JIS C 6185-3:2014 オプティカルタイムドメインリフレクトメータ（ＯＴＤＲ）―第３部：校正方法―マルチモード光ファイバ用ＯＴＤＲ

                                                                C 6185-3 : 2014 (IEC 61746-2 : 2010)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[2]
•  3 用語及び定義・・・・[2]
•  4 校正に向けた準備・・・・[7]
•  4.1 校正実施機関に対する留意事項・・・・[7]
•  4.2 トレーサビリティ・・・・[7]
•  4.3 校正実施の準備・・・・[7]
•  4.4 校正条件に関する留意事項・・・・[7]
•  4.5 文書として記録する事項・・・・[7]
•  5 距離の校正の一般事項・・・・[8]
•  5.1 はじめに・・・・[8]
•  5.2 位置偏差モデル・・・・[8]
•  5.3 校正結果の使用・・・・[9]
•  5.4 光ファイバ長の測定・・・・[10]
•  6 距離の校正方法・・・・[10]
•  6.1 はじめに・・・・[10]
•  6.2 外部光源法・・・・[11]
•  6.3 連鎖光ファイバ法(マルチモード光ファイバ使用)・・・・[15]
•  6.4 ループ遅延線法・・・・[19]
•  7 垂直軸の校正の一般事項・・・・[22]
•  7.1 はじめに・・・・[22]
•  7.2 後方散乱損失差分の校正・・・・[22]
•  7.3 OTDR光源のニアフィールド分布の明確化・・・・[25]
•  8 損失の校正方法・・・・[25]
•  8.1 はじめに・・・・[25]
•  8.2 長尺ファイバ法・・・・[25]
•  附属書A(規定)距離校正用のマルチモードループ遅延線・・・・[28]
•  附属書B(規定)数学的根拠・・・・[32]

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――――― [JIS C 6185-3 pdf 1] ―――――

C 6185-3 : 2014 (IEC 61746-2 : 2010)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,一般財団法人光産業技術振興協会(OITDA)
及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出
があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。これによって,
JIS C 6185-2:2007は改正され,その一部を分割してJIS C 6185-3として制定された。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS C 6185の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS C 6185-2 第2部 : 校正方法−シングルモード光ファイバ用OTDR
    JIS C 6185-3 第3部 : 校正方法−マルチモード光ファイバ用OTDR

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――――― [JIS C 6185-3 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                           C 6185-3 : 2014
                                                                          (IEC 61746-2 : 2010)

オプティカルタイムドメインリフレクトメータ(OTDR)−第3部 : 校正方法−マルチモード光ファイバ用OTDR

Optical time-domain reflectometers (OTDR)- Part 3: Calibration of OTDR for multimode fibers

序文

  この規格は,2010年に第1版として発行されたIEC 61746-2を基に,技術的内容及び構成を変更するこ
となく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。
  この規格を用いて校正するオプティカルタイムドメインリフレクトメータは,少なくとも次の仕様を備
えているものを対象とする。
a)   IS C 6832に規定するSGI-50/125-A1の石英系マルチモード光ファイバを測定できる。
b) 群屈折率又はそれと同等なパラメータが,設定できる。
c) パワーは,対数目盛で表示し,距離は,等分目盛で波形を表示できる。
d) 表示波形上の任意の2点間の損失及び距離を表示する二つのマーカ又はカーソルが設定できる。
e) オプティカルタイムドメインの距離基準点からの絶対距離(位置)が測定できる。
f)  基準レベル(例えば,クリッピングレベル)に対する表示パワーレベルが測定できる。
  この規格に規定する校正方法は,JIS C 6185-2に規定するものと同じように見える。しかし,種別の異
なる光ファイバの混用,モードコンディショナの使用,又は光ファイバ配置の違いといった相違があるた
め,異なる構成方法,不確かさの分析が必要となる。

1 適用範囲

  この規格は,マルチモード光ファイバ用オプティカルタイムドメインリフレクトメータ(以下,オプテ
ィカルタイムドメインリフレクトメータをOTDRという。)の校正方法について規定する。レーザ光源の
モード条件の試験を任意の測定として含む。
  なお,その適用範囲は,OTDRの測定誤差及び測定の不確かさだけとし,OTDR応答の補正に関しては
規定しない。
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          IEC 61746-2:2010,Calibration of optical time-domain reflectometers (OTDR)−Part 2: OTDR for
              multimode fibres(IDT)
            なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こ
          とを示す。

