JIS C 6185-2:2014 オプティカルタイムドメインリフレクトメータ（OTDR）―第２部：校正方法―シングルモード光ファイバ用ＯＴＤＲ

                                                                C 6185-2 : 2014 (IEC 61746-1 : 2009)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 用語及び定義・・・・[2]
•  4 校正に向けた準備・・・・[7]
•  4.1 校正実施機関に対する留意事項・・・・[7]
•  4.2 トレーサビリティ・・・・[8]
•  4.3 校正実施の準備・・・・[8]
•  4.4 校正条件に関する留意事項・・・・[8]
•  4.5 文書として記録する事項・・・・[8]
•  5 距離の校正の一般事項・・・・[8]
•  5.1 はじめに・・・・[8]
•  5.2 位置偏差モデル・・・・[9]
•  5.3 校正結果の使用・・・・[10]
•  5.4 光ファイバ長の測定・・・・[11]
•  6 距離の校正方法・・・・[11]
•  6.1 はじめに・・・・[11]
•  6.2 外部光源法・・・・[11]
•  6.3 連鎖光ファイバ法・・・・[16]
•  6.4 ループ遅延線法・・・・[20]
•  7 損失の校正の一般事項・・・・[23]
•  7.1 はじめに・・・・[23]
•  7.2 表示パワーレベルFの求め方・・・・[23]
•  7.3 適切な基準損失Arefの選択・・・・[24]
•  7.4 試験計画の立て方・・・・[25]
•  7.5 偏光依存性・・・・[26]
•  7.6 校正結果の算出・・・・[28]
•  7.7 校正結果の使用・・・・[28]
•  8 損失の校正方法・・・・[28]
•  8.1 はじめに・・・・[28]
•  8.2 基準光ファイバによる損失の校正法・・・・[28]
•  8.3 外部光源法・・・・[32]
•  8.4 スプライスシミュレータ法・・・・[35]
•  8.5 パワー減衰法・・・・[40]
•  9 反射率の校正・・・・[43]

(pdf 一覧ページ番号 1)

――――― [JIS C 6185-2 pdf 1] ―――――

C 6185-2 : 2014 (IEC 61746-1 : 2009)

pdf 目次

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•  9.1 目的・・・・[43]
•  9.2 反射率の測定・・・・[43]
•  9.3 後方散乱パラメータKの活用・・・・[44]
•  9.4 反射率測定の範囲・・・・[45]
•  9.5 試験計画の立て方・・・・[46]
•  9.6 装置・・・・[47]
•  9.7 測定手順・・・・[47]
•  附属書A(規定)距離校正用のループ遅延線・・・・[49]
•  附属書B(規定)損失校正用の基準光ファイバ・・・・[52]
•  附属書C(規定)損失校正用の標準スプライスシミュレータ・・・・[56]
•  附属書D(規定)数学的根拠・・・・[60]
•  附属書E(規定)反射率基準・・・・[63]
•  附属書F(規定)簡易な反射率基準・・・・[69]
•  附属書G(参考)OTDRの基礎 : 後方散乱の理論−OTDRを用いた反射率測定−光ファイバにおける後方散乱パラメータの決定・・・・[73]

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――――― [JIS C 6185-2 pdf 2] ―――――

                                                                C 6185-2 : 2014 (IEC 61746-1 : 2009)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,一般財団法人光産
業技術振興協会(OITDA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業
規格を改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業
規格である。これによって,JIS C 6185-2:2007は改正され,この規格に置き換えられた。また,JIS C 6185-2
の一部を分割してJIS C 6185-3として制定された。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS C 6185の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS C 6185-2 第2部 : 校正方法−シングルモード光ファイバ用OTDR
    JIS C 6185-3 第3部 : 校正方法−マルチモード光ファイバ用OTDR

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――――― [JIS C 6185-2 pdf 3] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                           C 6185-2 : 2014
                                                                          (IEC 61746-1 : 2009)

