規格で規定するエミッション限度値(例えば,JIS C 61000-3-2で規定する高調波電流限度値)に応じて機器の個別項目を試験するための測定計装並びに実際の電力供給システム内の高調波電流及び高調波電圧の測定のための測定計装を規定。

JISC61000-4-7 規格全文情報

規格番号
JIS C61000-4-7 
規格名称
電磁両立性―第4-7部 : 試験及び測定技術―電力供給システム及びこれに接続する機器のための高調波及び次数間高調波の測定方法及び計装に関する指針
規格名称英語訳
Electromagnetic compatibility (EMC) -- Part 4-7:Testing and measurement techniques -- General guide on harmonics and interharmonics measurements and instrumentation, for power supply systems and equipment connected thereto
制定年月日
1997年11月20日
最新改正日
2017年10月20日
JIS 閲覧
‐ 
対応国際規格

ISO

IEC 61000-4-7:2002(IDT)
国際規格分類

ICS

33.100.10, 33.100.20
主務大臣
経済産業
JISハンドブック
電磁両立性(EMC) 2020
改訂:履歴
1997-11-20 制定日, 2004-03-20被移行日, 2005-02-20 確認日, 2007-05-20 改正日, 2012-10-22 確認日, 2017-10-20 確認
ページ
JIS C 61000-4-7:2007 PDF [51]
                                                            C 61000-4-7 : 2007 (IEC 61000-4-7 : 2002)

pdf 目 次

ページ

  •  序文・・・・[1]
  •  1 適用範囲・・・・[1]
  •  2 引用規格・・・・[2]
  •  3 定義,記号及び添字・・・・[2]
  •  3.5 表記方法・・・・[6]
  •  4 あらゆる種類の計装についての一般概念及び共通要求事項・・・・[7]
  •  4.1 計測対象の信号の特性・・・・[7]
  •  4.2 測定器の精度クラス・・・・[7]
  •  4.3 測定の種類・・・・[7]
  •  4.4 計器の一般的構成・・・・[7]
  •  5 高調波の測定・・・・[9]
  •  5.1 電流入力回路・・・・[9]
  •  5.2 電圧入力回路・・・・[9]
  •  5.3 要求精度・・・・[10]
  •  5.4 エミッション評価のための測定システム・・・・[11]
  •  5.5 高調波エミッションの評価・・・・[12]
  •  5.6 電圧高調波サブグループの評価・・・・[13]
  •  6 その他の解析原理・・・・[14]
  •  7 代替試験方法・・・・[14]
  •  8 一般・・・・[15]
  •  附属書A(参考)次数間高調波の測定・・・・[16]
  •  附属書B(参考)高調波周波数を超え9 kHz以下の信号成分の測定・・・・[18]
  •  附属書C(参考)グループ化の方法の技術的考察・・・・[20]
  •  附属書JA(規定)代替試験方法・・・・[29]

(pdf 一覧ページ番号 1)

――――― [JIS C 61000-4-7 pdf 1] ―――――

C 61000-4-7 : 2007 (IEC 61000-4-7 : 2002)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,社団法人電気学会
(IEEJ) 及び財団法人日本規格協会 (JSA) から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を改正すべきとの申出
があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格(日本産業規格)である。
これによって,JIS C 61000-4-7 : 1997は改正され,この規格に置き換えられた。
この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許
権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に係る確認について,責任は
もたない。
JIS C 61000の規格群には,次に示す部編成がある。
JIS C 61000-3-2 第3-2部 : 限度値−高調波電流発生限度値(1相当たりの入力電流が20 A以下の機器)
JIS C 61000-4-2 第4部 : 試験及び測定技術−第2節 : 静電気放電イミュニティ試験
JIS C 61000-4-3 第4-3部 : 試験及び測定技術−放射無線周波電磁界イミュニティ試験
JIS C 61000-4-4 第4部 : 試験及び測定技術−第4節 : 電気的ファストトランジェント/バーストイミ
ュニティ試験
JIS C 61000-4-5 第4部 : 試験及び測定技術−第5節 : サージイミュニティ試験
JIS C 61000-4-6 第4-6部 : 試験及び測定技術−無線周波電磁界によって誘導する伝導妨害に対するイ
ミュニティ
JIS C 61000-4-7 第4-7部 : 試験及び測定技術−電力供給システム及びこれに接続する機器のための高
調波及び次数間高調波の測定方法及び計装に関する指針
JIS C 61000-4-8 第4部 : 試験及び測定技術−第8節 : 電源周波数磁界イミュニティ試験
JIS C 61000-4-11 第4部 : 試験及び測定技術−第11節 : 電圧ディップ,短時間停電及び電圧変化に対
するイミュニティ試験
JIS C 61000-4-14 第4部 : 試験及び測定技術−第14節 : 電圧変動イミュニティ試験
JIS C 61000-4-16 第4部 : 試験及び測定技術−第16節 : 直流から150 kHzまでの伝導コモンモード妨
害に対するイミュニティ試験
JIS C 61000-4-17 第4部 : 試験及び測定技術−第17節 : 直流入力電源端子におけるリプルに対するイ
ミュニティ試験
JIS C 61000-4-20 第4-20部 : 試験及び測定技術−TEM(横方向電磁界)導波管のエミッション及びイ
ミュニティ試験
JIS C 61000-6-1 第6部 : 共通規格−第1節 : 住宅,商業及び軽工業環境におけるイミュニティ
JIS C 61000-6-2 第6部 : 共通規格−第2節 : 工業環境におけるイミュニティ

