11
C 6180-1991
附属書2 ビーム形状と検出器有効受光面寸法の関係
検出器の有効受光面寸法は,受光面上のビーム寸法に対して十分大きくなければならない。ビーム寸法
と所要受光面寸法の関係は,ビーム形状と,この項目についての許容誤差によって異なる。
1. ガウスビームの場合 所要有効受光径Dagは,次の式で与えられる。
agka
D≧ g
ここに, k : この項目についての許容誤差 攀 %) によって定まる係数で,
附属書2図1による
ag : 受光面上でのビーム直径
受光面の中心位置とビームの中心位置とのずれ
備考 JIS C 6802に適用する場合は,Dagは,次の式で与えられる。
Dag≧ 2kag
附属書2図1 kと 係
2. 発散又は集束する光源の場合
2.1 発散又は集束する光源の測定 受光面上のビーム寸法は,光源出射端面と受光面間の距離に比例し
て拡大又は縮小する。円形ビームの受光面上でのビーム直径a gは次の式で与えられる(附属書2図2参
照)。
d
発散の場合 : agda0 2 l tan
2
c
収束の場合 : agca0 2 l tan
2
――――― [JIS C 6180 pdf 11] ―――――
12
C 6180-1991
ここに, agd : 発散する光源の受光面上のビーム直径
agc : 集束する光源の受光面上のビーム直径
a0 : 光源出射端面上のビーム直径
l : 光源出射端面と受光面間の距離
発散角
集束角
所要有効受光面寸法は,1. によって求める。距離lの設定は,検出器の最大測定光パワー,最小測定光
パワー及び最大測定光パワー密度の条件を満たす範囲でなければならない。
附属書2図2 発散又は集束する光源のビームプロファイルと受光面の関係
備考1. 発散又は集束する光源の測定で,ビームスプリッタ,光減衰器などの補助光学素子を使用す
る場合,発散角又は集束角を減少する目的でレンズ系を挿入するときは,その損失をあらか
じめ評価して,測定結果を補正しなければならない。
2. 発散角又は集束角が過大なため,検出器の入射角依存性によって測定精度が所要の値を満足
しない場合には,測定精度を向上する目的で,角度を減じるためのレンズ系を挿入すること
ができる。ただし,使用するレンズ系の損失をあらかじめ評価して,測定結果を補正しなけ
ればならない。
2.2 光ファイバ出射光の場合 光ファイバ用検出器を使用しない場合には,光ファイバ出射光の受光面
上でのビーム直径agfは,次の式で与えられる。
f
agf 2 l tan
2
4
f曰 (シングルモード光ファイバの場合)
w0
――――― [JIS C 6180 pdf 12] ―――――
13
C 6180-1991
2 1
2 sin NA (マルチモード光ファイバの場合)
3
ここに, l : 光ファイバ出射端面と受光面との距離
波長
w0 : モードフィールド径[JIS C 6825の7. (モードフィールド
径の測定方法)参照]
NA : 開口数 (numerical aperture) [JIS C 6822の6.(RNF法),8.
(NFP法)参照]
備考 JIS C 6802に適用する場合は,モードフィールド径(w0)は,光パワー密度がビーム内の最大
値に対してe−1(=0.367 9)となる全幅で定義する。したがって,発散角 1の定義に換算し
た式は次のようになる。
f
agf 2 l tan
2
2
f曰 (シングルモード光ファイバの場合)
w0
2 1
sin NA(マルチモード光ファイバの場合)
3
所要有効受光面寸法は,1. によって求める。距離lの設定は,検出器の最大測定光パワー,
最小測定光パワー及び最大測定光パワー密度の条件を満たす範囲でなければならない。
3. その他の場合 1.及び2.以外の場合には,ビーム形状を測定し,所要有効受光面寸法を算出する。
――――― [JIS C 6180 pdf 13] ―――――
14
C 6180-1991
電子部会 オプトエレクトロニクス専門委員会 構成表
氏名 所属
(委員会長) 田 中 俊 一 東京理科大学
吹 訳 正 憲 通商産業省機械情報産業局
稲 葉 裕 俊 工業技術院標準部
三 橋 慶 喜 工業技術院電子技術総合研究所
神 谷 武 志 東京大学
佐 藤 卓 蔵 財団法人光産業技術振興協会
吉 田 淳 一 日本電信電話株式会社
望 月 清 文 国際電信電話株式会社
山 本 益 生 東京電力株式会社
冨加見 昌 男 東日本旅客鉄道株式会社
小 川 武 日本放送協会
黒 岩 宗 弘 住宅・都市整備公団
北 村 芳 靖 日本道路公団
大久保 勝 彦 古河電気工業株式会社
西 川 勉 富士通株式会社
古 寺 博 株式会社日立製作所
須 川 毅 住友電気工業株式会社
田 中 英 吉 安藤電気株式会社
立 川 明 社団法人日本電子機械工業会
江 本 俊 夫 社団法人日本電線工業会
(専門委員) J.P.スターン 米国電子業界日本事務所
C.モンテイ 日本オリベッティ株式会社
(関係者) 井 上 武 海 工業技術院電子技術総合研究所
藤 瀬 雅 行 株式会社エイ・ティ・アール光電波通信研究所
坂 井 徳 久 安藤電気株式会社
(事務局) 吉 田 厚 工業技術院標準部電気規格課
宗 像 保 男 工業技術院標準部電気規格課
稲 田 浩 二 工業技術院標準部電気規格課
財団法人光産業技術振興協会 レーザ出力測定法専門委員会(昭和59年度) 構成表
氏名 所属
(委員長) 井 上 武 海 工業技術院電子技術総合研究所
秋 葉 稔 光 三菱電機株式会社
生 田 栄 株式会社東芝
太 田 健一郎 工業技術院標準部
川 原 浄 彦 島田理化工業株式会社
猿 渡 正 俊 日本電信電話株式会社
篠 原 己 抜 日本高周波株式会社
菅 原 宏 之 株式会社日立製作所
杉 浦 吾 男 安立電気株式会社
中 村 義 忠 株式会社日本レーザ
山 本 英 夫 安藤電気株式会社
(事務局) 城 所 光 宏 財団法人光産業技術振興協会
中 内 善 雄 財団法人光産業技術振興協会
――――― [JIS C 6180 pdf 14] ―――――
15
C 6180-1991
財団法人光産業技術振興協会 レーザ出力測定方法JIS化WG(平成2年度) 構成表
氏名 所属
(主査) 井 上 武 海 工業技術院電子技術総合研究所
(幹事) 坂 井 徳 久 安藤電気株式会社
猿 渡 正 俊 日本電信電話株式会社
川 原 浄 彦 島田理化工業株式会社
村 田 明 弘 横河電機株式会社
稲 田 浩 二 工業技術院標準部
(事務局) 加 藤 靖 孝 財団法人光産業技術振興協会
JIS C 6180:1991の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.260 : オプトエレクトロニクス.レーザー設備
JIS C 6180:1991の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC6182:1991
- レーザビーム用光パワーメータ試験方法
- JISC6802:2014
- レーザ製品の安全基準
- JISC6822:2009
- 光ファイバ構造パラメータ試験方法―寸法特性
- JISC6825:2009
- 光ファイバ構造パラメータ試験方法―光学的特性
- JISC6825:2020
- 光ファイバ構造パラメータ試験方法―光学的特性