JIS C 6435:1989 低周波変成器及びコイル試験方法 | ページ 6

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                                   図26 漏話減衰量測定回路
5.20.2 測定方法 切換器Kを切り換えて,電圧計Vが同一の値となるように可変抵抗減衰器ATTを調整
した場合の可変抵抗減衰器ATTの読みb0 (dB) を漏話減衰量とする。測定したときの変成器の間隔及び方
向並びに周波数及び電圧を測定結果に明記する。
5.20.3 測定上の注意事項 電圧計の入力インピーダンスは,R1及びR0に比べて十分大きいこと。

5.21 電磁遮へい効果

5.21.1 測定回路 変成器の電磁遮へい効果の測定回路の例を図27に示す。

――――― [JIS C 6435 pdf 26] ―――――

                                                                                             25
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                                 図27 電磁遮へい効果測定回路
5.21.2 測定方法及び計算式 図27(a)に示す円形コイルF1,F2を図27(c)の回路で和動的になるように接続
し,50Hz又は60Hzの0.95Aの電流を流し,両コイルのほぼ中央に図27(d)のように成端抵抗器を接続し
た供試変成器T1を置き,これをあらゆる方向に回転して最大誘起電圧c(実効値)を測定する。電磁遮へ
い効果MS (dB) は,次の式から算出する。
            50Hzのとき

――――― [JIS C 6435 pdf 27] ―――――

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                                        c2
                        MS (dB)= 10 log10   30
                                        R
            60Hzのとき
                                        c2
                        MS (dB)= 10 log10   284.
                                        R
          ただし,Rは,被測定巻線の成端抵抗とする。
5.21.3 測定上の注意事項
(1) 供試変成器からのリードはできるだけ短いシールド線を用い,他の磁界の影響を避けるよう留意する
    こと。
(2) 電圧計の入力インピーダンスは被測定巻線の成端抵抗に比べて十分大きく,実効値応答形又は平均値
    応答形を使用すること。

5.22 ひずみ減衰量(ひずみ率)

5.22.1 測定回路 変成器のひずみ減衰量(ひずみ率)の測定回路の例を図2831に示す。
  なお,基本周波数とそれに対応する測定回路との対応を表2に示す。
                                   表2 基本周波数と測定回路
                            測定回路 基本周波数      高調波次数
                              図28     指定値
                              図29      50Hz       第2高調波以上
                              図30      1kHz
                              図31     10kHz    第2及び第3高調波分離
                        図28 ひずみ減衰量測定回路(指定周波数の場合)

――――― [JIS C 6435 pdf 28] ―――――

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                     図29 ひずみ減衰量測定回路(基本周波数50Hzの場合)

――――― [JIS C 6435 pdf 29] ―――――

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                     図30 ひずみ減衰量測定回路(基本周波数1kHzの場合)

――――― [JIS C 6435 pdf 30] ―――――

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