(pdf 一覧ページ番号 2)

――――― [JIS C 61000-4-7 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
C 61000-4-7 : 2007
(IEC 61000-4-7 : 2002)

電磁両立性−第4-7部 : 試験及び測定技術−電力供給システム及びこれに接続する機器のための高調波及び次数間高調波の測定方法及び計装に関する指針

Electromagnetic compatibility (EMC)-Part 4-7 : Testing and measurement techniques-General guide onharmonics and interharmonics measurements and instrumentation,for power supply systems and equipment connected thereto

序文

  この規格は,2002年に第2版として発行されたIEC 61000-4-7を基に作成した日本工業規格(日本産業規格)である。た
だし,対応国際規格の箇条7に代替試験方法として,次の版が出るまで旧規格を適用できることを認めて
いるため,日本工業規格(日本産業規格)では,箇条7に附属書JAとして追加して規定した。
なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

1 適用範囲

  この規格は,50 Hz及び60 Hzの電力供給システムの基本波に重畳する9 kHz以下の周波数範囲内のスペ
クトル成分を測定することを目的とする計装に適用する。この規格では,高調波,次数間高調波,及びそ
れ以外の高調波周波数範囲(約2 kHz)を超え9 kHz以下の成分を区別している。
この規格は,幾つかの規格で規定するエミッション限度値(例えば,JIS C 61000-3-2で規定する高調波
電流限度値)に応じて機器の個別項目を試験するための測定計装並びに実際の電力供給システム内の高調
波電流及び高調波電圧の測定のための測定計装を規定する。高調波周波数範囲を超え9 kHz以下の測定の
ための計装は,暫定的に規定する(附属書B参照)。
注記1 この規格は,離散形フーリエ変換に基づく計器を詳細に扱っている。
注記2 この規格における測定器の機能及び構造の説明は極めて明確で,文字どおりにとらえられる
ことを意図している。これは,入力信号の特性にかかわらず,再現可能な結果を基準測定器
がもっている必要性があるためである。
注記3 測定器は,第50次までの高調波の測定値に対応するように規定している。
注記4 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
IEC 61000-4-7 : 2002,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-7 : Testing and measurement
techniques−General guide on harmonics and interharmonics measurements and instrumentation,
for power supply systems and equipment connected thereto (IDT)

――――― [JIS C 61000-4-7 pdf 3] ―――――

2
C 61000-4-7 : 2007 (IEC 61000-4-7 : 2002)
なお,対応の程度を表す記号 (IDT) は,ISO/IEC Guide 21に基づき,一致していることを
示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
JIS C 60050-161 EMCに関するIEV用語
注記 対応国際規格 : IEC 60050-161,International Electrotechnical Vocabulary. Chapter 161 :
Electromagnetic compatibility (IDT)
JIS C 61000-3-2 電磁両立性−第3-2部 : 限度値−高調波電流発生限度値(1相当たりの入力電流が
20 A以下の機器)
注記 対応国際規格 : IEC 61000-3-2,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 3-2 : Limits−Limits
for harmonic current emissions (equipment input current <= 16 A per phase) (MOD)