オプティカルタイムドメインリフレクトメータ(OTDR)−第2部 : 校正方法−シングルモード光ファイバ用OTDR

Optical time-domain reflectometers (OTDR)- Part 2: Calibration of OTDR for single mode fibers

序文

  この規格は,2009年に第1版として発行されたIEC 61746-1を基に,技術的内容及び構成を変更するこ
となく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。
  この規格を用いて校正するオプティカルタイムドメインリフレクトメータは,少なくとも次の仕様を備
えているものを対象とする。
a) 群屈折率又はそれと同等なパラメータが,設定できる。
b) 対数目盛で表示した光パワーと,等分目盛で表示した距離との関係を示す波形を表示できる。
c) 表示波形上の任意の2点間の損失及び距離を表示する二つのマーカ又はカーソルが設定できる。
d) オプティカルタイムドメインリフレクトメータの距離基準点からの絶対距離(位置)が測定できる。
e) 基準レベル(例えば,クリッピングレベル)に対する表示パワーレベルが測定できる。
f)  反射事象の反射率を評価できる。

1 適用範囲

  この規格は,シングルモード光ファイバ用オプティカルタイムドメインリフレクトメータ(以下,オプ
ティカルタイムドメインリフレクトメータをOTDRという。)の校正方法について規定する。その適用範
囲は,OTDRの測定誤差及び測定の不確かさだけとし,OTDR応答の補正に関しては規定しない。
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          IEC 61746-1:2009,Calibration of optical time-domain reflectometers (OTDR)−Part 1: OTDR for
              single mode fibres(IDT)
            なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こ
          とを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。

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2
C 6185-2 : 2014 (IEC 61746-1 : 2009)
    JIS C 6823 光ファイバ損失試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60793-1-40,Optical fibres−Part 1-40: Measurement methods and test
             procedures−Attenuation(MOD)
    JIS C 6835 石英系シングルモード光ファイバ素線
      注記 対応国際規格 : IEC 60793-2-50,Optical fibres−Part 2-50: Product specifications−Sectional
             specification for class B single-mode fibres(MOD)
    JIS C 6851 光ファイバケーブル特性試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60794-1-2:2003,Optical fibre cables−Part 1-2: Generic specification−Basic
             optical cable test procedures(MOD)
    JIS C 61300-3-2 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第3-2部 : シン
        グルモード光デバイスの光損失の偏光依存性
      注記 対応国際規格 : IEC 61300-3-2,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic
             test and measurement procedures−Part 3-2: Examination and measurements−Polarization
             dependent loss in a single-mode fibre optic device(MOD)
    JIS Q 17025 試験所及び校正機関の能力に関する一般要求事項
      注記 対応国際規格 : ISO/IEC 17025,General requirements for the competence of testing and calibration
             laboratories(IDT)
    ISO/IEC Guide 98-3:2008,Uncertainty of measurement−Part 3: Guide to the expression of uncertainty in
        measurement (GUM:1995)
    ITU-T Recommendation G.650.1:2002,Definitions and test methods for linear, deterministic attributes of
        single-mode fibre and cable
    ITU-T Recommendation G.650.2:2002,Definitions and test methods for statistical and non-linear related
        attributes of single-mode fibre and cable

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,次による。
    注記 更に詳細な定義は,IEC 60050-731を参照することが望ましい。
3.1
減衰量,損失,A(attenuation)
  デシベル(dB)で表した光パワーの減少。ある光ファイバの一方の端に入った光パワーをPin(W),他
端から出た光パワーをPout(W)とするとき,この光ファイバの減衰量を式(1)で表す(IEC 60050-731のIEV
731-01-48参照)。
                                   Pin
                         A  10 log10    (dB)  (1)
                                   Pout
3.2
減衰定数,α(attenuation coefficient)
  光ファイバの単位長さ当たりの減衰量(3.1及びIEC 60050-731のIEV 731-03-42参照)。
3.3
損失測定デッドゾーン(attenuation dead-zone)

――――― [JIS C 6185-2 pdf 5] ―――――

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