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2
C 6185-3 : 2014 (IEC 61746-2 : 2010)

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 6828 光ファイバ構造パラメータ測定器校正方法
      注記 対応国際規格 : IEC 61745,End-face image analysis procedure for the calibration of optical fibre
             geometry test sets(IDT)
    JIS C 6832 石英系マルチモード光ファイバ素線
      注記 対応国際規格 : IEC 60793-2-10,Optical fibres−Part 2-10: Product specifications−Sectional
             specification for category A1 multimode fibres(MOD)
    JIS C 6835 石英系シングルモード光ファイバ素線
      注記 対応国際規格 : IEC 60793-2-50:2008,Optical fibres−Part 2-50: Product specifications−Sectional
             specification for class B single-mode fibres(MOD)
    JIS Q 17025 試験所及び校正機関の能力に関する一般要求事項
      注記 対応国際規格 : ISO/IEC 17025,General requirements for the competence of testing and calibration
             laboratories(IDT)
    ISO/IEC Guide 98-3:2008,Uncertainty of mesurement−Part 3: Guide to the expression of uncertainty in
        measurement (GUM:1995)
    IEC 61280-1-4,Fibre optic communication subsystem test procedures−Part 1-4: General communication
        subsystems−Light source encircled flux measurement method
    IEC 61280-4-1,Fibre-optic communication subsystem test procedures−Part 4-1: Installed cable plant−
        Multimode attenuation measurement

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,次による。
    注記 更に詳細な定義は,IEC 60050-731を参照することが望ましい。
3.1
減衰量,損失,A(attenuation)
  デシベル(dB)で表した光パワーの減少。ある光ファイバの一方の端に入った光パワーをPin(W),他
端から出た光パワーをPout(W)とするとき,この光ファイバの減衰量を式(1)で表す(IEC 60050-731のIEV
731-01-48参照)。
                                   Pin
                         A  10 log10    (dB)  (1)
                                   Pout
3.2
減衰定数,α(attenuation coefficient)
  光ファイバの単位長さ当たりの減衰量(IEC 60050-731のIEV 731-03-42参照)。
3.3
損失測定デッドゾーン(attenuation dead-zone)
  反射又は減衰が生じている後方領域に対して表示した波形が,反射又は減衰の影響がない状態の後方散

――――― [JIS C 6185-3 pdf 4] ―――――

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                                                                C 6185-3 : 2014 (IEC 61746-2 : 2010)
乱波形から,規定した垂直距離                               域。
    注記 損失測定デッドゾーンは,反射率,損失,表示パワーレベル,位置などのパラメータによって
          異なっている。また,反射又は減衰領域の手前の光ファイバ部品にも依存している。
                                図1−損失測定デッドゾーンの定義
3.4
校正(calibration)
  規定条件の下で,測定装置が示した値とそれに対応するその量の既知の値との関係を明らかにする一連
の作業(ISO/IEC Guide 99参照)。
3.5
中心光波長,λavg(centroidal wavelength)
  光源の光パワーで重み付けした真空中での平均光波長(JIS C 61280-1-3参照)。
3.6
表示パワーレベル,F(displayed power level)
  OTDRが表示したパワーレベル。
    注記1 その他に規定がない場合,Fはクリッピングレベルとの関係から定義している(図8参照)。
    注記2 通常,OTDRの目盛は,受信パワーの対数の5倍に定数のオフセットを加えたものである。
3.7
距離,D(distance)
  二つの目標の間隔(単位は,通常,m)。
3.8
距離サンプリング誤差,ΔLsample(distance sampling error)
  サンプル点が離散的に配置することによって生じる距離(3.7参照)の量子化誤差の最大値(通常,m)。
    注記 距離サンプリング誤差は,一般に周期的であるから,この誤差を定量化する一つの方法として,
          その振幅を用いることができる。
3.9
距離スケール偏差,ΔSL(distance scale deviation)
  距離(3.7)の平均誤差,すなわち,距離の平均指示値〈Dotdr〉とそれに対応する基準距離(3.27参照)
Drefとの差を基準距離で除したもの(例えば,m/m)。ΔSLは,式(2)を用いて算出する。

――――― [JIS C 6185-3 pdf 5] ―――――

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