3 定義,記号及び添字

  この規格で用いる主な定義,記号及び添字は,JIS C 60050-161によるほか,次による。
3.1 周波数解析に関する定義
文字記号 : ゼロクロス点の観測によって位相角測定が容易に行えるため,この規格では,次の文字記号
をフーリエ級数の展開に用いる。
m
f (t) c0 cm sin 1t m (1)
m 1 N
ここに,
cm bm jam am2 bm2
cm
Cm
2
am (2)
m arctan (bm 0の場合)
bm
am
m arctan (bm 0の場合)
bm
及び
Tw
2 m
bm f (t) sin 1t dt
Tw 0
N
Tw
2 m
am f (t) cos 1t dt (3)
Tw 0
N
Tw
1
c0 f (t) dt
Tw 0

――――― [JIS C 61000-4-7 pdf 4] ―――――

                                                                                              3
C 61000-4-7 : 2007 (IEC 61000-4-7 : 2002)
ここに, 基本波の角周波数 ( 2
Tw : タイムウィンドウの幅(又は持続時間)(Tw=NT1,T1=1/f1)。タ
イムウィンドウは,フーリエ変換を実行する時間関数のタイムス
パン
m 1f
cm : 周波数 fm をもつ成分の振幅
N
N : ウィンドウ幅内の基本周期の数
c0 : 直流成分
m : 周波数基準 (fw=1/Tw) に関連する順序数(スペクトル線の順序)
注記1 厳密にいうと,これらの定義は,定常的な信号だけに適用する。
離散形フーリエ変換 (DFT) のように,フーリエ級数は,実際にはほとんどの場合,デジタ
ル化して実行する。分析するアナログ信号f (t) は,標本化し,A/D変換の後,保存する。M
個のサンプルから成る各グループが,DFTを実行するタイムウィンドウを形成する。フーリ
エ級数展開の法則によると,ウィンドウ幅Twが解析に対する周波数分解能fw=1/Tw(すなわ
ち,スペクトル線の周波数分離)を決定し,変換結果に対する周波数基準を決定する。した
がって,ウィンドウ幅Twは,系統電圧の基本周期T1の整数の倍数Nでなければならない (Tw
=N×T1)。この場合,サンプリング周波数は,fs=M/(NT1) となる(MはTw内のサンプル数)。
DFT処理の前に,タイムウィンドウTw内のサンプルは特別な対称的関数“ウィンドウ生
成係数”を乗じることによって重みが加えられることが多い。ただし,周期信号及び同期サ
ンプリングについては,各サンプルを一律に乗じるレクタンギュラウィンドウを用いる方が
望ましい。
DFTプロセッサは,対応する高調波周波数fm=m/Tw,m=0,1,2...2i−1の直交フーリエ
係数am及びbmを作る。ただし,mの最大値の半分までの直交フーリエ係数だけが有効とな
る。後ろの半分は,前半の複製にすぎない。
十分な同期が取れている場合,基本周波数f1に関連する高調波次数nは,n=m/N(NはTw
の時間の数。)によって与えられる。
注記2 高速フーリエ変換 (FFT) は,計算時間を短くできる特別なアルゴリズムである。サンプル数
Mは,2の整数べき乗,例えばi 10として,M=2iでなければならない。
3.2 高調波に関する定義
3.2.1
高調波周波数,fn (harmonic frequency)
電源(基本波)周波数の整数倍となる周波数 (fn=n×f1)。
3.2.2
高調波次数,n (harmonic order)
電源周波数に対する高調波周波数の(整数)比。DFT及びf1とfs(サンプリング周波数)との間の同期
を用いる解析に関して,高調波次数nは,n=k/N(kはフーリエ成分の順序数,NはTwにおける周期T1の
数)によって与えられる。
3.2.3
高調波成分の実効値,Gn (r.m.s. value of a harmonic component)
非正弦波の解析における高調波周波数をもつ一つの成分の実効値。
簡潔のため,その成分を単に“高調波”と呼んでもよい。
注記1 高調波成分Gnは,k=N×n : (Gn=CNn) として,スペクトル成分Ckと同一である。高調波成

――――― [JIS C 61000-4-7 pdf 5] ―――――

次のページ PDF 6

JIS C 61000-4-7:2007の引用国際規格 ISO 一覧

  • IEC 61000-4-7:2002(IDT)

JIS C 61000-4-7:2007の国際規格 ICS 分類一覧

JIS C 61000-4-7:2007の関連規格と引用規格一覧